JPS6388512A - 焦点検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （発明の利用分野） 本発明は、直交した２方向の物体の輝度分布に基づいて
焦点状態を検出する焦点検出装置に関するものである。

（発明の背景） 従来、例えばカメラに配置された位相差検出方式の焦点
検出装とにおいては、被写体の一方向のみの輝度分布か
ら撮影レンズのデフォーカス量を検出するように構成さ
れていることから、その方向に輝度分布を持たない被写
体に対しては焦点検出不能となるといった欠点を有して
いた。この点に鑑み、本願出願人は特開昭６０−２３５
８２２号（未公開）により５例えば直交して配置される
縦方向対の焦点検出用ラインセンサと横方向対の焦点検
出用ラインセンサ及びこれらに二次像を形成する対のレ
ンズ部を有する二次結像レンズ等を配置して撮影画面の
横方向及び縦方向の輝度分布を検出し、それぞれのセン
サ出力より撮影レンズのデフォーカス量を検出すること
を可能とした装置を提案している。これにより、その時
の被写体の外観、パターンによって一方のデフォーカス
量が演算不能に落ちいることがあっても、他方の輝度分
布からデフォーカスψを得ることが可能な為、焦点検出
が不能になるといったことがなくなり、非常に有効な装
置と言える。

ところで、前述の様な実施例装置において、それぞれ直
交して配置される２対のラインセンサはいずれも入射す
る光束の光軸に対して垂直な方向に位置して配置される
ことが正確な焦点状態を検出する上で必須条件であるが
、組立て誤差等により対となるラインセンサの一方、或
いは両方が前記関係を失った場合（長手方向に誤差を生
じている場合）、正確な焦点状態の検出が不可能となっ
てしまう。

（発明の目的） 本発明の目的は、光軸に垂直な面に対してそれぞれの焦
点検出用センサ対が傾いて配置されていた場合であって
も、その傾き調整を行え、誤った焦点状態の検出を行う
ことを防止することのできる焦点検出装置を提供するこ
とである。

（発明の特徴） 上記目的を達成するために、本発明は、一方の焦点検出
用センサ対が並ぶ方向における、センサ保持部材の、光
軸と垂直な面に対する傾き量を調整する第１の調整機構
と、他方の焦点検出用センサ対が並ぶ方向における、セ
ンサ保持部材の、光軸と垂直な面に対する傾き清を調整
する第２の調整機構とを備え、以て、前記第１．第２の
調整機構により一方及び他方の焦点検出用センサ対を光
軸に垂直な面と一致させるようにしたことを特徴とする
。

（発明の実施例） 以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する
。

第１〜３図は本発明をカメラに適用した場合の一実施例
を示すものであり、第１図はストロボが装着された状態
での断面図である。第１図において、１はカメラボディ
、２は撮影レンズ３を光軸４の方向に移動釘能に保持す
るレンズ鏡筒、５はサブミラー６と共に前記撮影レンズ
３を透過した被写体光をファインダー系とＡＦφ測光系
に分離する主ミラー、７はペンタプリズム８及び接眼レ
ンズ９と共にファインダー系を構成するピントグラス、
１０は、フィルードレンズ１１．二次結像レンズ１２．
ＡＦ用テラインセンサＡＥ用センサとが配置（詳細は後
述）されるセンサ部１３ａ等を保持するＡＦ−ＡＥ用セ
ンサ保持部材１３．センサ部１４ａ等を有するＴＴＬス
トロボ調光用センサ１４とを有するＡＦ−測光系（ここ
ではＴＴＬストロボ調光系とＡＥ系の両方の系を測光系
と称している）を成すＡＦΦ測光ユニット、１５はシャ
ッタ、１６はストロボ、１７は閃光発光部、１８はＡＦ
用近赤外線補助光発光部である。

第２，３図は第１図にて示したＡＦ・測光ユニット１０
の主要部のみの詳細図であり、第２図はその断面図であ
り、第３図はその展開斜視図である。

本体ブロック１９の上面側には、視野マスク２０、透過
率の異なる領域２１ａ、２１ｂを有する赤外カットフィ
ルタ２１、フィールドレンズ１１の順番でそれぞれが取
り付けられ、また下面側には、絞り２２、二次結像レン
ズ１２、押えばね２３、センサブロック２４、センサホ
ルダ２５、ＡＦφＡＥ用センサ保持部材１３のｊ順番で
それぞれが取り付けられる。更に本体ブロー、り１９に
は、フィルム面よりの反射光を前記フィールドレンズ１
１を介して受光する事のできる位置にＴＴＬストロボ調
光用センサ１４が取り付けられる。

