JPS61290340A - コロ軸受のコロ抜け検査装置 - Google Patents
コロ軸受のコロ抜け検査装置Info
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- JPS61290340A JPS61290340A JP13356085A JP13356085A JPS61290340A JP S61290340 A JPS61290340 A JP S61290340A JP 13356085 A JP13356085 A JP 13356085A JP 13356085 A JP13356085 A JP 13356085A JP S61290340 A JPS61290340 A JP S61290340A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、各種軸受、特にコロ軸受のコロ組込済内輪
のコロ抜けをリニアイメージセンサを用いて検査するコ
ロ抜け検査装置に関するものである。
のコロ抜けをリニアイメージセンサを用いて検査するコ
ロ抜け検査装置に関するものである。
〔従来の技術〕
従来、円錐コロ軸受や円筒コロ軸受の製造工程における
コロ組込済内輪のコロ抜けの検査は、一般に、第４図（
ａｌおよびｉｂｌに示ずような触針式検査Ｈを用いて行
なわれている。すなわち、第４図において、リテーナ４
４のかしめ台４１に被験体のコロ組込済内輪４２を載せ
、リテーナ４４のかしめ作業時にかしめ型と共に下降さ
せ、その大将（つば）４３の側より大将４３の外径とリ
テーナ４４との間に検査装置の触針４５を挿入する。な
お、触針４５は、軸受の型番に応じて所定の寸法のもの
がコロ４８と同数の本数だけ治具にセットされている。
コロ組込済内輪のコロ抜けの検査は、一般に、第４図（
ａｌおよびｉｂｌに示ずような触針式検査Ｈを用いて行
なわれている。すなわち、第４図において、リテーナ４
４のかしめ台４１に被験体のコロ組込済内輪４２を載せ
、リテーナ４４のかしめ作業時にかしめ型と共に下降さ
せ、その大将（つば）４３の側より大将４３の外径とリ
テーナ４４との間に検査装置の触針４５を挿入する。な
お、触針４５は、軸受の型番に応じて所定の寸法のもの
がコロ４８と同数の本数だけ治具にセットされている。
これらの各触針４５は、検出回路４６と直列に電源４７
に接続されており、上記のように触針４５を挿入した時
いずれかの触針に対応する位置のコロ４８が抜けていれ
ば、その触針を通るｉｉ！ｌ電回路が形成されず、検出
回路４６はこの情報をコロ抜け情報Ｓ。として出力し、
ＬＥＤ、ブザー等により表示する。
に接続されており、上記のように触針４５を挿入した時
いずれかの触針に対応する位置のコロ４８が抜けていれ
ば、その触針を通るｉｉ！ｌ電回路が形成されず、検出
回路４６はこの情報をコロ抜け情報Ｓ。として出力し、
ＬＥＤ、ブザー等により表示する。
しかしながら、上記のような触針式検査装置においては
、触針４５を挿入する隙間が狭いため、台４１上でのコ
ロ組込済内輪４２の位置決めのずれ等で触針４５が折れ
たり、曲がったりし、コロ４８が有るにもかかわらず、
触針４５の折れのためコロ抜けと判定される場合や、コ
ロ４８が無い場合も、曲がった触針がリテーナ４４や大
将４３に接触してコロ存りと判定されることが頻発し、
コロ抜け品が良品に混って流出したり、逆に良品がコロ
抜け品として処分されることも多かった。
、触針４５を挿入する隙間が狭いため、台４１上でのコ
ロ組込済内輪４２の位置決めのずれ等で触針４５が折れ
たり、曲がったりし、コロ４８が有るにもかかわらず、
触針４５の折れのためコロ抜けと判定される場合や、コ
ロ４８が無い場合も、曲がった触針がリテーナ４４や大
将４３に接触してコロ存りと判定されることが頻発し、
コロ抜け品が良品に混って流出したり、逆に良品がコロ
抜け品として処分されることも多かった。
また、上記のような触針式検査装置によるコロ抜け検査
では、ロット替時、型番毎に触針本数、触針径を変えな
ければならないため、型番に応じた触針をセットした冶
