JPH07280504A - 層厚測定装置 - Google Patents
層厚測定装置Info
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- JPH07280504A JPH07280504A JP5164890A JP16489093A JPH07280504A JP H07280504 A JPH07280504 A JP H07280504A JP 5164890 A JP5164890 A JP 5164890A JP 16489093 A JP16489093 A JP 16489093A JP H07280504 A JPH07280504 A JP H07280504A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
- G01B7/10—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
- G01B7/105—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance for measuring thickness of coating
Abstract
(57)【要約】
【目的】 鉄を含む金属基板上と鉄を含まない金属基板
上との両方において層またはコーティングの厚みを正確
に測定する装置を提供する。 【構成】 金属基板上の層の厚みを測定する装置５は、
鉄を含む金属基板用の第１の測定プローブ１２と、鉄を
含まない金属基板用の第２の測定プローブ１４と、評価
用電子制御系１６と、ハウジング１８とを具備し、２つ
の測定プローブ１２、１４と評価用電子制御系１６とが
ハウジング１８内に収容され、第１の測定プローブ１２
が、磁気誘導型プローブとして構成され、第２の測定プ
ローブ１４が、渦電流型測定プローブとして構成されて
いる。
上との両方において層またはコーティングの厚みを正確
に測定する装置を提供する。 【構成】 金属基板上の層の厚みを測定する装置５は、
鉄を含む金属基板用の第１の測定プローブ１２と、鉄を
含まない金属基板用の第２の測定プローブ１４と、評価
用電子制御系１６と、ハウジング１８とを具備し、２つ
の測定プローブ１２、１４と評価用電子制御系１６とが
ハウジング１８内に収容され、第１の測定プローブ１２
が、磁気誘導型プローブとして構成され、第２の測定プ
ローブ１４が、渦電流型測定プローブとして構成されて
いる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、鉄および／または非鉄
基板上の層またはコーティングの厚みを測定する装置に
関する。
基板上の層またはコーティングの厚みを測定する装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】様々な産業分野において、金属基板を外
部からの影響から保護するために、金属、例えばスチー
ルシートに、コーティングまたは層、例えば塗料層また
は追加の金属層が施されている。
部からの影響から保護するために、金属、例えばスチー
ルシートに、コーティングまたは層、例えば塗料層また
は追加の金属層が施されている。
【０００３】特に自動車産業においては、スチールシー
トに１以上の塗料層が塗られる。塗料層の厚みは、必要
に応じて磁気誘導型の測定法を用いて検出され得る。
トに１以上の塗料層が塗られる。塗料層の厚みは、必要
に応じて磁気誘導型の測定法を用いて検出され得る。
【０００４】しかし自動車産業においては、スチールシ
ートと組み合わされた非鉄金属も処理される。従って、
このような材料もまたコートされる。自動車産業におい
て、例えばドア、トランクの蓋、およびエンジンフード
などの車体の可動部は軽合金または非鉄金属により形成
され、他方、荷重支持部はスチールシートにより形成さ
れる。
ートと組み合わされた非鉄金属も処理される。従って、
このような材料もまたコートされる。自動車産業におい
て、例えばドア、トランクの蓋、およびエンジンフード
などの車体の可動部は軽合金または非鉄金属により形成
され、他方、荷重支持部はスチールシートにより形成さ
れる。
【０００５】上記部分に適用されるコーティング、例え
ば塗料またはラッカーの層厚を測定するために、製造
者、塗料店、顧客または査定者は、２つの異なる測定装
置を用いなければならない。非鉄金属または軽合金用の
測定装置は渦電流の原理に基づき、他方、スチールシー
ト用の測定装置は、上記の磁気誘導型の測定法に基づく
からである。２つの異なる装置を用いて作業すること
は、複雑で且つコストが高い。
ば塗料またはラッカーの層厚を測定するために、製造
者、塗料店、顧客または査定者は、２つの異なる測定装
置を用いなければならない。非鉄金属または軽合金用の
測定装置は渦電流の原理に基づき、他方、スチールシー
ト用の測定装置は、上記の磁気誘導型の測定法に基づく
からである。２つの異なる装置を用いて作業すること
は、複雑で且つコストが高い。
【０００６】複数の装置を組み合わせたものは、ある程
度上記問題を解決するが、多くの欠点をも有する。
