JPS6128925B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6128925B2
JPS6128925B2 JP52088911A JP8891177A JPS6128925B2 JP S6128925 B2 JPS6128925 B2 JP S6128925B2 JP 52088911 A JP52088911 A JP 52088911A JP 8891177 A JP8891177 A JP 8891177A JP S6128925 B2 JPS6128925 B2 JP S6128925B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
grating
array
gratings
spectrometer
slit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP52088911A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5336285A (en
Inventor
Yakoboitsutsu Rorensu
Esu Majisen Ainaa
Deii Soopu Rorensu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of JPS5336285A publication Critical patent/JPS5336285A/ja
Publication of JPS6128925B2 publication Critical patent/JPS6128925B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/30Measuring the intensity of spectral lines directly on the spectrum itself
    • G01J3/36Investigating two or more bands of a spectrum by separate detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/10Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/18Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0294Multi-channel spectroscopy

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はスペクトロメトリの分野に関し、更に
具体的には、光ビームを異つた波長の波へ分散さ
せる格子を有する分光計に関する。
当業者に知られる如く、スペクトロメトリはス
ペクトル光線の波長を測定することに関する。ス
ペクトルとは、広帯域の輻射エネルギーのビーム
が分散されて焦点を合せられ、成分光線(即ち成
分輻射エネルギー)がその波長の順序に配列され
る時に形成される、一連の像である。従来の分光
計は、分析又は測定されるべきビームが通過する
スリツトと、分散素子と検出器と、或る型態のレ
ンズ又はスリツトの分散像を検出器上に結像する
手段とを具備している。
分散素子の2つの通常は型態は、プリズム及び
格子(ホログラフイツク型又は回折型)である。
プリズムよりも格子が有利である点は、格子が正
規スペクトル、即ち分散が比較的一定しているた
め等しい距離が等しい波長間隔に対応しているス
ペクトルを発生することである。本発明は、分散
素子として格子を使用する分光計の改良に関す
る。
格子の特性は周知である。1つの特性は、前述
したように格子が正規スペクトルを発生すること
である。他の特性とには、格子が反射又は透過に
よりスペクトルを発生することができる点であ
る。更に、格子がいくつかの分散次数(第1次、
第2次など)を生じる点も特性の1つである。更
に、格子の分散特性が「けい線」群又は線群(格
子線群)の密度に依存し、かつ各次数で発生され
たスペクトルがそのようなスペクトルにわたつて
可変効率を有することも特性の1つである。換言
すれば、各々の格子は所与の波長に於て最適効率
(即ち、最大効率)を生じるように設計され、こ
の効率は波長が設計波長から離されればそれだけ
降下する。換言すれば、通常、格子は所定の領域
にわたつて或る程度の効率性と共に動作するよう
に作られる。
この領域上の制限があることは認識されており
それを克服するように設計された各種の分光計が
考案されている。その例は、米国特許第3306158
号、第3390604号、第3472595号に開示されてい
る。これら特許は、それぞれが異つた第1次分散
を有する2個又はそれ以上の格子を使用してい
る。しかし本発明と比較して、これら特許に開示
された発明の欠点は、分析されるビームの通路へ
格子を入れたりそこから格子を出したりする移動
部品、又は1つの場所に置かれた1つの格子から
ビームを反射させたり、他の場所に置かれた他の
格子上にビームを入射したりするため鏡を移動さ
せる移動部品等を使用している点である。これに
反し、本発明は移動部品を使用せず、従つて摩耗
及び劣化を受けやすい部品を必要とせずに高速動
作をすることができる。更に、本発明は2個の格
子によつて分散されたビームを同時に読み出すこ
とができるが、前記の特許発明においては、所与
の時点で唯1個だけの格子が使用されるに過ぎな
い。
米国特許第3523734号は、中央部分が波長の第
1領域を分散させるようにけい線を引かれ、2つ
の側面部分が波長の第2領域を分散させるように
