JPS6135323A - 容量性圧力検出器製造方法 - Google Patents

容量性圧力検出器製造方法

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JPS6135323A
JPS6135323A JP12284785A JP12284785A JPS6135323A JP S6135323 A JPS6135323 A JP S6135323A JP 12284785 A JP12284785 A JP 12284785A JP 12284785 A JP12284785 A JP 12284785A JP S6135323 A JPS6135323 A JP S6135323A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] 本発明は、月ヨカを容量の変化C検出する容量性圧力検
出器及びその製造方法に関覆る。
[従来技術及びその問題点] 従来技術に関しては、以下のものを参照されたい。
(1)シー・ニス・サンダ(C,S、 5ander 
) 。
ジエイ・り゛ブリュ・カヌーティ(J、W。
Knutti ) 、ジエイ・ディー・マインドルのV
ol  ED−27(19P、、○)  No、5゜第
927頁乃至第930頁 (2)米国時W[第4.261.08’6月明細川(3
)米国時W[第11.386.4.53号明細出(4−
)米国特許第4,384,899月明細沈1b)米国特
許第4..405.970号明細出(6)米国″¥を訂
第3.397.278号明細占引例(1)には、引例(
6)の方法によってnいに接着されているシリコンの弾
力性素子とガラス板とから成る絶対圧力の容量性検出器
が開示されている。
上記弾性六子とりjラス板との間には、該検出器の真空
カプセルとし゛C機能力る空洞がある。上記弾性素子と
、」−記ガラス板トに置かれた金属フィルムどの間には
、1カに依存する容量が生成される。
[−記載ラス板上に置かれた上記金属フィルムに対する
電気的イ^接続は、拡散によって上記シリコン中に作成
され且つ上記弾性素子の導電率とは異なるタイプの導電
率を有している導体によって、該検出器の外部から得ら
れる。この検出器の主な欠点(5〕1.1記拡散された
導体とに記弾性素子との間に高い温度依存性のデプレッ
ション容量が形成されること(あり、こイ1は該検出器
の1ニア′力依存性容吊に影響を及ばη。該検出器の相
対活力が減少し、その温度依存か増大する。
引例(2>、 (3)及び(4−)では、前述と同様の
圧力検出器の’+rlj 造が開示されている。しかし
ながら、その配線は異なっている。配線は、ガラス中に
開けられた、内側か金属コートされた孔を通して成され
る。核化は、その中への溶融金属(半田)により埋めら
れる。しかしながら、上記孔のシーリングは、大仔牛産
に於いて成し遂げるためには、むしろ不便でおる。
引例(5)では、シリコンで作られた支持板及び弾性素
子が、薄いガラス・フィルムによって互いに「接着」さ
れ、スパッタリング又は真空蒸着によって作られる検出
器が開示されている。上記ガラス・フィルムの厚さによ
っ−C1上記コンデンザ板間の距離もまたコントロール
される。製造1.(料がほとんど全くシリコンであるこ
とが、該検出器構造の良好な態様である。それは、良好
な)届度安定度を保証する。しかしながら、上記カラス
接合に関する浮遊容量が、該検出器の特性をスポイルす
る。前記方法による上記ガラスの厚さく、1.最大10
〃mであり、その容量は2pmのエア・ギャップに相当
する。従って、上記接合ゾーンの役割は、該検出器の上
記エリアが非常に大ぎくなりれば、該検出器の容量を左
右する。
上記引例(5)に於いてはまた、高いガラス壁が前記二
つのシリコン片を分離する構造も開示されている。その
場合には、浮遊容量の問題はない。しかしなから、コン
デンサのエア・キャップの寸法粘Yqは、低いだろう。
「発明の目的] 本発明は上記の点に鑑みて成されたもので、全く新奇な
タイプの容量・1(1汀−力検出器及びその製);b方
法を提供することを目的とする。
[発明の概要] 本発明は、切削可能な口つ導電性の物質1例えばシリコ
ンの基板上に、絶縁物質2例えばガラスが溶解されII
 造されるというアイデアに基づいている。そのため、
−上記絶縁層の厚さは、該基板中に提供されたリセス上
の方が他の部分上よりも厚い。上記絶縁層(及び部分的
に基板)が、フレーム層の最上部と上記絶縁層の残りの
部分とか一様の平面を形成するように研がれる時、上記