度上記問題を解決するが、多くの欠点をも有する。
【０００７】周知の組合せ型測定装置は、２つの装置か
ら成り、上記２つの測定原理により動作する測定プロー
ブを、各々のケーブルを用いて、ハウジング内の評価用
電子制御系に接続することが必要である。装置は、複雑
なキャリブレーション工程を用いて特定の使用にあわせ
て切り換えられなければならない。従って、この周知の
装置のコストおよび実際の取り扱いも上記同様欠点を有
する。更に、必要な特定の測定プローブ間において混乱
が頻発し、その結果、誤った測定および誤ったコーティ
ングが避けられない。
ら成り、上記２つの測定原理により動作する測定プロー
ブを、各々のケーブルを用いて、ハウジング内の評価用
電子制御系に接続することが必要である。装置は、複雑
なキャリブレーション工程を用いて特定の使用にあわせ
て切り換えられなければならない。従って、この周知の
装置のコストおよび実際の取り扱いも上記同様欠点を有
する。更に、必要な特定の測定プローブ間において混乱
が頻発し、その結果、誤った測定および誤ったコーティ
ングが避けられない。
【０００８】別の周知の測定装置は、まず磁気誘導型の
方法により測定し、次に渦電流型の方法により測定する
組合せ型プローブを含む。しかしこの組合せ型プローブ
は、２つの必要な測定方法を良好に満足させることはで
きない。なぜなら、非常に小型に構成された組合せ型プ
ローブは、磁気誘導型の測定が渦電流型の方法用に設け
られた部分に影響を与える限り、欠点を有し、その結
果、測定誤差が大幅に増加する。これらの誤った測定に
より、このような測定装置もまた市場に導入されてまも
なく市場から姿を消した。
方法により測定し、次に渦電流型の方法により測定する
組合せ型プローブを含む。しかしこの組合せ型プローブ
は、２つの必要な測定方法を良好に満足させることはで
きない。なぜなら、非常に小型に構成された組合せ型プ
ローブは、磁気誘導型の測定が渦電流型の方法用に設け
られた部分に影響を与える限り、欠点を有し、その結
果、測定誤差が大幅に増加する。これらの誤った測定に
より、このような測定装置もまた市場に導入されてまも
なく市場から姿を消した。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、２つの
装置を組み合わせた装置においては、装置が複雑なキャ
リブレーション工程を用いて特定の使用にあわせて切り
換えられなければならない。従って、この周知の装置の
コストおよび実際の取り扱いも欠点を有する。更に、必
要な特定の測定プローブ間において混乱が頻発し、その
結果、誤った測定および誤ったコーティングが避けられ
ない。
装置を組み合わせた装置においては、装置が複雑なキャ
リブレーション工程を用いて特定の使用にあわせて切り
換えられなければならない。従って、この周知の装置の
コストおよび実際の取り扱いも欠点を有する。更に、必
要な特定の測定プローブ間において混乱が頻発し、その
結果、誤った測定および誤ったコーティングが避けられ
ない。
【００１０】また、まず磁気誘導型の方法により測定
し、次に渦電流型の方法により測定する組合せ型プロー
ブを含む装置においても、非常に小型に構成された組合
せ型プローブは、磁気誘導型の測定が渦電流型の方法用
に設けられた部分に影響を与える限り欠点を有する。
し、次に渦電流型の方法により測定する組合せ型プロー
ブを含む装置においても、非常に小型に構成された組合
せ型プローブは、磁気誘導型の測定が渦電流型の方法用
に設けられた部分に影響を与える限り欠点を有する。
【００１１】従って本発明の目的は、従来技術の問題点
を有さない、金属基板上の層厚を測定する装置、特に、
まず鉄を含む金属基板上と鉄を含まない金属基板上との
両方において正確な測定装置を供給し、次に、経済的な
手動測定装置としても供給され得る、測定装置を提供す
ることにある。
を有さない、金属基板上の層厚を測定する装置、特に、
まず鉄を含む金属基板上と鉄を含まない金属基板上との
両方において正確な測定装置を供給し、次に、経済的な
手動測定装置としても供給され得る、測定装置を提供す
ることにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】従って本発明による金属
基板上の膜厚を測定する装置は、鉄を含む金属基板用の
第１の測定プローブと、如何なる鉄をも含まない金属基
板用の第２の測定プローブと、評価用電子制御系と、ハ
ウジングとを具備し、２つの測定プローブと評価用電子
制御系とがハウジング内で接続され、第１の測定プロー
ブが、独立した磁気誘導型測定プローブとして構成さ
れ、第２の測定プローブが、独立した渦電流型測定プロ
ーブとして構成されている装置であり、それにより上記
目的が達成される。
基板上の膜厚を測定する装置は、鉄を含む金属基板用の
第１の測定プローブと、如何なる鉄をも含まない金属基
板用の第２の測定プローブと、評価用電子制御系と、ハ
ウジングとを具備し、２つの測定プローブと評価用電子
制御系とがハウジング内で接続され、第１の測定プロー
ブが、独立した磁気誘導型測定プローブとして構成さ
れ、第２の測定プローブが、独立した渦電流型測定プロ