設計された回折格子を有する分光計を開示してい
る。分光計及び回折格子は、周辺部に一連のスリ
ツトを有する通常のローランド円を含むように配
列され、周辺部の背後には光電増倍管が置かれて
いる。回折格子上の異つたけい線から生じた像
は、ローランド円の表面で重ねられ、従つてこれ
は分離することを要する。分離作用はマスク及び
フイルタを使用して達成される。そのような分光
計は拡散された領域を有するが、領域にわたつて
連続的であるようには動作しない。この事は、所
与の出口スリツトにおいて、1時点に異つた輻射
エネルギーを有する2つのビームが存在する場合
に、唯1つのビームだけが検出可能であり、従つ
て2つの分散ビームの全領域にわたつて連続的に
読出すことができないことを意味する。更に、ロ
ーランド円は75cm程度であり、やや大型の器械と
なる。これに反し、本発明の装置は、後に詳細に
説明するように、異つた波長領域を有する2つの
格子を使用することによつて、分光計の全体の光
波帯域にわたり、効率の高い読出しを連続的に行
うことができる。
本発明の他の特徴は、異つた波長の出力信号を
発生するために高速で動作することのできる、ホ
トダイオードのリニア・アレイを使用しているこ
とである。この点に関して云えば、米国特許第
3973849号は、2列のホトダイオードを有するリ
ニア・アレイを使用する分光光度計を開示してい
る。上記の2列のホトダイオードは、分散ビーム
の異つた領域により別個に付勢される。唯1個の
格子が使用されるが、これは2つの異つた場所の
間で移動可能である。1つの場所にある時には、
ホトダイオードの1つの列が能動化され、他の場
所にある時には、ホトダイオードの他の列が能動
化されて、異つた帯域の各々の波長を読出すよう
にされる。本発明の装置は、後に詳細に説明する
ように、以下の点でこの特許と相違している。即
ち、第1に、本発明の装置は可動部品を使用せ
ず、格子は静止しており、格子を移動させたりマ
スクしたり偏向させたりする装置を必要としな
い。第2に、本発明の装置は、最初に1つの波長
領域で読出しを行い次に他の領域で読出しを行う
のではなく、全体の領域にわたつて連続的な読出
し又は同時的な読出しを行う。第3に、本発明
は、信号対雑音比の良好な、効率の高い分光計を
実現することができる。上記の特許は、唯1個の
格子を使用し、それが広い領域にわたつて動作さ
れるので、格子の特性によりそのような領域の末
端部において必然的に効率が悪くなる。
本発明の目的は、可動部品を使用しないで広い
領域の波長にわたつて動作し、しかも高速で動作
することのできる分光計を提供することである。
本発明の他の目的は、効率の高い広帯域応答を
与える2つの静止した分散格子を使用する分光計
を提供することである。
本発明の他の目的は、分析されるべきビームを
2つの分散ビームへ同時に分散させる少なくとも
2つの格子を有し、かつ2つの分散ビームのエネ
ルギー内容を示す出力信号を与える検出手段を含
む分光計を提供することである。
本発明の他の目的は、格子によつて分散された
光線の各々の波長で出力信号を与える分散格子及
びリニア・ホトダイオード・アレイを使用した高
速分光計を提供することである。
要約すれば、本発明の上記の目的は、分光計に
2つの格子を設け、各々の格子が異つた第1次分
散を有するようにし、各格子がその分散に関連し
た各波長領域にわたつて比較的に効率の高い出力
を与えるように構成することによつて達成され
る。2つのリニア・ホトダイオード・アレイは検
出器として使用される。1つのスリツトが分析さ
れるべき光ビームを分光計へ入らせ、このビーム
は格子によつて別個のスペクトル(即ち分散ビー
ム)へ分散させられる。分散ビームにおけるスリ
ツトの像をアレイ上に焦結する手段が設けられ、
各アレイの連続したホトダイオードの各々の出力
は、波長の測定領域にわたる連続した波長の光の
強度を表わす。
第1図は、試料を透過した光ビームのスペクト
ル特性を分析することによつて、テスト・セル内
の試料11を分析する分光光度計の略図である。
分光光度計は、試料11を通して広帯域の輻射エ
ネルギーを導く照明部分10と、試料を透過した
光の波長特性を測定する分光計部分12とを含
む。照明部分10は、広帯域の輻射エネルギーを
与えるため別個になつた2つの光源14及び16
を含む。これらの光源は選択的に付勢されてよ
く、所与の1時点でその1つのみ又は2つが2つ
がオンになつていてよい。光源14は紫外線領域
に強い通常のデユーテリム・ランプであり、光源
16は通常のタングステン・ランプであつてもよ
い。2つのランプは、光スペクトルの紫外線、可
視光線、赤外線の各部分を通じてエネルギーを輻
射する。ビーム・スプリツタ18は光源16から
の光を通過させるが、光源14からの光を反射さ
せ、それらの光をレンズ20へ導く。レンズから
の光は鏡22によつて反射されて試料11を含む
テスト・セルへ導かれる。レンズ20は、光源1
4及び16のフイラメント像もテスト・セルの中
央部分に焦結するように働く。中性密度フイルタ
24は、後述するように光を減衰させてホトダイ
オードの飽和を防止するために使用されてよい。
中性密度フイルタ24は、円状体の端部に取付け
られた一連の異つたフイルタの1つであつて、異
つた減衰特性を与えるために回転によつて位置づ
けられてよい。絞り25は、照明部分10を通る
光のFナンバーを制御するために使用される。
分光計部分には、細長い調節可能の長方形入口
スリツト30を含む。このスリツトの長さ方向は
第1図に対して垂直になつている。試料11は入
口スリツト30の近辺に配置されるので、試料か
らの光は入口スリツトを通り、分光計部分12に
よつて分析される光エネルギー・ビームを形成す