前記絞りｚ２は第３図に示す様に直交して設けられた対
の開口部２２ａ、２２ｂと２２ｃ　、２２ｄを有すると
共に、これら開口部の中心Ａと一致した点を半径とする
弧を持つ位置決め部２２ｅ。

２２ｆ及びばね部２２ｇ、長穴２２ｈとを有している。

レンズ部１２ａ　Ｎ１２ｄを有する二次結像レンズ１２
は前述の様な各部を有する絞り２２を本体ブロック１９
との間に挟み込んだ状態でピン１２ｅ　、１２ｆによっ
て位置決めされ、押えばね２３によって固定される（第
２図参照）、この様な状態において、前記二次結像レン
ズ１２のレンズ部１２ａ−１２ｄは前記開口部２２ａ　
〜２２ｄと対応した位置関係にあり（詳細は後述）、ま
た前記位置決め部２２ｅ　、２２ｆには二次結像レンズ
１２のビン１２ｇ、１２ｈが、ばね部２２ｇにはビン１
２ｉが、それぞれ挿入される。前記ばね部２２ｇにピン
１２ｉが挿入されることにより、該ばね部２２ｇは第２
図の様に変形し、絞り２２を位置決め部２２ｅ　、２２
ｆの方向に付勢する力を生じる。したがって、偏心ビン
２６を絞り２２の長穴２２ｈを介して本体ブロック１９
の穴に差し込み、これを回転させることによって絞り２
２の各開口部の中心Ａを軸とした該絞り２２の微小角回
転（第２図矢印Ｂ方向）が可能となる。

前記二次結像レンズ１２の下部には前述した様にセンサ
ブロック２４．センサホルダ２５が配置されるが、これ
らは取付はビス２７．ワッシャ２８、偏心ビン２９と共
にさらにその下部に配置されるＡＦ−ＡＥ用センサ保持
部材１３の傾き調整機構を成している。前記ＡＦ・ＡＥ
用センサ１３はセンサホルダ２５の取付は面２５ａに接
着され、このセンサホルダ２５は取付は穴２４ａ、２４
ｂを有するセンサブロック２４の円弧状取付は面２４Ｃ
に前記取付は穴２４ａを介して取付はビス２７．ワッシ
ャ２８によって固定される。

ここで、前記円弧状取付は面２４ｃのＲ中心は第２図に
想定して描いた軸Ｃであり、またセンサブロック２４の
取付は穴２４ａは長穴になっている為、第２図矢印り方
向の傾斜調整が可能である。さらにセンサホルダ２５は
前記取付は穴２４ａと同様長穴となっている取付は穴２
４ｂを介して偏心ビン２９によってもセンサブロック２
４に固定され、又センサホルダ２５の屈曲部２５ｂの肉
厚を十分に薄くシて可撓性を持たせである為、前記偏心
ビン２９を回転さぜることによって第２図に想定して描
いた軸Ｅをほぼ中心として第２図矢印Ｆ方向の傾斜調整
が可能である。

以りの様な構成より成るＡＦφ測光ユニット１０におい
て、以下にＴＴＬストロボ調光系、ＡＦ系、ＡＥ系のそ
れぞれについて説明する。

まずＴＴＬストロボ調光系（以下の実施例においては調
光系と略記する）について述べる。調光系は、ストロボ
撮影時のフィルム面の反射光をフィールドレンズ１１に
より調光用センサ１４のセンサ部１４ａに取り込み、そ
の受光量によってストロボ１６の発光を停止させる為の
ものである。つまり、主ミラー５．サブミラー６が上昇
し、シャッタ１５の先幕が走行しフィルムが露出した状
態でストロボ１６が発光すると、被写体像がフィルム上
に結像し、その反射光が生じる。その一部の反射光が第
２図に示したＡＦ−＠光ユニット１０の視野マスク２０
．赤外カットフィルタ２１及びフィールドレンズ１１を
通過して調光用センサ１４のセンサ部１４ａに入射し５
例えば受光される受光量が後述するスポット測光を行う
ＡＥ用センサによって予め求められている測光量に達し
たことが後述するマイクロコンピュータによって検知さ
れると、ストロボ１６側へ発光停止信号が出力され、発
光が停止する゛。