具を多種類用意しなければならず、それだけ手間および
費用を要するという問題があった。
では、ロット替時、型番毎に触針本数、触針径を変えな
ければならないため、型番に応じた触針をセットした冶
具を多種類用意しなければならず、それだけ手間および
費用を要するという問題があった。
なお、触針式検査装置以外にも、磁気センサを用いたも
の等、種々の検査装置が捉案されているが、いずれも信
頼性、確実性という点において満足すべきものは未だ開
発されていない。
の等、種々の検査装置が捉案されているが、いずれも信
頼性、確実性という点において満足すべきものは未だ開
発されていない。
上記の問題点を解決するためになされたこの発明はコロ
組込済内輪ワークを載置して一定速度で回転させるワー
クテーブルと、ワークのコロ組込面を照射する投光器と
、コロ組込面からの反射光を受光し、コロ組込面をワー
クの軸方向沿いに検索（走査）するようセットされたリ
ニアイメージセンサと、リニアイメージセンサのビデオ
信号をあらかじめ設定されたスレシホールドレベルと比
較して二値化することにより反射光の明暗レベルを示す
ディジタル信号に変換する第１比較器と、リニアイメー
ジセンサの各検索（走査）フレーム内での上記比較器の
明レベル出力パルスを計数するカウンタと、ｌフレーム
の検索（走査）が終了する毎に、コロの軸方向長さに応
じて適宜設定された基準値と上記カウンタの計数値とを
比較して、この計数値が上記基準値以上の時そのフレー
ムが明レベル走査フレームであることを示すＨレベル信
号を出力し、基準値より少ない時そのレベルが暗レベル
走査フレームであることを示ｔＬレベル信号を出力する
第２比較器と、この第２比較器の出力があらかじめ設定
されたコロ抜けを示す条件に合致した時コロ抜けと判定
し、その表示を行なうコロ抜け判定回路と、で構成され
ている。
組込済内輪ワークを載置して一定速度で回転させるワー
クテーブルと、ワークのコロ組込面を照射する投光器と
、コロ組込面からの反射光を受光し、コロ組込面をワー
クの軸方向沿いに検索（走査）するようセットされたリ
ニアイメージセンサと、リニアイメージセンサのビデオ
信号をあらかじめ設定されたスレシホールドレベルと比
較して二値化することにより反射光の明暗レベルを示す
ディジタル信号に変換する第１比較器と、リニアイメー
ジセンサの各検索（走査）フレーム内での上記比較器の
明レベル出力パルスを計数するカウンタと、ｌフレーム
の検索（走査）が終了する毎に、コロの軸方向長さに応
じて適宜設定された基準値と上記カウンタの計数値とを
比較して、この計数値が上記基準値以上の時そのフレー
ムが明レベル走査フレームであることを示すＨレベル信
号を出力し、基準値より少ない時そのレベルが暗レベル
走査フレームであることを示ｔＬレベル信号を出力する
第２比較器と、この第２比較器の出力があらかじめ設定
されたコロ抜けを示す条件に合致した時コロ抜けと判定
し、その表示を行なうコロ抜け判定回路と、で構成され
ている。
上記の構成を有するこの発明のコロ軸受のコロ抜け検査
装置の作用を第１図により説明すると、一定速度で回転
するワークテーブル１にセットされたコロ組込済内輪ワ
ーク２のコロ３が組込まれたコロ組込面には、投光器４
から光が照射され、その反射光がリニアイメージセンサ
５に入射する。
装置の作用を第１図により説明すると、一定速度で回転
するワークテーブル１にセットされたコロ組込済内輪ワ
ーク２のコロ３が組込まれたコロ組込面には、投光器４
から光が照射され、その反射光がリニアイメージセンサ
５に入射する。
リニアイメージセンサ５は、反射光をワーク２の軸方向
に検索（走査）し、反射光の強弱に応じた時系列のビデ
オ信号に変換する。なお、リニアイメージセンサ５によ
るコロ組込面上の検索（走査）範囲は、第２図の一点鎖
線Ｘとｙとの間のように、コロの軸長より短い適宜の長
さにイメージセンサ５の光学系によって調節される。イ
メージセンサ５のビデオ信号出力は第１比較器６に入力
され、スレシホールド回路７によりあらかじめ設定され