ーブとして構成されている装置であり、それにより上記
目的が達成される。
【００１３】また、好適には、ハウジングが、手動装置
の寸法を有する。
の寸法を有する。
【００１４】また、好適には、プローブの各々に、少な
くとも一つの表示手段が設けられている。
くとも一つの表示手段が設けられている。
【００１５】また、好適には、評価用電子制御系が、プ
ローブの各々のための標準化回路を含む。
ローブの各々のための標準化回路を含む。
【００１６】また、好適には、評価用電子制御系が、少
なくとも一つのアナログ／ディジタル変換器を有する。
なくとも一つのアナログ／ディジタル変換器を有する。
【００１７】また、好適には、少なくとも一つのマイク
ロコントローラまたはマイクロプロセッサが設けられて
いる。
ロコントローラまたはマイクロプロセッサが設けられて
いる。
【００１８】また、好適には、プローブのうち使用され
るべき特定のプローブが、スイッチを介して評価用回路
に接続され得る。
るべき特定のプローブが、スイッチを介して評価用回路
に接続され得る。
【００１９】また、好適には、マイクロコントローラま
たはマイクロプロセッサが、スイッチを制御する。
たはマイクロプロセッサが、スイッチを制御する。
【００２０】また、好適には、スイッチが、手動で作動
可能である。
可能である。
【００２１】また、好適には、マイクロコントローラま
たはマイクロプロセッサが、標準化回路内における標準
化に影響を与える。
たはマイクロプロセッサが、標準化回路内における標準
化に影響を与える。
【００２２】
【作用】本発明による装置により達成される利点は、２
つの測定プローブと評価用電子制御系とが規定された空
間内において共通のハウジングに収容されていることに
よる。第１の測定プローブは、磁気誘導型の測定方法用
に特に構成され、他方、第２の測定プローブは、渦電流
型の測定方法用に特に構成されている。
つの測定プローブと評価用電子制御系とが規定された空
間内において共通のハウジングに収容されていることに
よる。第１の測定プローブは、磁気誘導型の測定方法用
に特に構成され、他方、第２の測定プローブは、渦電流
型の測定方法用に特に構成されている。
【００２３】従って、まず第１に別々の測定プローブを
切り換えたり、接続したりする必要がなく、第２に不適
切な測定精度を有する組合せ型方法を用いる必要がない
ことが保証される。逆に、各測定方法のために特に設け
られ、且つ、互いに妨害し合わない、最適化された測定
プローブが用いられ得る。
切り換えたり、接続したりする必要がなく、第２に不適
切な測定精度を有する組合せ型方法を用いる必要がない
ことが保証される。逆に、各測定方法のために特に設け
られ、且つ、互いに妨害し合わない、最適化された測定
プローブが用いられ得る。
【００２４】装置が手動測定装置の形態でハウジングに
設けられるという構成は、装置の製造および使用を容易
にし、且つ、本発明による装置が修正または複雑なキャ
リブレーションをすることなく、使用可能状態になるこ
とを保証する。
設けられるという構成は、装置の製造および使用を容易
にし、且つ、本発明による装置が修正または複雑なキャ
リブレーションをすることなく、使用可能状態になるこ
とを保証する。
【００２５】渦電流型の測定方法において、対応するセ
ンサが金属基板内において、厚みを測定すべきコーティ
ングを介して交流電界を誘導する。上記交流電界の強度
は、磁気誘導、周波数、および用いられている材料の導
電率に比例する。更に、上記交流電界の強度は、測定セ
ンサと金属基板の寸法および測定センサと金属基板との
間の距離に依存する。このようにして、金属基板と測定
センサとの間の距離、およびコーティングの厚みが測定
され得る。
ンサが金属基板内において、厚みを測定すべきコーティ
ングを介して交流電界を誘導する。上記交流電界の強度
は、磁気誘導、周波数、および用いられている材料の導
電率に比例する。更に、上記交流電界の強度は、測定セ
ンサと金属基板の寸法および測定センサと金属基板との
間の距離に依存する。このようにして、金属基板と測定
センサとの間の距離、およびコーティングの厚みが測定
され得る。
【００２６】磁気誘導型の方法は、概して、従来のイン
ダクタンス測定ブリッジを用いる。
ダクタンス測定ブリッジを用いる。
【００２７】好適には、本発明による装置の測定用電子
制御系には、２つの測定プローブのうちの一つに関連す
る追加のセンサが備えられている。それにより、装置が
設置されると、いずれの測定プローブが用いられるべき
かに関する情報、および場合によっては、入手された測
定値のいずれの評価が実行されるかに関する情報が自動
的に入手できる。このことはまた、本発明による装置を
活性化させると両方の測定プローブが初期に短期間使用
され、２つの測定値を比較することにより、正確な測定
値が手動によりまたは自動的に表示されるという点で簡
単に実行される。その場合、対応する測定プローブは活
性化され、他の測定プローブは不活性化される。
制御系には、２つの測定プローブのうちの一つに関連す
る追加のセンサが備えられている。それにより、装置が
設置されると、いずれの測定プローブが用いられるべき