尚前述からもわかる様に、ＡＦ系、ＡＥ系に使用される
フィールドレンズ１１をＴＴＬ’ｍ光系に共用している
為、カメラのコンパクト化、低コスト化を実現した状態
でフィルム感度分布を良好なものにすることができる。

次にＡＦ系について述べる。第４図及び第５図はＡＦ系
の光路展開図である。二次結像レンズ１２には第３図に
示した様に直交して配置された対（７）　Ｌ／　７ズ部
１２ａ、１２ｂと１２ｃ、１２ｄを有しており、このう
ちのレンズ部１２ａ、１２ｂの光軸を含む断面を表した
ものが第４図であり、レンズ部１２ｃ、１２ｄの光軸を
含む断面を表したものが第５図である。尚ここでは図の
簡略化の為に絞り２２の各開口部の開口中心を通過する
一次結像面での物品がＯの光線のみを描いており、図中
矢印Ｇの位首が一次結像面、矢印Ｈがセンサ部１３ａの
センサ面である。二次結像レンズ１２のレンズ部１２ａ
−１２ｄには前述した様に絞り２２の開口部２２ａ〜２
２ｄがそれぞれ対応しており、これによりセンサ部１３
ａｉには４つの二次像が形成され、これらの二次像の境
界は視野マスク２０の開口像によって分離されている。

絞り２２の同一形状をした対となる開口部２２ａと２２
ｂの間隔は開口部２２ｃと２２ｄの間隔よりも狭くなっ
ており、これらの開口部はフィールドレンズ１１によっ
て撮影レンズ３の瞳」−に投影されている。この様子を
示したのが第６図である０図中３１は撮影レンズ３の射
出瞳、３１ａ〜３１ｄはそれぞれ絞り２２の開口部２２
ａ〜２２ｄに対応する瞳面りでの領域である。一般的な
カメラ用撮影１／ンズの場合にはＭ、Ｎの領域をそれぞ
れＦ４、Ｆ８程度に選べばよい。

ＡＦ−ＡＥ用センサ保持部材１３のセンサ部１３ａ上で
の二次像の様子を示したのが第７図である。センサ１３
ａ上には縦方向測距と横方向測距を行うＡＦ川のライン
センサＳＡＡ　、ＳＡＢとＳＡＣ、ＳＡＤと、前記ライ
ンセンサＳＡＡ、ＳＡＢに隣接（測距エリアを挟む様に
）して２つのＡＦ用のセンサＳＡＥ　、ＳＡＦが配置さ
れ、この上にニュ次像３２ａ〜３２ｄが二次結像レンズ
１２によって投影される。前記二次像３２ａ、３２ｂは
撮影レンズ３の膝上に領域３１ａ、３１ｂを通過した光
束による被写体像であり、二次像３２Ｃ２３２ｄは領域
３１ｃ、３１ｄを通過した光束による被写体像である。

尚破線部３２ｅ　、３２ｆはサブミラー６によって欠ら
れてしまう像望域である。またセンサ部１３ａ上に配置
されている３３ａ〜３３’ｄは前記ラインセンサＳＡＡ
　Ｎ５ＡＢのセンサ駆動回路で、この部分への光の入射
がセンサ出力に対して影響しないように遮光用アルミ層
がこの上に形成されている。

第８図はデフォーカス量演算の説明図であり。

ラインセンサ５ＡＡ−５ＡＤの各出力をそれぞれＡ像〜
Ｄ像として表している＃第６図で説明した様に、Ａ、Ｂ
像は膝上の領域３１ａ、３１ｂを通過した光束によって
形成され、−万〇、Ｄ像はより外側の領域３１ｃ、３１
ｃｉを通過した光束によって形成されている為、撮影レ
ンズ３のデフォーカスに対する像ずれ量はＣ，Ｄ像の方
がＡ、Ｂ像よりも大きい、つまり第８図において。

位相差ＸＩよりもｘ２の方が大きい、この位相差Ｘ　ｒ
　　、　Ｘ　２情報が前記センサ駆動回路３３ａ〜３３
ｄを介して後述するマイクロコンピュータへ伝達され、
ここでデフォーカス量の演算が行われて撮影レンズ３の
焦点制御が実行されるわけであるが、ラインセンサＳＡ
Ａ、ＳＡＢとＳＡＣ、ＳＡＤの両方にて測距を行う場合
においては、Ｃ，Ｄ像からの演算結果の方が像ずれ量が
大きい為、こちらの結果を使用した方が焦点検出精度が
高いものとなる。