たスレシホールドレベルと比較されて、反射光の明暗レ
ベルを示すディジタル信号に変換される。
に検索（走査）し、反射光の強弱に応じた時系列のビデ
オ信号に変換する。なお、リニアイメージセンサ５によ
るコロ組込面上の検索（走査）範囲は、第２図の一点鎖
線Ｘとｙとの間のように、コロの軸長より短い適宜の長
さにイメージセンサ５の光学系によって調節される。イ
メージセンサ５のビデオ信号出力は第１比較器６に入力
され、スレシホールド回路７によりあらかじめ設定され
たスレシホールドレベルと比較されて、反射光の明暗レ
ベルを示すディジタル信号に変換される。
カウンタ８は第１比較器６の明レベル出力パルスを１走
査フレーム毎に計数する。カウンタ８の計数値は１フレ
ーム毎に第２比較器９により基準値設定回路１０の基準
値と比較される。基準値設定回路１０には、各走査フレ
ームが比較的明レベル出力パルスの多い明レベル走査フ
レームであるか、比較的明レベル出力パルスの少ない暗
レベル走査フレームであるかを決定する適切な基準値が
コロの軸方向長さに応じてあらかじめ設定されており、
第２比較器Ｓはカウンタ８の計数値が上記基準値以上の
時そのフレームが明レベル走査フレームであることを示
すＨレベル信号を出力し、計数値が基準値より少ない時
はそのフレームが暗レベル走査フレームであることをし
めずＬレベル信号を出力する。
査フレーム毎に計数する。カウンタ８の計数値は１フレ
ーム毎に第２比較器９により基準値設定回路１０の基準
値と比較される。基準値設定回路１０には、各走査フレ
ームが比較的明レベル出力パルスの多い明レベル走査フ
レームであるか、比較的明レベル出力パルスの少ない暗
レベル走査フレームであるかを決定する適切な基準値が
コロの軸方向長さに応じてあらかじめ設定されており、
第２比較器Ｓはカウンタ８の計数値が上記基準値以上の
時そのフレームが明レベル走査フレームであることを示
すＨレベル信号を出力し、計数値が基準値より少ない時
はそのフレームが暗レベル走査フレームであることをし
めずＬレベル信号を出力する。
第２比較器９の出力はコロ抜け判定回路１）に供給され
る。コロ抜け判定回路１）は、第２比較器９の出力を実
際にコロ抜けワークを用いて求められ、コロ抜け条件設
定回路１）１に設定されたコロ抜け条件と比較し、第２
比較器９の出力が上記コロ抜け条件に合致した時に、表
示器１）２によってそのワークがコロ抜け品であること
を表示させる。
る。コロ抜け判定回路１）は、第２比較器９の出力を実
際にコロ抜けワークを用いて求められ、コロ抜け条件設
定回路１）１に設定されたコロ抜け条件と比較し、第２
比較器９の出力が上記コロ抜け条件に合致した時に、表
示器１）２によってそのワークがコロ抜け品であること
を表示させる。
以下、この発明によるコロ軸受のコロ抜け検査装置の一
実施例について主に第３図を参照しつつ説明する。
実施例について主に第３図を参照しつつ説明する。
この実施例のコロ軸受のコロ抜け検査装置は、リニアイ
メージセンサ５のビデオ信号出力を増幅する増幅器３１
、第１比較器６、スレシホールド回路７、第１カウンタ
８、第２比較器Ｓ、基準値設定回路１０、および第２カ
ウンタ１）３、設定器１）１、表示駆動回路１）２’、
第３比較器１）４、シリアルイン−パラレルアウト形の
４ビツトシフトレジスタ１）５よりなるコロ抜け判定回
路１）、コロ抜け品（Ｎ、Ｇ）記憶用フリップフロップ
１２で構成されており、さらにこれらの各部の動作タイ
ミングおよびシーケンスを論理演算によって制御するた
めの単安定マルチバイブレーク（Ｍ。
メージセンサ５のビデオ信号出力を増幅する増幅器３１
、第１比較器６、スレシホールド回路７、第１カウンタ
８、第２比較器Ｓ、基準値設定回路１０、および第２カ
ウンタ１）３、設定器１）１、表示駆動回路１）２’、
第３比較器１）４、シリアルイン−パラレルアウト形の
４ビツトシフトレジスタ１）５よりなるコロ抜け判定回
路１）、コロ抜け品（Ｎ、Ｇ）記憶用フリップフロップ
１２で構成されており、さらにこれらの各部の動作タイ
