JPS6138503A - 膜厚計 - Google Patents

膜厚計

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JPS6138503A
JPS6138503A JP15929484A JP15929484A JPS6138503A JP S6138503 A JPS6138503 A JP S6138503A JP 15929484 A JP15929484 A JP 15929484A JP 15929484 A JP15929484 A JP 15929484A JP S6138503 A JPS6138503 A JP S6138503A
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film thickness
circuit
probe
film
thickness
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Toshio Fujita
敏男 藤田
Koji Hasegawa
浩司 長谷川
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KETSUTO KAGAKU KENKYUSHO KK
Kett Electric Laboratory
Original Assignee
KETSUTO KAGAKU KENKYUSHO KK
Kett Electric Laboratory
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/10—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
    • G01B7/105—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance for measuring thickness of coating

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は金属板に施こされた表面処理皮膜の厚、さな測
定する装置に関する。
〔従来の技術とその問題点〕
一般に金属の防錆、絶縁あるいは外観上の目的で施こす
塗装皮膜あるいはメッキ皮膜あるいはアルマイト膜の厚
さは数μｍから数百μ扉の広範囲に及ぶ。この厚さな皮
膜を傷つけることなく測定する装置として皮膜に押し当
てたプローブのコアに巻回された１次巻線から発する印
加高周波電磁界により金属中に生ずるいわゆる渦電流損
失により影響された高周波電磁界を該プローブに巻回し
た２次巻線により測定し、皮膜の厚さに換算して表示す
る渦電流膜厚計がある。又、該金属が透磁率の高い鉄素
地系であればプローブと該金属との間の電磁誘導結合は
強くなるので計測回路を構成するのに好都合であり、こ
のような計測装置は電磁膜厚計として知られている。本
発明はこの両方の方式の膜厚計に共通して応用出来るも
のである。
金属の表面処理皮膜の品質に対する要求が強くなるに従
かい皮膜厚の計測を様々な場所で、より迅速に行ない、
より高度な演算処理結果を得ることのできる膜厚計が望
まれている。
橋梁、鉄塔、高層ビルなどの建設現場において皮膜の厚
さが基準の範囲内にあるか否かｔ従来の膜厚計を使って
計測するに際し、計測場所に登った計測者が読み上げる
厚さ表示値を別の記録係が記録するという作業を各計測
点に対して繰り返していた。この記録データは計算装置
などに入力されて平均値を求めたり、厚さの基準範囲内
にあるか否かの判定が行なわれる。上述の建設現場で計
測者自身が計測データを記録し、平均値演算ン行なうこ
とは非常に危険である。また太陽光線下の建設現場で透
明保護板を介して電子的あるいは電気的表示を読みまた
記録装置を内蔵することにより必要に【６じて記録した
データを検査成績とるとき、太陽光線ヲ避けることも必
要となる。とじて提示し、保管しておくことができるの
で一般の事業所、工腸等忙おいても多大の効果を発揮す
るものである。
〔問題点解決のための手段、作用効果及び実施例〕本発
