JPS6388536A - 測光・測距装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （発明の利用分野） 本発明は、測光光学系と焦点検出光学系とが少なくとも
一部の光路を共有するように構成された測光・測距装置
の改良に関するものである。

（発明の背景） 従来より、測光光学系と焦点検出光学系とが少なくとも
一部の光路を共有するように構成されたこの種の装置は
例えばカメラ内に配置されている。この様なカメラにお
いては、測光用センサと焦点検出用センサへ入射する光
の波長域をそれらの系毎に制限する必要がある。つまり
、測光光学系はその分光感度特性をフィルムの分光感度
特性に合致させることが望ましく、一方焦点検出光学系
は低輝度被写体であっても焦点検出が可能となる如く前
記フィルムの分光感度特性よりの広い範囲の波長を取り
込むことが望ましい、これを達成する為に、一般にそれ
ぞれの系に必要となる波長域のみを透過させることを可
能とするフィルタをそれぞれの光路に配置することが行
われているが、この為装置の大型化、高コスト化を招い
ていた。

（発明の目的） 本発明の目的は、上述した問題を解決し、コンパクト化
、低コスト化を達成しながら、それぞれの系のセンサ上
での分光感度分布を適正化することのできる測光拳測距
装置を提供することである。

（発明の特徴） 上記目的を達成するために、本発明は１分光感度補正用
フィルタを焦点検出光学系と測光光学系の共有される光
路中に配置し、焦点検出用センサに入射する光束の透過
部分を含む第１の領域と。

測光用センサに入射する光束の透過部分のうち、前記第
１の領域に含まれない部分を含む第２の領域とに分割し
て、前記第１の領域の分光透過率を前記焦点検出用セン
サに、前記第２の領域の分光透過率を前記測光用センサ
に、それぞれ適したものに定め、以て、１つの分光感度
補正用フィルタにより、焦点検出用センサと測光用セン
サのそれぞれに対して異なる分光透過率特性を与えるよ
うにしたことを特徴とする。

（発明の実施例） 以下１本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する
。

第１〜３図は本発明をカメラに適用した場合の一実施例
を示すものであり、第１図はストロボが装着された状態
での断面図である。第１図において、ｌはカメラボディ
、２は撮影レンズ３を光軸４の方向に移動可能に保持す
るレンズ鏡筒、５はサブミラー６と共に前記撮影レンズ
３を透過した被写体光をファインダー系とＡＦ・測光系
に分離する主ミラー、７はペンタプリズム８及び接眼レ
ンズ９と共にファインダー系を構成するピントグラス、
１０は、フィルードレンズ１１．二次結像レンズ１２．
ＡＦ用テラインセンサＡＥ用センサとが配置（詳細は後
述）されるセンサ部１３ａ等を有するＡＦ−ＡＥ用セン
サ１３．センサ部１４ａ等を有するＴＴＬストロボ調光
用センサ１４とを有するＡＦ−測光系（ここではＴＴＬ
ストロボ調光系とＡＥ系の両方の系を測光系と称してい
る）を成すＡＦ−測光ユニー／　）、１５はシャッタ、
１６はストロボ、１７は閃光発光部、１８はＡＦ用近赤
外線補助光発光部である。

第２，３図は第１図にて示したＡＦ−測光ユニット１０
の主要部のみの詳細図であり、第２図はその断面図であ
り、第３図はその展開斜視図である。

本体ブロック１９の上面側には、視野マスク２０、透過
率の異なる領域２１ａ、２１ｂを有する赤外カットフィ
ルタ２１、フィールドレンズ１１の順番でそれぞれが取
り付けられ、また下面側には、絞り２２、二次結像レン
ズ１２、押えばね２３、センサブロック２４、センサホ
ルダ２５．ＡＦ−ＡＥ用センサ１３の順番でそれぞれが
取り付けられる。更に本体ブロック１９には、フィルム
面よりの反射光を前記フィールドレンズ１１を介して受
光する事のできる位置にＴＴＬストロボ調光用センサ１
４が取り付けられる。

