JPS614032A - 測光装置 - Google Patents
測光装置Info
- Publication number
- JPS614032A JPS614032A JP59124980A JP12498084A JPS614032A JP S614032 A JPS614032 A JP S614032A JP 59124980 A JP59124980 A JP 59124980A JP 12498084 A JP12498084 A JP 12498084A JP S614032 A JPS614032 A JP S614032A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- mirror
- semi
- reflecting mirror
- photometry
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/08—Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
- G03B7/099—Arrangement of photoelectric elements in or on the camera
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
- Stroboscope Apparatuses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は測光装置に関し、特にｌ眼しフカメラやＣＯＤ
等の撮像体により映像信号を記録する電子カメラ等に好
適な測光装置に関するものである。
等の撮像体により映像信号を記録する電子カメラ等に好
適な測光装置に関するものである。
従来より撮影糸管通過した後フィルム何着しくは撮像体
等の感光体側から反射してくる物体からの光束を受光素
子により測光するいわゆるダイレクト測光と称する測光
装置は種々提案されている。例えば第１図は従来の３５
．、、フィルムを用いた１眼レフカメラにおけるフィル
ム面１０５からの反射光を受光レンズ１０６ ’ｉ介し
て受光素子１０７で測光する測光装置の一例の概略図で
ある。
等の感光体側から反射してくる物体からの光束を受光素
子により測光するいわゆるダイレクト測光と称する測光
装置は種々提案されている。例えば第１図は従来の３５
．、、フィルムを用いた１眼レフカメラにおけるフィル
ム面１０５からの反射光を受光レンズ１０６ ’ｉ介し
て受光素子１０７で測光する測光装置の一例の概略図で
ある。
同図の測光装置は受光素子１０７からの出力信号を用い
て例えば絞り値やシャッタースピード等を決定すること
ができる。
て例えば絞り値やシャッタースピード等を決定すること
ができる。
又受光レンズ１０６と受光素子１０７の構成を変えるこ
とＫよ）例えば部分側光や平均測光もできる。更にスト
ｏボを利用した撮影の場合には受光素子１０７からの出
力信号に応じてストロボの発光量を制御するいわゆるＴ
ＴＬス）ｏボ調光等もできるものである。
とＫよ）例えば部分側光や平均測光もできる。更にスト
ｏボを利用した撮影の場合には受光素子１０７からの出
力信号に応じてストロボの発光量を制御するいわゆるＴ
ＴＬス）ｏボ調光等もできるものである。
一般に第１図に示す測光装置においてはフィルム面１０
５からの反射光は比較的多いが、電子カメラ等において
フィルム面１０５に相当する位置に撮像体を配置し撮像
体側からの反射光を測光する場合は撮像体の前方に配置
される例えば色再現の為のストライプフィルターの反射
率がフィルム面に比べかなり低く、その為に高精度の測
光が困難となる。
５からの反射光は比較的多いが、電子カメラ等において
フィルム面１０５に相当する位置に撮像体を配置し撮像
体側からの反射光を測光する場合は撮像体の前方に配置
される例えば色再現の為のストライプフィルターの反射
率がフィルム面に比べかなり低く、その為に高精度の測
光が困難となる。
本発明はフィルム若しくは撮像体等の感光体側から反射
してくる光束全測光するダイレクト測光において高精度
の測光を可能とする測光装置の提供を目的とする。本発
明の更なる目的は反射率が比較的低い撮像体を用いた電
子カメラにおいて特に有効な高精度の測光装置の提供に
−あ、。
してくる光束全測光するダイレクト測光において高精度
の測光を可能とする測光装置の提供を目的とする。本発
明の更なる目的は反射率が比較的低い撮像体を用いた電
子カメラにおいて特に有効な高精度の測光装置の提供に
−あ、。
本発明の目的を達成する為の測光装置の主たる特徴は撮