ミングおよびシーケンスを論理演算によって制御するた
めの単安定マルチバイブレーク（Ｍ。
Ｍ）１３．．１３□、１３３および１３４．遅延回路１
４、ＡＮＤ回路１５１．１５□、１５３．１５４．１５
゜および、１５６、ＮＯＲ回路１６、ＯＲ回路１７１お
よび１７□、ＮＯＴ回路１８．および１８□を備えてい
る。なお、この実施例において、リニアイメージセンサ
５の素子数は５１２ピント、フレーム走査速度５００フ
レーム／秒、スキャン比４、またワークテーブルｌは１
回転／３．０秒で回転させるものとする。
４、ＡＮＤ回路１５１．１５□、１５３．１５４．１５
゜および、１５６、ＮＯＲ回路１６、ＯＲ回路１７１お
よび１７□、ＮＯＴ回路１８．および１８□を備えてい
る。なお、この実施例において、リニアイメージセンサ
５の素子数は５１２ピント、フレーム走査速度５００フ
レーム／秒、スキャン比４、またワークテーブルｌは１
回転／３．０秒で回転させるものとする。
この実施例のコロ抜け検査装置の動作についてン説明す
ると、リニアイメージセンサ５のビデオ信号出力は増幅
器３１で増幅され、第１比較器６でスレシホールド回路
７より供給されるスレシホールド電圧と比較され、二値
化されて、ワーク２の反射光の明暗レベルを示すディジ
タル信号に変換される。
ると、リニアイメージセンサ５のビデオ信号出力は増幅
器３１で増幅され、第１比較器６でスレシホールド回路
７より供給されるスレシホールド電圧と比較され、二値
化されて、ワーク２の反射光の明暗レベルを示すディジ
タル信号に変換される。
第１比較器６の出力は、ＡＮＤ回路１５．に入力され、
１メガヘルツのクロック信号ＩＭＨ２ＣＬＫとの論理積
出力が第１カウンタ８により計数される。すなわち、第
１カウンタ８は反射光の明レベル期間中のみクロックパ
ルス、言い換えるとリニアイメージセンサ５の出力の明
しベルビノトのみを計数する。ただしζＡＮＤ回路１５
．には、イメージセンサ５の走査フレームに同期した同
期信号５ＹＮＣにトリガーされて５マイクロ秒の遅延パ
ルスを発生する単安定マルチバイブレーク（？Ｉ。
１メガヘルツのクロック信号ＩＭＨ２ＣＬＫとの論理積
出力が第１カウンタ８により計数される。すなわち、第
１カウンタ８は反射光の明レベル期間中のみクロックパ
ルス、言い換えるとリニアイメージセンサ５の出力の明
しベルビノトのみを計数する。ただしζＡＮＤ回路１５
．には、イメージセンサ５の走査フレームに同期した同
期信号５ＹＮＣにトリガーされて５マイクロ秒の遅延パ
ルスを発生する単安定マルチバイブレーク（？Ｉ。
Ｍ）１３１．およびこの遅延パルスの立下がりによりト
リガーされてやはり５マイクロ秒の遅延パルスを発生す
るＭ−Ｍ１３ｇの出力がＮＯＲ回路１６を介して人力さ
れているため、各走査フレームの最初の１０ビツトは第
１カウンクに入力されず、第１カウンタ８はＯＲ回路１
７．を介して供給される単安定マルチバイブレーク１３
２の遅延パルスの立下りによってクリアされた後はじめ
て計数を開始する。
リガーされてやはり５マイクロ秒の遅延パルスを発生す
るＭ−Ｍ１３ｇの出力がＮＯＲ回路１６を介して人力さ
れているため、各走査フレームの最初の１０ビツトは第
１カウンクに入力されず、第１カウンタ８はＯＲ回路１
７．を介して供給される単安定マルチバイブレーク１３
２の遅延パルスの立下りによってクリアされた後はじめ
て計数を開始する。
各走査フレームにおける第１カウンタ８の計数値Ａは第
２比較器９において基準値設定回路１０に設定された基
準値Ｂと比較され、第２比較器９は、第１カウンタ８の
計数値Ａが基準値８以上の時、すなわちＡａＢの時、そ
のフレームが明レベル走査フレームであることを示すＨ
レベル信号を出力し、Ａ＜Ｈの時は、そのフレームが暗
レベル走査フレームであることを示すＬレベル信号を出
力する。基準値設定回路１０の基準値Ｂはワーク２のコ
ロ３（第１図参照）の長さに応じて適宜設定すればよく
、典型的なコロ軸受のコロの場合、コロの部分ではおよ
そ２５０ないし３００ビット程度の明しベル数になるか
ら、Ｂ＝２００程度に設定すればよい。ただし、リニア
