JPS61279143A - 電子部品の脚片の不良検出装置 - Google Patents
電子部品の脚片の不良検出装置Info
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- JPS61279143A JPS61279143A JP60121681A JP12168185A JPS61279143A JP S61279143 A JPS61279143 A JP S61279143A JP 60121681 A JP60121681 A JP 60121681A JP 12168185 A JP12168185 A JP 12168185A JP S61279143 A JPS61279143 A JP S61279143A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、ＩＣ素子等の電子部品の脚片の不良検出装置
に関し、特に基体どぞの両側に治っτ整列しｌこ複数の
脚片どからなる電子部品の脚片の、十に整列方向ｌ＼の
曲り！！賢いは欠１０を検出りるための）装置に関りる
、。
に関し、特に基体どぞの両側に治っτ整列しｌこ複数の
脚片どからなる電子部品の脚片の、十に整列方向ｌ＼の
曲り！！賢いは欠１０を検出りるための）装置に関りる
、。
〈イｉＹ、求の技術〉
基体とその両側に連結された複数の脚Ｊ、％どからなる
電子部品を、予め回路板等の幻応個所に設Ｃプられた複
数の細孔に挿入しで、前記電子部品を回路板」に固定す
るＪ、うにしているが、近（［ｉ：のＪ、うイ【挿入作
業を高速の自動挿入装岡にＪ、り行うようにしている。
電子部品を、予め回路板等の幻応個所に設Ｃプられた複
数の細孔に挿入しで、前記電子部品を回路板」に固定す
るＪ、うにしているが、近（［ｉ：のＪ、うイ【挿入作
業を高速の自動挿入装岡にＪ、り行うようにしている。
この場合、回路板ｌの複数の細孔の相１１の位置関係は
予め決められているため、電子部品の脚ｊ４の一部が曲
がる４ｊどじていると、電子部品を回路板上に挿入する
ことができず、電子部品の一部が欠損した最終製品が製
）告されたり、作業を中断して不Ｑな製品をラインから
除去しなければならない等の不都合か牛する。
予め決められているため、電子部品の脚ｊ４の一部が曲
がる４ｊどじていると、電子部品を回路板上に挿入する
ことができず、電子部品の一部が欠損した最終製品が製
）告されたり、作業を中断して不Ｑな製品をラインから
除去しなければならない等の不都合か牛する。
ぞこで、電子部品を回路板１−に固定リ−る前に、その
脚ｊ１“の連結状態をチェックし、ぞの脚片の曲がりが
大きく回路板」−の細孔に挿入でき４１いものをライン
から除去する必要がある。従来は、複数の脚片のそれぞ
れの面に光線を当てて、ぞの反則光を検出し、その画像
と正常な電子部品の脚ハの位置関係を比較して、両者が
一致するもの及び誤差が僅かで電子部品を回路板−１−
に固定するのに支障がないものを合格品とし、仙を不良
品としてラインから除去する」：うにしていた。
脚ｊ１“の連結状態をチェックし、ぞの脚片の曲がりが
大きく回路板」−の細孔に挿入でき４１いものをライン
から除去する必要がある。従来は、複数の脚片のそれぞ
れの面に光線を当てて、ぞの反則光を検出し、その画像
と正常な電子部品の脚ハの位置関係を比較して、両者が
一致するもの及び誤差が僅かで電子部品を回路板−１−
に固定するのに支障がないものを合格品とし、仙を不良
品としてラインから除去する」：うにしていた。
〈発明が解決しようとする問題点〉
しかしながら、この方法では、脚片の表面状態によって
Ｌ−１、反則光の先出のばらつきが大きく、脚片が正常
な位置にあっても反則光を検出できずに、本来合格品と
すべきものまでラインから除去してしまうおそれがある
。しかも二次元画像を検出するためには二次元のイメー
ジセンサが必要となり、装置が複相化し］ス１〜アップ
につながるという問題かある。
Ｌ−１、反則光の先出のばらつきが大きく、脚片が正常
な位置にあっても反則光を検出できずに、本来合格品と
すべきものまでラインから除去してしまうおそれがある
。しかも二次元画像を検出するためには二次元のイメー
ジセンサが必要となり、装置が複相化し］ス１〜アップ
につながるという問題かある。
このような従来技術の欠点に鑑み、本発明の主な目的は
、電子部品の脚片の曲り或いは欠損を検出覆る際に、従