影系の後方に可動の反射鏡を前記反射鏡の後方に前記反
射鏡と異つ之角度に固定の半透過鏡をそして前記撮影系
を通過した物体からの光束が前記半透過鏡で反射される
方向に受光系を各々配置し、撮影の際、前記反射鏡を撮
影光路より退避させた後前記半透過鏡から反射されてく
る物体からの光束を前記受光系により測光したことであ
る。
影系の後方に可動の反射鏡を前記反射鏡の後方に前記反
射鏡と異つ之角度に固定の半透過鏡をそして前記撮影系
を通過した物体からの光束が前記半透過鏡で反射される
方向に受光系を各々配置し、撮影の際、前記反射鏡を撮
影光路より退避させた後前記半透過鏡から反射されてく
る物体からの光束を前記受光系により測光したことであ
る。
このように本発明は可動の反射鏡の後方に固定の半透過
′ａを配置し半透過鏡の反射率を適切に設定することに
より測光量を任意に制御して高精度のダイレクト測光を
可能とするものである。
′ａを配置し半透過鏡の反射率を適切に設定することに
より測光量を任意に制御して高精度のダイレクト測光を
可能とするものである。
次に本発明の一英施例の光学系の概略図を第２図に示す
。
。
同図において１は撮影レンズ、２は可動の反射鏡、３は
ローパスフィルター、赤外光カットフィルター等の光学
フィルター、４はシャッターユニット、５は撮影体の保
護ガラス、６は撮像面、７は撮影体のパッケージ、１４
は半透過鏡、１５は受ｉレンズ、１６は受光素子である
。撮影レンズ１を通過し反射鏡２で反射した物体からの
光束は光路補正板８を通過して撮像面６と略等しい位置
にあるフォーカシングスクリーン上のファインダー結偉
面９上に結像する。そしてこの物体像は第１プリズム１
０及びダノー面を有する第２プリズムＩＩＫよシ正立正
像となって接眼レンズ１２により観察用の瞳１３の位置
で観察される。
ローパスフィルター、赤外光カットフィルター等の光学
フィルター、４はシャッターユニット、５は撮影体の保
護ガラス、６は撮像面、７は撮影体のパッケージ、１４
は半透過鏡、１５は受ｉレンズ、１６は受光素子である
。撮影レンズ１を通過し反射鏡２で反射した物体からの
光束は光路補正板８を通過して撮像面６と略等しい位置
にあるフォーカシングスクリーン上のファインダー結偉
面９上に結像する。そしてこの物体像は第１プリズム１
０及びダノー面を有する第２プリズムＩＩＫよシ正立正
像となって接眼レンズ１２により観察用の瞳１３の位置
で観察される。
撮影の際は反射鏡２は撮影光路から退避する。
撮影レンズ１ｔ−通過した物体からの光束の一部は半透
過鏡１４で反射し受光レンズ１５と受光素子１６１に有
する受光系により測光され、残ｐの光束は撮像面６に結
像する。本実施例においては半透過鏡１４の反射率Ｒｅ
適切に設定することＫより測光素管任意に制御して高精
度の測光を可能としている。このときの半透過鏡１４の
反射率Ｒは撮影レンズｌの明るさ、受光系の測光精度等
を考慮して５〜１５チ程度に設定するのが好ましい０ 半透過鏡１４の厚さは１５〜３０μｍ８度の薄い高分子
膜で構成すれば撮影レンズの結像性能に何んら影響を与
えることがないので好ましい。
過鏡１４で反射し受光レンズ１５と受光素子１６１に有
する受光系により測光され、残ｐの光束は撮像面６に結
像する。本実施例においては半透過鏡１４の反射率Ｒｅ
適切に設定することＫより測光素管任意に制御して高精
度の測光を可能としている。このときの半透過鏡１４の
反射率Ｒは撮影レンズｌの明るさ、受光系の測光精度等
を考慮して５〜１５チ程度に設定するのが好ましい０ 半透過鏡１４の厚さは１５〜３０μｍ８度の薄い高分子
膜で構成すれば撮影レンズの結像性能に何んら影響を与
えることがないので好ましい。
そして半透過鏡１４ヲ反射銃２と異なる角度で設定し、
これにより受光体を撮影レンズ１後方の空間に配置する
ようにして測光装置全体の小型化を図っている。
これにより受光体を撮影レンズ１後方の空間に配置する
ようにして測光装置全体の小型化を図っている。
半透過鏡１４は反射鏡２の後方に配置するのが良く、こ
れによりファインダー光学系に何んら影響を与えずにダ
イレクト測光を可能としている。
れによりファインダー光学系に何んら影響を与えずにダ
イレクト測光を可能としている。
本実施例において半透過鏡１４ヲ主に赤外光を反射させ
可視光を透過するようにし、又受光素子１６１１一赤外
元に感度を有するように構成すれば撮像面に結像する撮
影光量を増大させることができ又多くの電子カメラにお
いて配置されている撮像体前方の赤外光カットフィルタ
ーを省略することができ装置の簡素化が図れるので好ま
しい。
可視光を透過するようにし、又受光素子１６１１一赤外
元に感度を有するように構成すれば撮像面に結像する撮
