JPS61279145A - 電子部品の脚片の不良検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 く産業上の利用分野〉 本発明（３１１、Ｉ　Ｃ素子等の電子部品の脚片の不良
検出装置に関し、特に基体とその両側に整列した複数の
脚片とからなる電子部品の脚片の、旧こ整列方向に対し
て直交する向きへの曲り或い（３１，欠１（４を検出す
るための装置に閉覆る。

〈従来の技術〉 基体とその両側に連結された複数の脚片とか１うなる電
子部品を、予め回路板等の対応個所に設（ノられた複数
の細孔に挿入して、前記電子部品を回路板上に固定する
ようにしているが、近年このような挿入作業を高速の自
動挿入装置により行うにうにしている。この場合、回路
板上の複数の細孔の相ｎの位置関係は予め決められ−Ｃ
いるため、電子部品の脚片の一部が曲がる４丁どじでい
ると、電子部品を回路板」二に挿入することができず、
電子部品の一部が欠損したＲ綿製品が製造されたり、作
業を中断して不良な製品をラインから除去しイＴ（−Ｊ
れは゛ならない等の不都合か牛する。

そこで、電子部品を回路板１に固定づる前に、ぞの脚片
の連結状態をチェックし、ぞの脚片の曲がりが大きく回
路板トの細孔にＩ＋１′１人てぎイ１いらのをラインか
ら除去する必要かあり。従来は、複数の脚片のそれぞれ
の而に光線を当てて、ぞの反則）層を検出し、その画像
と正常４Ｔ電了部品の脚片の位置関係を比φ☆して、両
者が一致覆るもの及びＫｕＣ差か僅かで電子部品を回路
板−自Ｊ固定覆るの（こ支障がイｊいものを合格品とし
、イ１１２を不良品どじでラインから除去覆るようにし
τいた。

電子部品の脚Ｊ？の整列方向（Ｊ対して直交覆る向きへ
の曲りを検出するためには、脚片の後方から脚片どほば
直交覆るように光線をｐｆｉ　＠、Ｊ　シ、脚片の前方
或いは後方から［１，Ｉｔハの状態を二次元画像として
検出し、この画像と正常な＋１１１け１の画像とを比較
覆ることにより脚）Ｆｈ胃常を検出部ることか考えられ
でいる。

〈発明が解決しようと１６問題点〉 しか１ノイＴから、このｙノ法では、光源或い【；Ｉ、
検出部が脚片の整タ１１１ノ向（こり１８合ザる位置に
イ１す、電子部品を１１直送覆る際の障害となり、光源
、或いは検出部をｉｉｌ動どした場合（Ｊは、多数の電
子部品を（つ）合部る工程を高速化ηることが国運どな
る。

しかも、脚片の像を、脚Ｊ−１の整列方向から捕えよう
とするため、脚ｊｉ列が奥行きをイＪし、焦貞深麻の大
きい光学系、またに１．レーリ゛光線にＪ、る厳密な平
行光線を必要とし、装置か複２１［かつ高価どなる不都
合がある。

〈問題点を解決するための手段〉 このような従来技術の欠点に鑑み、本発明の一トな目的
は、基体の両側に沿って整列した複数の脚片を有刃る電
子部品の前記脚片の不■起を検出する装置に於て、光線
を、前記基体の両側の脚片列の間から前記基体の底面に
対して略平行に、かつ脚片の整列方向に対して斜めに人
１３＝Ｉさｉｊ、前６１脚Ｊ４の外側に透過して来る光
線を、前記脚片の長さ方向の異なる２つ以上の部分の一
次元画像として検出し、各脚Ｊ１の遠近差に応じて各対
応像の大きざを補正した後に、該２つ以上の一次元画像
を比較し、かつ前記脚片の像の間隔り福′［容範囲内で
あるか否かを判別して、前記脚片の異常を検出するＪ、
うにしたことを特徴とする電子部品の脚ｌｉの不良検出
装置を提供することにある。

〈作用〉 このように、入６＝１光線が斜め方向から入６４される
ため、光源或いは検出部を電子部品の搬送方向から離れ
た位置に設（プることができ、しか−ｂ検出部として一
次元センリを用いるため＠造か単純で済む。さらに、各
脚片の遠近差に応じて対応像の大きさを補正覆れば、検
出の許容誤差を厳密に設定することが可能とイｉる。

〈実施例〉 以下に添付の図面を参照して本発明を特定の実施例につ
いて詳細に説明する。

第１図は、正常な脚片を有するＩＣ素子１からなる電子
部品を示しており、モールド成形してなる基体２の両側
面に夫々複数の脚片３．４が設Ｃプられている。基体２
の前端には方向識別用のノツチ５が設けられている。従
来は、矢印ＸにＪ、り示づように、脚Ｊ”ｔ’３．４の
整列方向から脚片３の、矢印Ｙにより示１左右方向への
曲りを検出していたが、ＩＣ素子の搬送の都合、或いは
焦点深葭の大ぎい光学系を必要とする等の問題があった
。

