JPS6099563A - 被研削ワ−クの外観検査方法 - Google Patents
被研削ワ−クの外観検査方法Info
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- JPS6099563A JPS6099563A JP58206233A JP20623383A JPS6099563A JP S6099563 A JPS6099563 A JP S6099563A JP 58206233 A JP58206233 A JP 58206233A JP 20623383 A JP20623383 A JP 20623383A JP S6099563 A JPS6099563 A JP S6099563A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ground
- dimensional sensor
- dimension
- scanning
- inspection
- Prior art date
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- Pending
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B49/00—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation
- B24B49/12—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation involving optical means
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は各種軸受等の被研削ワークの外観検査方法に関
し、詳しくは上記軸受の外輪外径や転走面等の被研削面
におけるその表面状態及び研削幅寸法の良否を一次元セ
ンサを利用して検査する方法に関する。
し、詳しくは上記軸受の外輪外径や転走面等の被研削面
におけるその表面状態及び研削幅寸法の良否を一次元セ
ンサを利用して検査する方法に関する。
イ、従来技術
例えば、第１図は被研削ワークである複列円すいころ軸
受（以下単に軸受と称す）の−例を示し、図に於いて、
（１）は軸受内輪（以下単に内輪と称す） （ｌａ）
（ｌａ）は該内輪（１）の外周上に形成された転走面、
（２）は軸受外輪（以下単に外輪と称す）、（３）（３
）は該外輪（２）と上記内輪（１）（１）間に収容され
た円すいころ、（４）（４）は該円すいころ（３）（３
）を保持する保持器である。上記外輪（２）の外径は被
研削面（２’ａ ）及びその両局端縁に形成された面取
り部（２ｂ） 、 （２ｂ）からなる。
受（以下単に軸受と称す）の−例を示し、図に於いて、
（１）は軸受内輪（以下単に内輪と称す） （ｌａ）
（ｌａ）は該内輪（１）の外周上に形成された転走面、
（２）は軸受外輪（以下単に外輪と称す）、（３）（３
）は該外輪（２）と上記内輪（１）（１）間に収容され
た円すいころ、（４）（４）は該円すいころ（３）（３
）を保持する保持器である。上記外輪（２）の外径は被
研削面（２’ａ ）及びその両局端縁に形成された面取
り部（２ｂ） 、 （２ｂ）からなる。
上記軸受の製造工程では、例えば上記外輪（２）の外径
の被研削面（２ａ）を研削加工する場合、該被研削面（
２ａ）上に打ち傷等による凹みが生じていたり、或いは
熱処理時の変形であると、その被研削面（２ａ）上に黒
皮残り（未研削部分）が発生したりすることがあり、こ
のように黒皮残りが発生した軸受は不良品として判別し
なければならず、そのため上記被研削面（２ａ）につい
て適当な外観検査手段が必要とされている。
の被研削面（２ａ）を研削加工する場合、該被研削面（
２ａ）上に打ち傷等による凹みが生じていたり、或いは
熱処理時の変形であると、その被研削面（２ａ）上に黒
皮残り（未研削部分）が発生したりすることがあり、こ
のように黒皮残りが発生した軸受は不良品として判別し
なければならず、そのため上記被研削面（２ａ）につい
て適当な外観検査手段が必要とされている。
そこで従来、上記外観検査手段としては、作業者の目視
や自動検査装置等があり、特に作業者の目視による外観
検査が多く採用されている。この目視による外観検査で
は、例えば被研削面にゴミや油等が付着している場合、
それらを除去した後再度検査することが可能であり、検
査要素の自由度の点で、上記自動検査装置よりも有効で
ある。しかし上記外観検査に゛おける個人能力のバラツ
キ、長時間運転等の検査要素に関しては作業者の目視よ
りも自動検査装置の方が有効である。それにもかかわら
ず、目視による外観検査が多〈実施されているのは経済