る。分光計部分12は2つの格子32及び34
(ホログラフイツク型又は回折型のいずれでもよ
い。)を含み、そのけい線はスリツト30に対し
て並列となつている。スリツト30は、2つの格
子を同時に照明するために、充分に低いFナンバ
ーの光の中心を通すように設定されている。格子
32及び34はスリツト30を通過するビームの
通路に配置されているが、ビームの異つた部分に
置かれており、それぞれ鏡36及び38に導かれ
る2つの異つた分散ビームを形成するように働
く。鏡の各々は、格子32及び34によつて分散
されたスリツト30の像を円柱レンズ40及び4
2の第1表面に焦結させる。これらのレンズは、
スリツト像を長手方向へ圧縮してアレイ44及び
46に含まれるホトダイオードの列へと焦結させ
るように働く。格子32及び34は可撓性調節板
48上に取付けられ、ネジ50及び51で調節さ
れてよい。遮光板47が格子32及び34の間に
配置されて、格子の周囲に生じる迷光の影響を除
去する。
格子32及び34は通常型の構成であり、所望
の分析される波長に従つて選択されてよい。選択
のやり方は、第2図を参照すれば理解される。こ
こで、グラフaは格子32(回折型とする。)の
特性を示し、グラフbは格子34(回折型とす
る。)の特性を示す。格子の効率が50%を越える
スペクトル領域は、ブレーズ波長の約3分の2か
らその2倍のところまでであることが知られてい
る。格子32が400ナノメータ(nm)の公称波長
でブレーズされるものと仮定すると、その格子が
50%を越える効率で動作する波長の範囲は、267
から800nmである。同様に、格子34について
は、もしそれが公称波長600nmのところでプレー
ズされれば、50%を越える効率を有する波長の範
囲は400から1200nmである。もし所望の装置応答
が少なくとも50%の効率を利用するものとすれ
ば、各々の格子が400及び600nmでブレーズされ
て、器械の範囲は267から1200nmにわたることに
なる。このような広い範囲では、範囲の半分の波
長をアレイ44に導き、他の半分の波長をアレイ
46に導くように格子を調節することができる。
この例では、アレイ44は267〜734nmの波長を
カバーし、アレイ46は734〜1200nmの波長をカ
バーするように動作する。所望に応じ、又異つた
応用例で必要とあれば、狭い範囲における更に高
い効率で動作させることもできよう。
アレイ44及び46は、レチコン・コーポレー
シヨン(Reticon Corp.,Mountainview,
California)から市販されているソリツド・ステ
ート・ライン・スキヤナ型を使用するのが望まし
い。この型のものは、逐次的読出しのために集積
走査回路を有するシリコン・ホトダイオードより
成るリニア・アレイを含んでいる。このようなア
レイは、1列のホトダイオードが2.54×10-3cm
(1ミル)の中心部に43.18×10-3cm(17ミル)の
幅で配列されたものとなつており、128個から
1024個のホトダイオードを利用することができ
る。アレイは、個々のダイオードによつて受取ら
れた光の相対的強度に比例した出力信号を与え
る。分散ビームが第1図に示すようにダイオード
上に落ちるよう配置することによつて、連続した
ダイオードの各々が異つた公称波長を連続的に与
えることになる。これらの波長は、格子が正規ス
ペクトルを発生するから、実質的にリニアであ
る。
リニア・アレイは自己走査的であり、10KHz
から10MHzまでの範囲の周波数で動作し、よつ
て高速動作が可能である。アレイは適当な増幅器
及びデジタル処理装置へ接続されるのが望まし
く、よつてその出力は現代のデータ処理システム
にふさわしい高速度で分析することができる。し
かし、分光計をこのようなシステムに接続するこ
と、及びシステム動作は通常の方式に従うもので
あり、本発明の1部を構成するものではない。
器械の一般的な動作においては較正
(calibration)が必要となろう。この較正は、通
常のやり方で、ビーム中に置かれた一連の干渉フ
イルターを使用し、それらに対しどのホトダイオ
ードが最大応答を示すかを決定することによつて
行うことができる。分光計は用途が広く、全体の
スペクトルが必要となる場合、即ち受取つた輻射
エネルギーの帯域の各波長にわたる全ての強度を
示す出力信号が必要である場合にも使用可能であ
り、又所与の波長や特定の限定された数の波長に
ついてのみ選択的に動作させることもできる。例
えば、或る試料について所与の波長における吸収
性又は透過性がデータとして必要である場合に、
分光計出力はその目的に従つて分析され、特定の
波長群についてのみ限定することができるのであ
る。
本発明については多くの変更例が考えられよ
う。容易に分る1つの変更例は、ホログラフイツ
ク型格子を使用して、その分散作用と共に分散ビ
ームの結像作用をも利用することである。このよ
うな装置においては、格子手段及び結像手段は結
合され、従つてそれは直接にアレイ上にスリツト
像を形成することができる。他の形式の照明手段
も用いてよく、変動しない照明装置の代りにパル
ス式又はスパーク式等の照明を用いることによつ
て、高速動作を行う分光計から所望のプリントア
ウトを容易に得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に従う分光光度計の略図、第2
図は本発明の装置で使用される典型的格子の特性
を示す例示的グラフであつて、格子の効率と波長
との関係を示す図である。 10…照明部分、11…試料(テスト・セ
ル)、12…分光計部分、14,16…光源、1
8…ビーム・スプリツタ、20…レンズ、22…
鏡、24…中性密度フイルタ、25…絞り、30