前記絞り２２は第３図に示す様に直交して設けｄを有す
ると共に、これら開口部の中心Ａと一致した点を半径と
する弧を持つ位置決め部２２ｅ。

２２ｆ及び４ｆね部２２ｇ、長穴２２ｈとを有している
。レンズ部１２ａ〜１２ｄを有する二次結像レンズ１２
は前述の様な各部を有する絞り２２を本体ブロック１９
との間に挟み込んだ状態でビン１２ｅ　、１２ｆによっ
て位置決めされ、押えばね２３によって固定される（第
２図参照）、この様な状態において、前記二次結像レン
ズ１２のレンズ部１２ａ　〜１２ｄは前記開口部２２ａ
Ｎ２２ｄと対応した位置関係にあり（詳細は後述）、ま
た前記位置決め部２２ｅ　、２２ｆには二次結像レンズ
１２のピン１２ｇ、１２ｈが、ばね部２２ｇにはビン１
２１が、それぞれ挿入される。前記ばね部２２ｇにピン
１２ｆが挿入されることにより、該ばね部２２ｇは第２
図の様に変形し、絞り２２を位置決め部２２ｅ　、２２
ｆの方向に付勢する力を生じる。したがって、偏心ピン
２６を絞り２２の長穴２２ｈを介して本体ブロック１９
の穴に差＋：５ｆｆＪ　−柄も間七七−ヱルすψ←−イ
仕１１　Ｑ　Ｑの各開口部の中心Ａを軸とした該絞り２
２の微小角回転（第２図矢印Ｂ方向）が可能となる。

前記二次′結像レンズ１２の下部には前述した様にセン
サブロック２４．センサホルダ２５が配置されるが、こ
れらは取付はビス２７．ワッシャ２８、偏心ピンｚ９と
共にさらにその下部に配置されるＡＦ−ＡＥ用センサ１
３の傾き調整機構を成している。前記ＡＦ・ＡＥ用セン
サ１３はセンサホルダ２５の取付は面２５ａに接着され
、このセンサホルダ２５は取付は穴２４ａ、２４ｂを有
するセンサブロック２４の円弧状取付は面２４ｃに前記
取付は穴２４ａを介して取付はビス２７゜ワッシャ２８
によって固定される。

ここで、前記円弧状取付は面２４ｃのＲ中心は第２図に
想定して描いた軸Ｃであり、またセンサブロック２４の
取付は穴２４ａは長穴になっている為、第２図矢印り方
向の傾斜調整が可能である。さらにセンサホルダ２５は
前記取付は穴２４ａと同様長穴となっている取付は穴２
４ｂを介して偏心ピン２９によってもセンサブロック２
４に固定され、又センサホルダ２５の屈曲部２５ｂの肉
厚を十分に薄くして可撓性を持たせである為、前記偏心
ピン２９を回転させることによって第２図に想定して描
いた軸Ｅをほぼ中心として第２図矢印Ｆ方向の傾斜調整
が可能である。

以上の様な構成より成るＡＦΦ測光ユニットｌＯにおい
て、以下にＴＴＬストロボ調光系、ＡＦ系、ＡＥ系のそ
れぞれについて説明する。

まずＴＴＬストロボ調光系（以下の実施例においては調
光系と略記する）について述べる。調光系は、ストロボ
撮影時のフィルム面の反射光をフィールドレンズ１１に
より調光用センサ１４のセンサ部１４ａに取り込み、そ
の受光量によってストロボ１６の発光を停止させる為の
ものである。つまり、主ミラー５．サブミラー６が上昇
し、シャッタ１５の先幕が走行しフィルムが露出した状
態でストロボ１６が発光すると、被写体像がフィルム上
に結像し、その反射光が生じる。その一部の反射光が第
２図に示したＡＦ−測光ユニット１０の視野マスク２０
．赤外カットフィルタ２１及びフィールドレンズ１１を
通過して調光用センサ１４のセンサ部１４ａに入射し、
例えば受光される受光量が後述するスポット測光を行う
ＡＥ用センサによって予め求められている測光量に達し
たことが後述するマイクロコンピュータによって検知さ
れると、ストロボ１６側へ発光停止信号が出力され、発
光が停止する。

