JPS6135302A - ピンの曲りを検出する方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明はＩＣ素子、ＩＣソケットなど複数のピンを有す
る部品に於ける各ピンの曲りを検出するための方法に関
し、特に迅速にピンの曲りを検出することのできる方法
に関する。

〈従来の技術〉 近年電子部品を基板に実装するに際して、自動挿入装置
が多用されつつある。自動挿入装置は種々の電子部品を
自動的にしかも高速で基板に挿入することができる。基
板に挿入された電子部品は、はんだ付され完成すること
となるが、ＩＣなどの電子部品の足、即ちピンが曲って
いた場合には、ピンが基板に設けられた所定の孔に挿入
されず、そのままはんだ付されることとなり、基板全体
が不良品となってしまう。そこで基板に挿入されるべき
電子部品のピンの曲りを事前に検査することが望ましい
が、自動挿入装置が高速で作動するものであり、高価な
装置であるため、このようなピンの曲りを検出するため
の装置は、自動挿入装置の操業率を維持し得るように、
高速でピンの曲りを検査し得るものであるのが好ましい
。

〈発明が解決しようとする問題点〉 このような要請に鑑み、本発明の主な目的は、複数のピ
ンを有する素子に於けるピンの曲りを高速かつ正確に検
査し得る方法を提供することにある。

〈問題点を解決するための手段〉 このような本発明の目的は、第一の方向に延びかつ第二
の方向に整列する複数のピンの曲りを検出するための方
法であって、前記第一の方向に対して平行をなしかつ前
記ピンに交差する面内に位置する入射光を前記ピンに照
射し、前記各ピンにより反射された光のスポットの整列
状況を測定し前記各ピンの曲りを検出することを特徴と
する方法を提供することにより達成される。

〈作用〉 このように光を用いて非接触式に検査することができ、
しかも一方向から光線を照射するのみで左右方向及び前
後方向のいずれの方向の曲りをも同時に検査することが
可能となる。

〈実施例〉 以下、本発明の好適実施例を添付の図面について詳しく
説明する。

第１図及び第２図は、本実施例の検査対象となるＩＣ素
子を示している。このＩＣ素子は左右それぞれ７個のピ
ン、合計１４個のピンを有しており、そのうち一つのピ
ン２が外向きに曲り、他の一つのピン６が内白きに曲り
、更に他の１つのピン４が前後方向に曲っている。この
ようにピンが曲っていると、このＩＣ素子１０を基板に
挿入しようとする際、このように曲ったピン２．４．６
が基板に設けられた孔に挿入されず、基板全体が不食品
となる原因となる。

そこで、画像認識装置を用いて横方向から検査すること
も考えられるが、その場合ピン４のように前後方向に曲
ったものは容易に検出し得るものの、ピン２．６のよう
に左右方向に曲ったものは、一般にその検出が困ＩＩで
ある。何故なら、画像認識装置が奥行きを識別する能力
を具備しなければならないからである。

−３−？ 画像認識装置をもって素子の端部方面からピンの曲りを
識別することも考えられるが、前記と同様にピン４のよ
うに前後方向に曲っているものはその識別が困難であり
、内向き或いは外向きに曲ったピンについても、遠近差
が大きいためにその検出が困難である。

第３図は本発明に基づくピンの曲りを検査する方法の実
施例を示す説明図である。先ずＩＣ素子１０を所定の冶
具４０により位置決めし、ピン１〜７の整列方向に対し
て平行をなす面状光３０をピンに対して斜めに照射する
。この面状光３０は、レーザーにより得られる光源を、
シリンドリカルレンズ等により面状に屈折させたもので
あって良い。

イメージセンサ２０が、ピン１〜７の延在する方向及び
ピンが整列する方向の両者に対して直交する向きに設け
られており、面状光３０がピン１〜７に投射されて形成
される光のスポットを検出し得るようになっている。こ
のイメージセンサ２０は線状に配列されたイメージセン
サアレイであって良い。このイメージセンサ２０は図示
されていない駆動機構により矢印Ａで示されているよう
に上下方向に駆動される。