来とは異なり脚ｊ１の表面状態に左右されることなく、
しかも比較的簡単に、不良品のみを確実に検出し得る装
置を提供Ｊることにある。
、電子部品の脚片の曲り或いは欠損を検出覆る際に、従
来とは異なり脚ｊ１の表面状態に左右されることなく、
しかも比較的簡単に、不良品のみを確実に検出し得る装
置を提供Ｊることにある。
〈問題点を解決りるための手段〉
このＪ、う’／’Ｋ ｒ１的は、本発明にＪ、れば、基
体の両側に沿って整列しＩこ複数の脚片を右−仕る電子
部品の前記脚１−１の不自を検出する駅賄に於て、光線
を、前記基体の両側の脚ハ列の間から前記脚ｊ１に向（
Ｊで、前記基体の底面にス・１して略甲行をなし、かつ
前記整列方向に苅して略直交するＪ、うに照６＝Ｉ Ｌ
）、前記＋１１＋川の９１側に透過しで来る光線を、前
記脚Ｌ１の長さ方向の巽イＴる２つ以上の部分の一次元
画像として検出し、該２つ以−１の部分の一次元画像を
比較１ノかつ前記脚Ｈの像の間隔１）福Ｔ容範囲内であ
るか否かを判別して、前配線ハの曲り及び又は欠損を検
出Ｊるようにしたことを特徴と覆る電子部品の脚ハの不
良検出装置を提供覆ることにより達成される。
体の両側に沿って整列しＩこ複数の脚片を右−仕る電子
部品の前記脚１−１の不自を検出する駅賄に於て、光線
を、前記基体の両側の脚ハ列の間から前記脚ｊ１に向（
Ｊで、前記基体の底面にス・１して略甲行をなし、かつ
前記整列方向に苅して略直交するＪ、うに照６＝Ｉ Ｌ
）、前記＋１１＋川の９１側に透過しで来る光線を、前
記脚Ｌ１の長さ方向の巽イＴる２つ以上の部分の一次元
画像として検出し、該２つ以−１の部分の一次元画像を
比較１ノかつ前記脚Ｈの像の間隔１）福Ｔ容範囲内であ
るか否かを判別して、前配線ハの曲り及び又は欠損を検
出Ｊるようにしたことを特徴と覆る電子部品の脚ハの不
良検出装置を提供覆ることにより達成される。
〈作用〉
このＪ、うに、脚ｊ１−の状態を一次元画像どしてとら
えるため装置か甲糾で湾み、２つ以−にの一次元画像と
してとらえ、しかも透過光を利用するものであるため、
確実な検出が可能となる。
えるため装置か甲糾で湾み、２つ以−にの一次元画像と
してとらえ、しかも透過光を利用するものであるため、
確実な検出が可能となる。
〈実施例〉
以下、本発明の好適実施例を添伺の図面について詳しく
説明する。
説明する。
第１図は、正常な脚片を有するＩＣ素子１からなる電子
部品を示しており、モールド成形してなる基体２の両側
面にぞれぞれ複数の脚片３．４が設けられている。基体
２の前端には方向識別用のノツチ５が設けられている。
部品を示しており、モールド成形してなる基体２の両側
面にぞれぞれ複数の脚片３．４が設けられている。基体
２の前端には方向識別用のノツチ５が設けられている。
基体２は金型の接合面に対応する分離線６を右し、同部
分に発生覆るバリのために、ＩＣ素子１の前後端面７を
基型として脚片の位置を決定することができない。
分に発生覆るバリのために、ＩＣ素子１の前後端面７を
基型として脚片の位置を決定することができない。
第２図は、本発明装置の第１実施例を示す概略図である
。
。
偏平四角形状の断面を右Ｊ−る基体２のｈ石両端からは
複数の脚片３．４が突出し、ぞれぞれ基端近傍にで下向
きに折曲されている。ＩＣ素子１は、搬送路１０上に跨
ぐようにして載置され、左右両側の脚片３．４０列の間
に位置する１般送路１０の下部の左右（Ｊぞれぞれ三角
形のプリズ１１１１．１２が配設されている。
複数の脚片３．４が突出し、ぞれぞれ基端近傍にで下向
きに折曲されている。ＩＣ素子１は、搬送路１０上に跨
ぐようにして載置され、左右両側の脚片３．４０列の間
に位置する１般送路１０の下部の左右（Ｊぞれぞれ三角
形のプリズ１１１１．１２が配設されている。
プリズム１１．１２の直下には光源１３が設置され、光
源１３からの光線（は、プリズム１１．１２により向き
を変更され、それぞれ左右方向を向く二つの光線１ｉＹ
どされる。本実施例に１．左右対称形をなしているため
、以下、第２図に於（−Ｊる右方向に３１（む光線につ
いてのみ説明する。
源１３からの光線（は、プリズム１１．１２により向き
を変更され、それぞれ左右方向を向く二つの光線１ｉＹ
どされる。本実施例に１．左右対称形をなしているため
、以下、第２図に於（−Ｊる右方向に３１（む光線につ
いてのみ説明する。
右方向に進む光線ｒ！工は、その一部が脚片４に当って