第９図はカメラのファインダ視野内の測距エリアを示す
図である。図中３４はカメラのファインダ視野、３５は
前記ファインダ視野３４内における測距二リアを想定し
て描いたものであり、横方向の測距エリアがラインセン
サＳＡＡ　、ＳＡＢの逆投影像、縦方向の測距エリアが
ラインセンサＳＡＣ、ＳＡＤの逆投影像に一致している
。実際測距エリア３５は第１図のピントグラス７に図形
として占込まれる。

第１０図は二次結像レンズ１２に製造誤差を生じている
場合におけるＡＦΦＡＥ用センサ１３のセンサ１３ａ上
での様子を示したものである。つまり第１１１１Ｎ（ａ
）に示す様に理想とする二次結像レンズ１２内の各レン
ズ部の位置関係が、第１１図（ｂ）の様に誤差（絞り２
２の各開口部２２ａ〜２２ｄに対して）を生じている場
合を想定している。この様にＬ／７ズ部１２ａ、１２ｂ
と１２ｃ　。

に二次像３２ａ、３２ｂと３２ｅ、３２ｄの直角面も悪
くなる。したがって、二次像３２ａ、３２ｂに対してラ
インセンサＳＡＡ　、ＳＡＢの位置を合わせると、一方
で二次像３２ｃ　、３２ｄに対するラインセンサＳＡＣ
、ＳＡＤの位置合わせは不可能となる。その結果、ライ
ンセンサＳＡＣ、ＳＡＤ上へは被写体の異なる部分が投
影されることになり、該測距エリアに対して第１２図に
示す様に斜め線をもつ輝度パターンの被写体像が入射し
た時（製造誤差がない場合には同一の画素上に斜め線を
もつ輝度パターンの被写体像が入射する）には合焦エラ
ーを生じ、このままでは不都合である。そこで、この様
な場合には絞りｚ２を第３図矢印Ｂ方向に回転し、ライ
ンセンサＳＡＣ，ＳＡＤに対する二次像３２ｃ　、３２
ｄの位置合わせを行う。

：ｆＳ１３図は先の説明（位置合わせ）を助ける為の図
で、核間は第５図において二次結像レンズ１２を矢印■
方向から見たものである０図中Ｊはレンズ部１２ｃ、１
２ｄの二攻拮着面で島ｉ１　　この様にレンズ部１２ｅ
、１２ｄの結像面はＡＦ・ＡＥ用センサ１３のセンサ部
Ｈより後方に位置し、（てンサ面Ｈｆ−にはデフす−カ
スした像が投影される。一方レンズ部１２ａ、１２ｂの
結像面はセンサ面Ｈと一致し、ピントの合った像がライ
ンセンサＳＡＡ　、ＳＡＢに投影される。換言すれば、
二次結像レンズ１２の製造誤差に伴う補正を行える様に
、レンズ部１２ａ、１２ｂの結像面はセンサ重重（に一
致させ、レンズ部１２ｃ、１２ｄの結像面は後方（前方
であってもよい）に位置、すなわちセンサ面Ｈ上にはデ
フォーカスした像が投影されるように構成している。尚
核間において、Ｋはレンズ部１２ａとレンズ部１２ｂに
よって決定された軸、Ｌはレンズ部１２ｃの軸、Ｕは絞
り２２の位置からセンサ面Ｈまでの距離、Ｖはセンサ面
Ｈから二次結像面Ｊまでの距離である。