性や自由度の検査要素に関して上記自動検査装置よりも
優れていたためであるが、近年、経済性の面で優れた廉
価な一次元センサ（ＣＣＤ型イメージセンサ）等の検査
装置の出現により自動検査装置が目視による外観検査に
充分対向し得るようになり、目視による外観検査の方が
優れている検査要素の自由度の面に関しても外観検査か
らこの自由度を取り除くことが規格化された外観検査で
あるということも云え、この自由度は外観検査の検査要
素から除外できる。従って経済性の面で優れた上記−次
元センサを利用した外観検査方法が要望されている。
や自動検査装置等があり、特に作業者の目視による外観
検査が多く採用されている。この目視による外観検査で
は、例えば被研削面にゴミや油等が付着している場合、
それらを除去した後再度検査することが可能であり、検
査要素の自由度の点で、上記自動検査装置よりも有効で
ある。しかし上記外観検査に゛おける個人能力のバラツ
キ、長時間運転等の検査要素に関しては作業者の目視よ
りも自動検査装置の方が有効である。それにもかかわら
ず、目視による外観検査が多〈実施されているのは経済
性や自由度の検査要素に関して上記自動検査装置よりも
優れていたためであるが、近年、経済性の面で優れた廉
価な一次元センサ（ＣＣＤ型イメージセンサ）等の検査
装置の出現により自動検査装置が目視による外観検査に
充分対向し得るようになり、目視による外観検査の方が
優れている検査要素の自由度の面に関しても外観検査か
らこの自由度を取り除くことが規格化された外観検査で
あるということも云え、この自由度は外観検査の検査要
素から除外できる。従って経済性の面で優れた上記−次
元センサを利用した外観検査方法が要望されている。
口０発明の目的
本発明の目的は、被研削面に発生した黒皮残りを検出す
ると同時に上記被研削面の研削幅寸法の良否を判別する
ことを可能ならしめる外観検査方法を提供することにあ
る。
ると同時に上記被研削面の研削幅寸法の良否を判別する
ことを可能ならしめる外観検査方法を提供することにあ
る。
ハ０発明の構成
本発明は被研削ワークの被研削面（２ａ）に入射光（Ｘ
）を投光する光源と、その被研削面（２ａ）からの反射
光（Ｙ）を受光する一次元センサとを上記被研削面（２
ａ）と対向させて夫々配設し、−次元センサを被研削ワ
ークの軸方向と平行に走査し、且つ上記被研削ワークを
回転させることにより一次元センサの走査フレーム毎に
被研削面（２ａ）全周からの反射光（Ｙ）を検出し、該
反射光（Ｙ）による−次元センサの検出信号（Ａ）を予
め設定されてしきい値レヘル（Ｂ）で二値化することに
より明暗レヘル（Ｈ） （Ｌ）のデジタル信号（Ｃ）に
変換し、最初の明レベル（Ｈ）が検出されると上記−次
元センサの出力パルス（Ｅ）をカウンタ（９）（１７）
により上記走査フレーム毎に計数開始し、その後最初の
暗レベル（Ｌ）が検出されると上記出力パルス（Ｅ）を
計数完了することによりこのカウント値と予め決められ
た設定値とを比較判別し、上記被研削面（２ａ）の研削
幅寸法（Ｌ２）の良否及び黒皮残りの存否を検査するよ
うになしたことを特徴とする。
）を投光する光源と、その被研削面（２ａ）からの反射
光（Ｙ）を受光する一次元センサとを上記被研削面（２
ａ）と対向させて夫々配設し、−次元センサを被研削ワ
ークの軸方向と平行に走査し、且つ上記被研削ワークを
回転させることにより一次元センサの走査フレーム毎に
被研削面（２ａ）全周からの反射光（Ｙ）を検出し、該
反射光（Ｙ）による−次元センサの検出信号（Ａ）を予
め設定されてしきい値レヘル（Ｂ）で二値化することに
より明暗レヘル（Ｈ） （Ｌ）のデジタル信号（Ｃ）に
変換し、最初の明レベル（Ｈ）が検出されると上記−次
元センサの出力パルス（Ｅ）をカウンタ（９）（１７）
により上記走査フレーム毎に計数開始し、その後最初の
暗レベル（Ｌ）が検出されると上記出力パルス（Ｅ）を
計数完了することによりこのカウント値と予め決められ
た設定値とを比較判別し、上記被研削面（２ａ）の研削
幅寸法（Ｌ２）の良否及び黒皮残りの存否を検査するよ
うになしたことを特徴とする。
二、実施例
以下に本発明に係る外観検査方法の一実施例を第２図か
ら示す。この実施例では軸受の外輪外径の被研削面にお
ける外観検査について説明する。第２図及び第３図は上
記外観検査方法を説明するための概略原理図であり、第
１Ｆ！！Ｊと同一符号は同一物を示しその説明を省略す
る。同図に示すように軸受における外輪（２）の外径の
被研削面（２ａ）に入射光（Ｘ）（平行光）を投光する
光源（図示せず）と、その被研削面（２ａ）からの反射
光（Ｙ）を受光する一次元センサ（図示せず）とを上記
被研削面（２ａ）と対向させて夫々配設する。この−次
