JPS6143829A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
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- JPS6143829A JPS6143829A JP16671684A JP16671684A JPS6143829A JP S6143829 A JPS6143829 A JP S6143829A JP 16671684 A JP16671684 A JP 16671684A JP 16671684 A JP16671684 A JP 16671684A JP S6143829 A JPS6143829 A JP S6143829A
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- Japan
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- circuit
- reference voltage
- voltage
- constant voltage
- chip
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- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0008—Arrangements for reducing power consumption
- H03K19/0016—Arrangements for reducing power consumption by using a control or a clock signal, e.g. in order to apply power supply
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Computer Hardware Design (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、ECL回N (Emitter Cou
pledLogic )またはCM L (Curre
nt Mode Logic )回路を使用した半導体
集積回路において、待期時の消費電力を低減することを
可能にした半導体集積回路に関するものである。
pledLogic )またはCM L (Curre
nt Mode Logic )回路を使用した半導体
集積回路において、待期時の消費電力を低減することを
可能にした半導体集積回路に関するものである。
従来のECL回路とし【は第1図に示すものがある。な
お、第1図は基本セルを示しており、実際にはこの基布
セルを用いてゲートアレイが構成される。
お、第1図は基本セルを示しており、実際にはこの基布
セルを用いてゲートアレイが構成される。
第1図において、1は定電圧発生回路、Aは定電流回路
、R,、R,、R,はそれぞれ抵抗体(なお、R8−R
3は抵抗値をも表わす)、QI、QI。
、R,、R,、R,はそれぞれ抵抗体(なお、R8−R
3は抵抗値をも表わす)、QI、QI。
Qs、Q4.Q5はそれぞれトランジスタである。
次に動作について説明する。
定電圧発生回路1では、比較電圧V。と、定電流回路A
に供給するための基準電圧V4を発生する。トランジス
タQ1のゲートの入力電圧V、、lKは論理値″1″の
電圧vexまたは論理値″θ″の電圧vILのいずれか
が印加される。比較電圧V。はこの入力論理値のl″、
″θ″を判定するためVIL<Vll < Vlllの
範囲に設定され【いる。
に供給するための基準電圧V4を発生する。トランジス
タQ1のゲートの入力電圧V、、lKは論理値″1″の
電圧vexまたは論理値″θ″の電圧vILのいずれか
が印加される。比較電圧V。はこの入力論理値のl″、
″θ″を判定するためVIL<Vll < Vlllの
範囲に設定され【いる。
いま、入力電圧LN=”1″のとき、Vlll = V
lll>Vlmとなり、トランジスタQ1がON状態に
なり、定電流回路AKは電源電圧VCCより抵抗体R,
をを通じて定電流工、が流れ、トランジスタQ4のエミ
ッタ電位7゜は、■。=vcc−11几、−V、、、ト
ランジスタQ、のエミッタ電位v0は、V0=vee
Yel!となり、トランジスタQ4のエミッタ電位V
。Kは入力論理値の逆の結果が出力され、トランジスタ
Q、のエミッタ電位V。Kは入力論理値が出力される。
lll>Vlmとなり、トランジスタQ1がON状態に
なり、定電流回路AKは電源電圧VCCより抵抗体R,
をを通じて定電流工、が流れ、トランジスタQ4のエミ