ここでレンズ部１２ｅの軸りがδだけ偏心している時、
二次結像面Ｊ上での像位置のずれがεだけ生じたとする
と、二次結像倍率をβとして（＝δ（１＋β）（１） なる関係が成る立′）、この時、センサ面Ｈ上での像位
置のずれはα（＝ε・Ｕ／　（Ｕ＋Ｖ））である。この
ずれαは像がデフォーカスしている為、絞り２２の開口
部２２ｅ　、２２ｄの位置を移動することで変化させる
ことができる。よって、二次結像面Ｊでεだけ位置ずれ
を生じた像をセン９而■（上で軸にと交差するように調
整すれば、第１ｚ図で示した斜め線をもつ被写体像が入
射したとしても合焦エラーはなくなるわけで、その為に
は絞り２２の開口部２２ｅをＣだけ移動すればよく、こ
の移動ｆｉｔｃは以下なる式により求めることができる
。つまり、移動量Ｃを前記距離ｕ　＊　ｖ、偏心φδ、
二次結像倍率βで表すと ｅ　／　ｖ　＝　ｃ　／　ｕ Ｃ＝ｕ・ε／ｖ　　　　　　　　　　（２）前記（１）
、（２）式より Ｃ＝ｕδ（ｌ＋β）／ｖ　　　　　　（３）となる、前
記式より得られる移動量Ｃだけ絞り２２（開口部２２ｃ
、２２ｄ）を移動させるのは、第２．３図に示した偏心
ピン２６を回転することによって可能である。この時他
方の二次像３２ａ、３２ｂについてはピントの合った像
がセンサ面Ｈ上に形成されている為、絞り２２の回転に
よって影響を与えることはない、仮に、製造誤差によっ
てセンサ部１３ａの光軸方向位置がずれていたとしても
、二次像３２ａ、３２ｂを形成する絞り２２の開口部２
２ａ　、２２ｂは内側に位置している為（開口部２２ｃ
　、２２ｄに対して）、絞り２２の回転に伴う前記開口
部の移動は比較的小さく、それによる像位置のずれも微
小量となる。

第１４図はセンサ部１３ａが光軸に対して傾いて配置さ
れている場合の焦点検出エラー量を説明する図である。

核間において、横軸は測距視野内での測距ポイント、縦
軸は焦点検出エラー量を示しており、センサ部１３ａの
第２図に示した軸Ｃを中心とした矢印り方向或いは軸Ｅ
を中心とした矢印Ｆ方向への組立て誤差等による傾きθ
をパラメータとしている。センサ部１３ａの光軸に対す
る傾きが生じた場合、つまり実質的にはラインセンサＳ
ＡＡ　、ＳＡＢ或いはＳＡＣ、ＳＡＤがそれぞれの長子
方向へ傾いている場合、焦点検出エラーを生じるわけで
、矢印Ｅ方向への傾きは横方向Δ１１距視野、矢印Ｆ方
向への傾きは縦方向測距視デ）のエラーにそれぞれ対応
する。これらの傾き調整は第２，３図において説明した
調ｇ機構により調整可能である。このようにセンサの傾
きに応じて測距視野自位置に対する合焦エラー酸が変化
するということは、逆に二次像レンズ１２の傾き或いは
偏心によって合焦位置の測距視野内変化が生じたとして
も、センサの傾き調整でこれを補正することが可能とい
うことを示している。

次にＡＥ系について述べる。ＡＦ用のセンサＳＡＥ、Ｓ
ＡＦは第７図により説明１７た様に、ラインセンサＳＡ
Ａ　、ＳＡＢに隣接した位置に配置され、絞り２２の開
口部２２ａ、２２ｂを通過した光束、すなわち第６図に
示した射出瞳りの領域３Ｉａ、３１ｂを通過した光束に
よって視野マスク２０の開口像（開口形状内を通過した
被写体像）が投影されている。したがって、ＡＦ川のセ
ンサＳＡＥ　、ＳＡＦの合成された測光ニーリアは第１
５図に示すスポット状、厳密に言うとファインダ視野３
４内において、視野マスク２０の開口像からラインセン
サＳＡＡ　、ＳＡＢに対応する長方形状エリア３５ｃを
除いたもの（第１５図の３５ａ。

３５ｂで示したエリア）となる、前記長方形状エリア３
５ｃの面積はかなり小さい為、測光感度分布としてはほ
とんど視野マスク２０の開口形状と見なすことができ、
よってスポット測光撮影に際してはこの測光エリアによ
り測光された値に基づいて露出時間制御、つまりは後述
するマイクロコンピュータによりシャッタ１５及び不図
示の絞り制御が行われる。