遮蔽され、残りが脚片４の右方へ直進し、反則１ｔ１／
ｌにより第２図に於Ｃづる下向きに進路を変えられ、レ
ンズ１５により、イメージセンサ”１６上に像を結７Ｓ
０この像は、例えば第３ａ図に示す通り、脚片４か存在
する部分のみが暗いシルＴット像とイＴる。センリ１６
の受感部１６ａは線状をイ【すもので、例えば第３ａ図
に於いて線（Ｔ）により承す部分の一次５Ｌ画像をとら
える。
遮蔽され、残りが脚片４の右方へ直進し、反則１ｔ１／
ｌにより第２図に於Ｃづる下向きに進路を変えられ、レ
ンズ１５により、イメージセンサ”１６上に像を結７Ｓ
０この像は、例えば第３ａ図に示す通り、脚片４か存在
する部分のみが暗いシルＴット像とイＴる。センリ１６
の受感部１６ａは線状をイ【すもので、例えば第３ａ図
に於いて線（Ｔ）により承す部分の一次５Ｌ画像をとら
える。
レンリ１６には、ボールスクリコーを内蔵゛りるパルス
モータ１７が連結され、このパルスモータ１７によりセ
ンリー１６は第２図に想像線で示す通り左右に移動し、
同時に受感部１６ａ−ｂ位置が☆わることにイＴる。移
動した受感部１６ａに（Ｊｌｌ、移動前どはゲ〆イｒっ
た経路の光線か入射して像を結、Ｓ−ことと４する。こ
の像は、第２図に於（〕る脚脚片の下部にλｊ１応する
一次元の像であり、例えば第３ａ図に於て線（Ｉ［）に
より示す部分の像となる。
モータ１７が連結され、このパルスモータ１７によりセ
ンリー１６は第２図に想像線で示す通り左右に移動し、
同時に受感部１６ａ−ｂ位置が☆わることにイＴる。移
動した受感部１６ａに（Ｊｌｌ、移動前どはゲ〆イｒっ
た経路の光線か入射して像を結、Ｓ−ことと４する。こ
の像は、第２図に於（〕る脚脚片の下部にλｊ１応する
一次元の像であり、例えば第３ａ図に於て線（Ｉ［）に
より示す部分の像となる。
１？ンリ１６を旧聞的に走査覆ることにより、第３ ｂ
図に承りように、とらえられた画像に対応りるパルス信
号を得ることかできる。第３１）図の波形（Ｔ＞（’Ｉ
Ｉ）はそれぞれ前記部分（Ｔ）（ＴＩ＞に対応部る一ｂ
ので、両部分のパルス信号が一致し、ぞれぞれのパルス
周期［）が一定であることから、検出対象とイＴつだＩ
Ｃ素子の脚片４に曲り、欠損等の不良がなかったことを
示している。
図に承りように、とらえられた画像に対応りるパルス信
号を得ることかできる。第３１）図の波形（Ｔ＞（’Ｉ
Ｉ）はそれぞれ前記部分（Ｔ）（ＴＩ＞に対応部る一ｂ
ので、両部分のパルス信号が一致し、ぞれぞれのパルス
周期［）が一定であることから、検出対象とイＴつだＩ
Ｃ素子の脚片４に曲り、欠損等の不良がなかったことを
示している。
第４ａ図に示された左端の脚片４ａは正常であるが、中
央の２本の脚片４Ｆ）、４Ｇ４＃、それぞれ曲っており
、第４ｂ図に示されたように、対応するパルス波形に１
ｆ！（プる対応部分のパルスタイミングの不一致として
検出される。第１１ａ図のも端の脚片４ｄは、１部で曲
り中間部から遊端部にかけて真直である。従って、第４
ｂ図に示したように、両部分のパルスタイミングが一致
Ｍるが、隣接り−るパルス間の間隔「）′が前記周期ｐ
と眉なり、同じく脚Ｊ−ＩＩの曲りとして検出されるこ
ととイｆる。第５ａ図に示された脚片４は、１べて同一
方向に曲っている。従って、パルス間の間隔Ｐは一定で
あるか、部分（Ｉ）（Ｉｆ）のパルス波形の間に一定の
ずれ（１が発生りる。
央の２本の脚片４Ｆ）、４Ｇ４＃、それぞれ曲っており
、第４ｂ図に示されたように、対応するパルス波形に１
ｆ！（プる対応部分のパルスタイミングの不一致として
検出される。第１１ａ図のも端の脚片４ｄは、１部で曲
り中間部から遊端部にかけて真直である。従って、第４
ｂ図に示したように、両部分のパルスタイミングが一致
Ｍるが、隣接り−るパルス間の間隔「）′が前記周期ｐ
と眉なり、同じく脚Ｊ−ＩＩの曲りとして検出されるこ
ととイｆる。第５ａ図に示された脚片４は、１べて同一
方向に曲っている。従って、パルス間の間隔Ｐは一定で
あるか、部分（Ｉ）（Ｉｆ）のパルス波形の間に一定の
ずれ（１が発生りる。
このＪ、う（こ、二［良の走査により、第３ａ図（Ｔ＞
（■１）に示１両部分の像によるパルスのタイミングの
一致葭と隣接ηるパルス間の間隔か許容範囲内であれば
、リ−へての脚片か正常であることがわかる。従って、
この電子部品にｔ、合格品であり、ぞのままＲ＄８製品
どすることができる。このどき、脚１１−の不良の判定