…スリツト、32,34…格子、36,38…
鏡、40,42…円柱レンズ、44,46…アレ
イ、47…遮光板、48…可撓性調節板、50,
51…ネジ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 下記の構成要素イ乃至ニを具備する分光計。 (イ) 光ビームを導入する長方形状の1つの入口ス
    リツト。 (ロ) 前記スリツトによつて導入された光ビームの
    通路に静止的に配置され且つ該ビームを2つの
    別個の分散ビームへ分散させる第1及び第2の
    格子。 上記各格子は上記入口スリツトと平行な格子
    線群を有し、上記各格子の格子線群は異なつた
    第1次分散を与えるように相互に異なつてい
    る。 (ハ) 線状に配列されたホトダイオード群を有する
    第1及び第2アレイ。 上記各アレイ中のホトダイオードは、各アレ
    イに照射された分散ビームの強度に比例した出
    力信号をそれぞれ発生する。 (ニ) 上記2つの分散ビームの各々を上記第1及び
    第2のアレイへ対応付けて焦結させることによ
    り各アレイ上に上記入口スリツトの像を結像さ
    せる手段。
JP8891177A 1976-09-13 1977-07-26 Spectrometer Granted JPS5336285A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US05/722,944 US4060327A (en) 1976-09-13 1976-09-13 Wide band grating spectrometer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5336285A JPS5336285A (en) 1978-04-04
JPS6128925B2 true JPS6128925B2 (ja) 1986-07-03

Family

ID=24904096

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8891177A Granted JPS5336285A (en) 1976-09-13 1977-07-26 Spectrometer

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4060327A (ja)
JP (1) JPS5336285A (ja)
FR (1) FR2364436A1 (ja)
GB (1) GB1582160A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11852878B2 (en) 2021-09-06 2023-12-26 Fujitsu Optical Components Limited Optical device and optical communication apparatus

Families Citing this family (58)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4253765A (en) * 1978-02-22 1981-03-03 Hitachi, Ltd. Multi-wavelength spectrophotometer
SE421568B (sv) * 1980-05-28 1982-01-04 Optisk Forskning Inst Anordning for uppdelning av en ljusstrale i ett flertal stralar eller omvent
JPS58111728A (ja) * 1981-12-25 1983-07-02 Chino Works Ltd 光学的測定装置
JPS58159061A (ja) * 1982-03-16 1983-09-21 Union Giken:Kk イメ−ジセンサを用いた光学系における感度特性の補正方法
JPS58158528A (ja) * 1982-03-16 1983-09-20 Union Giken:Kk 測光装置
JPS58210527A (ja) * 1982-06-01 1983-12-07 Seiko Instr & Electronics Ltd モノクロメ−タ−
JPS5979820A (ja) * 1982-10-29 1984-05-09 Shimadzu Corp 回折格子分光器
JPS60192229A (ja) * 1984-03-14 1985-09-30 Hitachi Ltd 多波長同時測光光度計
FI75675C (fi) * 1984-03-23 1988-07-11 Saehkoeliikkeiden Oy Foerfarande foer bestaemning av kolvaetehalter i vaetskor innehaollande dessa.
US4678917A (en) * 1985-02-19 1987-07-07 The Perkin-Elmer Corporation Instantaneous reading multichannel polychromatic spectrophotometer method and apparatus
US4730922A (en) * 1985-05-08 1988-03-15 E. I. Du Pont De Nemours And Company Absorbance, turbidimetric, fluorescence and nephelometric photometer