尚前述からもわかる様に、ＡＦ系、ＡＥ系に使用される
フィールドレンズ１１をＴＴＬ調光系に共用している為
、カメラのコンパクト化、低コスト化を実現した状態で
フィルム感度分布を良好なものにすることができる。

次にＡＦ系について述べる。第４図及び第５図はＡＦ系
の光路展開図である。二次結像レンズ１２には第３図に
示した様に直交して配置された対のレンズ部１２ａ、１
２ｂと１２ｃ、１２ｄを有しており、このうちのレンズ
部Ｌ２ａ、Ｌ２ｂの光軸を含む断面を表したものが第４
図であり、レンズ部１２ｃ、１２ｄの光軸を含む断面を
表したに絞り２２の各開口部の開口中心を通過する一次
結像面での物高がＯの光線のみを描いており、図中矢印
Ｇの位置が一次結像面、矢印ＨがＡＦ＠ＡＦ用センサ１
３のセンサ面である。二次結像レンズ１２のレンズ部１
２ａ−１２ｄには前述した様に絞り２２の開口部２２ａ
〜２２ｄがそれぞれ対応しており、これによりセンサ部
１３直上には４つの二次像が形成され、これらの二次像
の境界は−視野マスク２０の開口像によって分離されて
いる。絞り２２の同一形状をした対となる開口部２２ａ
と２２ｂの間隔は開口部２２ｃと２２ｄの間隔よりも狭
くなっており、これらの開口部はフィールドレンズ１１
によって撮影レンズ３の膝上に投影されている。この様
子を示したのが第６図である０図中３０は撮影レンズ３
の射出瞳。

３１ａ〜３１ｄはそれぞれ絞り２２の開口部２２ａ〜２
２ｄに対応する瞳面上での領域である。

一般的なカメラ用撮影レンズの場合にはＭ、Ｎの領域を
それぞれＦ４　、Ｆ８程度に選べばよい。

ＡＦ・ＡＥ用センサ１３のセンサ部１３ａ上での二次像
の様子を示したのが第７図である。センサ１３ａ上には
縦方向測距と横方向測距を行うＡＥ用のラインセンサＳ
ＡＡ、ＳＡＢとＳＡＣ、ＳＡＤと、前記ラインセンサＳ
ＡＡ　、ＳＡＢに隣接（測距エリアを挟む様に）して２
つのＡＥ用のセンサＳＡＥ　、ＳＡＦが配置され、この
上に二次像３２ａ〜３２ｄが二次結像レンズ１２によっ
て投影される。前記二次像３２ａ、３２ｂは撮影レンズ
３の瞳」二に領域３１ａ、３１ｂを通過した光束による
被写体像であり、二次像３２ｅ、３２ｄはは領域３１ｃ
、３１ｄを通過した光束による被写体像である。尚破線
部３２ｅ　、３２ｆはサブミラー６によって欠ちれてし
まう像望域である。またセンサ部１３ａ上に配置されて
いる３３ａ〜３３ｄは前記ラインセンサ５ＡＡ−５ＡＢ
のセンサ駆動回路で、この部分への光の入射がセンサ出
力に対して影響しないように遮光用アルミ層がこの上に
形成されている。

第８図はデフォーカス量演算の説明図であり、ラインセ
ンサ５ＡＡ−３ＡＤの各出力をそれぞれＡ像〜Ｄ像とし
て表している。第６図で説明した様に、Ａ、Ｂ像は膝上
の領域３１ａ、３１ｂを通過した光束によって形成され
、一方Ｃ，Ｄ像はより外側の償城３１ｅ、３１ｄを通過
した光束によって形成されている為、撮影レンズ３のデ
フォーカスに対する像ずれ量はＣ，Ｄ像の方がＡ、Ｂ像
よりも大きい、つまり第８図において、位相差ｘ１より
もｘ２の方が大きい、この位相差ｘ１　、ｘ２情報が前
記センサ駆動回路３３ａ〜３３ｄを介して後述するマイ
クロコンピュータへ伝達され、ここでデフォーカス量の
演算が行われて撮影レンズ３の焦点制御が実行されるわ
けであるが、ラインセンサＳＡＡ　、ＳＡＢとＳＡＣ、
ＳＡＤの両方にて測距を行う場合においては、Ｃ，Ｄ像
からの演算結果の方が像ずれ量が大きい為、こちらの結
果を使用した方が焦点検出精度が高いものとなる。