ッタ電位7゜は、■。=vcc−11几、−V、、、ト
ランジスタQ、のエミッタ電位v0は、V0=vee
Yel!となり、トランジスタQ4のエミッタ電位V
。Kは入力論理値の逆の結果が出力され、トランジスタ
Q、のエミッタ電位V。Kは入力論理値が出力される。
なお、■□はトランジスタ9番。
Q、のベース・エミッタ間電圧である。
EC1回路ではシステムを高速動作させるため、チップ
の消費電力を大きくし、高速化を実現してきたが、従来
の定電圧発生回路1においては、比較電圧V□および基
準電圧VCMは一定値に設定されているため、チップの
選択、非選択にかかわらず、常に一定の電力が消費され
るという欠点がある。
の消費電力を大きくし、高速化を実現してきたが、従来
の定電圧発生回路1においては、比較電圧V□および基
準電圧VCMは一定値に設定されているため、チップの
選択、非選択にかかわらず、常に一定の電力が消費され
るという欠点がある。
〔発明の概要〕
この発明は、上記の欠点を除去するため罠なされたもの
で、チップ選択入力を検出し、チップ選択時と非選択時
において、定電圧発生回路の基準電圧を変化させること
により、非選択時の低消費電力化を可能とする半導体集
積回路を提供するものである。以下、この発明を図面を
用いて説明する。
で、チップ選択入力を検出し、チップ選択時と非選択時
において、定電圧発生回路の基準電圧を変化させること
により、非選択時の低消費電力化を可能とする半導体集
積回路を提供するものである。以下、この発明を図面を
用いて説明する。
第2図はこの発明の一実施例を示す図である。
第2図において、1.A、Q、〜Qs、R+〜R8は第
1図と同じものを示し、2.3はともに定電圧発生回路
、Q、、Q7はともにトランジスタ、Bは入力レベル検
出回路、Cはゲート回路、VINX +V□工は前記入
力レベル検出回路日の出力である。
1図と同じものを示し、2.3はともに定電圧発生回路
、Q、、Q7はともにトランジスタ、Bは入力レベル検
出回路、Cはゲート回路、VINX +V□工は前記入
力レベル検出回路日の出力である。
IMKはチップ選択外部入力端子であり、ゲート回路C
の入力用のトランジスタQ、のベースおよび入力レベル
検出回路日に接続されている。入力レベル検出回路日の
出力■□、!はトランジスタQ、のベースに接続され、
トランジスタQ6のコレクタは電源電圧vccに接続さ
れ、トランジスタQ6のエミッタは定電圧発生回路2の
電源に接続されている。入力レベル検出回R1IBの出
力VINxはトランジスタQ、のベースに接続され、ト
ランジスタQ。
の入力用のトランジスタQ、のベースおよび入力レベル
検出回路日に接続されている。入力レベル検出回路日の
出力■□、!はトランジスタQ、のベースに接続され、
トランジスタQ6のコレクタは電源電圧vccに接続さ
れ、トランジスタQ6のエミッタは定電圧発生回路2の
電源に接続されている。入力レベル検出回R1IBの出
力VINxはトランジスタQ、のベースに接続され、ト
ランジスタQ。
のコレクタは電源電圧VeHに接続され、トランジスタ
9丁のエミッタは定電圧発生回路3の電源に接続されて
いる。定電圧発生回路2で発生された比較電圧Vllf
iと基準電圧vcBおよび定電圧発生回路3で発生され
る比較電圧V□8.基準電圧vcmsはそれぞれゲート
回路Cの比較電圧入力端子であるトランジスタQ!のベ
ースと、定電流回路Aの基準電圧入力端子であるトラン
ジスタQsのベースに接続されている。
9丁のエミッタは定電圧発生回路3の電源に接続されて
いる。定電圧発生回路2で発生された比較電圧Vllf
iと基準電圧vcBおよび定電圧発生回路3で発生され
る比較電圧V□8.基準電圧vcmsはそれぞれゲート
回路Cの比較電圧入力端子であるトランジスタQ!のベ
ースと、定電流回路Aの基準電圧入力端子であるトラン
ジスタQsのベースに接続されている。
次に動作(ついて説明する。
いま、チップ選択外部入力端子BIXが”1”のときチ
ップが選択されると、入力レベル検出回Meの出力V□
xK″lNレベルの出力がV□工に゛0″レベルの出力
があり、トランジスタ9丁がON、)ランジスタQ6が
OFF状態になり、定電圧発生回路3にトランジスタQ
、のエミッタを通して電力が供給され、比較電圧V□3
.基準電圧VC,,がゲート回路Cに印加される。この
とき、トランジスタQ6はOFF状態であり、定電圧発
生回路2に電力は供給されない。一方、チップ選択外部
入力端子工□が”o”のときトランジスタQ6の工4ン
タを通して定電圧発生回路2に電力が供給され、比較電
圧V□7.基準電圧VCI!がゲート回路CIC印加さ
れる。そこで定電圧発生回路2からの基準電圧VCI!