元センサを軸受の回転軸方向と平行に走査させ、且つ上
記軸受を適宜の手段にて図示実線矢印方向に回転させる
ことにより上記−次元センサで軸受の回転軸方向におけ
る走査フレーム（図示鎖線）毎に被研削面（２ａ）全周
からの反射光（Ｙ）を検出する。尚、上記−次元センサ
は自己走査特性を有する光電センサで、例えばフォトダ
イオードアレイによる固体撮像素子であるイメージセン
サが使用される。
ら示す。この実施例では軸受の外輪外径の被研削面にお
ける外観検査について説明する。第２図及び第３図は上
記外観検査方法を説明するための概略原理図であり、第
１Ｆ！！Ｊと同一符号は同一物を示しその説明を省略す
る。同図に示すように軸受における外輪（２）の外径の
被研削面（２ａ）に入射光（Ｘ）（平行光）を投光する
光源（図示せず）と、その被研削面（２ａ）からの反射
光（Ｙ）を受光する一次元センサ（図示せず）とを上記
被研削面（２ａ）と対向させて夫々配設する。この−次
元センサを軸受の回転軸方向と平行に走査させ、且つ上
記軸受を適宜の手段にて図示実線矢印方向に回転させる
ことにより上記−次元センサで軸受の回転軸方向におけ
る走査フレーム（図示鎖線）毎に被研削面（２ａ）全周
からの反射光（Ｙ）を検出する。尚、上記−次元センサ
は自己走査特性を有する光電センサで、例えばフォトダ
イオードアレイによる固体撮像素子であるイメージセン
サが使用される。
上記−次元センサにて受光された反射光（Ｙ）による外
輪（２）の外径の画像は電気信号であるビデオ信号（Ａ
）に変換され、更に第４図（ａ）（ｂ）に示すように上
記ビデオ信号（Ａ）を所定のしきい値レベル（Ｂ）で二
値化することにより明暗レベル（Ｈ）（Ｌ）（ＯＮ−Ｏ
ＦＦレベル）のデジタル信号（Ｃ）に変換する。このデ
ジタル信号（Ｃ）の明レベル（）Ｉ ）ｒは上記外輪（
２）の外径の被研削面（２ａ）である研削部分に対応し
、且つその暗レベル（Ｌ）は面取り部（２ｂ） （２ｂ
）等の未研削部分に対応する。
輪（２）の外径の画像は電気信号であるビデオ信号（Ａ
）に変換され、更に第４図（ａ）（ｂ）に示すように上
記ビデオ信号（Ａ）を所定のしきい値レベル（Ｂ）で二
値化することにより明暗レベル（Ｈ）（Ｌ）（ＯＮ−Ｏ
ＦＦレベル）のデジタル信号（Ｃ）に変換する。このデ
ジタル信号（Ｃ）の明レベル（）Ｉ ）ｒは上記外輪（
２）の外径の被研削面（２ａ）である研削部分に対応し
、且つその暗レベル（Ｌ）は面取り部（２ｂ） （２ｂ
）等の未研削部分に対応する。
そして主起−次元センサを走査フレーム毎に走査させる
と、外輪（２）の外径の周端縁に未研削の面取り部（２
ｂ） （２ｂ）が形成されているため、−次元センサに
より検出されるデジタル信号（Ｃ）は暗レベル（Ｉ、）
となり、上記−次元センサの走査が外径の被研削面（２
ａ）の端部に達して上記デジタル信号（Ｃ）が最初の明
レベル（Ｈ）となると、−次元センサの出力パルスであ
る走査クロック信号（Ｄ）のクロックパルス数をカウン
タにより計数開始し、その後デジタル信号（Ｃ’）が最
初の暗レベル（Ｌ）になる時点で上記クロックパルス数
を計数完了する。
と、外輪（２）の外径の周端縁に未研削の面取り部（２
ｂ） （２ｂ）が形成されているため、−次元センサに
より検出されるデジタル信号（Ｃ）は暗レベル（Ｉ、）
となり、上記−次元センサの走査が外径の被研削面（２
ａ）の端部に達して上記デジタル信号（Ｃ）が最初の明
レベル（Ｈ）となると、−次元センサの出力パルスであ
る走査クロック信号（Ｄ）のクロックパルス数をカウン
タにより計数開始し、その後デジタル信号（Ｃ’）が最
初の暗レベル（Ｌ）になる時点で上記クロックパルス数
を計数完了する。
尚、通常上記軸受の外輪（２）の外径には刻印が施され
ており、この刻印部にはマスクをかけて一次元センサの
走査時、その刻印部ではマスク信号（Ｅ）により強制的
に明レベル（Ｈ）のデジタル信号（Ｃ）が検出されるよ
うにして検査対象から除外する。
ており、この刻印部にはマスクをかけて一次元センサの
走査時、その刻印部ではマスク信号（Ｅ）により強制的
に明レベル（Ｈ）のデジタル信号（Ｃ）が検出されるよ
うにして検査対象から除外する。
上記軸受の外輪（２）の外径を外観検査するに際しては
、第３図及び第５図に示す如く外輪（２）の外径幅寸法
（ＬＯ）より両面取り部（２ｂ） （２ｂ）の幅寸法（
ＬＬ ） （Ｌｌ ）を差し引いた研削幅寸法（Ｌ２
） 、該研削幅寸法（Ｌ２）の許容差及び前記刻印部の
マスク位置、そのマスク幅寸法を初期設定しておく。上
記マスク位置は外輪（２）の外径幅寸法（ＬＯ）の中央
より略１０ｍｍの位置に規定されているが、上記外輪（
２）が方向整列されていないため、その左右両側に刻印
部が位置する可能性があるので上記マスク位置も左右両
側に設定する必要がある。