第２図は、本発明装置の第１実施例を示Ｔｉ１ｌ’！ｌ
ｉ図である。

偏平四角形状の断面を有刃る基体２の左右両端からは複
数の脚片３．４が突出【〕、ぞれぞれ基喘近傍にて下向
きに折曲されている。ＩＣ索子１は、搬送路１０上に跨
ぐようにして載置され、左右両側の脚片３．４の列の間
に位置する搬送路１０の下部に水平方向に対して約４５
°の角面をなすように反射鏡１１が配設されている。

反射鏡１１の斜め下方には別の反ｑ１鏡１２が設置され
、光源１３からの光線は、反射鏡１２．１１により向き
を変更され、第２図に於する右方向を向く一つの光線群
とされる。

この光線群は、その一部が脚片４の部分（Ｔ＞に当って
遮蔽され、残りが脚片４の右方へ直進し、反射鏡１４に
より第２図に於ける下向きに進路を変えられ、レンズ１
５により、イメージセンリ１６上に像を結ぶ。この像は
、脚片４が存在する部分のみが暗いシルエツト像となる
。セン１）１６の受感部１６ａは線状をなすもので、脚
片４が成る−　〇　− 水平面と交差１ｊる部５）（Ｔ）の：次元画像をどらえ
る。

［２ンリ１Ｇに（Ｊ１５、小−シス９１月１−を内蔵す
るパルス−Ｌ−９ｉ７が連結され、このパルス１−一タ
１７にＪ３リレンリ１６は第２図（こ想像線で示１通り
］「右に移動し、同時に受感部１６ａも位置が☆わるこ
と（こなる３、移動した受感部１６ａにＩＪ１５、移動
前どは異なった経路の光線か大川して像を結ぶことど４
Ｔる。この像は、第２図に於Ｃ）る脚ハ４の異なる水平
線ど交差する部分（１１）の一次元像である。

訝１３図及び第４図１；１．、第２図の実施例の側面図
び平面図である。第一の反射鏡１２は水平面に対して約
５８度をへしており、第二の反射鏡１１の反ｆ３＝Ｉ光
（ま水平方向を向いている。

従って、要するに、光源１３よりの光は、ＩＣ素了１の
前方の斜め下１ｊから両脚片の列の間に向ｃ）で入ｑ・
１され、脚片列を通過しｌこ光源は、水平面上を斜め方
向に進１１覆ることとなる。

このＪ、うに、本発明によれば、脚片列を斜め方向に透
過して来る光線を捕えるため、受感部に結ばれた像（こ
は脚Ｈの遠近が像の大ぎさの違いとして現われる。即ら
、第５図に示したにうに、名脚片は、レンズの位置を表
わす［）点から対応するｌｔｌ、１１片の張る角度に比
例する大きさの像として受感部１６ａに結像される。従
って、脚片を遠いものから順に４１〜７１４とし点Ｐか
ら各脚Ｈの張る角１αを８１　”’−８４とすれば、ａ
ｌ　＜ａ２　＜ａ３　＜ａ／ｌとなる。各脚片間の間隔
［）１〜【）３について′ｂ同様の関係が成立する。

従って、イメージレンリを１１．１間的に走査−（Ｊる
ど、第６図に示されたＪ、うな２つの波形がｊｑられ、
名脚片４１〜４４に対応するパルス幅Δ１〜△４は、対
応する角度８１〜ａ４に比例している。ぞこで、このよ
うな遠近差の影響を、幾何学的関係に基づいて補正する
こともこより、脚片の曲りの判定精葭を高めることかで
きる。このＪ、うｔｚ補止は、イメージセンリの出力信
号を処理１６装薗にＣＰ　Ｕを内蔵し、所りの幾何学的
関係に基づく演紳処理を行うことにより実施することか
できる。

第６図に示された波形図は、名脚片の遠近を考慮して正
常４１脚片から得られたもので、士下方向に間隔をおい
て設定された脚Ｊ−１４の２つのイ装置（Ｉ＞（ＴＩ＞
（ごついて得られたパルスタイミングが一致し−（おり
、しかもパルス間隔が所定のｇｔＨ容範囲内にある。