と定電圧発生回路3からの基準電圧VcnsをVcms
< Vcms K設定することにより、チップが非選
択(Ixよ− ”L’ )のときのゲート回路Cの電力
を低減することができる・ なお、上記の実施例では定電圧発生回路を2と3の2個
設けたが、これは1個にして入力レベル検出回路日の出
力の大きさに応じて内部的に制御を行い、比較電圧V。
ップが選択されると、入力レベル検出回Meの出力V□
xK″lNレベルの出力がV□工に゛0″レベルの出力
があり、トランジスタ9丁がON、)ランジスタQ6が
OFF状態になり、定電圧発生回路3にトランジスタQ
、のエミッタを通して電力が供給され、比較電圧V□3
.基準電圧VC,,がゲート回路Cに印加される。この
とき、トランジスタQ6はOFF状態であり、定電圧発
生回路2に電力は供給されない。一方、チップ選択外部
入力端子工□が”o”のときトランジスタQ6の工4ン
タを通して定電圧発生回路2に電力が供給され、比較電
圧V□7.基準電圧VCI!がゲート回路CIC印加さ
れる。そこで定電圧発生回路2からの基準電圧VCI!
と定電圧発生回路3からの基準電圧VcnsをVcms
< Vcms K設定することにより、チップが非選
択(Ixよ− ”L’ )のときのゲート回路Cの電力
を低減することができる・ なお、上記の実施例では定電圧発生回路を2と3の2個
設けたが、これは1個にして入力レベル検出回路日の出
力の大きさに応じて内部的に制御を行い、比較電圧V。
zzV□、と基準電圧Vcmt +Vcmsの切り換え
を行うようにしてもよい。
を行うようにしてもよい。
以上説明したよ5に、この発明は比較電圧と基準電圧を
発生する定電圧発生回路、差動増幅器および定電流回路
からなるECL@略またはCML回路の半導体集積回路
において、外部入力信号を検知する入力レベル検出回路
を設け、これが検出した外部入力信号のレベルに応じ比
較電圧および基準電圧を変化させるようにしたので、チ
ンプ選訳詩の消費電力を多くシ、スイッチングスピード
の高速性をはかり、チップ非選択時の消費電力を低減す
ることができ、システムの効率化を高めることができる
利点がある。
発生する定電圧発生回路、差動増幅器および定電流回路
からなるECL@略またはCML回路の半導体集積回路
において、外部入力信号を検知する入力レベル検出回路
を設け、これが検出した外部入力信号のレベルに応じ比
較電圧および基準電圧を変化させるようにしたので、チ
ンプ選訳詩の消費電力を多くシ、スイッチングスピード
の高速性をはかり、チップ非選択時の消費電力を低減す
ることができ、システムの効率化を高めることができる
利点がある。
第1図は従来のECL@路と定電圧発生回路を結合した
回路図、m2図はこの発明の一実施例であるBCL回路
と定電圧発生回路を結合した回路図である。 図中、2.3は定電圧発生回路、R1r Rt+ Rs
は抵抗体、Q+ 、Qt 、Qs 、Q4 、Qs 、
Qa 、Qフはトランジスタ、Aは定電流回路、Bは入
力レベル検出回路、Cはゲート回路である。 なお、図中の同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 大岩増雄 (外2名ン 第1図 第2図 手続補正書(自発) 昭和 リ 5□ 20B 1、事件の表示 特願昭59−168716号2、
発明の名称 半導体集積回路 3、補正をする者 代表者片山仁へ部 4、代理人 5、補正の対象 明細書の特許請求の範囲の欄および発明の詳細な説明の
欄 6、補正の内容 (1) 明細書の特許請求の範囲を別紙のように補正
する。 (2)同じく第2頁4行の1−グー)・プレイ」を、「
論理回路」と補正する。 (3)同じく第4頁6行の「1.」を削除する。 (4)同じく第6頁9行の「これは」を、「定電圧発生
回路を」と補正する。 (5)同じく第6頁15行の「差動増幅器」を、「レベ
ル検出回路」と補正する。 以 上 2、特許請求の範囲 比較電圧と基準電圧を発生ずる定電圧発生回路と、前記
比較電圧と外部入力信号を比較するL/Sル検出回路と
、前記基準電圧で制御される定電流回路とを具備するE
CL回路またはCM L回路の半導体集積回路において
、前記外部入力信号の養」を検出する入力レベル検出回
路と、この入力し・ベル検出回路が検出した前記外部入
力信号のレベルに応じ前記比較電圧および基準電圧を変
化させる手段を設けたことを特徴とする半導体集積回路
。
回路図、m2図はこの発明の一実施例であるBCL回路
と定電圧発生回路を結合した回路図である。 図中、2.3は定電圧発生回路、R1r Rt+ Rs
は抵抗体、Q+ 、Qt 、Qs 、Q4 、Qs 、
Qa 、Qフはトランジスタ、Aは定電流回路、Bは入