かに関する情報、および場合によっては、入手された測
定値のいずれの評価が実行されるかに関する情報が自動
的に入手できる。このことはまた、本発明による装置を
活性化させると両方の測定プローブが初期に短期間使用
され、２つの測定値を比較することにより、正確な測定
値が手動によりまたは自動的に表示されるという点で簡
単に実行される。その場合、対応する測定プローブは活
性化され、他の測定プローブは不活性化される。
【００２８】このような様式で、鉄を含む金属基板、ま
たは鉄を含まない金属基板上の所望の使用に関する情報
が、本発明による装置に自動的に供給される。
たは鉄を含まない金属基板上の所望の使用に関する情報
が、本発明による装置に自動的に供給される。
【００２９】測定プローブは、例えばハウジングの互い
に対向する面に配置される。また、ハウジングの同一の
面において横方向に間隔をあけて配置することも可能で
ある。しかし、この場合、上記所望のセンサの自動活性
化は、困難であり、不可能でさえある。
に対向する面に配置される。また、ハウジングの同一の
面において横方向に間隔をあけて配置することも可能で
ある。しかし、この場合、上記所望のセンサの自動活性
化は、困難であり、不可能でさえある。
【００３０】この点に関して、ハウジング上で２つの測
定プローブを互いに所定の角度を保って配置することが
必要である。これにより、本発明による測定装置を例え
ば傾斜させることにより、所望の特定の測定センサが、
測定面上に位置され得る。
定プローブを互いに所定の角度を保って配置することが
必要である。これにより、本発明による測定装置を例え
ば傾斜させることにより、所望の特定の測定センサが、
測定面上に位置され得る。
【００３１】好適には、本発明による装置は、一体的に
設けられた表示手段、例えばＬＥＤまたはＬＣＤ素子を
含む。上記表示手段は、少なくとも測定値および測定単
位を示す。上記表示はまた、測定値が鉄を含む金属基板
に関するものか鉄を含まない金属基板に関するものかを
使用者に示す。
設けられた表示手段、例えばＬＥＤまたはＬＣＤ素子を
含む。上記表示手段は、少なくとも測定値および測定単
位を示す。上記表示はまた、測定値が鉄を含む金属基板
に関するものか鉄を含まない金属基板に関するものかを
使用者に示す。
【００３２】本発明による装置が互いに離れた面上にプ
ローブを有している場合、関連する表示手段もまた、測
定装置の互いに離れた面上に設けられるべきである。所
望のセンサが、例えば装置を傾斜させることにより測定
すべき層または面に接する場合、表示手段は一つで十分
である。
ローブを有している場合、関連する表示手段もまた、測
定装置の互いに離れた面上に設けられるべきである。所
望のセンサが、例えば装置を傾斜させることにより測定
すべき層または面に接する場合、表示手段は一つで十分
である。
【００３３】２つの測定センサ間にスクリーンが更に設
けられ得る。しかし、このような構成は、概して、両方
の測定センサが同時に動作するときのみに必要であり、
通常そのようなことは起こらない。
けられ得る。しかし、このような構成は、概して、両方
の測定センサが同時に動作するときのみに必要であり、
通常そのようなことは起こらない。
【００３４】測定用電子制御系は、好適には、共通のア
ナログ／ディジタル変換器を介してマイクロプロセッサ
またはマイクロコントローラに接続された、２つのセン
サ用の出力ステージを含む。共通のアナログ／ディジタ
ル変換器は、いずれのセンサが動作中であるかにより、
各々の出力ステージに接続される。
ナログ／ディジタル変換器を介してマイクロプロセッサ
またはマイクロコントローラに接続された、２つのセン
サ用の出力ステージを含む。共通のアナログ／ディジタ
ル変換器は、いずれのセンサが動作中であるかにより、
各々の出力ステージに接続される。
【００３５】出力ステージは、好適には、標準ゼロポイ
ントに関する標準化出力信号を供給する。それにより、
測定値は、アナログ／ディジタル変換器およびマイクロ
プロセッサまたはマイクロコントローラにより直接処理
され得る。
ントに関する標準化出力信号を供給する。それにより、
測定値は、アナログ／ディジタル変換器およびマイクロ
プロセッサまたはマイクロコントローラにより直接処理
され得る。
【００３６】言うまでもなく、出力ステージはまた、非
標準化出力信号をも供給する。しかし、非標準化出力信
号は、その後、別の標準化回路に供給されなければなら
ず、コストが余分にかかる。
標準化出力信号をも供給する。しかし、非標準化出力信
号は、その後、別の標準化回路に供給されなければなら
ず、コストが余分にかかる。
【００３７】測定プローブに関連する表示手段は、処理
された測定値を層厚という形態で直接表示する。
された測定値を層厚という形態で直接表示する。
【００３８】また、各々の測定プローブ用に、別々のア
ナログ／ディジタル変換器および別々のマイクロプロセ
ッサまたはマイクロコントローラを用いることも可能で
あるが、コストが上昇する。
ナログ／ディジタル変換器および別々のマイクロプロセ
ッサまたはマイクロコントローラを用いることも可能で
あるが、コストが上昇する。