ところで本実施例において、調光系、ＡＦ系。

ＡＥ系はその光路を共有しているが、前述した様にそれ
ぞれのセンサに入射する光の波長域はそれらの系毎に制
限する必要がある。つまり、調光系とＡＥ系はその分光
感度特性をフィルムの分光感度特性に合致させることが
望ましく、一方ＡＦ系は低輝度被写体に対して例えば近
赤外補助光が用いられることから、近赤外光まで感度を
有さなければならない、なお近赤外補助光が用いられな
い場合であっても、できるだけ多くの光は取り込みたい
（１１１１距精度を高める）と言う理由から、近赤外光
まで感度を有することが望ましい、一般にセンサは１１
０００ｎ以−Ｌの波長の光に対しても感度がある為、赤
外光は光学的フィルタによってカットする必要がある。

：５１６４は前記要求を達成することを可能とした赤外
カットフィルタ２１を示す図であり、核間に示した３６
ａ、３６ｂがＡＥ系における有効部、３７が調光系にお
ける有効部である。この赤外カットフィルタ２１は分光
透過率特性の異なる２つの領域２１ａ、２１ｂから成り
、領域２１ａは例えば第１７図の如き特性を有し、領域
２１ｂは第１８図の如き特性を有している。すなわち領
域２１ａの赤外線カット波長は７００ｎｍ、領域２１ｂ
の赤外線カット波長は７４０ｎｍとなっている。第１６
図に示す様に調光系とＡＥ系の有効部は２つの領域にま
たがって位置しているが、いずれにおいても領域２１ａ
の占る割合が領域２１ｂに対して小さい為、フィルムの
分光感度特性（４００〜７００ｎｍ）に近い特性で測光
を行うことが可能である。これに対し、ＡＦ系の有効部
は領域２１ａの形状からもわかるように該領域２１ａに
完全に含まれるように構成され、ラインセンサ面りでの
照度むらのないように配慮されている。

第１９図は前記構成から成る一眼レフレックスカメラの
主要部の概略を示すブロック図である。

１０１はカメラの各種動作を制御する制御回路で１例え
ば内部にＣＰＵ（中央演算処理部）、ＲＡＭ、ＲＯＭ、
ＥＥＦＲＯＭ及び入出力ボート等が配置された１チシブ
マイクロコンピユータであり、前記ＲＯＭ並びにＥＥＦ
ＲＯＭ内にはＡＦ會Ｊｌｌｌ光制御を含む一連の制御用
ソフトウェア及びパラメータが格納されている。１０２
はデータバス、１０３は前記制御回路１０１より制御信
号１０４が入力している間データバス１０２を介して入
力するデータを受は付け、該データに基づいて前記ジャ
シタ１５の先幕及び後幕の走行制御を行うシャッタ制御
回路、１０５は制御信号１０６が人力している間データ
バス１０２を介して入力するデータを受はイ・Ｊけ、該
データに基づいて不図示の絞り機構を制御する絞り制御
回路、１０７は制御信号１０８が入力している間データ
バス１０２を介して入力するデータを受は付け、該デー
タに基づいて前記撮影レンズ３の光軸４方向の位置制１
Ｊｌｌを行うレンズ制御回路である。１０９は前記調光
用センサ１４等から成るＴＴＬストロボ調光回路、又１
１０は前記ＡＥ用センサＳＡＥ　、ＳＡＦ等から成るＡ
Ｅ用の測光回路であり、これらにて光電変換された測光
信号は前記制御回路１０１へ送られ、該回路にて前述の
シャッタ制御回路１０３及び絞り制御回路ｌＯ５並びに
ストロボ１６を制御する為のデータとして用いられる。

また、３３は前記制御回路１０１より入力する各信号に
従ってＣＯＤから成る前記２組のラインセンサＳＡＡ　
、ＳＡＢとＳＡＣ、ＳＡＤを制御する、第７図にて説明
したセンサ駆動回路である。

次に一連の撮影動作について簡単に説明する。

不図示のレリーズ釦の第１ストロークが行われると、撮
影レンズ３．主ミラー５．サブミラー６゜フィールドレ
ンズ１１．二次結像レンズ１２等を通過した光束がＡＥ
用センサＳＡＥ　、ＳＡＦに入射し、測光回路１１０か
ら光電変換された測光信号が、すなわち被写体輝度情報
が制御回路１０１へ送られる。

またこれとほぼ同時に制御回路１０１はＡ像とＤ像、Ｃ
像とＤ像の位相差Ｘ、、Ｘ２を得る為に（尚ここでは絞
りとしてはＦ４以上が選択されている場合を想定してい
る）センサ駆動回路３３を介して、同様の光路を通って
被写体像が入射しているラインセンサＳＡを駆動する。

