JPS61268053A - 昇圧回路 - Google Patents

昇圧回路

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Publication number
JPS61268053A
JPS61268053A JP60111433A JP11143385A JPS61268053A JP S61268053 A JPS61268053 A JP S61268053A JP 60111433 A JP60111433 A JP 60111433A JP 11143385 A JP11143385 A JP 11143385A JP S61268053 A JPS61268053 A JP S61268053A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
threshold voltage
transistor
insulated gate
gate field
nmos transistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60111433A
Other languages
English (en)
Inventor
Seiichiro Asari
浅利 誠一郎
Kazuo Aoki
一夫 青木
Akio Kiji
木地 昭雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP60111433A priority Critical patent/JPS61268053A/ja
Publication of JPS61268053A publication Critical patent/JPS61268053A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、供給された電源電圧よりも高い電圧を発生す
ることを必要とする半導体装置に関するものである。
(従来の技術〕 第1図は一般的な昇圧回路を示す回路図である。
同図においてM1〜Mnはドレインとゲートが基準電源
Vに接続されたNチャネル絶縁ゲート電界効果トランジ
スタ(以下rNMO5)ランジスタ」という)1のソー
スに対し直列にn(任意の整数)段接続されたNMO3
)ランジスタであり、これらNMO3)ランジスタM1
〜Mnはドレイン、ゲートが共通接続されている。2は
各NMOSトランジスタMl〜Mnのゲートにそれぞれ
接続されたキャパシタ、3はNMOSトランジスタの寄
生容量であり、4および5はそれぞれパルスφ1.φ2
を入力する端子、6は出力端子、7゜8.9はそれぞれ
1番目、2番目、n番目の接続点を示す、また当然なが
ら、NMO3)ランジスタのしきい値電圧V□は半導体
基板上の他の回路を構成するMOS)ランジスタのしき
い値電圧と同じである。
次にこの回路の動作について説明する。端子4.5より
第2図(a)、 (b)に示すような位相の逆転した高
速パルスφ1.φ2を与える。これにより、接続点7は
キャパシタ2とNMO3)ランジスタM1により第3図
に示すような微分波形10を描く、この動作において、
パルスがrHJから「L」へ立下がる瞬間に次段の接続
点8の電位はリーク電流による電位降下とそのトランジ
スタのしきい値電圧によって決定され、その電位の変化
は第3図に示すような波形11となる。以下、各接続点
の電位の変化も同様に動くため、各接続点間の上昇電位
は、1/ (C+Cp)=Qとすれば、以下によって表
わされる。
り2の容量、CpはNMO3)ランジスタの寄生容量3
の容量、Tはパルス周期、■はリーク電流、■、は接続
点8の電位、V7は接続点9の電位、V 11 (V−
)はNMO3)ランジスタのしきい値電圧を表わす。
以上により、n番目の電圧V7は、 VR= (1+Q−C−n)V、、−ΣVyN(i)ζ
;1 −Q−n−I−T ・・・・ (1−1)と表わすこと
ができる。
以上のように、この昇圧回路は、キャパシタ結合によっ
て生じた電位をあまり電流をながさずに次段に伝えてい
き、出力においてリーク等によって失われるチャージを
前段より高速パルスによりたえず送り込むことによって
補うことを原理としており、チャージ・ポンプ回路とも
呼ばれている。
〔発明が解決しようとする問題点3 以上のように、従来のNMO3)ランジスタにより構成
される昇圧回路では、各NMOSトランジスタにかかる
バンクゲート効果のため、電圧が昇圧していこうとする
反面、この効果によるしきい値電圧の増加(すなわち、
オンしに(くなるということ)のため、単に段数を増や
すだけでは昇圧電圧は上がりにくくなり、回路自体の効
率が悪くなるという問題があった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、効率よく昇圧することができる
回路を得ることにある。
(問題点を解決するための手段) このような目的を達成するために本発明は、同一半導体
基板上の他の回路を構成する絶縁ゲート電界効果トラン
ジスタよりも低いしきい値を持つ絶縁ゲート電界効果ト
ランジスタを設けるようにしたものである。
〔作用〕
本発明における昇圧回路は、NMO3)ランジスタのし
きい値電圧を通常よりも下げるため、通常のしきい値電
圧のMOSトランジスタを用いた場合に比べて昇圧する
効率が上がる。
〔実施例〕
本発明に係わる昇圧回路の回路構成は第1図に示す一般
的な回路と同様である。第1図に示される昇圧回路にお
いて、n段目のNMO3)ランジスタMnの出力端子6
より得られる昇圧電圧は、前述したように、式(1−1
)により表わされる。
したがって、昇圧効率を上げるためには、第2項のしき
い値電圧V□を下げるとか、第3項におけるキャパシタ
2の容量Cを大きくするとか、リーク電流Iを少なくす
るとか、パルスの周期Tを短くするとかの方法が考えら
れるが、キャパシタ2の容量Cを大きくしたり、パルス
周期Tを短くしたりすることは半導体基板上につくられ
る集積回路においてかなりの専有することになり得策で
はない、したがって、この回路において昇圧する効率を
上げるためには、NMOSトランジスタのしきい値電圧
vTイをできるだけ低い方向にもっていけばよい。この
ために、NMO3)ランジスタとしては、通常のNMO
Sトランジスタのしきい値電圧が0.6〜0.7Vt’
あるノニ対し、0.1〜0.2Vの低いしきい値電圧を
もったものを選ぶ。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、同一半導体基板上の他の
回路を構成する絶縁ゲート電界効果トランジスタよりも
低いしきい値を持つ絶縁ゲート電界効果トランジスタを
設けたことにより、昇圧する効率が上がる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は一般的な昇圧回路を示す回路図、第2図は第1
図の各端子に入力される高速パルスを示す波形図、第3
図は第1図に示す回路の動作時における各接続点の電位
の変化を示す波形図である。 1、M1〜Mn・・・・NMOSトランジスタ、2・・
・・キャパシタ、3・・・・寄生容量、4.5・・・・
端子、6・・・・出力端子、7,8.9・・・・接続点
、■・・・・基準電源。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  同一半導体基板上の他の回路を構成する絶縁ゲート電
    界効果トランジスタよりも低いしきい値を持つ絶縁ゲー
    ト電界効果トランジスタを備えたことを特徴とする昇圧
    回路。
JP60111433A 1985-05-22 1985-05-22 昇圧回路 Pending JPS61268053A (ja)

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JP60111433A JPS61268053A (ja) 1985-05-22 1985-05-22 昇圧回路

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JP60111433A JPS61268053A (ja) 1985-05-22 1985-05-22 昇圧回路

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JPS61268053A true JPS61268053A (ja) 1986-11-27

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ID=14561066

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01164264A (ja) * 1987-11-17 1989-06-28 Philips Gloeilampenfab:Nv 電圧増倍器集積回路と整流器素子
JPH0265269A (ja) * 1988-07-06 1990-03-05 Sgs Thomson Microelettronica Spa 電圧増幅器の出力電圧調整回路
JPH0529360A (ja) * 1991-07-18 1993-02-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 昇圧装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01164264A (ja) * 1987-11-17 1989-06-28 Philips Gloeilampenfab:Nv 電圧増倍器集積回路と整流器素子
JPH0265269A (ja) * 1988-07-06 1990-03-05 Sgs Thomson Microelettronica Spa 電圧増幅器の出力電圧調整回路
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