【００３９】単一の表示手段を介した表示が鮮明度を多
少欠くことは認められるが、コストが比較的低い。
少欠くことは認められるが、コストが比較的低い。
【００４０】
【実施例】図１に示すように、本発明の一実施態様によ
る測定装置１０は、ハウジング１８を含み、ハウジング
１８の一端における互いに対向する面上に、測定プロー
ブ１２および１４が配置されている。支持領域２０は補
助用の支持点を有する。いずれの場合も、３つの支持点
が設けられている。なぜなら、３つの点は必ず平面を規
定し、その結果、本発明の装置１０は、傾斜することな
く所望の表面に位置され得るからである。これにより、
幾何学的問題による測定誤差が回避される。
る測定装置１０は、ハウジング１８を含み、ハウジング
１８の一端における互いに対向する面上に、測定プロー
ブ１２および１４が配置されている。支持領域２０は補
助用の支持点を有する。いずれの場合も、３つの支持点
が設けられている。なぜなら、３つの点は必ず平面を規
定し、その結果、本発明の装置１０は、傾斜することな
く所望の表面に位置され得るからである。これにより、
幾何学的問題による測定誤差が回避される。
【００４１】図２に、図１に示す装置１０の平面図を示
す。図２において、非鉄基板用に特に設けられたプロー
ブ１２は、”Ｆｅ”というマーク２４で示される面とは
反対の面に配置されている。表示部２２は、プローブ１
２により他面上で検出され、従って評価される値を表示
する。逆に鉄を含まず渦電流型の測定法により特に作動
する金属基板用にはプローブ１４が設けられている。支
持領域２０は、円状断面を有するスタッドとして示され
ている。マーク２４は、鉄基板用に特に設けられたプロ
ーブ１２が測定に用いられ、その結果が表示部２２に表
示されていることを使用者に示す。
す。図２において、非鉄基板用に特に設けられたプロー
ブ１２は、”Ｆｅ”というマーク２４で示される面とは
反対の面に配置されている。表示部２２は、プローブ１
２により他面上で検出され、従って評価される値を表示
する。逆に鉄を含まず渦電流型の測定法により特に作動
する金属基板用にはプローブ１４が設けられている。支
持領域２０は、円状断面を有するスタッドとして示され
ている。マーク２４は、鉄基板用に特に設けられたプロ
ーブ１２が測定に用いられ、その結果が表示部２２に表
示されていることを使用者に示す。
【００４２】図３は、装置１０の、プローブ１２を含
む、図２とは反対側の平面を示す。図３において、”Ｎ
Ｆｅ”というマーク２４’がハウジング１８上に設けら
れ、コーティングの厚みを測定するプローブ１４が、鉄
を含まない（ＮＦｅ）金属基板上における測定用に設け
られていることを示す。
む、図２とは反対側の平面を示す。図３において、”Ｎ
Ｆｅ”というマーク２４’がハウジング１８上に設けら
れ、コーティングの厚みを測定するプローブ１４が、鉄
を含まない（ＮＦｅ）金属基板上における測定用に設け
られていることを示す。
【００４３】図４〜図６は、本発明による別の実施態様
における層厚測定装置１０を示す。
における層厚測定装置１０を示す。
【００４４】この層厚測定装置５０は、別々の測定法用
に特に設けられたプローブ１２および１４を有する。各
々のプローブ１２および１４が基板上に設けられている
ことを保証するために、支持領域２０が装置５０のほぼ
中央に位置づけられている。これにより、支持領域２０
に接したハウジング１８と、プローブ１２および１４と
が、搖動アームを形成し、搖動アームを支持領域２０を
中心に傾斜させることにより、所望のプローブ１２また
は１４が測定すべき面上に位置づけられ得る。マーク２
４および２４’は、いずれのプローブが鉄を含む（Ｆ
ｅ）金属基板、例えばスチールシート用に設けられてい
るか、および、いずれのプローブが鉄を含まない（ＮＦ
ｅ）金属基板、例えば非鉄金属基板など用に設けられて
いるかを使用者に示す。
に特に設けられたプローブ１２および１４を有する。各
々のプローブ１２および１４が基板上に設けられている
ことを保証するために、支持領域２０が装置５０のほぼ
中央に位置づけられている。これにより、支持領域２０
に接したハウジング１８と、プローブ１２および１４と
が、搖動アームを形成し、搖動アームを支持領域２０を
中心に傾斜させることにより、所望のプローブ１２また
は１４が測定すべき面上に位置づけられ得る。マーク２
４および２４’は、いずれのプローブが鉄を含む（Ｆ
ｅ）金属基板、例えばスチールシート用に設けられてい
るか、および、いずれのプローブが鉄を含まない（ＮＦ
ｅ）金属基板、例えば非鉄金属基板など用に設けられて
いるかを使用者に示す。
【００４５】図５に示す層厚測定装置の上面には、いず
れのプローブが使用中であるかを使用者に示すために、
マーク２５および２５’が設けられている。層厚測定装
置５０の唯一の表示部２２、例えばＬＥＤまたはＬＣＤ
表示部は、両プローブ１２および１４の測定値を示す。
れのプローブが使用中であるかを使用者に示すために、
マーク２５および２５’が設けられている。層厚測定装
置５０の唯一の表示部２２、例えばＬＥＤまたはＬＣＤ
表示部は、両プローブ１２および１４の測定値を示す。