基板の底面から上面に伸び目一つその上端で絶縁層によ
つ(取囲まれる電気的な通路が提供される。上記電気的
通路を通って、上記電気的通路を通る孔を切削覆ること
によって、(;(械的<’に通孔を作ることが可能であ
る。
[発明の実施例] 以下図面を参照し−C本発明の一実施例を説明する。基
板のシリコン部1は、典型的にほぼ1.3mmの厚さの
シリコ1ン・ディスクで作られる。他の1法は、典型的
にほぼ5 X 6 nun2で゛ある。リセス5は、そ
の深さが200μ〃lであるように従来のシリコン・マ
イクロ技術を使用して作られる。中央に残る平頂丘(メ
ザ)型ゾーン6のエリアは、はぼ5mm2であり、それ
が該検出器の一方のコンデンサ板を形成する。圧力感知
弾性素子3が、他方のコンデンサ板を形成する。これは
、密封して上記基板に取付けられるが、しかし同時にそ
れは電気的に上記基板から絶縁されねばなら4【い。こ
の目的のために、はぼ300pmのガラス層2が、第2
図に示されるように上記シリコン部]上に溶かされる。
該ガラスのためのそのようなガラスの晶質は、熱膨張率
がシリコンのそれに近く選択される。そのため、温度の
変動による最終的な基板の変形量は、最小でおる。ざら
に、ガラスの誘電率は、温度に依存して強くなるべきC
゛はない。そのJ:うなカラスは、例えばコーニング(
Corning)7740.7070.及びシEl ッ
l〜(5chott )82’48Cある。溶解の後、
上記ガラスは、レベル△まで研がれC小がり、そのため
ト記平頂丘6の頂部もまJこ覆われない。ここで、その
表面が、十記弾′1ノ1索子3かガラス2′に、例えば
陽極ボンディングによっ(取付しづられることができる
ように良く研磨される。電気的なコンタク1〜は、従来
の方法によって、十記弾性索子3と基板1,2′とに作
られる。本発明はそれだけで、絶対検出器のため、及び
もし孔4が第5図に示された方法で支持板中に作られる
ならば、差動検出器のために、適当である。
上記基板1.2′ は、前述の方法で製造された。
例えば7.6cmの直径を有するJ、り大きな板から、
ソーイングすることによって作られる。上記研がれた面
△−トのシリコン・エリアは、適当な位置に外部コンタ
ク1〜を取付ける目的のために、従来の方法によって金
属コー1〜されることができる。上記孔4は下から又は
上からエツチングされることができ、その直径は、上記
平頂目部6の頂部の1ノイズが、この例の場合では、は
ぼ2 mm X 2 nmr ′c゛あるのに対しC1
必要に応じて10乃〒300 tim”Cあることかで
きる。
該検出器の(オ料はむしろ、シリコン及びホウ珪゛酸が
、■ガラスCあることが好ましい。該検出器は、圧力感
知コンデンサの板か真Y:!カプセル内に買かれ、旧つ
測定されるべき媒体と接触しCいないような方法で、構
成されている。
上記基板の構成のために、上記真空カプセル内のコンデ
ンサ板間の容量は、該検出器の外側から測定されること
ができる。故に、該検出器の容量の温度依存は、低くさ
れることができる。
即ち、この発明によって以下のような効果を奏すること
ができる。
まず、弾性素子と塞板のシリコン部との間の奇生容量が
、該検出器容量より遥かに低い基板が得られる。さらに
、該奇生容量の温度依存【j、低い。
第2に、密封して閉じられており、且つ温度の変動の結
果としてのその変形が小さい、!3仮が得られる。
第3に、上記基板は、数μmのコンデンザ板間の間隔が
、上記弾゛111素子に応じて決定され、従って正確4
¥\1法で作られることができる。
第4に、上記基板に最も近いコンデンザ板が、どのよう
な付加的な動作もなしに真空チェンバの外側に、電気的
に構成されることかできる。
第5に、大量生産に非常に向く基板が得られる。
なa3、本発明は上記実施例に限定されるものではない
。もし必要ならば、上記鋳造されるべき物質と上記基板
との間の不所望の化学反応を妨げるために、スパッタリ
ング、デポジツデイング等により、ト記基板十に、絶縁
層(図示せず)を形成することができる。上記不所望の
反応の結果としては、例えば、上記鋳)青された物質中
に、気泡が形成されるかもしれない。上記絶縁層は、例
えば10乃至1001mの厚さの、例えばSiO2又は
Si :l N4層であることができる。勿論、この層
は、上記電気的4丁通路の位置から研がれる。
[発明の効果] 以上)小べたように本発明によれば、全く新奇41タイ