イメージセンサ５の焦点位置およびワークの型番が変わ
った時は、その都度イメージセンサ５のビューファイン
ダ（図示せず）でコロ位置を合わせ、コロ長さが何ビッ
トになっているかを＊認して、上記の基準値Ｂを設定し
直す必要がある。
２比較器９において基準値設定回路１０に設定された基
準値Ｂと比較され、第２比較器９は、第１カウンタ８の
計数値Ａが基準値８以上の時、すなわちＡａＢの時、そ
のフレームが明レベル走査フレームであることを示すＨ
レベル信号を出力し、Ａ＜Ｈの時は、そのフレームが暗
レベル走査フレームであることを示すＬレベル信号を出
力する。基準値設定回路１０の基準値Ｂはワーク２のコ
ロ３（第１図参照）の長さに応じて適宜設定すればよく
、典型的なコロ軸受のコロの場合、コロの部分ではおよ
そ２５０ないし３００ビット程度の明しベル数になるか
ら、Ｂ＝２００程度に設定すればよい。ただし、リニア
イメージセンサ５の焦点位置およびワークの型番が変わ
った時は、その都度イメージセンサ５のビューファイン
ダ（図示せず）でコロ位置を合わせ、コロ長さが何ビッ
トになっているかを＊認して、上記の基準値Ｂを設定し
直す必要がある。
第２比較器９の出力は、コロ抜け判定回路１）において
ワーク２のコロ抜けの有無を判定するのに用いられる。
ワーク２のコロ抜けの有無を判定するのに用いられる。
すなわち、第２比較器Ｓの出力は、明レベル走査フレー
ムを示すＨレベル信号であれば、次の走査フレームの同
期信号によって４ビツトシフトレジスタ１）５に入力さ
れ、暗レベル走査フレームを示すしレベル信号であれば
、ＮＯＴ回路１８□によって反転され、ＡＮＤ回路１５
２によってやはり次の走査フレームの同期信号発生時に
第２カウンタ１）３に入力され、計数される。
ムを示すＨレベル信号であれば、次の走査フレームの同
期信号によって４ビツトシフトレジスタ１）５に入力さ
れ、暗レベル走査フレームを示すしレベル信号であれば
、ＮＯＴ回路１８□によって反転され、ＡＮＤ回路１５
２によってやはり次の走査フレームの同期信号発生時に
第２カウンタ１）３に入力され、計数される。
ただし、ＡＮＤ回路１５．はＮＧ記憶用フリップフロッ
プ１２の回出力も入力されており、Ｌレベル信号が第２
カウンタ１）３で計数されるのは、フリップフロップ１
２がリセント状態の時、すなわち回＝１の時だけである
。
プ１２の回出力も入力されており、Ｌレベル信号が第２
カウンタ１）３で計数されるのは、フリップフロップ１
２がリセント状態の時、すなわち回＝１の時だけである
。
暗レベル走査フレーム数を示す第２カウンタ１）３の計
数値Ｘは表示駆動回路１）２′を介して液晶表示装置等
の表示装置（図示せず）により表示される一方、第３比
較器１）４において設定値Ｙと比較される。設定器１）
１には、各種型番のコロ軸受毎にコロ抜けワークを用い
て求められた確実にコロ抜けを識別し得る基準としての
連続暗レベル走査フレーム数が設定されており、第３比
較器１）４は、第３比較器１）４の計数値Ｘが設定器１
）１の設定値７以上になるとＨレベル信号を出力する。
数値Ｘは表示駆動回路１）２′を介して液晶表示装置等
の表示装置（図示せず）により表示される一方、第３比
較器１）４において設定値Ｙと比較される。設定器１）
１には、各種型番のコロ軸受毎にコロ抜けワークを用い
て求められた確実にコロ抜けを識別し得る基準としての
連続暗レベル走査フレーム数が設定されており、第３比
較器１）４は、第３比較器１）４の計数値Ｘが設定器１
）１の設定値７以上になるとＨレベル信号を出力する。
この第３比較器１）４のＨレベル信号出力はＡＮＤ回路
１５６を介して、Ｎ、Ｇ記憶用フリップフロップ１２を
セットする。フリップフロップ１２がセットされると、
そのＱ出力がＨレベルとなり、ＡＮＤ回路１５．を介し
てＮ、Ｇ表示器、ブザー（表示せず）等が作動する。た
だし、フリップフロップ１２がセントされるのは、装置
に測定中信号”、ＹＳＴＥＭ ＯＮが供給されている
間だけで、この測定中信号ＳＹＳＴＥＭ ＯＮはＡＮ