力レベル検出回路、Cはゲート回路である。 なお、図中の同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 大岩増雄 (外2名ン 第1図 第2図 手続補正書(自発) 昭和 リ 5□ 20B 1、事件の表示 特願昭59−168716号2、
発明の名称 半導体集積回路 3、補正をする者 代表者片山仁へ部 4、代理人 5、補正の対象 明細書の特許請求の範囲の欄および発明の詳細な説明の
欄 6、補正の内容 (1) 明細書の特許請求の範囲を別紙のように補正
する。 (2)同じく第2頁4行の1−グー)・プレイ」を、「
論理回路」と補正する。 (3)同じく第4頁6行の「1.」を削除する。 (4)同じく第6頁9行の「これは」を、「定電圧発生
回路を」と補正する。 (5)同じく第6頁15行の「差動増幅器」を、「レベ
ル検出回路」と補正する。 以 上 2、特許請求の範囲 比較電圧と基準電圧を発生ずる定電圧発生回路と、前記
比較電圧と外部入力信号を比較するL/Sル検出回路と
、前記基準電圧で制御される定電流回路とを具備するE
CL回路またはCM L回路の半導体集積回路において
、前記外部入力信号の養」を検出する入力レベル検出回
路と、この入力し・ベル検出回路が検出した前記外部入
力信号のレベルに応じ前記比較電圧および基準電圧を変
化させる手段を設けたことを特徴とする半導体集積回路
。
Claims (1)
- 比較電圧と基準電圧を発生する定電圧発生回路と、前記
比較電圧と外部入力信号を比較する差動増幅器と、前記
基準電圧で制御される定電流回路とを具備するECL回
路またはCML回路の半導体集積回路において、前記外
部入力信号の有無を検知する入力レベル検出回路と、こ
の入力レベル検出回路が検出した前記外部入力信号のレ
ベルに応じ前記比較電圧および基準電圧を変化させる手
段を設けたことを特徴とする半導体集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16671684A JPS6143829A (ja) | 1984-08-07 | 1984-08-07 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16671684A JPS6143829A (ja) | 1984-08-07 | 1984-08-07 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6143829A true JPS6143829A (ja) | 1986-03-03 |
Family
ID=15836431
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16671684A Pending JPS6143829A (ja) | 1984-08-07 | 1984-08-07 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6143829A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0291240A2 (en) * | 1987-05-09 | 1988-11-17 | Fujitsu Limited | Semiconductor integrated circuit with reduced power consumption |
US5278465A (en) * | 1990-11-06 | 1994-01-11 | Nec Corporation | Semiconductor integrated circuit device having ECL gate group circuits and gate voltage control circuits |
-
1984
- 1984-08-07 JP JP16671684A patent/JPS6143829A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0291240A2 (en) * | 1987-05-09 | 1988-11-17 | Fujitsu Limited | Semiconductor integrated circuit with reduced power consumption |
US5278465A (en) * | 1990-11-06 | 1994-01-11 | Nec Corporation | Semiconductor integrated circuit device having ECL gate group circuits and gate voltage control circuits |
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