【００４６】図６からも、プローブ１２および１４の、
支持領域２０に対する位置が明かである。ハウジング１
８は、取り扱いおよび持ち運びが容易であるように、細
長い矩形状をなしている。本実施態様および上記実施態
様において、パイプなどの中空体の内部のある程度の距
離まで測定が可能であるように、各プローブは平坦で狭
い舌状の装置本体の端部に取り付けられている。
支持領域２０に対する位置が明かである。ハウジング１
８は、取り扱いおよび持ち運びが容易であるように、細
長い矩形状をなしている。本実施態様および上記実施態
様において、パイプなどの中空体の内部のある程度の距
離まで測定が可能であるように、各プローブは平坦で狭
い舌状の装置本体の端部に取り付けられている。
【００４７】図７〜図１０に、本発明の更に別の実施態
様における層厚測定装置１００を示す。
様における層厚測定装置１００を示す。
【００４８】図７から明かなように、層厚測定装置１０
０において、プローブ１２および１４は、ハウジング１
８の下端部に配置されている。本実施態様の一変形例に
おいて、両方のプローブが測定面に接し得る。これによ
り、２つのプローブのうちのいずれを活性化させ、評価
用電子制御系に接続するかを決定することは使用者に任
される。この目的のため、スイッチ（図示しない）が設
けられ得る。
０において、プローブ１２および１４は、ハウジング１
８の下端部に配置されている。本実施態様の一変形例に
おいて、両方のプローブが測定面に接し得る。これによ
り、２つのプローブのうちのいずれを活性化させ、評価
用電子制御系に接続するかを決定することは使用者に任
される。この目的のため、スイッチ（図示しない）が設
けられ得る。
【００４９】これに代えて、測定用電子制御系が自動的
に基板の性質、すなわち、鉄か非鉄かを決定し、それに
応じて測定方法を選択し、結果を表示するようにしても
よい。
に基板の性質、すなわち、鉄か非鉄かを決定し、それに
応じて測定方法を選択し、結果を表示するようにしても
よい。
【００５０】図７および図８から明かなように、層厚測
定装置１００が見えにくい位置、例えば非常に高い位置
にある場合でさえも、表示部２２が自由に見えるよう
に、表示部２２は傾斜した状態で設けられている。
定装置１００が見えにくい位置、例えば非常に高い位置
にある場合でさえも、表示部２２が自由に見えるよう
に、表示部２２は傾斜した状態で設けられている。
【００５１】図９および図１０に、層厚測定装置１００
の下面および上面を示すことにより、プローブ１２およ
び１４の位置、および表示部２２の位置と見やすさを示
す。
の下面および上面を示すことにより、プローブ１２およ
び１４の位置、および表示部２２の位置と見やすさを示
す。
【００５２】図１１に、プローブ１２、１４および各々
対応するＬＣＤ表示部２２、２２’と接続された表示用
電子制御系１６を示す。特定の使用のために構成された
プローブ１２および１４からの測定信号は、別々に送
信、処理、および表示される。
対応するＬＣＤ表示部２２、２２’と接続された表示用
電子制御系１６を示す。特定の使用のために構成された
プローブ１２および１４からの測定信号は、別々に送
信、処理、および表示される。
【００５３】例えばスチールシート用に設けられ、且
つ、磁気誘導型の方法に基づくプローブ１２の測定信号
は、ステージ３２に送られ、ステージ３２において標準
化される。２つのプローブ１２、１４のうちのいずれが
スイッチ３６を介してアナログ／ディジタル変換器３８
に接続されるかという情報を例えばマイクロコントロー
ラに供給する信号が、マイクロコントローラまたはマイ
クロプロセッサ４０に直接接続されたステージ３２の一
方の出力側に与えられる。上記したように、このスイッ
チ３６は、オペレータが何等の決定をすることなしに、
自動的に切り換えられ得るか、あるいは手動で作動され
得る。その場合、例えば外部のトグルスイッチなどを介
して特定のプローブをアナログ／ディジタル変換器に接
続し得るオペレータにより外部からも決定がなされ得
る。
つ、磁気誘導型の方法に基づくプローブ１２の測定信号
は、ステージ３２に送られ、ステージ３２において標準
化される。２つのプローブ１２、１４のうちのいずれが
スイッチ３６を介してアナログ／ディジタル変換器３８
に接続されるかという情報を例えばマイクロコントロー
ラに供給する信号が、マイクロコントローラまたはマイ
クロプロセッサ４０に直接接続されたステージ３２の一
方の出力側に与えられる。上記したように、このスイッ
チ３６は、オペレータが何等の決定をすることなしに、
自動的に切り換えられ得るか、あるいは手動で作動され
得る。その場合、例えば外部のトグルスイッチなどを介
して特定のプローブをアナログ／ディジタル変換器に接
続し得るオペレータにより外部からも決定がなされ得
る。
【００５４】言うまでもなく、自動作動の方がエラーを
回避するために好適である。
回避するために好適である。
【００５５】このように、例えば測定動作の開始時に、
両方のプローブ１２および１４が活性化され得る。マイ
クロコントローラ４０は、測定面に接したステージ３
２、３４に対応するプローブ１２、１４からのみ電圧パ