Ｄ回路１５６に入力されると共に、ＮＯＴ回路１８．に
より反転された後、第１カウンタのクリア入力端子ＣＬ
に接続されたＯＲ回路１７１゜遅延回路１４および単安
定マルチバイブレーク１３□に供給される。
１５６を介して、Ｎ、Ｇ記憶用フリップフロップ１２を
セットする。フリップフロップ１２がセットされると、
そのＱ出力がＨレベルとなり、ＡＮＤ回路１５．を介し
てＮ、Ｇ表示器、ブザー（表示せず）等が作動する。た
だし、フリップフロップ１２がセントされるのは、装置
に測定中信号”、ＹＳＴＥＭ ＯＮが供給されている
間だけで、この測定中信号ＳＹＳＴＥＭ ＯＮはＡＮ
Ｄ回路１５６に入力されると共に、ＮＯＴ回路１８．に
より反転された後、第１カウンタのクリア入力端子ＣＬ
に接続されたＯＲ回路１７１゜遅延回路１４および単安
定マルチバイブレーク１３□に供給される。
従って、第１カウンタ８は、測定中信号ＳＹＳＴＥＭ
ＯＮの立下り時にクリアされる。また、単安定マルチ
バイブレーク１３．は、測定中信号ＳＹＳＴＥＭ Ｏ
Ｎの立下り後１．０秒の遅延パルスを発生し、その次段
の単安定マルチバイブレーク１３．は、この遅延パルス
の立下り後１００マイクロ秒の遅延パルスを発生するの
で、フリップフロップ１２がセントされている場合、測
定中信号ＳＹＳＴＥＭ ＯＮが終了しても、その後１
秒間はＮ、Ｇの表示が保たれ、そのさらに１００マイク
ロ秒後にフリップフロップ１２がリセットされる。測定
中信号ＳＹＳＴＥＭ ＯＮの立下りは遅延回路１４に
より０．５〜１．０秒遅延してＯＲ回路１７□に入力さ
れる。従って、Ｎ、Ｇ記憶用フリップフロップ１２がリ
セットされていれば、第２カウンタ１）３はＡＮＤ回路
１５４を介して測定中信号ＳＹＳＴＥＭ ＯＮ終了の
０．５〜１．０秒後にクリアされる。これは、暗レベル
走査フレームの計数値を測定中信号の終了後も一定時間
表示するためである。
ＯＮの立下り時にクリアされる。また、単安定マルチ
バイブレーク１３．は、測定中信号ＳＹＳＴＥＭ Ｏ
Ｎの立下り後１．０秒の遅延パルスを発生し、その次段
の単安定マルチバイブレーク１３．は、この遅延パルス
の立下り後１００マイクロ秒の遅延パルスを発生するの
で、フリップフロップ１２がセントされている場合、測
定中信号ＳＹＳＴＥＭ ＯＮが終了しても、その後１
秒間はＮ、Ｇの表示が保たれ、そのさらに１００マイク
ロ秒後にフリップフロップ１２がリセットされる。測定
中信号ＳＹＳＴＥＭ ＯＮの立下りは遅延回路１４に
より０．５〜１．０秒遅延してＯＲ回路１７□に入力さ
れる。従って、Ｎ、Ｇ記憶用フリップフロップ１２がリ
セットされていれば、第２カウンタ１）３はＡＮＤ回路
１５４を介して測定中信号ＳＹＳＴＥＭ ＯＮ終了の
０．５〜１．０秒後にクリアされる。これは、暗レベル
走査フレームの計数値を測定中信号の終了後も一定時間
表示するためである。
第２比較器９のＨレベル信号を逐次入力する４ビツトシ
フトレジスタ１）５の１〜３ビツトの並列出力はＡＮＤ
ｌｊｊｌ路１５．に入力され、ＡＮＤ回路１５．の出力
はＡＮＤ回路１５．に接続されており、このＡＮＤ回路
１５３のもう一方の入力には単安定マルチバイブレータ
１３□の出力が供給される。従って、明レベル走査フレ
ームが３フレーム連続すると、ＡＮＤ回路１５．の出力
がＨレベルとなって、Ｎ、Ｇ記憶用フリップフロップ１
２がリセット状態の場合、次の走査フレームの同期信号
の５マイクロ秒後に第２カウンク１）３の内容はクリア
され、その時点から前述したような暗レベル走査フレー
ム（Ｌレベル信号）の計数が新たに開始される。
フトレジスタ１）５の１〜３ビツトの並列出力はＡＮＤ
ｌｊｊｌ路１５．に入力され、ＡＮＤ回路１５．の出力
はＡＮＤ回路１５．に接続されており、このＡＮＤ回路
１５３のもう一方の入力には単安定マルチバイブレータ
１３□の出力が供給される。従って、明レベル走査フレ
ームが３フレーム連続すると、ＡＮＤ回路１５．の出力
がＨレベルとなって、Ｎ、Ｇ記憶用フリップフロップ１
２がリセット状態の場合、次の走査フレームの同期信号
の５マイクロ秒後に第２カウンク１）３の内容はクリア