この時の制御回路１０１．センサ駆動回路３３．ライン
センサＳＡの各動作を簡単に説明すると、制御回路１０
１に蓄積開始信号ＳＴＲが発生すると、センサ駆動回路
３３はクリア信号ＣＬをラインセンサＳＡへ出力し、ラ
インセンサＳＡＡ　、ＳＡＢ及びＳＡＣ、ＳＡＤの各光
電変換部の電荷をクリアする。

するとラインセンサＳＡは前段に配置されている二次結
像レンズ１２によって投影されている像の光電変換及び
電荷蓄積動作を開始する。前記動作が開始してから所定
時間が経過すると、センサ駆動回路３３は転送信号Ｓ　
ｌ（をラインセンサＳＡへ出力し、光電変換部に蓄積さ
れた電荷をＣＣＤ部へ転送する。同時に前記センサ駆動
回路３３は蓄ＪＪ’［終了信号ＥＮＤを制御回路１０１
へ出力し、該制御回路１０１よりＣＣＤ駆動クロックＣ
Ｋが入力するのを待つ、ＣＣＤ駆動クロックＣＫが入力
すると、センサ駆動回路３３はＣＣＤ駆動信号φ皇　、
φ２を生成し、該信号をラインセンサＳＡへ出力する。

ＣＯＤ駆動信号φ！　、φ２が入力すると、ラインセン
サＳＡはこの信号に従ってアナログ像信号ＳＳＡを制御
回路ｌＯ１へ出力する。

これにより制御回路１０１はＣＣＤ駆動クロックＧＫに
同期してアナログ像信号をＡ／Ｄ変換し、像信号Ａ　（
ｉ）〜Ｄ　（ｉ）を得て公知の演算方式により位相差Ｘ
、、Ｘ２を、すなわち焦点検出信号を算出し、レンズ制
御回路１０７へ該データを出力する。レンズ制御回路１
０７はこれを受けて公知の駆動方式により撮影レンズ３
の制御を行う。

次にレリーズ釦の第２ストロークが行われると、主ミラ
ー５．サブミラー６が上昇し、シャッタ１５の先幕が走
行すると共にストロボ１６の発光が開始される。これに
よりストロボ光が被写体面で反射し、この反射光が撮影
レンズ３を透過してフィルムに入射し、該フィルム上へ
の被写体像の写し込みが開始される。又この様にフィル
ムに入射した光束の一部は該フィルム面で反射し、フィ
ールドレンズ１１を介して調光用センサ１４へ入射し、
ここで受光され光電変換された測光信号がＴＴＬストロ
ボ調光回路１０９より制御回路１０１へ出力される。す
ると前記制御回路１０１は先の測光回路１１０よりの測
光情報と前記ＴＴＬストロボ調光回路１０９よりの測光
情報とを比較し、一致したことを検知、すなわち適正露
光に達した事を検知するとシャッタ制御回路１０３を介
してシャッタ１５の後幕を走行させる。この後前記フィ
ルムの券トげが行われ、−律の場影動作が終了する。

本実施例によれば、対となるラインセンサＳＡＡ、ＳＡ
Ｂの方向と光軸との両方に直交する方向を袖とした円筒
部２４ｅと、他方の対となるラインセンサＳＡＣ、ＳＡ
Ｄの方向と光軸との両方に直交する方向に屈曲する屈曲
部２５ｂとを設けたことにより、以下の効果がある。