を二つのパルス波形の比較及びパルス間隔の判別にＪｚ
り行なうため、基体のイ☆置決めを行う必要かなく、Ｉ
Ｃ素子の前端面にパリがあって−し何ら克障か生じイ【
い。
（■１）に示１両部分の像によるパルスのタイミングの
一致葭と隣接ηるパルス間の間隔か許容範囲内であれば
、リ−へての脚片か正常であることがわかる。従って、
この電子部品にｔ、合格品であり、ぞのままＲ＄８製品
どすることができる。このどき、脚１１−の不良の判定
を二つのパルス波形の比較及びパルス間隔の判別にＪｚ
り行なうため、基体のイ☆置決めを行う必要かなく、Ｉ
Ｃ素子の前端面にパリがあって−し何ら克障か生じイ【
い。
第６図は本発明に基づく装置の第２の実施例を示１Ｎ略
図で、第１実施例と同一部材には同−符号をイ；１して
詳しい説明を省略りる。
図で、第１実施例と同一部材には同−符号をイ；１して
詳しい説明を省略りる。
プリズム４によりイ）方向に進路を変えられた光線群は
、前記実施例と同様に縦口１鏡１８によりイの進路を下
向きに変えられ、レンズ１５により、セン（７−１６の
受感部１６ａに脚片４の上部（Ｔ）に対応する像を結７
Ｓ（。次に、想像線により示されるように、反則鏡１Ｂ
を傾斜さ−Ｕると、第１実施例と同じように脚片４の下
部（ＩＩ）に対応する像がセン１Ｊ１６の受感部１６ａ
−Ｌに結ばれる。従って、各像に於（プる脚片の間隔を
判別し、二つの像を比較することにより、合格品と不良
品とを識別することができる。
、前記実施例と同様に縦口１鏡１８によりイの進路を下
向きに変えられ、レンズ１５により、セン（７−１６の
受感部１６ａに脚片４の上部（Ｔ）に対応する像を結７
Ｓ（。次に、想像線により示されるように、反則鏡１Ｂ
を傾斜さ−Ｕると、第１実施例と同じように脚片４の下
部（ＩＩ）に対応する像がセン１Ｊ１６の受感部１６ａ
−Ｌに結ばれる。従って、各像に於（プる脚片の間隔を
判別し、二つの像を比較することにより、合格品と不良
品とを識別することができる。
本実施例に於ける反則鏡１Ｂは、例えば」−下に一対の
帯線を連結し、かつ両側に空間をあけて磁極喘を設置し
、かつ帯線に電流を通すことにより傾動可能な、所謂ガ
ルバミラーと呼ばれる４Ｍ造からなるものであって良い
。
帯線を連結し、かつ両側に空間をあけて磁極喘を設置し
、かつ帯線に電流を通すことにより傾動可能な、所謂ガ
ルバミラーと呼ばれる４Ｍ造からなるものであって良い
。
〈発明の効果〉
本発明によれば、透過光を利用するため、脚片の表面状
態に左右されることなく、脚片の左右方−〇 − 向の荀同を一次元の１ｇ１として確実に検出することが
できる。しかし、検出される像が一次元であるため、装
置が複卸化することがなく、高速動作か司能であるため
操作上或いは経演十の効果か大きい。
態に左右されることなく、脚片の左右方−〇 − 向の荀同を一次元の１ｇ１として確実に検出することが
できる。しかし、検出される像が一次元であるため、装
置が複卸化することがなく、高速動作か司能であるため
操作上或いは経演十の効果か大きい。
第１図は脚片が正常である電子部品を示Ｊ斜視図である
。 第２図は本発明に基づく装置の第１の実施例を示す概略
図である 第３ａ〜５８図はイメージ廿ンリ−１に結像されるシル
干ツト像を示Ｊ平百図である。 第３１）〜５ｂ図は、ぞれぞれス・１応する像に対応部
るイメージセン４ノの出力波形を示１波形図である。 第６図１５１本発明に基づく装置の第２の実施例を示１
１Ｍ略図である。 １・・・ＩＣ素子 ２・・・基体３．４・・・脚
片 ５・・・ノツチ６・・・分離線 ７
・・・端面１０・・・搬送路 １１．１２・・・
プリズム１３・・・光源 １４・・・反６＝ｊ
鏡１５・・・レンズ １６・・・レンリ１６ａ・
・・受感部 １７・・・パルスモータ１８・・・反
６＝Ｊ鏡
。 第２図は本発明に基づく装置の第１の実施例を示す概略
図である 第３ａ〜５８図はイメージ廿ンリ−１に結像されるシル
干ツト像を示Ｊ平百図である。 第３１）〜５ｂ図は、ぞれぞれス・１応する像に対応部
るイメージセン４ノの出力波形を示１波形図である。 第６図１５１本発明に基づく装置の第２の実施例を示１
１Ｍ略図である。 １・・・ＩＣ素子 ２・・・基体３．４・・・脚
片 ５・・・ノツチ６・・・分離線 ７
・・・端面１０・・・搬送路 １１．１２・・・
プリズム１３・・・光源 １４・・・反６＝ｊ
鏡１５・・・レンズ １６・・・レンリ１６ａ・