第９図はカメラのファインダ視野内の測距エリアを示す
図である１図中３４はカメラのファインダ視野、３５は
前記ファインダ視野３４内における測距エリアを想定し
て描いたものであり、横方向の測距エリアがラインセン
サＳＡＡ　、ＳＡＢの逆投影像、縦方向の測距エリアが
ラインセンサＳＡＣ、ＳＡＤの逆投影像に一致している
。

第１０図は二次結像レンズ１２に製造誤差を生じている
場合におけるＡＦ＠ＡＥ用センサ１３のセンサ１３ａ上
での様子を示したものである。つまり第１１図（ａ）に
示す様に理想とする二次結像レンズ１２内の各レンズ部
の位置関係が、第１１図（ｂ）の様に誤差（絞り２２の
各開口部２２ａ〜２２ｄに対して）を生じている場合を
想定している。この様にレンズ部１２ａ、１２ｂと１２
Ｃ４１２ｄの直角度が出ていない時は第１Ｏ図のように
二次像３２ａ、３２ｂと３２ｃ　、３２ｄの直角度も悪
くなる。したがって、二次像３２ａ、３２ｂに対してラ
インセンサＳＡＡ　、ＳＡＢの位置を合わせると、一方
で二次像３２ｃ　、３２ｄに対するラインセンサＳＡＣ
、ＳＡＤの位置合わせは不可能となる。その結果、ライ
ンセンサＳＡＣ、ＳＡＤ上へは被写体の異なる部分が投
影されることになり、該測距エリアに対して第１２図に
示す様に斜め線をもつ輝度パターンの被写体像が入射し
た時には合焦エラーを生じ、このままでは不都合である
。そこで、この様な場合には絞り２２を第３図矢印Ｂ方
向に回転し、ラインセンサＳＡＣ。

ＳＡＤに対する二次像３２ｅ　、３２ｄの位置合わせを
行う。

第１３図は先の説明（位置合わせ）を助ける為の図で、
核間は第５図において二次結像レンズ１２を矢印工方向
から見たものである０図中Ｊはレンズ部１２ｃ、１２ｄ
の二次結像面であり、この様にレンズ部１２ｃ、１２ｄ
の結像面はＡＦ−ＡＥ用センサ１３のセンサ面Ｈより後
方に位置し、センサ面Ｈ上にはデフォーカスした像が投
影される。一方レンズ部１２ａ、１２ｂの結像面はセン
サ面Ｈと一致し、ピントの合った像がラインセンサＳＡ
Ａ　、ＳＡＢに投影される。換言すれば、二次結像レン
ズ１２の製造誤差に伴う補正を行える様に、レンズ部１
２ａ、１２ｂの結像面はセンサ面Ｈに一致させ、レンズ
部１２ｅ、１２ｄの結像面は後方（前方であってもよい
）に位置、すなわちセンサ面上上にはデフォーカスした
像が投影されるように構成している。尚核間において、
にはレンズ部１２ａとレンズ部１２ｂによって決定され
た軸、Ｌはレンズ部１２ｃの軸、Ｕは絞り２２の位置か
らセンサ面Ｈまでの距離、Ｖはセンサ面Ｈから二次結像
面Ｊまでの距離である。