ルスなどを受信する。必要でないプローブは分離され得
る。スイッチ３６がこの目的のために作動される。スイ
ッチ３６の位置に対応するステージ３２または３４から
の標準化出力信号が、アナログ／ディジタル変換器３８
に送られ、アナログ／ディジタル変換器３８において、
更なる評価のためにディジタル信号がマイクロコントロ
ーラ４０用に入手可能にされる。その後、マイクロコン
トローラ４０は、表示部２２および２２’のうちのいず
れか、または図４および図７に示すように、一方の表示
部２２のみに、最終的に計算された層厚を表示する。
両方のプローブ１２および１４が活性化され得る。マイ
クロコントローラ４０は、測定面に接したステージ３
２、３４に対応するプローブ１２、１４からのみ電圧パ
ルスなどを受信する。必要でないプローブは分離され得
る。スイッチ３６がこの目的のために作動される。スイ
ッチ３６の位置に対応するステージ３２または３４から
の標準化出力信号が、アナログ／ディジタル変換器３８
に送られ、アナログ／ディジタル変換器３８において、
更なる評価のためにディジタル信号がマイクロコントロ
ーラ４０用に入手可能にされる。その後、マイクロコン
トローラ４０は、表示部２２および２２’のうちのいず
れか、または図４および図７に示すように、一方の表示
部２２のみに、最終的に計算された層厚を表示する。
【００５６】図１１に示す接続線は、一例にすぎない。
各接続線は、様々な測定および／または制御線を表し、
それにより、必要であれば如何なる誤差も最小限にする
ためにステージ３２および３４における標準化工程にお
いてもマイクロコントローラ４０が介入し得る。特に、
マイクロコントローラ４０は、温度変化による測定誤差
を検出および訂正する。
各接続線は、様々な測定および／または制御線を表し、
それにより、必要であれば如何なる誤差も最小限にする
ためにステージ３２および３４における標準化工程にお
いてもマイクロコントローラ４０が介入し得る。特に、
マイクロコントローラ４０は、温度変化による測定誤差
を検出および訂正する。
【００５７】
【発明の効果】上記実施態様に示す層厚測定装置１０、
５０、および１００のすべてに関して強調すべき特定の
利点は、プローブ１２および１４は、鉄またはスチール
上の測定、すなわち、鉄を含む金属基板上の測定、およ
び鉄を含まない金属基板、例えばアルミニウムのような
非鉄金属上の測定のために特に設けられているというこ
とである。一方のプローブが特に渦電流型の方法用に設
けられ、他方のプローブが特に磁気誘導型の原理により
動作する。使用者がほとんどエラーをおかし得ないよう
に、評価用電子制御系は好適には自動的に動作し得る。
持ち運び容易で、且つ、単純な構成の手軽な一つのハウ
ジング１８内に特定の目的で収容されたプローブ１２お
よび１４は、互いに干渉しない。例えばプローブ１２と
１４とを切り換えたり、ケーブルを取り替えたり、ある
測定モードから別の測定モードにスイッチしたり、異な
るプローブ１２および１４用にあわせて装置のキャリブ
レーションをしなおしたりなどして、測定装置１０、５
０および１００を修正することはもはや不要である。事
実上誤った測定は排除される。
５０、および１００のすべてに関して強調すべき特定の
利点は、プローブ１２および１４は、鉄またはスチール
上の測定、すなわち、鉄を含む金属基板上の測定、およ
び鉄を含まない金属基板、例えばアルミニウムのような
非鉄金属上の測定のために特に設けられているというこ
とである。一方のプローブが特に渦電流型の方法用に設
けられ、他方のプローブが特に磁気誘導型の原理により
動作する。使用者がほとんどエラーをおかし得ないよう
に、評価用電子制御系は好適には自動的に動作し得る。
持ち運び容易で、且つ、単純な構成の手軽な一つのハウ
ジング１８内に特定の目的で収容されたプローブ１２お
よび１４は、互いに干渉しない。例えばプローブ１２と
１４とを切り換えたり、ケーブルを取り替えたり、ある
測定モードから別の測定モードにスイッチしたり、異な
るプローブ１２および１４用にあわせて装置のキャリブ
レーションをしなおしたりなどして、測定装置１０、５
０および１００を修正することはもはや不要である。事
実上誤った測定は排除される。
【図１】本発明の一実施態様による層厚測定装置の側面
図。
図。
【図２】図１に示す層厚測定装置の平面図。
【図３】図１および図２に示す層厚測定装置の、図２と
は反対側の面を示す図。
は反対側の面を示す図。
【図４】本発明の別の実施態様による層厚測定装置の側
面図。
面図。
【図５】図４に示す層厚測定装置の平面図。
【図６】図４および図５に示す層厚測定装置を測定プロ
ーブの側から示す図。
ーブの側から示す図。
【図７】本発明の更に別の実施態様による層厚測定装置
の正面図。
の正面図。
【図８】図７に示す層厚測定装置の側面図。
【図９】図７および図８に示す層厚測定装置を測定プロ
ーブの側から示す図。
ーブの側から示す図。
【図１０】図７、図８および図９に示す層厚測定装置の
平面図。
平面図。
【図１１】本発明による層厚測定装置のセンサ手段また
は測定用電子制御系を示す図。
は測定用電子制御系を示す図。