DE3544512A1 (de) * 1985-12-17 1987-06-19 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Polychromator
US5040889A (en) * 1986-05-30 1991-08-20 Pacific Scientific Company Spectrometer with combined visible and ultraviolet sample illumination
US4729658A (en) * 1986-06-05 1988-03-08 The Perkin-Elmer Corporation Very wide spectral coverage grating spectrometer
US4895445A (en) * 1987-06-25 1990-01-23 Eastman Kodak Company Spectrophotometer
US4820048A (en) * 1987-11-19 1989-04-11 The Perkin-Elmer Corporation Detector for a spectrometer
US4932779A (en) * 1989-01-05 1990-06-12 Byk Gardner, Inc. Color measuring instrument with integrating sphere
EP0484442A1 (en) * 1989-07-27 1992-05-13 Btg International Limited Oximeters
JPH03115818A (ja) * 1989-09-29 1991-05-16 Moritetsukusu:Kk 分光器
DE4133481C2 (de) * 1991-10-09 1994-08-11 Ultrakust Electronic Gmbh Multispektralsensor
DE4410036B4 (de) * 1994-03-23 2004-09-02 Berthold Gmbh & Co. Kg Zweistrahl-Polychromator
JPH09145477A (ja) * 1995-11-20 1997-06-06 Tokyo Instr:Kk 分光器
DE19635046A1 (de) * 1996-08-29 1998-03-05 Nis Ingenieurgesellschaft Mbh Spektralanalytische Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung von Elementzusammensetzungen und -konzentrationen
US5757483A (en) * 1997-08-06 1998-05-26 Stellarnet, Inc. Dual beam optical spectrograph
DE19813950C1 (de) * 1998-03-28 1999-11-04 Analytik Jena Gmbh Analysenmes Spektrometeranordnung
US6563571B1 (en) * 1998-08-21 2003-05-13 Analytical Instrument Systems, Inc. Deuterium/tungsten light source arrangement
US6155489A (en) * 1998-11-10 2000-12-05 Ncr Corporation Item checkout device including a bar code data collector and a produce data collector
US6332573B1 (en) 1998-11-10 2001-12-25 Ncr Corporation Produce data collector and produce recognition system
US6431446B1 (en) 1999-07-28 2002-08-13 Ncr Corporation Produce recognition system and method
US6075593A (en) * 1999-08-03 2000-06-13 General Electric Company Method for monitoring and controlling laser shock peening using temporal light spectrum analysis
US6501547B1 (en) * 2000-02-18 2002-12-31 Ncr Corporation Hand-held produce recognition system and produce data collector
US6534768B1 (en) 2000-10-30 2003-03-18 Euro-Oeltique, S.A. Hemispherical detector
NO321629B1 (no) * 2000-11-30 2006-06-12 Tomra Systems Asa Anordning for bruk ved spektroskopi
US6531701B2 (en) * 2001-03-14 2003-03-11 Trw Inc. Remote trace gas detection and analysis
US6851425B2 (en) * 2001-05-25 2005-02-08 Respironics, Inc. Exhaust port assembly for a pressure support system