プの容量性圧力検出器及びその製造方法を提供すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は切削可能な導電性4A料で作られた基板ブラン
クの断面図、第2図は絶縁材料の層が鋳造された時の基
板を示す断面図、第3図はその上面が研がれた而にされ
た時の基板を示す断面図、第4図は切削可能な材料で作
られたカプセルが密封して取付けられた時の基板を示す
断面図、第5図は機械的通孔の完全に導電性の部分が切
削された基板を示す断面図である。 1・・・基板のシリコン部、2,2′・・・ガラス層、
3・・・弾性素子、4・・・孔、5・・・リセス、6・
・・平頂丘(メサ)型ゾーン、6′・・・]]ンデン′
リー板A・・・研がれた面のレベル。

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)その上面に第1のコンデンサ・ディスクを含む導
    電材料製の基板と、上面を有し且つ上記第1のコンデン
    サ・ディスクを取囲む電気絶縁層と、第2のコンデンサ
    ・ディスクを該第2のコンデンサ・ディスクと上記第1
    のコンデンサ・ディスクとの間にチャンバが形成される
    ように含んで上記電気絶縁層の上記上面に密封して固着
    される導電性弾性板状部材とを具備する容量性圧力検出
    器に於いて、上記電気絶縁層は、上記基板に形成された
    第1のリセス中に、上記基板の上面と上記電気絶縁層の
    上面とが実質上同一平面にあり、且つ上記チャンバが上
    記板状部材の上記第1のコンデンサ・ディスクと対向す
    る側中に第2のリセスとして実質上形成されるように、
    形成されることを特徴とする容量性圧力検出器。
  2. (2)導電性基板、該基板から所定の距離を置いて配置
    された導電性板状部材、及び容量性チャンバが上記基板
    と上記部材との間に形成されるように上記基板と上記部
    材とに共に密封して固着された電気絶縁層を有する容量
    性圧力検出器の製造方法で、上記基板の一方の側中に少
    なくとも一つのリセスを切削することと、それが上記基
    板の上記切削された側を覆うように上記基板の上記切削
    された側の上に溶解状態の電気絶縁物質の層を塗布する
    ことと、上記層を硬化させることと、少なくとも一つの
    絶縁層部により取囲まれた上記基板の少なくとも一つの
    導電性平頂丘(メサ)部を有する実質上平らな面を得る
    ために創造された方法で上記基板の表面の物質を除去す
    ることとにより容量性圧力検出器を製造する容量性圧力
    検出器製造方法。
  3. (3)上記切削されるべき基板として、シリコン基板が
    使用されることを特徴とする特許請求の範囲第2項に記
    載の容量性圧力検出器製造方法。
  4. (4)上記絶縁物質として、ガラスが使用されることを
    特徴とする特許請求の範囲第2項に記載の容量性圧力検
    出器製造方法。
  5. (5)上記絶縁物資の層は、上記基板の上記切削された
    側上に鋳造(カスト)されることを特徴とする特許請求
    の範囲第2項に記載の容量性圧力検出器製造方法。
  6. (6)上記絶縁物資の層は、上記基板の上記切削された
    側上に溶かされることを特徴とする特許請求の範囲第2
    項に記載の容量性圧力検出器製造方法。
  7. (7)上記絶縁物資の層が、上記基板を完全に覆うこと
    を特徴とする特許請求の範囲第2項に記載の容量性圧力
    検出器製造方法。
  8. (8)上記切削、例えばエッチングにより、上記平頂丘
    部を貫通する機械的通孔が作られることを特徴とする特
    許請求の範囲第2項に記載の容量性圧力検出器製造方法
JP12284785A 1984-06-07 1985-06-07 容量性圧力検出器製造方法 Granted JPS6135323A (ja)

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JPS6135323A true JPS6135323A (ja) 1986-02-19
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FR (1) FR2565687B1 (ja)
GB (1) GB2159957B (ja)
IT (1) IT1186893B (ja)
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