JPS61281540A - 半導体装置用封止治具 - Google Patents

半導体装置用封止治具

Info

Publication number
JPS61281540A
JPS61281540A JP60123775A JP12377585A JPS61281540A JP S61281540 A JPS61281540 A JP S61281540A JP 60123775 A JP60123775 A JP 60123775A JP 12377585 A JP12377585 A JP 12377585A JP S61281540 A JPS61281540 A JP S61281540A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cap
case
semiconductor device
holding
recessed section
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60123775A
Other languages
English (en)
Inventor
Shoichi Aoki
青木 昭一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Yamagata Ltd
Original Assignee
NEC Yamagata Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Yamagata Ltd filed Critical NEC Yamagata Ltd
Priority to JP60123775A priority Critical patent/JPS61281540A/ja
Publication of JPS61281540A publication Critical patent/JPS61281540A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16152Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置用封止治具の構造に関するものであ
る。
〔従来の技術〕
セラミックパッケージに組込まれた半導体装置を第2図
(a) 、 (b)に示す。セラミックケース1にMo
 −Ni−Au等の金属でメタライズされたアイランド
にAu又はAu−8b等のソルダー2を用いて半導体チ
ップ3を搭載し、さらに外部リードへとっ、ながるメタ
ライズされたランドと半導体チッf3とを金属細線4を
用いて接続し、さらに半導体テップ3と金属細線4を保
護するためにセラミックキャップ5の外周にあらかじめ
固着されているシール用樹脂等の熱硬化性樹脂6を溶融
、硬化させ、キャップ5と封止し組立てられる。
第3図は上記説明中の封止工程における封止治具の従来
の構造を示したものである。予じめ封止しようとするセ
ラミックケース1にセラミックキャップ5をかぶせ金属
で加工された位置決め用保持部7に入れ、さらにネジ8
を用いてケース1とキャップ5と全上下から固定する。
その後、これを高温のオーブンに入れて樹脂が溶融し、
グル状態になシその後硬化し封止される。
〔発明が解決しようとする問題点〕
以上の様な封止工程において、従来構造の封止治具を用
いると、最初からセラミックケース1とキャップ5が固
定されている為、高温によるセラミックケース1とキャ
ップ5とで囲まれる内部の圧力」二昇でケゞル化した樹
脂6を通して内部の空気が外部へ吸き出し、封止後の気
密状態に悪影響を及ぼしてしまう。
本発明は前記問題点を解消するもので、封止後の気密状
態を良好に保持できる半導体装置用封止治具を提供する
ものである。
〔問題点を解決するだめの手段〕
本発明はケースにキャップを覆せ、ケース及びキャップ
により半導体装置を封止する半導体装置用封止治具にお
いて、ケースとキャップを対向させて保持したまま相対
的に接近移動してケースにキャップを覆せる対を表す保
持部間を、ケースとキャップとを接合する熱硬化性接着
剤が硬化し始める際に縮小変形する形状記憶合金で結合
したことを特徴とする半導体装置用封止治具である。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を図により説明する。
第1図(a)において、下面にキャンプ5を受は入れる
凹部7aを有する位置決め用保持部7と、上面に凹部7
aに対向させて四部7bを有する位置決め用保持部7と
を」二下に接近移動するように配置し、ケースとキャッ
プとを接合する熱硬化性接着剤が硬化し始める際に縮/
ト変形する形状記憶合金9で対を外す保持部7,7間を
結合する。合金9の」二端は止めネジ11によって上段
の保持部7に固定される。
実施例において、□半導体装置を搭載したセラミックケ
ース1を保持部7の凹部7bに嵌合しこれを位置決めし
て上向き姿勢に保持する。一方、キャップ5を上段保持
部70四部7aに嵌合してバネ10にて固定しこれを位
置決めして下向き姿勢に保持する。この場合、形状記憶
合金9は伸長状態にあり、保持部7,7は上下に離間し
ケース1とキャラf5とは非接触状態にある。
これを高温のオープンに入れ樹脂6が溶融する温度に達
すると、第1図(b)に示す様に合金9は収縮し、上下
の保持部7,7を接近してセラミックケース1とキャッ
プ5とを接触させた状態になり樹脂6が硬化し封止され
る。以上の様々治具構造にすることにより内部圧力の上
昇によるエアー吹き出しはなくなり気密性不良が低減で
きる。
〔発明の効果〕
本発明は以上説明したようにケースとキャップとを切シ
離して置き、接着剤が硬化する時点でケースにキャッ、
プを覆せるようにしたので、ケースとキャップとで囲ま
れる内部空間の圧力上昇が々く、接着剤をエアーが吹き
抜けるととが回避でき、気密性を良好に保持できる効果
を有するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明による構造の治具を使用して封止
する時の製品のセント状態を示す図、(b)は封止され
る時の治具の状態を示す図、第2図(a)はセラミック
パッケージを用いた半導体装置を示す平面図、(b)は
同側面図、第3図は従来構造治具を使用して封止する時
の製品セット状態を示す図である。 1・・・セラミックケース、3・・・半導体チップ、5
・・・セラミックキャップ、6・・・高温硬化性樹脂、
r 5 ) 7・・・保持部、9・・・形状記1意合金。 (αつ 第1図 (α) (b) 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ケースにキャップを覆せ、ケース及びキャップに
    より半導体装置を封止する半導体装置用封止治具におい
    て、ケースとキャップとを対向させて保持したまま相対
    的に接近移動してケースにキャップを覆せる対をなす保
    持部間を、ケースとキャップとを接合する熱硬化性接着
    剤が硬化し始める際に縮小変形する形状記憶合金で結合
    したことを特徴とする半導体装置用封止治具。
JP60123775A 1985-06-07 1985-06-07 半導体装置用封止治具 Pending JPS61281540A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60123775A JPS61281540A (ja) 1985-06-07 1985-06-07 半導体装置用封止治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60123775A JPS61281540A (ja) 1985-06-07 1985-06-07 半導体装置用封止治具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61281540A true JPS61281540A (ja) 1986-12-11