ここでレンズ部１２ｃの軸りがδだけ偏心している時、
二次結像面Ｊ上での像位置のずれが（だけ生じたとする
と、二次結像倍率をβとして（＝δ（１＋β）（１） なる関係が成る立つ、この時、センサ面上上での像位置
のずれはα（＝ε・Ｕ／（Ｕ＋Ｖ））である、このずれ
αは像がデフォーカスしている為、絞り２２の開口部２
２ｃ　、２２ｄの位置を移動することで変化させること
ができる。よって、二次結像面Ｊでεだけ位置ずれを生
じた像をセンサ面上上で軸にと交差するように調整すれ
ば、第１２図で示した斜め線をもつ被写体像が入射した
としても合焦エラーはなくなるわけで、その為には絞り
２２の開口部２２ｃをＣだけ移動すればよく。

この移動量Ｃは以下なる式により求めることができる。

つまり、移動量Ｃを前記距離Ｕ、Ｖ、偏心量δ、二次結
像倍率βで表すと ε／　ｖ　＝　ｃ　／　ｕ ｃ＝ｕ・ε／ｖ　　　　　　　　　　（２）前記（１）
、（２）式より ｃ＝ｕδ（１＋β）／ｖ　　　　　　（３）となる、前
記式より得られる移動量Ｃだけ絞り２２（開口部２２ｃ
、２２ｄ）を移動させるのは、第２，３図に示した偏心
ピン２６を回転することによって可能である。この時他
方の二次像３２ａ、３２ｂについてはピントの合った像
がセンサ面上上に形成されている為、絞り２２の回転に
よって影響を与えることはない、仮に、製造誤差によっ
てＡＦ−ＡＥ用センサ１３の光軸方向位置がずれていた
としても、二次像３２ａ、３２ｂを形成する絞り２２の
開口部２２ａ、２２ｂは内側に位置している為（開口部
２２ｃ　、２２ｄに対して）、絞り２２の回転に伴う前
記開口部の移動は比較的小さく、それによる像位置のず
れも微小量となる。

次にＡＥ系について述べる。ＡＥ用のセンサＳＡＥ　、
ＳＡＦは第７図により説明した様に、ラインセンサＳＡ
Ａ　、ＳＡＢに隣接した位置に配置され、絞り２２の開
口部２２ａ、２２ｂを通過した光束、すなわち第６図に
示した射出瞳上の領域３１ａ、３１ｂを通過した光束に
よって視野マスク２０の開口像（開口形沃内を通過した
被写体像）が投影されている。したがって、ＡＥ用のセ
ンサＳＡＥ　、ＳＡＦの合成された測光エリアは第１４
図に示すスポット状、厳密に言うとファインダ視野３４
内において、視野マスク２０の開口像からラインセンサ
ＳＡＡ　、ＳＡＢに対応する長方形状エリア３５ｃを除
いたもの（第１４図の３５ａ。

３５ｂで示したエリア）となる、前記長方形状エリア３
５ｃの面積はかなり小さい為、測光感度分布としてはほ
とんど視野マスク２０の開口形状と見なすことができ、
よってスポット測光撮影に際してはこの測光エリアによ
り測光された値に基づいて露出時間制御、つまりは後述
するマイクロコンピュータによりシャッタ１５及び不図
示の絞り制御が行われる。

ところで本実施例において、調光系、ＡＦ系。

ＡＥ系はその光路を共有しているが、前述した様にそれ
ぞれのセンサに入射する光の波長域はそれらの系毎に制
限する必要がある。つまり、調光系とＡＥ系はその分光
感度特性をフィルムの分光感度特性に合致させることが
望ましく、一方ＡＦ系は低輝度被写体に対して例えば近
赤外補助光が用いられることから、近赤外光まで感度を
有さなければならない、なお近赤外補助光が用いられな
い場合であっても、できるだけ多くの光は取り込みたい
（１！１１距精度を高める）と言う理由から、近赤外光
まで感度を有することが望ましい、一般にセンサはｌｏ
ｏｏｎｍ以上の波長の光に対しても感度がある為、赤外
光は光学的フィルタによってカットする必要がある。