１０、５０、１００ 膜厚測定装置 １２、１４ プローブ １６ 評価用電子制御系 １８ ハウジング ２２、２２’ 表示部 ３２、３４ ステージ ３６ アナログ／ディジタル変換器 ４０ マイクロコントローラ
Claims (10)
- 【請求項１】 金属基板上の層またはコーティングの厚
みを測定する装置であって、 ａ）鉄を含む金属基板用の第１の測定プローブと、 ｂ）如何なる鉄をも含まない金属基板用の第２の測定プ
ローブと、 ｃ）評価用電子制御系と、 ｄ）ハウジングと、 を具備し、 ｅ）該２つの測定プローブと該評価用電子制御系とが該
ハウジング内で接続され、 ｆ）該第１の測定プローブが、独立した磁気誘導型測定
プローブとして構成され、そして ｇ）該第２の測定プローブが、独立した渦電流型測定プ
ローブとして構成されている、装置。 - 【請求項２】 前記ハウジングが、手動装置の寸法を有
する、請求項１に記載の装置。 - 【請求項３】 前記プローブの各々に、少なくとも一つ
の表示手段が設けられた、請求項１に記載の装置。 - 【請求項４】 前記評価用電子制御系が、前記プローブ
の各々のための標準化回路を含む、請求項１に記載の装
置。 - 【請求項５】 前記評価用電子制御系が、少なくとも一
つのアナログ／ディジタル変換器を有する、請求項１に
記載の装置。 - 【請求項６】 少なくとも一つのマイクロコントローラ
またはマイクロプロセッサが設けられた、請求項１に記
載の装置。 - 【請求項７】 前記プローブのうち使用されるべき特定
のプローブが、スイッチを介して前記評価用回路に接続
され得る、請求項１に記載の装置。 - 【請求項８】 前記マイクロコントローラまたは前記マ
イクロプロセッサが、前記スイッチを制御する、請求項
７に記載の装置。 - 【請求項９】 前記スイッチが、手動で作動可能であ
る、請求項７に記載の装置。 - 【請求項１０】 前記マイクロコントローラまたは前記
マイクロプロセッサが、前記標準化回路内における標準
化に影響を与える、請求項１に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE92111332.0 | 1992-07-03 | ||
| EP92111332A EP0576714B1 (de) | 1992-07-03 | 1992-07-03 | Vorrichtung zur Messung einer Schichtdicke |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07280504A true JPH07280504A (ja) | 1995-10-27 |
| JP2796232B2 JP2796232B2 (ja) | 1998-09-10 |
Family
ID=8209775
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5164890A Expired - Fee Related JP2796232B2 (ja) | 1992-07-03 | 1993-07-02 | 層厚測定装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5467014A (ja) |
| EP (1) | EP0576714B1 (ja) |
| JP (1) | JP2796232B2 (ja) |
| DE (1) | DE59201672D1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2016529494A (ja) * | 2013-07-26 | 2016-09-23 | カンパニー ジェネラレ デ エスタブリシュメンツ ミシュラン | タイヤのライナ層の厚さを測定するシステム |
| US10113855B2 (en) | 2013-06-20 | 2018-10-30 | Compagnie Generale Des Etablissements Michelin | System for determining the thickness of a layer of rubber for a tire |
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- 1992-12-09 US US07/987,869 patent/US5467014A/en not_active Expired - Fee Related
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- 1993-07-02 JP JP5164890A patent/JP2796232B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
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| JP2796232B2 (ja) | 1998-09-10 |
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