、第３図及び第５図に示す如く外輪（２）の外径幅寸法
（ＬＯ）より両面取り部（２ｂ） （２ｂ）の幅寸法（
ＬＬ ） （Ｌｌ ）を差し引いた研削幅寸法（Ｌ２
） 、該研削幅寸法（Ｌ２）の許容差及び前記刻印部の
マスク位置、そのマスク幅寸法を初期設定しておく。上
記マスク位置は外輪（２）の外径幅寸法（ＬＯ）の中央
より略１０ｍｍの位置に規定されているが、上記外輪（
２）が方向整列されていないため、その左右両側に刻印
部が位置する可能性があるので上記マスク位置も左右両
側に設定する必要がある。
そして−次元センサの走査により計数された前記カウン
ト値に該−次元センサのビット長を乗じて得られた研削
幅の測定寸法と、許容差を考慮して設定された研削幅寸
法（Ｌ２）とを比較判別する。即ち外輪（２）の被研削
面（２ａ）上に黒皮残りが発生している場合、前述した
ように該黒皮残りの発生部分にて一次元センサの走査に
よる計数が終了するため、上記測定寸法が研削幅寸法（
Ｌ２）よりも短くなることにより上記黒皮残りが検出さ
れてその外輪（２）は不良品として排出される。また被
研削面（２ａ）上に黒皮残りが発生していない場合、−
次元センサの走査による計数は被研削面（２ａ）の端部
にて終了するが、そのカウント値による測定寸法が上記
研削幅寸法（Ｌ２）の許容差外であれば上述と同様にそ
の外輪（２）を不良品として排出し上記許容差内であれ
ば良品として排出する。
ト値に該−次元センサのビット長を乗じて得られた研削
幅の測定寸法と、許容差を考慮して設定された研削幅寸
法（Ｌ２）とを比較判別する。即ち外輪（２）の被研削
面（２ａ）上に黒皮残りが発生している場合、前述した
ように該黒皮残りの発生部分にて一次元センサの走査に
よる計数が終了するため、上記測定寸法が研削幅寸法（
Ｌ２）よりも短くなることにより上記黒皮残りが検出さ
れてその外輪（２）は不良品として排出される。また被
研削面（２ａ）上に黒皮残りが発生していない場合、−
次元センサの走査による計数は被研削面（２ａ）の端部
にて終了するが、そのカウント値による測定寸法が上記
研削幅寸法（Ｌ２）の許容差外であれば上述と同様にそ
の外輪（２）を不良品として排出し上記許容差内であれ
ば良品として排出する。
次に上記外観検査を第６図に示す検出回路及び第４図（
ａ）（ｂ）に示す前述のタイミングチャートにて説明す
る。同図に示すように一次元センサの走査にて検出され
たビデオ信号（Ａ）は増幅器（５）にて所定のレベルに
増幅され、該増幅器（５）の出力として得られたビデオ
信号（Ａ）はコンパレータ（６）にて予め設定されたし
きい値レベル（Ｂ）により二値化されて明暗レベル（Ｈ
）（Ｌ）のデジタル信号（Ｃ）に変換される。一方上記
一次元センサがら送出される同期信号（Ｆ）の立ち上が
りがフリップ７ｏツブ（７）にセントされて一次元セン
サが走査フレーム毎に外輪（２）の外観検査を開始する
と、ゲート（８）が開き、上記デジタル信号（Ｃ）の最
初の明レベル（Ｈ）が検出されるト、走査クロック信号
（Ｄ）のクロックパルス数をカウンタ（９）にて計数開
始する。その後上記コンパレータ（６）の出力であるデ
ジタル信号（Ｃ）の暗レベル（Ｌ）が検出されるとイン
ハーク（１０）を介してゲー１− （１１）が開き、ｌ
ｊ安定マルチパイブレーク（１２）の出力により」二記
フリップフロップ ゲー１−（８）が閉してカウンタ（９）でのクロックパ
ルス数の計数を終了する。そして研削幅の測定寸法に対
応したこのカラン１−値から、予め設定された研削幅寸
法（Ｌ２）に対応する規格値を減算回路（１３）にて減
算し、該減算回路（１３）の出力として得られた上記カ
ウント値と規格値との差はコンパレーク（１４）に“Ｃ
上記研削幅寸法（１．、２）の許容差に対応した規格幅
と比較判別される。一方、上記同期信号（ Ｆ）の立ち
」二かりによりフリップフロ・ノブ（１５）がセットさ
れ、−次元センサによる１走査フレームでの外観検査が
開始したことになり、該フリップフＬトツプ（１５）の
出力によってゲート（１６）が開いて走査クロック信号
（Ｄ）のクロックパルス数がカウンタ（１７）にて計数
される。このカラン日直と予め設定された一次元センサ
のビット数とがコンパレータ（１８）にて比較判別され
て一致すれば上記−次元センサによるｌ走査フレームで
の外観検査が終了したことになり、該コンパレータ（１
８）の出力により上記フリップフロップ（１５）がリセ
ットされる。そして上記減算回路（１３）の出力である
カウント値と規格値との差が規格幅よりも大きい場合、
上記コンパレータ（１４）の出力によりフリップフロ・
ノブ（１９）がセットされてゲート（２０）を開き、Ｎ
Ｇ倍信号送出される。即ち第４図（ａ）に示す如く一次
元センサの第１番目の走査フレーム（図示（α）部分）