ｆ：ｆ４１５図は前記要求を達成することを可能とした
赤外力？　）フィルタ２１を示す図であり、該図に示し
た３８ａ、３６ｂがＡＥ系における有効部、３７が調光
系における有効部である。この赤外カットフィルタ２１
は分光透過率特性の異なる２つの領域２１ａ、２１ｂか
ら成り、領域２１ａは例えば第１６図の如き特性を有し
、領域２１ｂは第１７図の如き特性を有している。すな
わち領域２１ａの赤外線カット波長は７００ｎｍ、領域
２１ｂの赤外線カット波長は７４０ｎｍとなっている。

第１５図に示す様に調光系とＡＥ系の有効部は２つの領
域にまたがって位置しているが、いずれにおいても領域
２１ａの占る割合が領域２１ｂに対して小さい為、フィ
ルムの分光感度特性（４００〜７００ｎｍ）に近い特性
で測光を行うことが可能である。これに対し、ＡＦ系の
有効部は領域２１ａの形状からもわかるように該債城２
１ａに完全に含まれるように構成され、ラインセンサ面
上での照度むらのないように配慮されている。

第１８図は前記構成から成る一眼レフレックスカメラの
主要部の概略を示すブロック図である。

１０１はカメラの各種動作を制御する制御回路で、例え
ば内部にＣＰＵ（中央演算処理部）、ＲＡＭ、ＲＯＭ、
ＥＥＦＲＯＭ及び入出力ボート等が配置された１チツプ
マイクロコンピユータであり、前記ＲＯＭ並びにＥＥＦ
ＲＯＭ内にはＡＦψ測光制御を含む一連の制御用ソフト
ウェア及びパラメータが格納されている。１０２はデー
タバス、１０３は前記制御１０１より制御信号１０４が
入力している間データバス１０２を介して入力するデー
タを受は付け、該データに基づいて前記シャッタ１５の
先幕及び後幕の走行制御を行ラシャツタ制御回路、１０
５は制御信号１０６が入力している間データバス１０２
を介して入力するデータを受は付け、該データに基づい
て不図示の絞り機構を制御する絞り制御回路、１０７は
制御信号１０８が入力している間データバス１０２を介
して入力するデータを受は付け、該データに基づいて前
記撮影レンズ３の光軸４方向の位置制御を行うレンズ制
御回路である。１０９は前記調光用センサ１４等から成
るＴＴＬストロボ調光回路、又１１０は前記ＡＥ用セン
サＳＡＥ　、ＳＡＦ等から成るＡＥ用の測光回路であり
、これらにて光電変換された測光信号は前記制御回路１
０１へ送られ、該回路にて前述のシャッタ制御回路１０
３及び絞り制御回路１０５並びにストロボ１６を制御す
る為のデータとして用いられる。

また、３３は前記制御回路１０１より入力する各信号に
従ってＣＯＤから成る前記２組のラインセンサＳＡＡ　
、ＳＡＢとＳＡＣ、ＳＡＤを制御する、第７図にて説明
したセンサ駆動回路である。

次に一連の撮影動作について簡単に説明する。

不図示のレリーズ釦の第１ストロークが行われると、撮
影レンズ３：主ミラー５．サブミラー６゜フィールドレ
ンズ１１．二次結像レンズ１２等を通過した光束がＡＥ
用センサＳＡＥ　、ＳＡＦに入射し、測光回路１１０か
ら光電変換された測光信号が、すなわち被写体輝度情報
が制御回路１０１へ送られる。

またこれとほぼ同時に制御回路ｌｏｔはＡ像とＢ像、Ｃ
像とＤ像の位相差Ｘ、、Ｘ２を得る為に（尚ここでは絞
りとしては１４以上が選択されている場合を想定してい
る）センサ駆動回路３３を介して、同様の光路を通って
被写体像が入射しているラインセンサＳＡを駆動する。