影光量を増大させることができ又多くの電子カメラにお
いて配置されている撮像体前方の赤外光カットフィルタ
ーを省略することができ装置の簡素化が図れるので好ま
しい。
本実施例においてストロボを利用しての撮影の際、スト
ロボ撮影時受光素子１６からの出力を積分し、その積分
量が一定値になったときストロボ発元を停止させること
によりＴＴＬストロボ調光を行うよう圧しても良い。
ロボ撮影時受光素子１６からの出力を積分し、その積分
量が一定値になったときストロボ発元を停止させること
によりＴＴＬストロボ調光を行うよう圧しても良い。
尚反射鏡２の撮影時における撮影光路からの退避は回転
移動でも良いが好ましくは半透過鏡１４に対して略平行
となるように横にずらせて行うのが良い。これは半透過
鏡１４の膜面に不必要な空気圧をなるべく加えないよう
圧して透過特性を良好に維持するのに良い為である。
移動でも良いが好ましくは半透過鏡１４に対して略平行
となるように横にずらせて行うのが良い。これは半透過
鏡１４の膜面に不必要な空気圧をなるべく加えないよう
圧して透過特性を良好に維持するのに良い為である。
以上のように本発明によれば高精度のダイレクト測光が
可能な測光装置を達成することができる。％に反射率の
低い光学部材を用い次電子カメラに最適な一１元装置を
達成することができる。
可能な測光装置を達成することができる。％に反射率の
低い光学部材を用い次電子カメラに最適な一１元装置を
達成することができる。
第１図は従来の３５１１１１フイルムを用いた１眼レフ
カメラの測光装置の一例の概略図、第２図は本発明の一
笑施しｕの光学系の概略図である。 −図中、は撮影−・ズ、２は反射鏡、３は光学フィルタ
ー、４はシャッターユニット、５は保護ガラス、６は撮
像面、７は撮影体のパッケージ、９はファインダー結像
面、１４は半透過鏡、１５は受光レンズ、１６は受光素
子、１０ 、１１はプリズム、１２は接眼レンズである
。
カメラの測光装置の一例の概略図、第２図は本発明の一
笑施しｕの光学系の概略図である。 −図中、は撮影−・ズ、２は反射鏡、３は光学フィルタ
ー、４はシャッターユニット、５は保護ガラス、６は撮
像面、７は撮影体のパッケージ、９はファインダー結像
面、１４は半透過鏡、１５は受光レンズ、１６は受光素
子、１０ 、１１はプリズム、１２は接眼レンズである
。
Claims (3)
- （１）撮影系の後方に可動の反射鏡を前記反射鏡の後方
に前記反射鏡と異った角度に固定の半透過鏡をそして前
記撮影系を通過した物体からの光束が前記半透過鏡で反
射される方向に受光系を各々配置し、撮影の際、前記反
射鏡を撮影光路より退避させた後前記半透過鏡から反射
されてくる物体からの光束を前記受光系により測光した
ことを特徴とする測光装置。 - （２）前記半透過鏡を主に赤外光を反射し可視光を透過
する分光特性を有する高分子膜より構成したことを特徴
とする特許請求の範囲第１項記載の測光装置。 - （３）前記測光装置はストロボを有しており、前記受光
系からの出力信号を利用して前記ストロボの発光量を制
御したことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の測
光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59124980A JPS614032A (ja) | 1984-06-18 | 1984-06-18 | 測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59124980A JPS614032A (ja) | 1984-06-18 | 1984-06-18 | 測光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS614032A true JPS614032A (ja) | 1986-01-09 |
Family
ID=14898956
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59124980A Pending JPS614032A (ja) | 1984-06-18 | 1984-06-18 | 測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS614032A (ja) |
-
1984
- 1984-06-18 JP JP59124980A patent/JPS614032A/ja active Pending
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