ｌ）横方向測距部と縦方向測距部のそれぞれに対して独
立に傾斜調整が可能となり、傾いたことによる焦点検出
エラーをなくすことができる。

２）構成部品数が極めて少なくこの機構を実現すること
ができる。これによりカメラ低部に組込むことが可能と
なる。

（発明の効果） 以り説明したように、本発明によれば、一方の（，１％
点検出用センサ対が並ぶ方向における、センサ保持部材
の、光軸と垂直な面に対する傾き量を調整する第１の調
整機構と、他方の焦点検出用センサ対が並ぶ方向におけ
る、センサ保持部材の、光軸と垂直な面に対する傾き量
を調整する第２の調整機構とを備え、以て、前記第１．
第２の：Ａ整機構により一方及び他方の焦点検出用セン
サ対を光軸に垂直な面と一致させるようにしたから、光
軸に垂直な面に対してそれぞれの焦点検出用センサ対が
傾いて配置されていた場合であっても、その傾き調整を
行え、誤った焦点状態の検出を行うことを防止すること
が可能となる。また、製造誤差等によって生じたＡＦ光
学系構成部材の偏心で、測距視野内の像位置に依存した
測距エラーが起った場合にも、焦点検出用センサ対の傾
き調整によってこの測距エラーを補正することができる
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明をカメラに適用した場合の一実施例を示
す断面図、第２図は第１図図示のＡＦ−測光ユニットの
断面図、第３図は同じ＜ＡＦ・測光ユニットの構造を説
明する展開斜視図、第４図は同じ＜ＡＦ・測光ユニット
内におけるＡＦ系の一方の光路展開図、第５図は同じく
他方の光路展開図、第６図は瞳蒙域分割の説明図、第７
図は第１　ＩＡ図示のＡＦφＡＥ用センサと二次像との
関係を説明する図、第８図はデフォーカスひ演算時に使
用される像信号を説明する図、第９図はファインダ視野
内におけるｆｌ１１距エリアを示す図、第１Ｏ図は第１
図図示の二次結像レンズに製造誤差がある場合のセンサ
部と二次像との関係を説明する図、第１１図（ａ）は製
造誤差のない理想的な二次結像レンズを示す平面図、第
１１図（ｂ）は製造誤差のある二次結像レンズを示す平
面図、第１２図は第１１図（ｂ）の二次結像レンズを使
用した時の不得手な被写体像を説明する図、第１３図は
第１１図（ｂ）の二次結像レンズが使用された場合にお
ける二次像とラインセンサとの位置調整間を説明する図
、第１４図は第２図図示のセンサ部が光軸に対して傾い
て配置されている場合の焦点検出エラー量を説明する図
、第１５図はファインダ視野内における測光エリアを示
す図、第１６図は第２図図示の赤外カー２トフイルタの
各領域を示す上面図、第１７図及び第１８図は赤外カッ
トフィルタの各領域での分光透過特性図、第１９図は本
発明の一実施例の概略を示すブロック図である。 ３・・・・・・カメラ、５・・・・・・主ミラー、６・
・・・・・サブミラー、ｌＯ・・・・・・ＡＦ・測光ユ
ニット、１１・・・・・・フィールドレンズ、１２・・
・・・・二次結像レンズ、１３・・・・・・ＡＦ−ＡＥ
用センサ部材、１３ａ・・・・・・センｔｉ、１４・・
・・・・ＴＴＬストロボ調光用センサ、３３・・・・・
・センサ駆動回路、１０１・・・・・・制御回路、ｌＯ
９・・・・・・ＴＴＬストロボ調光回路、１１０・・・
・・・測光回路、５ＡＡ−５ＡＤ・・・・・・ラインセ
ンサ、ＳＡＥ、ＳＡＦ・・・・・・ＡＥ用センサ。 特許出願人　　キャノン株式会社 代　　理　　人　　　中　　　村　　　　　稔第２図 第１０図 第ｔｉ図 子糸；ｌ′Ｉ！有口正−）（自発） 昭和６１年１１月４日 特許庁長官　黒ＦｆＪ　　明ｌ！Ｒｈ２■、゛１ν件の
表示　　特願昭６Ｉ−２３１３２９号２、発明の名称　
　焦点検出装置 ３、補正をする者 ｉｉ（件との関係　特許出願人 東京都大田区下丸子３丁目３０番２号 （１００）キャノン株式会社 ４、代理人 東京都港区高輪１丁目２番１６号 鉛末ビル６階Ｃ室 （１３８９Ｇ）　　弁理モ　中　　村　　　稔、　−５
、補正の対象 図面 ６、補正の内容 第１２図を別紙の通り補正する。 第１２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）対物レンズと、センサ保持部材上に直交して配置
   される２対の焦点検出用センサと、該２対の焦点検出用
   センサ上にそれぞれ前記対物レンズにより結像された物
   体像の二次像を形成する二次結像レンズと、一方の焦点
   検出用センサ対が並ぶ方向における、前記センサ保持部
   材の、光軸と垂直な面に対する傾き量を調整する第１の
   調整機構と、他方の焦点検出用センサ対が並ぶ方向にお
   ける、前記センサ保持部材の、光軸と垂直な面に対する
   傾き量を調整する第２の調整機構とを備えた焦点検出装
   置。