US7605370B2 (en) * 2001-08-31 2009-10-20 Ric Investments, Llc Microspectrometer gas analyzer
US6791086B2 (en) * 2001-08-31 2004-09-14 Respironics, Inc. Microspectrometer gas analyzer
US7060932B2 (en) * 2003-03-18 2006-06-13 Loma Linda University Medical Center Method and apparatus for material processing
US7286223B2 (en) * 2003-03-18 2007-10-23 Loma Linda University Medical Center Method and apparatus for detecting embedded rebar within an interaction region of a structure irradiated with laser light
US7038166B2 (en) * 2003-03-18 2006-05-02 Loma Linda University Medical Center Containment plenum for laser irradiation and removal of material from a surface of a structure
US7379483B2 (en) * 2003-03-18 2008-05-27 Loma Linda University Medical Center Method and apparatus for material processing
US7057134B2 (en) * 2003-03-18 2006-06-06 Loma Linda University Medical Center Laser manipulation system for controllably moving a laser head for irradiation and removal of material from a surface of a structure
US20040259234A1 (en) * 2003-06-06 2004-12-23 Northrop Grumman Corporation Detection and analysis of chemical and biological materials
US7240891B2 (en) * 2003-07-19 2007-07-10 Hafendorfer James T Blower support device for utility vehicle
DE102004028001A1 (de) * 2004-06-09 2006-01-05 Gesellschaft zur Förderung angewandter Optik, Optoelektronik, Quantenelektronik und Spektroskopie e.V. Echelle-Spektrometer mit verbesserter Detektorausnutzung
JP4506436B2 (ja) * 2004-11-30 2010-07-21 株式会社ニコン 分光装置、これを備えた顕微鏡分光システム、及びデータ処理プログラム
US20060262304A1 (en) * 2005-04-22 2006-11-23 Keith Carron Apparatus for automated real-time material identification
US7403286B2 (en) * 2005-05-27 2008-07-22 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopic analyzing apparatus
US7978324B2 (en) * 2007-04-17 2011-07-12 Everfine Photo-E-Info Co., Ltd. Multi-channel array spectrometer and method for using the same
DE102007027008A1 (de) * 2007-06-08 2008-12-11 Spectro Analytical Instruments Gmbh & Co. Kg Spektrometer mit Festkörpersensoren und Sekundärelektronenvervielfachern
DE102007028505A1 (de) * 2007-06-18 2008-12-24 Gesellschaft zur Förderung angewandter Optik, Optoelektronik, Quantenelektronik und Spektroskopie e.V. Spektrometeranordnung
FR2956204B1 (fr) * 2010-02-10 2013-12-20 Horiba Jobin Yvon Sas Spectrographe compact a large bande spectrale comprenant une pluralite de reseaux de diffraction
EP2418529A1 (en) * 2010-08-12 2012-02-15 Nederlandse Organisatie voor toegepast -natuurwetenschappelijk onderzoek TNO Anamorphotic telescope