この時の制御回路１０１、センサ駆動回路３３、ライン
センサＳＡの各動作を説明すると、制御回路１０１に蓄
積開始信号ＳＴＲが発生すると、センサ駆動回路３３は
クリア信号ＣＬをラインセンサＳＡへ出力し、ラインセ
ンサＳＡＡ　、ＳＡＢ及びＳＡＣ、ＳＡＤの各光電変換
部の電荷をクリアする。するとラインセンサＳＡは前段
に配置されている二次結像レンズ１２によって投影され
ている像の光電変換及び電荷蓄積動作を開始する。前記
動作が開始してから所定時間が経過すると、センサ駆動
回路３３は転送信号ＳＨをラインセンサＳＡへ出力し、
光電変換部に蓄積された電荷をＣＣＤ部へ転送する。同
時に前記センサ駆動回路３３は蓄積開始信号ＥＮＤを制
御回路１０１へ出力し、該制御回路１０１よりＣＣＤ駆
動クロックＣＫが入力するのを待つ、ＣＯＤ駆動クロり
クＣＫが入力すると、センサ駆動回路３３はＣＣＤ駆動
信号φ１　。

φ２を生成し、該信号をラインセンサＳＡへ出力する。

ＣＣＤ駆動信号φ１　、φ２が入力すると、ラインセン
サＳＡはこの信号に従ってアナログ像信号ＳＳＡを制御
回路ｌｏｔへ出力する。これにより制御回路１０１はＣ
ＣＤ駆動クロックＣＫに同期してアナログ像信号をＡ／
Ｄ変換し、像信号Ａ（ｉ）〜Ｄ　（ｉ）を得て公知の演
算方式により位相差Ｘ、、Ｘ２を、すなわち焦点検出信
号を算出し、レンズ制御回路１０７へ該データを出力す
る。レンズ制御回路１０７はこれを受けて公知の駆動方
式により撮影レンズ３の制御を行う。

次にレリーズ釦の第２ストロークが行われると、主ミラ
ー５．サブミラー６が上昇し、シャッタ１５の先幕が走
行すると共にストロボ１６の発光が開始される。これに
よりストロボ光が被写体面で反射し、この反射光が撮影
レンズ３を透過してフィルムに入射し、該フィルム上へ
の被写体像の写し込みが開始される。又この様にフィル
ムに入射した光束の一部は該フィルム面で反射し、フィ
ールドレンズ１１を介して調光用センサ１４へ入射し、
ここで受光され光電変換された測光信号がＴＴＬストロ
ボ調光回路１０９より制御回路１０１へ出力される。す
ると前記制御回路１０１は先の測光回路１１０よりの測
光情報と前記ＴＴＬストロボ調光回路１０９よりの測光
情報とを比較し、一致したことを検知、すなわち適正露
光に達した事を検知するとシャッタ制御回路１０３を介
してシャッタ１５の後幕を走行させる。この後前記フィ
ルムの巻上げが行われ、一連の撮影動作が終了する。

本実施例によれば、赤外カットフィルタ２１面を分光透
過率特性の異なる２つの領域２１ａ、２１ｂに分割し、
ＡＦ系の有効部は領域２１ａ、ＡＥ系及び調光系の有効
部は領域２１ａ及び領域２ｔｂとしたことにより、以下
の効果がある。

１）それぞれの光路が共有される部分に１つの赤外カッ
トフィルタ２１を配置することのみでそれぞれの系に適
した分光感度特性を持たせることかき、このことからカ
メラのコンパクト化、低コスト化を実現することが可能
となる。