・・受感部 １７・・・パルスモータ１８・・・反
６＝Ｊ鏡
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 基体の両側に沿って整列した複数の脚片を有する電子部
品の前記脚片の不良を検出する装置に於て、 光線を、前記基体の両側の脚片列の間から前記脚片に向
けて、前記基体の底面に対して略平行をなし、かつ前記
整列方向に対して略直交するように照射し、前記脚片の
外側に透過して来る光線を、前記脚片の長さ方向の異な
る２つ以上の部分の一次元画像として検出し、該２つ以
上の部分の一次元画像を比較しかつ前記脚片の像の間隔
が許容範囲内であるか否かを判別して、前記脚片の曲り
及び又は欠損を検出するようにしたことを特徴とする電
子部品の脚片の不良検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60121681A JPS61279143A (ja) | 1985-06-05 | 1985-06-05 | 電子部品の脚片の不良検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60121681A JPS61279143A (ja) | 1985-06-05 | 1985-06-05 | 電子部品の脚片の不良検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61279143A true JPS61279143A (ja) | 1986-12-09 |
Family
ID=14817240
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60121681A Pending JPS61279143A (ja) | 1985-06-05 | 1985-06-05 | 電子部品の脚片の不良検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61279143A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62145755A (ja) * | 1985-12-19 | 1987-06-29 | Toshiba Corp | 半導体装置のリ−ド曲り検査装置 |
| JPS63196053A (ja) * | 1987-02-09 | 1988-08-15 | Datsuku Eng Kk | Ｉｃ外観検査方法 |
| JPS63301551A (ja) * | 1987-06-01 | 1988-12-08 | Hitachi Ltd | Ｉｃリ−ド曲り検出装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57122557A (en) * | 1981-01-23 | 1982-07-30 | Nec Kyushu Ltd | Inspecting device for lead bent of semiconductor device |
-
1985
- 1985-06-05 JP JP60121681A patent/JPS61279143A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57122557A (en) * | 1981-01-23 | 1982-07-30 | Nec Kyushu Ltd | Inspecting device for lead bent of semiconductor device |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62145755A (ja) * | 1985-12-19 | 1987-06-29 | Toshiba Corp | 半導体装置のリ−ド曲り検査装置 |
| JPS63196053A (ja) * | 1987-02-09 | 1988-08-15 | Datsuku Eng Kk | Ｉｃ外観検査方法 |
| JPS63301551A (ja) * | 1987-06-01 | 1988-12-08 | Hitachi Ltd | Ｉｃリ−ド曲り検出装置 |
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