では走査クロック信号（Ｄ）のクロックパルス数のカウ
ント値が規格値の規格幅内にあり、換言すれば測定寸法
が研削幅寸法 （Ｌ２）の許容差内にあるためにＯＫと
なるが、第２番目の走査フレーム（図示（β）部分）で
は上記カウント値が規格幅外となってＮＧになり、その
外軸（２）は不良品として排出される。また第４図（ｂ
）に示す如く黒皮残り発生により走査フレーム内でデジ
タル信号（Ｃ）の暗レベル（Ｌ）が検出されるため、上
記カウント値が規格幅外となってＮＧになり、その外輪
（２）も不良品として排出される。尚、上記検出回路で
は被研削面（２ａ）上の刻印部のマスク位置及びそのマ
スク幅寸法を設定する部分を省略しているが、該刻印部
ではマスク信号（Ｅ）により走査フレーム毎に左右マス
ク位置にて強制的にデジタル信号（Ｃ）を明レベル（Ｈ
）にしている。
ａ）（ｂ）に示す前述のタイミングチャートにて説明す
る。同図に示すように一次元センサの走査にて検出され
たビデオ信号（Ａ）は増幅器（５）にて所定のレベルに
増幅され、該増幅器（５）の出力として得られたビデオ
信号（Ａ）はコンパレータ（６）にて予め設定されたし
きい値レベル（Ｂ）により二値化されて明暗レベル（Ｈ
）（Ｌ）のデジタル信号（Ｃ）に変換される。一方上記
一次元センサがら送出される同期信号（Ｆ）の立ち上が
りがフリップ７ｏツブ（７）にセントされて一次元セン
サが走査フレーム毎に外輪（２）の外観検査を開始する
と、ゲート（８）が開き、上記デジタル信号（Ｃ）の最
初の明レベル（Ｈ）が検出されるト、走査クロック信号
（Ｄ）のクロックパルス数をカウンタ（９）にて計数開
始する。その後上記コンパレータ（６）の出力であるデ
ジタル信号（Ｃ）の暗レベル（Ｌ）が検出されるとイン
ハーク（１０）を介してゲー１− （１１）が開き、ｌ
ｊ安定マルチパイブレーク（１２）の出力により」二記
フリップフロップ ゲー１−（８）が閉してカウンタ（９）でのクロックパ
ルス数の計数を終了する。そして研削幅の測定寸法に対
応したこのカラン１−値から、予め設定された研削幅寸
法（Ｌ２）に対応する規格値を減算回路（１３）にて減
算し、該減算回路（１３）の出力として得られた上記カ
ウント値と規格値との差はコンパレーク（１４）に“Ｃ
上記研削幅寸法（１．、２）の許容差に対応した規格幅
と比較判別される。一方、上記同期信号（ Ｆ）の立ち
」二かりによりフリップフロ・ノブ（１５）がセットさ
れ、−次元センサによる１走査フレームでの外観検査が
開始したことになり、該フリップフＬトツプ（１５）の
出力によってゲート（１６）が開いて走査クロック信号
（Ｄ）のクロックパルス数がカウンタ（１７）にて計数
される。このカラン日直と予め設定された一次元センサ
のビット数とがコンパレータ（１８）にて比較判別され
て一致すれば上記−次元センサによるｌ走査フレームで
の外観検査が終了したことになり、該コンパレータ（１
８）の出力により上記フリップフロップ（１５）がリセ
ットされる。そして上記減算回路（１３）の出力である
カウント値と規格値との差が規格幅よりも大きい場合、
上記コンパレータ（１４）の出力によりフリップフロ・
ノブ（１９）がセットされてゲート（２０）を開き、Ｎ
Ｇ倍信号送出される。即ち第４図（ａ）に示す如く一次
元センサの第１番目の走査フレーム（図示（α）部分）
では走査クロック信号（Ｄ）のクロックパルス数のカウ
ント値が規格値の規格幅内にあり、換言すれば測定寸法
が研削幅寸法 （Ｌ２）の許容差内にあるためにＯＫと
なるが、第２番目の走査フレーム（図示（β）部分）で
は上記カウント値が規格幅外となってＮＧになり、その
外軸（２）は不良品として排出される。また第４図（ｂ
）に示す如く黒皮残り発生により走査フレーム内でデジ
タル信号（Ｃ）の暗レベル（Ｌ）が検出されるため、上
記カウント値が規格幅外となってＮＧになり、その外輪
（２）も不良品として排出される。尚、上記検出回路で
は被研削面（２ａ）上の刻印部のマスク位置及びそのマ
スク幅寸法を設定する部分を省略しているが、該刻印部
ではマスク信号（Ｅ）により走査フレーム毎に左右マス
ク位置にて強制的にデジタル信号（Ｃ）を明レベル（Ｈ
）にしている。
ところで本発明で使用する一次元センサば固体撮像素子
であり、この種固体撮像素子は光量蓄積型であるため、
走査フレーム内で入射された光量の積分値に比例する。
であり、この種固体撮像素子は光量蓄積型であるため、
走査フレーム内で入射された光量の積分値に比例する。
そのため外輪（２）の外径形状と同等のビデオ信号（Ａ
＞を得ようとすれば走査フレーム内で上記外軸（２）の
回転速度が無視できる程度にフレーム周波数を高くする
必要がある。このフレーム周波数は検査精度並びに検査
時間により決定され、例えば外周１２０ｍｍの外径を有