CN101949838B (zh) * 2010-09-02 2012-07-04 西安交通大学 一种分光型红外吸收式瓦斯检测装置及方法
US8638433B1 (en) * 2011-09-15 2014-01-28 John R. Amend Visual spectrophotometer
US10168209B2 (en) * 2017-04-07 2019-01-01 Raytheon Company Modular imaging spectrometer assembly and method
US10794888B2 (en) * 2018-03-27 2020-10-06 Flying Gybe Inc. Hyperspectral sensing system
US11650190B2 (en) 2018-03-27 2023-05-16 Flying Gybe Inc. Hyperspectral sensing system and methods

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5036790A (ja) * 1973-08-04 1975-04-07

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2142059B3 (ja) * 1971-06-18 1975-08-08 Johansson Axel
US3733131A (en) * 1971-08-05 1973-05-15 Perkin Elmer Ltd Optical beam switching devices utilizing a pair of plane mirrors

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5036790A (ja) * 1973-08-04 1975-04-07

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11852878B2 (en) 2021-09-06 2023-12-26 Fujitsu Optical Components Limited Optical device and optical communication apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
FR2364436A1 (fr) 1978-04-07
US4060327A (en) 1977-11-29
GB1582160A (en) 1980-12-31
JPS5336285A (en) 1978-04-04
FR2364436B1 (ja) 1980-12-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6128925B2 (ja)
US5442439A (en) Spectrograph with multiplexing of different wavelength regions onto a single opto-electric detector array
US5128549A (en) Stray radiation compensation
US5424826A (en) Wideband optical micro-spectrometer system
US4563090A (en) Grating spectrometer
EP0413939B1 (en) Improved grating spectrometer
JP2008501966A (ja) 2つのスペクトロメータ配置を用いることにより検知器の能力利用を改良したエシェルスペクトロメータ
US4375919A (en) Multiple entrance aperture dispersive optical spectrometer
JP2008510964A (ja) マルチチャネル、マルチスペクトル型撮像分光計
EP0867697B1 (en) Light source apparatus and measurement method
JPH08338807A (ja) 分光装置
EP0083573A1 (fr) Dispositif de spectrométrie
JPS628729B2 (ja)
US5189486A (en) Echelle polychromator
US4371263A (en) Double monochromator
US5497230A (en) Spectroradiometer
US6208413B1 (en) Hadamard spectrometer
US4494872A (en) Multiple entrance aperture dispersive optical spectrometer
US5973780A (en) Echelle spectroscope
US5448351A (en) Echelle polychromator
US3052154A (en) Spectroscope
US4391523A (en) Scannable detector system for echelle grating spectrometers
WO1989000280A1 (en) Improvements in and relating to spectrophotometers
JPH10115583A (ja) 分光分析装置
JP3402524B2 (ja) 三次元分光測色器