され、その時点から前述したような暗レベル走査フレー
ム（Ｌレベル信号）の計数が新たに開始される。
このようにして、図示実施例のコロ抜け検査装置は、明
レベル走査フレームが３フレ一ム以上くこのフレーム数
はもちろん任意である）連続すれば、少なくともその部
分ではコロ抜けなしと判定し、その部分からさらに逐次
走査を行なって、暗レベル走査フレーム数が連続して設
定器１）１の設定値以上になると、自動的にコロ抜けの
表示が出されるようになっている。
レベル走査フレームが３フレ一ム以上くこのフレーム数
はもちろん任意である）連続すれば、少なくともその部
分ではコロ抜けなしと判定し、その部分からさらに逐次
走査を行なって、暗レベル走査フレーム数が連続して設
定器１）１の設定値以上になると、自動的にコロ抜けの
表示が出されるようになっている。
この発明によるコロ軸受のコロ抜け検査装置によれば、
コロ抜けを自動的に確実に検出することができるため、
検査工程の能率および信頬性を大幅に改善することがで
き、製品の最終出荷段階における目視外観検査の廃止も
可能となる。
コロ抜けを自動的に確実に検出することができるため、
検査工程の能率および信頬性を大幅に改善することがで
き、製品の最終出荷段階における目視外観検査の廃止も
可能となる。
第１図は、この発明によるコロ軸受のコロ抜け検査装置
の基本構成のブロック図、第２図はこの発明の装置にお
けるリニアイメージセンサの走査＆Ｑ囲の一例を示すコ
ロ組込済内輪ワークの概略展開図、第３図はこの発明に
よるコロ抜け検査装置の一実施例の回路構成を示すブロ
ック図、第４図（ａｌおよび（ｂｌは、従来のコロ抜け
検査装置の一例の平面図および断面図である。 １・・・・・・ワークテーブル、２・・・・・・コロ組
込済内輪ワーク、３・・・・・・コロ、５・・・・・・
リニアイメージセンサ、６・・・・・・第１比較器、７
・・・・・・スレシホールド回路、８・・・・・・カウ
ンタ（第１カウンタ）、９・・・・・・第２比較器、１
０・・・・・・基準値設定回路、１）・・・・・・コロ
抜け判定回路、１）１・・・・・・コロ抜け条件設定回
路（設定器）、１）２・・・・・・表示器、１）３・・
・・・・第２カウンタ、１）４・・・・・・第３比較器
、１）５・・・・・・４ビソトシフトレジスタ
の基本構成のブロック図、第２図はこの発明の装置にお
けるリニアイメージセンサの走査＆Ｑ囲の一例を示すコ
ロ組込済内輪ワークの概略展開図、第３図はこの発明に
よるコロ抜け検査装置の一実施例の回路構成を示すブロ
ック図、第４図（ａｌおよび（ｂｌは、従来のコロ抜け
検査装置の一例の平面図および断面図である。 １・・・・・・ワークテーブル、２・・・・・・コロ組
込済内輪ワーク、３・・・・・・コロ、５・・・・・・
リニアイメージセンサ、６・・・・・・第１比較器、７
・・・・・・スレシホールド回路、８・・・・・・カウ
ンタ（第１カウンタ）、９・・・・・・第２比較器、１
０・・・・・・基準値設定回路、１）・・・・・・コロ
抜け判定回路、１）１・・・・・・コロ抜け条件設定回
路（設定器）、１）２・・・・・・表示器、１）３・・
・・・・第２カウンタ、１）４・・・・・・第３比較器
、１）５・・・・・・４ビソトシフトレジスタ
Claims (2)
- （１）コロ軸受のコロ組込済内輪ワークを載置して一定
速度で回転させるワークテーブルと； ワークのコロ組込面を照射する投光器と； コロ組込面からの反射光を受光し、コロ組込面をワーク
の軸方向沿いに検索（走査）するようにセットされたり
リニアイメージセンサと； リニアイメージセンサのビデオ信号をあらかじめ設定さ
れたスレシホールドレベルと比較して二値化することに
より反射光の明暗レベルを示すディジタル信号に変換す
る第１比較器と； リニアイメージセンサの各検索（走査）フレーム内での
上記比較器の明レベル出力パルスを計数するカウンタと
； １フレームの検索（走査）が終了する毎に、コロの軸方
向長さに応じて適宜設定された基準値と上記カウンタの
計数値とを比較して、この計数値が上記基準値以上の時