明によれば、小型プリンタを組込み、かつ上記問題点を
克服した機能を有する携帯膜厚計を与えることができる
。この機能の説明を第５図〜第７図に示すフローチャー
トにより説明する前に、計測原理と回路構成について述
べる。
第１図は計測の原理を説明する図であって鉄芯１にコイ
ル２が巻回されてなるプローブ３に交流電源４ハ）ら電
流工が流されている。
表面に皮膜５を塗布した鉄材６にプローブ３が゛　　近
付くに従いこの電流は第２図に示すごとく変化する。こ
の変化は周知の電磁誘導の法則に基く、予め鉄Ｉｔ６と
同じ材質で所定の厚さの皮膜を塗布した標準板を使って
電流変化の較正曲線を用意しておく、実際に計測される
゛電流変化を知ることＫより膜厚ＤＹ知ることができる
。
第６図は上述の計測ケ実現するためのブロック回路の図
であり、センナ−回路１１は交流電源４とその電流変化
Δ工を検出する回路および検出した［Ｋ変１ヒをデジタ
ル１１μに変換するＡＤ変換回路を含む。このデジタル
値は、周知のＲＡＭ％ＲＯＭを有するマイクロコンピュ
ータ１３に入力され該ＲＯＭ上に記憶されている較正曲
線データにより皮−膜５の厚さに変換されて表示回路１
８に送られ表示され、あるいはプリンタ１５に送られ印
字される。総合電源１６はこれらの回路要素に電源電流
を供給するが、より変動の小さい電圧をセンサー回路１
１に送るためのアナログ電源１２に接続されている。命
令実行キー１４の詳細な構成は、第４図に示す外観図中
のキー配列１９の中に記されている。
第５図は実・際の計測に先立ち、２枚の標漁板により較
正曲線を決定するための操作を説明するフローチャート
である。第４図のＣＡＬキー２５を押−ｊと一イクロコ
ンぎユータ１３に割込信号が入りこのフローチャートで
示すプログラムの動作に移行する。皮膜処理を施してい
ないすなわち皮膜の厚さＤ−Ｑの標準板にプローブを当
てる。第２図に示す電流変化Δ工があるしきい値Δ工０
以下になった後の点ＣＩ（第２図〕に対応する極小値が
センサー回路１１内にホールドされ、図示しないＲＡＭ
　Ｋ記憶される。（第５図の５１）次忙厚さ−４）＝２
００μｍの標準板により、同様に点Ｃ２に対応するデー
タが記憶される。（第５図の５２）この２点のデータに
より第２図に示す較正曲線ｔ表わす２次式のパラメータ
が決定され、以後の電流変化Δ工に対応する測定ＰＥ題
算出の臨備が整うことになる６（第５図の５３） 第６図は水膜厚計の電源スィッチすなわちＲＥＳＥＴキ
ー２０をＯＮするとエンターする主プログラムであって
ヤイクロコンピュータ１３内のＲＯＭに記憶されている
。電源をＯＮＬ、でも５分以上計側しない場合は自動的
にアナログ電源１２Ｙ切り省電力化するため、ブロック
６１でマイクロコｙｆユータ１３内のタイマを５分に設
定する。ブロック６３はこのような待機状態において行
なわれるバラ？　Ｉ）すなわち総合電源１６の電圧低下
チェックあるいは警告動作を示す。
プローブ３が計測に供されるとき、すなわち電流変化Δ
工がしきい値Δ工０よりも小さくなるときに上述のルー
プを抜けて、判断ブロック６２からブロック６４に移行
し、５分タイマーの計時動作を解除する。言い換えると
水装置では１回の測定動作は５分よりも十分短い動作で
行なわれることを想定している。測定値は予め定められ
たμ扉又はｍｌの巣位で表現され６５、表示回路１８あ
るいはプリンタ１５に出力される６６゜表示内容は！１
ｇ４図の外観図中央部の表示器３４に示される。
以後上述の順序を繰り返し測定が続けられる。
多くの計測現場における膜厚検査仕様によれば、各測定
箇所毎に所定回数の計測が行なわれる。従って、計測回
数ケ設定し、その回数に達したとき自動的に計測値の平
均値、測定回数、標準偏差、日付、計測番号を出力する
ように予めキー配列１９により指定しておくことができ
る。各種の指定のうち日付の設定順序を第７図により説
明する。
ＦＵＮキー２６火押すと、第６図に示す動作に割込みが
入り、数字７と機能（日付−ＤＡＴＥ　）との２重定義
キー２７を押すことにより第７図のプログラムが動作し
７１、テンキー２８により日付を入力し７２）ＥＮＴキ
ー２９を押すと指定動作が終了７３する。
以上の指定により、計測者は計測動作開始后は一切キー