第７図に於いては、脚ハ４１が、内向きに曲り、脚片４
３が９１．向きに曲っていることが、２つの位置から１
ｑられだパルスのタイミングの不一致として検出される
。第ε３図に示された波形に於いては、各脚片７１１〜
７１４に対応する全てのパルスのタイミングか一致（ノ
ー（いるが、隣接するパルス間の間隔が適切でないもの
かあり、脚片４３が−１−下方向には真直であっても、
他の脚片より・し９Ｆ側に張り出していることが解る・ 本発明によれば、このようにして脚片の内外方内聞り左
右方向の曲り或い１：１、欠損を判別できるか、脚片が
前後方自回１−１脚）１の整列方向に向しＪτ曲ってい
た場合にはその影響ら受εノることと４にる１、そこで
、１１１．１１片の前後方向の曲りを別途検出しておい
て、前後方向の曲りが許容娃囲外のものを７１（−条イ
′１不合格として除去し、或い１よ幾何学的関係に基づ
いて前後方向の曲りの影響を考慮して本発明を実施する
と良い。

第９図は本発明に基づく装置の第２の実施例を示す概略
図で、第１実施例と同一部材には同−ｒ１号をイ４して
詳しい説明を省略覆る。

反１ｉＪ１鏡１１（こより右方向に進路を変えられた光
線群は、前記実施例と同様に反射鏡１８によりぞの進路
を下向きに変えられ、レンズ１５により、セン１Ｊ１６
の受感部１６ａに脚Ｊ４／１の上部（Ｔ＞に対応覆る像
を結ぶ。次に、想像線にＪ：り示されるように、反射鏡
１Ｂを傾斜さｔ！ると、第１実施例と同じよう（こ脚１
キ４の下部（■［）に対応でる像がセン１ノ１６の受感
部１６ａＪ−に結ばれる。従って、８像に於（する脚片
の間隔を判別し、二つの像を比較することににす、合格
品と不良品とを識別することができる。

本実施例に於（ｊる反射鏡１８は、例えば十−下に一対
の帯線を連結し、かつ両側に空間をあけて磁極端を設置
し、かつ帯線に電流を通１゛ことにより傾動可能な、所
謂ガルバミラーと呼ばれる構造かうなるものであって口
い。Ｊ：ｋ、ト記実施例に於いでにｊ：、ハ「１ゲンラ
ンプ等の自然灯を光沢１としＣいるが、ｆｒ　７５形式
の光源を用いることができる。

〈発明の９１宋〉 本発明４ごよれば、透過光を利用覆るため、脚Ｊ１の表
面状態に左右されることなく、脚片の左右り向の位置を
一次元の像として確実に検出Ｊる（−とができる。しか
・ｂ、検出される像が一次元であり、しかも焦点深度の
大ぎな光学系或いはレーザ光線を用いイｒくども侵いた
め、装置が複雑化することがイ【く、高速動作が可能で
あるため操作上或い（ンノ。

経済１−の効果が大きく、脚片の遠近差を考慮覆るため
の補正を行うため、検出の精度が高く、検査対象の歩留
りを改善する、即６訂容範囲内の脚片の曲りを有する電
子部品を不合梠どする可能１’ｌを大幅に削減すること
ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は脚ハの曲りを想像線により示す電子部品の斜視
図である。 第２図は本発明に基づり）装置の第１の実施例を示￥Ｉ
Ｐ、Ｒ略１１面図である 第３図及び第４図は、それぞれ第２図にホしＩＪ実施例
ののｖ２部の側面図及び平面図である。 第５図は脚片の遠近差にＪ、り苅応脚ｊ１像の大小関係
を示づ説明図である。 第６〜８図はイメージセンリから得られる信号の波形図
である。 第９図は本発明に基づり１ム首の第２の実施例を示す概
略正面図である。 １・・・ＩＣ素子　　　　２・・・基体３．４・・・脚
ハ　　　　５・・・ノツチ１０・・・搬送路　　　　１
１．１２・・・反０＝Ｉ鏡１３・・・光源　　　　　１
７１・・・反口・１鏡１５・・・レンズ　　　　１６・
・・センリ１６ａ・・・受感部　　　１７・・・パルス
を一タ１Ｂ・・・反０＝１鏡 特許出願人　目本発条株式会ネ１ 代　　　即　　　人　　弁理士　人　島　陽　−一　　
　　　　　　　−

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 基体の両側に沿つて整列した複数の脚片を有する電子部
   品の前記脚片の不良を検出する装置に於て、 光線を、前記基体の両側の脚片列の間から前記基体の底
   面に対して略平行に、かつ脚片の整列方向に対して斜め
   に入射させ、前記脚片の外側に透過して来る光線を、前
   記脚片の長さ方向の異なる２つ以上の部分の一次元画像
   として検出し、各脚片の遠近差に応じて各対応像の大き
   さを補正した後に、該２つ以上の一次元画像を比較し、
   かつ前記脚片の像の間隔が許容範囲内であるか否かを判
   別して、前記脚片の異常を検出するようにしたことを特
   徴とする電子部品の脚片の不良検出装置。