面状光３０がピン１〜７に照射されて形成される光のス
ポットは、ピンがすべて曲っていない場合には一列に整
列した光のスポットとして検出されることとなる。即ち
第４図に示されているように、これらの光のスポットは
、線Ｙ。と該直線ＹＯに対して直交する向きに等間隔に
引かれた線×１〜×７の交点に検出されることとなる（
スポット１１．１２ａ、１３．１４ａ、１５．１６８及
び１７）。即ちピン２のように外側に向けて曲ったピン
については、光のスポット１２が直線Ｙ。

から上方に離間した場所にスポット１２として検出され
、ピン６のように内側に向けて曲ったピンについては、
光のスポット１６がＹｏから下方に離間した部分に検出
される。更にピン４のように前後方向に曲ったピンにつ
いては、光のスポット１４が直線×４から前後方向に離
間した点に検出される。

このようにピンの曲りとイメージセンサ２０により検出
される光のスポットとは上記したような対応関係がある
ことから、ピンの曲りの許容範囲に対応するイメージセ
ンサ２０の検、出画像に於番ノる許容領域を設定し、光
のスポット１１〜１７がこのようにして設定された許容
領域を逸脱したときにピンの曲りが許容以−りであると
判定することが可能となる。例えば第４図に於て、光の
スポット１１〜１７のいずれか一つが直線Ｙ１の上側に
または直線Ｙ２の下側に逸脱したときに各ピンの左右方
向の曲りが許容以上であると判定し、光のスポットが直
線×１〜×７のそれぞれに重なりあっていないとき、当
該ピンの前後方向の曲りが許容値以上であると判定する
ことができる。

第５図は本発明に基づく別の実施例を示している。前記
実施例に於ては、面状光を固定し、イメージセンサ２０
を上下に平行移動して所定視野を走査して光のスポット
を検出したのに対して、イメージセンサ２０を固定し、
面状光３０を矢印Ｂで示されるように上下方向に平行移
動させることにより、前記実施例と同様にしてピンの曲
りを検出することができる。

以上本発明を特定の実施例について説明したが、上記以
外にも種々の実施例が可能である。例えば上記実施例に
於ては入射光線として面光線を用いたが、レーザー光線
をそのような面内で走査することによっても同様の目的
を達成することができる。またイメージセンサについて
も、線状イメージセンサアレイに限らず、点状のイメー
ジセンサを同じく左右上下方向に走査したり、二次元的
なイメージセンサを用いてそれを電子的に走査して同様
の目的を達成することもできる。

〈効果〉 このように、本発明によれば、レーザー光を一方向から
照射するのみで、ピンの曲りを二方向について迅速かつ
正確に検出することができる。しかも、検出端は、例え
ば線状フォトアレイからなるものであって良く、検出信
号もディジタル信号として得ることができるため、検出
信号の処理を効率良く行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に基づ〈実施例の検査対象たるＩＣ素子
の側面図である。 第２図は第１図のＩＣ素子の端面図である。 第３図は本発明に基づく方法の実施例を示す説明図であ
る。 第４図は第３図のイメージセンサにより検出される画像
を示す説明図である。 第５図は第４図の実施例に対する変形実施例を示す第３
図と同様の図である。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）第一の方向に延びかつ第二の方向に整列する複数
   のピンの曲りを検出するための方法であって、 前記第一の方向に対して平行をなしかつ前記ピンに交差
   する面内に位置する入射光を前記ピンに照射し、 前記各ピンにより反射された光のスポットの整列状況を
   測定し前記各ピンの曲りを検出することを特徴とする方
   法。
2. （２）前記入射光が面状光であって、線状イメージセン
   サアレイを前記第一の方向に対して平行に配置しかつ該
   アレイを前記第二の方向に平行に移動して前記反射光ス
   ポットの整列状況を測定することを特徴とする特許請求
   の範囲第１項に記載の方法。