２）スポット測光の測光感度特性を画面中央に位置させ
ることができる。

３）ＴＴＬストロボ調光用の開口面積を大きくとること
ができる。

４）ミラーボックス内に露出するレンズが１つである為
、内面反射を最小域に押さえることができる。

（発明の効果） 以上説明したように１本発明によれば、分光感度補正用
フィルタを焦点検出光学系と測光光学系の共有される光
路中に配置し、焦点検出用センサに入射する光束の透過
部分を含む第１の領域と、測光用センサに入射する光束
の透過部分のうち、前記第１の領域に含まれない部分を
含む第２の領域とに分割して、前記第１の領域の分光透
過率を前記焦点検出用センサに、前記第２の領域の分光
透過率を前記測光用センサに、それぞれ適したものに定
め、以て、１つの分光感度補正用フィルタにより、焦点
検出用センサと測光用センサのそれぞれに対して異なる
分光透過率特性を与えるようにしたから、コンパクト化
、低コスト化を達成しながら、それぞれの系のセンサ上
での分光感度分布を適正化することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す断面図、第２図は第１
図図示のＡＦ−測光ユニットの断面図、第３図は同じ＜
ＡＦ・測光ユニットの構造を説明する展開斜視図、第４
図は同じ＜ＡＦ−測光ユニー／　ト内におけるＡＦ系の
一方の光路展開図、第５図は同じく他方の光路展開図、
第６図は瞳領域分割の説明図、第７図は第１図図示のＡ
Ｆ−ＡＥ用センサと二次像との関係を説明する図、第８
図はデフォーカス量演算時に使用される像信号を説明す
る図、第９図はファインダ視野内における測距エリアを
示す図、第１０図は第１図図示の二次結像レンズに製造
誤差がある場合のＡＦ−ＡＥ用センサと二次像との関係
を説明する図、第１１図（ａ）は製造誤差のない理想的
な二次結像レンズを示す平面図、第１１図（ｂ）は製造
誤差のある二次結像レンズを示す平面図、第１２図は第
１１図（ｂ）の二次結像レンズを使用した時の不得手な
被写体像を説明する図、第１３図は第１１図（ｂ）の二
次結像レンズが使用された場合における二次像とライン
センサとの位置調整量を説明する図、第１４図はファイ
ンダ視野内における測光エリアを示す図、第１５図は第
２図図示の赤外カットフィルタの各領域を示す上面図、
第１６図及び第１７図は赤外カットフィルタの各領域で
の分光透過特性図、第１８図は本発明の一実施例の概略
ギ示すブロック図である。 ３・・・・・・カメラ、５・・・・・・主ミラー、６・
・・・・・サブミラー、１０・・・・・・ＡＦ１１測光
ユニツ）、１１・・・・・・フィールドレンズ、１２・
・・・・・二次結像レンズ、１３・・・・・・ＡＦ−Ａ
Ｅ用センサ、１４・・・・・・ＴＴＬストロボ調光用セ
ンサ、３３・・・・・・センサ駆動回路、１０１・・・
・・・制御回路、１０９・・・・・・ＴＴＬストロボ調
光回路、１１０・・・・・・測光回路、ＳＡＡ　Ｎ５Ａ
Ｄ・・・・・・ラインセンサ、ＳＡＥ　、ＳＡＦ・・・
・・・ＡＥ用センサ。 特許出願人　　キャノン株式会社 代　　理　　人　　　中　　　村　　　　　稔第２図 第１Ｑ図 第１１図 手続補正書（自発） 昭和６１年１１月４日 特許庁長官　黒ＦＢ　　明雄　殿 １、°１警件の表示　　特願昭６１−２３１３３３号２
、発明の名称　　測光・測距装置 ３、補正をする者 ′！１）件との関係　特許出願人 東京都大■Ｉ区下丸子３丁目３０番２号（１００）キャ
ノン株式会社 ４、代理人 東京都港区高輪１丁目２番１６号 ５、補正の対象 図面 ６、補正の内容 第１２図を別紙の通り補正する。、、−一一一第１２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）焦点検出用センサを有する焦点検出光学系と、該
   焦点検出光学系の光路中の少なくとも一部の光路を共有
   する、測光用センサを有する測光光学系と、前記焦点検
   出用センサと前記測光用センサとの分光感度特性を補正
   する分光感度補正用フィルタとを備えた測光・測距装置
   において、前記分光感度補正用フィルタを前記焦点検出
   光学系と前記測光光学系の共有される光路中に配置し、
   前記焦点検出用センサに入射する光束の透過部分を含む
   第１の領域と、前記測光用センサに入射する光束の透過
   部分のうち、前記第１の領域に含まれない部分を含む第
   ２の領域とに分割して、前記第１の領域の分光透過率を
   前記焦点検出用センサに、前記第２の領域の分光透過率
   を前記測光用センサに、それぞれ適したものに定めたこ
   とを特徴とする測光・測距装置。