する外輪（２）を１４／ｚｒｎの検査精度で検査する場
合、−次元センサとして２０４８ｂｉｔのＣＣＤ型イメ
ージセンサを使用して２秒間で検査しようとすると、フ
レーム周波数は次のようになる。即ち１走査フレームで
被研削面（２ａ）が１４μｍ以上移動しないためのフレ
ーム周波数は６０ （ｍｍ／ｓｅｅ ） ／１４ （ｕ
ｍ） ′＝．４．３（ＫＨｚ）となり、４．３ ＫＨ
ｚ以上にフレーム周波数を設定する必要がある。従って
上記−次元センサに必要なりロック周波数は２０４８
（ｂｉｔ ） ｘ４、３ （Ｋｌ（ｚ） ＃Ｂ．Ｂ （
ＭＨｚ）となるが、その−次元センサのクロック周波数
は最大で５ＭＨｚであるから該−次元センサは応答しな
い。そこでこの最大のクロック周波数より許容される最
大のフレーム周波数を逆算し、これにより検査精度を１
４μｍとした場合の検査時間と、検査時間を２秒間とし
た場合の検査精度を以下にめる。即ち上記最大のフレー
ム周波数は５ （Ｍｌ（Ｚ）／２０４Ｂ （ｂｉｔ ）
＃２．４４ （１（Ｈｚ）となり、検査精度を１４μ
ｍとした場合、検査時間は２．４４ （ Ｋ Ｈｚ）×
１４（μｍ） ＃３４．２ （ｍｍ／ｓｅｃ）、１２０
（ｌＩｌｍ）／３４．２ （ｍｍ／ｓｅｃ ） ζ３
．５ （ｓｅｃ ）となる。また検査時間を２秒間とし
た場合、検査精度は６０（ｍｍ／ｓｅｃ ） ／２．４
４ （ＫＨｚ） ＝２５ （ｕｒｎ）となる。従って外
周１２０ ｍｍの外径を有する外＠（２）を２０４８ｂ
ｉｔの一次元センザにて外ｆＪ１検査する場合、検査精
度を１４Ｉ１ｍにすると３．５秒の検査時間を必要とし
、この検査時間を短縮するためには上記−次元センサを
並列に複数個配設すればよい。例えば−次元センサを１
２０ °間隔で外輪（２）の外周に３個配置した場合、
検査時間は１２０ （ｍｍ） ／ ３ ｘ３４．２ （
ｍｍ／ｓｅｃ ） ＝１．２ （ｓｅｅ ）となり短縮
される。また上記−次元センサの走査方向の視野を拡げ
るためには該−次元センサを直列に複数個配設すればよ
い。上記検査時間を２秒間とした場合の検査精度は２５
μｍであり、この場合の走査方向の視野は２５ （、ｕ
ｒｎ） Ｘ２０４Ｂ（ｂｉｔ ） ＃５１．２ （ｍｍ
）となる。以上のように検査精度並びに検査時間が設定
されれば一次元センザをとのよ・）に配設すればよいか
が決定される。また上記−次元センサを複数個配設する
代わりにレンズ等の光学系を使用して増幅し、その−次
元センサの走査方向の視野を広げてもよい。
＞を得ようとすれば走査フレーム内で上記外軸（２）の
回転速度が無視できる程度にフレーム周波数を高くする
必要がある。このフレーム周波数は検査精度並びに検査
時間により決定され、例えば外周１２０ｍｍの外径を有
する外輪（２）を１４／ｚｒｎの検査精度で検査する場
合、−次元センサとして２０４８ｂｉｔのＣＣＤ型イメ
ージセンサを使用して２秒間で検査しようとすると、フ
レーム周波数は次のようになる。即ち１走査フレームで
被研削面（２ａ）が１４μｍ以上移動しないためのフレ
ーム周波数は６０ （ｍｍ／ｓｅｅ ） ／１４ （ｕ
ｍ） ′＝．４．３（ＫＨｚ）となり、４．３ ＫＨ
ｚ以上にフレーム周波数を設定する必要がある。従って
上記−次元センサに必要なりロック周波数は２０４８
（ｂｉｔ ） ｘ４、３ （Ｋｌ（ｚ） ＃Ｂ．Ｂ （
ＭＨｚ）となるが、その−次元センサのクロック周波数
は最大で５ＭＨｚであるから該−次元センサは応答しな
い。そこでこの最大のクロック周波数より許容される最
大のフレーム周波数を逆算し、これにより検査精度を１
４μｍとした場合の検査時間と、検査時間を２秒間とし
た場合の検査精度を以下にめる。即ち上記最大のフレー
ム周波数は５ （Ｍｌ（Ｚ）／２０４Ｂ （ｂｉｔ ）
＃２．４４ （１（Ｈｚ）となり、検査精度を１４μ
ｍとした場合、検査時間は２．４４ （ Ｋ Ｈｚ）×
１４（μｍ） ＃３４．２ （ｍｍ／ｓｅｃ）、１２０
（ｌＩｌｍ）／３４．２ （ｍｍ／ｓｅｃ ） ζ３
．５ （ｓｅｃ ）となる。また検査時間を２秒間とし
た場合、検査精度は６０（ｍｍ／ｓｅｃ ） ／２．４
４ （ＫＨｚ） ＝２５ （ｕｒｎ）となる。従って外
周１２０ ｍｍの外径を有する外＠（２）を２０４８ｂ
ｉｔの一次元センザにて外ｆＪ１検査する場合、検査精
度を１４Ｉ１ｍにすると３．５秒の検査時間を必要とし
、この検査時間を短縮するためには上記−次元センサを
並列に複数個配設すればよい。例えば−次元センサを１
２０ °間隔で外輪（２）の外周に３個配置した場合、
検査時間は１２０ （ｍｍ） ／ ３ ｘ３４．２ （
ｍｍ／ｓｅｃ ） ＝１．２ （ｓｅｅ ）となり短縮
される。また上記−次元センサの走査方向の視野を拡げ
るためには該−次元センサを直列に複数個配設すればよ
い。上記検査時間を２秒間とした場合の検査精度は２５