そのフレームが明レベル走査フレームであることを示す
Ｈレベル信号を出力し、基準値より少ない時そのフレー
ムが暗レベル走査フレームであることを示すＬレベル信
号を出力する第２比較器と； この第２比較器の出力があらかじめ設定されたコロ抜け
を示す条件に合致した時コロ抜けと判定し、その表示を
行なうコロ抜け判定回路と；を備えたことを特徴とする
コロ軸受のコロ抜け検査装置。 - （２）前記コロ抜け判定回路が； 前記第２比較器のＬレベル信号出力を計数する第２カウ
ンタと； ワークについての暗レベル走査フレームの最大許容数を
設定する設定器と； 上記第２カウンタの計数値と上記設定器の設定値とを比
較し、第２カウンタの計数値が上記設定値を超えた時コ
ロ抜けを示す信号を出力する第３比較器と； 前記第２比較器の出力を直列入力し、所定ビット数の並
列出力に変換するシリアルイン−パラレルアウト形シフ
トレジスタと； 上記シフトレジスタの並列出力がすべてＨレベルとなっ
た時第２カウンタの計数値をクリアするクリア回路と； 上記第２カウンタの計数値を表示するとともに、上記第
３比較器よりコロ抜けを示す信号が出力された時、検査
中のワークがコロ抜けであることを表示する表示手段と
； を備えたことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
コロ軸受のコロ抜け検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13356085A JPS61290340A (ja) | 1985-06-18 | 1985-06-18 | コロ軸受のコロ抜け検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13356085A JPS61290340A (ja) | 1985-06-18 | 1985-06-18 | コロ軸受のコロ抜け検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61290340A true JPS61290340A (ja) | 1986-12-20 |
Family
ID=15107656
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13356085A Pending JPS61290340A (ja) | 1985-06-18 | 1985-06-18 | コロ軸受のコロ抜け検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61290340A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6469987A (en) * | 1987-09-10 | 1989-03-15 | Nitto Kogyo Kk | Presence detecting apparatus for electronic part in printed board |
| JP2017111009A (ja) * | 2015-12-16 | 2017-06-22 | 株式会社ジェイテクト | 検査装置および検査方法 |
-
1985
- 1985-06-18 JP JP13356085A patent/JPS61290340A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6469987A (en) * | 1987-09-10 | 1989-03-15 | Nitto Kogyo Kk | Presence detecting apparatus for electronic part in printed board |
| JP2017111009A (ja) * | 2015-12-16 | 2017-06-22 | 株式会社ジェイテクト | 検査装置および検査方法 |
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