Family

ID=14868972

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60123775A Pending JPS61281540A (ja) 1985-06-07 1985-06-07 半導体装置用封止治具

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61281540A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5132873A (en) * 1988-09-30 1992-07-21 Microelectronics And Computer Technology Corporation Diaphragm sealing apparatus
US5508888A (en) * 1994-05-09 1996-04-16 At&T Global Information Solutions Company Electronic component lead protector
US5628111A (en) * 1994-03-02 1997-05-13 Kabushiki Kaisha Toshiba Methods of fabricating of semiconductor package and mounting of semiconductor device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5132873A (en) * 1988-09-30 1992-07-21 Microelectronics And Computer Technology Corporation Diaphragm sealing apparatus
US5628111A (en) * 1994-03-02 1997-05-13 Kabushiki Kaisha Toshiba Methods of fabricating of semiconductor package and mounting of semiconductor device
US5508888A (en) * 1994-05-09 1996-04-16 At&T Global Information Solutions Company Electronic component lead protector

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2647194B2 (ja) 半導体用パッケージの封止方法
US5230759A (en) Process for sealing a semiconductor device
JPH11260856A (ja) 半導体装置及びその製造方法並びに半導体装置の実装構造
JPH03136355A (ja) ヒートシンク付半導体装置
JPS61281540A (ja) 半導体装置用封止治具
US5977628A (en) Semiconductor device mounted in resin sealed container
JPS6389313A (ja) 電子部品の金型樹脂成形法
JPH04107955A (ja) 電子回路素子の封止方法
JPH03105950A (ja) 半導体集積回路のパッケージ
JPS60132347A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH0210758A (ja) 半導体装置
JPS60227450A (ja) 混成集積回路の気密封止方法
JPH0650991Y2 (ja) 半導体素子収納用パッケージ
JPS60154542A (ja) 素子密封式半導体装置
JPS6014509B2 (ja) 半導体装置
JPH0258354A (ja) 半導体装置
JPH02114552A (ja) 半導体装置
JPS6329957A (ja) 半導体装置の封止形態
JPH06349962A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH0318046A (ja) 半導体装置
JPS62183129A (ja) 半導体装置の組立方法
JPS63177542A (ja) 半導体装置
JPS63239845A (ja) 半導体装置
JPH0461502B2 (ja)
JPH02222551A (ja) 箱型樹脂成形体成形用金型およびこの金型を用いた半導体装置の製造方法