μｍであり、この場合の走査方向の視野は２５ （、ｕ
ｒｎ） Ｘ２０４Ｂ（ｂｉｔ ） ＃５１．２ （ｍｍ
）となる。以上のように検査精度並びに検査時間が設定
されれば一次元センザをとのよ・）に配設すればよいか
が決定される。また上記−次元センサを複数個配設する
代わりにレンズ等の光学系を使用して増幅し、その−次
元センサの走査方向の視野を広げてもよい。
尚、上記実施例では軸受外輪の外径における外観検査に
ついて説明したが、本発明はこれに限定されることな（
、軸受の他の被研削面における外観検査についても適用
可能であることは勿論である。
ついて説明したが、本発明はこれに限定されることな（
、軸受の他の被研削面における外観検査についても適用
可能であることは勿論である。
ホ０発明の効果
本発明によれば廉価な一次元センサを使用して被研削面
上に発生した黒皮残りを検出すると同時に該被研削面の
研削幅寸法の良否を判別することが可能となり、経済性
に優れた外観検査を効率よく実行することができて作業
性も大幅に向上し、従来の作業者の目視による検査に充
分対抗し得る高精度の自動外観検査を実現することがで
きる。
上に発生した黒皮残りを検出すると同時に該被研削面の
研削幅寸法の良否を判別することが可能となり、経済性
に優れた外観検査を効率よく実行することができて作業
性も大幅に向上し、従来の作業者の目視による検査に充
分対抗し得る高精度の自動外観検査を実現することがで
きる。
第１図は複列円すいころ軸受の一例を示す断面図、第２
図乃至第６図は本発明に係る外観検査方法の一実施例を
説明するためのもので、第２図及び第３図は軸受外輪を
示す斜視図、正面図、第４図（ａ）（ｂ）はタイミング
チャート、第５図はフローチャート、第６図は検出回路
の一例を示すブロック構成図である。 （２ａ） −・被研削面、（９） （１７） −カウン
タ、（Ａ）−検出信号、（Ｂ ）−りきい値レベル、（
Ｃ）−・・デジタル信号、（Ｄ）−出力パルス、（Ｈ）
（Ｌ）−明暗レベル、（Ｌ２）−研削幅寸法、（Ｘ ）
−入射光、（Ｙｌ−反射光。
図乃至第６図は本発明に係る外観検査方法の一実施例を
説明するためのもので、第２図及び第３図は軸受外輪を
示す斜視図、正面図、第４図（ａ）（ｂ）はタイミング
チャート、第５図はフローチャート、第６図は検出回路
の一例を示すブロック構成図である。 （２ａ） −・被研削面、（９） （１７） −カウン
タ、（Ａ）−検出信号、（Ｂ ）−りきい値レベル、（
Ｃ）−・・デジタル信号、（Ｄ）−出力パルス、（Ｈ）
（Ｌ）−明暗レベル、（Ｌ２）−研削幅寸法、（Ｘ ）
−入射光、（Ｙｌ−反射光。
Claims (1)
- （１）被研削ワークの被研削面に入射光を投光する光源
と、その被研削面からの反射光を受光する一次元センサ
とを上記被研削面と対向させて夫々配設し、−次元セン
サを被研削ワークの軸方向と平行に走査し、且つ被研削
ワークを回転させることにより一次元センサの走査フレ
ーム毎に被研削面全周からの反射光を検出し、該反射光
による一次元センサの検出信号を予め設定されたしきい
値レベルで二値化することにより明暗レベルのデジタル
信号に変換し、最初の明レベルが検出されると上記−次
元センサの出力パルスをカウンタにより上記走査フレー
ム毎に計数開始し、その後最初の暗レベルが検出される
と上記出力パルスを計数完了することによりこのカウン
ト値と予め決められた設定値とを比較判別し、上記被研
削面の研削幅寸法の良否及び黒皮残りの存否を検査する
ようになしたことを特徴とする被研削ワークの外観検査
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58206233A JPS6099563A (ja) | 1983-11-01 | 1983-11-01 | 被研削ワ−クの外観検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58206233A JPS6099563A (ja) | 1983-11-01 | 1983-11-01 | 被研削ワ−クの外観検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6099563A true JPS6099563A (ja) | 1985-06-03 |
Family
ID=16519959