入力を行なう必要がない。すなわちブローシン測定箇所
に押し当てるのみで暗６図に示すプログラムが動作し自
動的に計測結果が出力されるので、計測者はこの出力の
値を監視するのみでよい。大発明による膜厚計の計測出
力項目には更に上述と異なるものを加えることができあ
るいは除くことができる。
またタイマ設定時間を５分間と設定したが異なる時間に
設定することは設計者の自由である。
第２図にはけ質Ａの曲線２２とＢの曲線２１とを示して
いるが異なる材質の種類の社に制限はない。なおプリン
タ１５の動作用電源を総合電源１６のバッテリと別に設
けてお（ことにより、計測動作に対する支障は除かれる
。
ＰＲＩＮＴＥＲＯＮ　／　ＯＦＦキー３０は、プリンタ
出力が不必要な場合に使用する。
ＤＥＬキー３１は誤って測定しＬｉ直直情消去せるため
に使用する。
Ｆ、Ｉ’ｌ、キー３２は所定回数に無関係に、それまで
測定した計測値の平均（ｆｊ　Ａｎ。
および標漁偏差Ｓ１ を出力させるとき使用するキーである。
水膜厚計は小型のプリンタ１５を内蔵しており第４図に
示す外観図の形状にまとめられ、容易に衣服のポケット
に収容できる。プローブ３は端子１０から抜い℃別の種
類のプローブを使うことかできる。
ＰＡＰＥＲＦＫＢＤキー３３を押すと印字用紙が凹入３
６１１′ｈら送り出され、のこ刃３５′？：使って印字
用紙の印字部分を切り取ることができる。
以上述べた省電力型膜厚計は携帯型でプリンタを内蔵し
ており、屋外の計測し難い場所における皮膜の膜厚計測
において計測者の不便を解消できる。
【図面の簡単な説明】
第１図は原理図、第２図は電流変化図、第５図はゾロツ
ク回路図、第４図は外観図、第５図〜第７図は動作流れ
図である。 （イ１−号の４Ｓ１明） ３・・・・・・デローイ　　　　１１・・・・・・−ヒ
ンナー回路１５・・・・・・プリンタ　　　１６・・・
・・・総合電源。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）金属上の表面処理皮膜の膜厚を計測する電磁膜厚
    計であつて （イ）前記膜厚計の操作前面に備えた複数の命令実行キ
    ー、 （ロ）前記膜厚計の本体に収容された記録装置、（ハ）
    前記金属に押圧したとき、前記金属までの距離に応じ、
    前記膜厚に対応する電気信号を検知するためのプローブ
    を接続するための端子、（ニ）前記プローブから得られ
    る前記電気信号を膜厚を表わすデジタル値に変換する変
    換回路、（ホ）前記デジタル値を前記命令実行キーによ
    る指示に従つて演算処理する演算回路、を備え前記命令
    実行キーにより指示される計測手順に従い前記演算処理
    結果を前記記録装置に出力することを特徴とする前記膜
    厚計。
  2. （２）特許請求の範囲第１項記載の膜厚計であつて、前
    記デジタル値に変換する変換回路に供給されるアナログ
    電源は所定の前記命令実行キーの押下から所定の時間の
    み供給されることを特徴とする前記膜厚計。
  3. （３）特許請求の範囲第１項記載の膜厚計であつて、前
    記変換回路は前記プローブが前記金属から所定の距離に
    達したことを検知するしきい値回路と、前記プローブと
    前記金属との間の距離の極小値に対応する前記デジタル
    値を保持するホールド回路とを備え 前記命令実行キーにより予め入力された所定の回数の前
    記プローブの押圧動作に応動して前記膜厚の平均値とそ
    の標準偏差とが前記記録装置に出力されることを特徴と
    する前記膜厚計。
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SU853866307A SU1561832A3 (ru) 1984-07-31 1985-02-19 Электромагнитное устройство дл измерени толщины неэлектропровод щей пленки на металле

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