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58206233A Pending JPS6099563A (ja) | 1983-11-01 | 1983-11-01 | 被研削ワ−クの外観検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6099563A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4693038A (en) * | 1985-04-06 | 1987-09-15 | Schaudt Maschinenbau Gmbh | Apparatus for optically monitoring the surface finish of ground workpieces |
| JPH01246071A (ja) * | 1988-03-29 | 1989-10-02 | Amada Washino Co Ltd | 研削用ホイール成形機 |
| JP2008270420A (ja) * | 2007-04-18 | 2008-11-06 | Nitto Denko Corp | 配線回路基板および燃料電池 |
| JP2021096157A (ja) * | 2019-12-17 | 2021-06-24 | Ntn株式会社 | 軸受検査装置、検査方法、および検査プログラム |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5657938A (en) * | 1979-10-17 | 1981-05-20 | Hitachi Ltd | Oversight detector for object to be inspected |
| JPS56158907A (en) * | 1980-05-12 | 1981-12-08 | Nippon Seiko Kk | Shape inspection machine |
| JPS56158908A (en) * | 1980-05-12 | 1981-12-08 | Nippon Seiko Kk | Inspection device for external appearance of cylindrical body, annular body and the like |
| JPS56160645A (en) * | 1980-05-16 | 1981-12-10 | Hitachi Ltd | Detecting method for surface defect of body |
-
1983
- 1983-11-01 JP JP58206233A patent/JPS6099563A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5657938A (en) * | 1979-10-17 | 1981-05-20 | Hitachi Ltd | Oversight detector for object to be inspected |
| JPS56158907A (en) * | 1980-05-12 | 1981-12-08 | Nippon Seiko Kk | Shape inspection machine |
| JPS56158908A (en) * | 1980-05-12 | 1981-12-08 | Nippon Seiko Kk | Inspection device for external appearance of cylindrical body, annular body and the like |
| JPS56160645A (en) * | 1980-05-16 | 1981-12-10 | Hitachi Ltd | Detecting method for surface defect of body |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4693038A (en) * | 1985-04-06 | 1987-09-15 | Schaudt Maschinenbau Gmbh | Apparatus for optically monitoring the surface finish of ground workpieces |
| JPH01246071A (ja) * | 1988-03-29 | 1989-10-02 | Amada Washino Co Ltd | 研削用ホイール成形機 |
| JP2008270420A (ja) * | 2007-04-18 | 2008-11-06 | Nitto Denko Corp | 配線回路基板および燃料電池 |
| JP2021096157A (ja) * | 2019-12-17 | 2021-06-24 | Ntn株式会社 | 軸受検査装置、検査方法、および検査プログラム |
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