JPS61259136A - 形状変化測定装置 - Google Patents

形状変化測定装置

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Publication number
JPS61259136A
JPS61259136A JP10225485A JP10225485A JPS61259136A JP S61259136 A JPS61259136 A JP S61259136A JP 10225485 A JP10225485 A JP 10225485A JP 10225485 A JP10225485 A JP 10225485A JP S61259136 A JPS61259136 A JP S61259136A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirrors
young
modulus
light
calculate
Prior art date
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Pending
Application number
JP10225485A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenjiro Nishida
西田 健二郎
Nobuyuki Kawasaki
信幸 川崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP10225485A priority Critical patent/JPS61259136A/ja
Publication of JPS61259136A publication Critical patent/JPS61259136A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は両端が支点支持された梁の荷重によるたわみ量
やヤング率を高精度に求めるための測定装置に関する。
〈従来技術〉 第6図、第7図により従来技術を説明する。1は距離t
を隔てて両端部を支点2,2′で水平支持された梁で、
中央に下向きの力Fを作用させた時のたわみ量りよりヤ
ング率Eを求める場合の概念図である。第6図(a)は
Cb)のごとく等価的に考えることができ、たわみ量り
は、ヤング率をE、梁1の厚さd、Ilbとするとき、 で表わされる。これよりヤング率Eは、で求められる。
たわみ量りの精密測定方法としてはkonig法がよく
用いられる。即ち、第7図のくとく、梁1の両端上部に
鏡3,3′を対向配置し、梁に対して直角方向に配置し
たスケール4の目盛変化をこれら鈍の反射を介して望遠
鏡5で読み取り、これにより梁の水平位置からの傾きθ
を測定し、これよりhを求める。θがわかればヤング*
Eは、で表わされる。
しかしながらこの方法ではスケールの読みを人間の目視
に頼っており、当然視差が生ずる。又梁の中心t/2位
置を決める場合にも測定の誤差が生ずるので、測定の精
度には限界がある。
〈発明が解決しようとする問題点〉 本発明は人間の視差や中心の位置決めによる誤差の発生
しない形状変化の測定手段を提供することを目的とする
〈丁問題点を解決するだめの手段〉 本発明装置の構成十の特徴は、両端が支点支持されその
途中に荷重が印加される梁と、この梁の両端部に梁の水
平面に対して同一角度をもって対向的に固定された一対
のミラー手段と、これらミラー(C対して上記梁と直角
方向にスポットビームを供給する光源と、上記夫々のミ
ラーよりの反射ビームが直交する位1を検出する光セン
サ手段とを具備せし、めた点にちる。
〈作用〉 梁に荷重を印加しない状態で2個の反射ビームの交点を
光学センサ手段で求め1次に荷重を印加した場合の交点
位置の変化(x+y方向)を光を7、・す手段の移動距
離(X方向)及び交点のずれ(X方向)を求め、これら
パラメータより梁の両4の傾きを計算し、この傾き角度
よりヤング率又はたわみ置を求める、3 〈実施例〉 第】図に本発明装置の一実施例を示す。第7図と同一要
素には同一符号を付して説明を省略せる。
6は光線Bを発生させる半導体レーザー等の光源、7は
光線Bを平行光線に変換するレンズ、8は1:1ハーフ
ミラ−で反射光は第1のアパーチャー9に、透過光は全
反射ミラーIOK導かれその反射光d第2のアパーチャ
ー9′に導かれる。アパーチャー9.り’を通過した光
線は平行乙スポットビームB、vとなる。11.11’
は梁lの両端上端部に、梁の水平面とθ。の角度をなし
て対向して固定された全反射ミラーでちり、スポットビ
ームB、B’を受けてこれを反射させる。反射したスポ
ットビームB、B’は一点aで交差する。
12はスポットビームB、B’が当るように粱lにに平
行に配置された光センサ手段で、複数個の光センサ−2
、12,・・・・・・12nがライン状に配列され、ス
ポットビームB、B’が当った光センサの位置が適当な
表示手段13を介して読みとることが可能とされている
14は光セ〉す手段12を梁1に対して直角方向(X方
向)に駆動するための移動手段で、手動のマイクロメー
タ手段や、ステップモータ等の電動駆動手段で実現され
、その移動Iは目盛で読み取りが可能か又は電気信号に
変換されて表示手段13で読み取られる構成となってい
る。
このような構成において、梁l上の任意位1i1G点に
下方向の力Fを作用させた場合は、梁1は第2図の点線
1′に示すごとく下方にたわむ。支点2゜2′間の距離
を1%0点の支点2からの距離をLl、支点2′からの
距離t2、G点でのたわみ量をvtlで示す。このたわ
みの結果全反射ミラー11.11’の角度θは変化し、
11の角度はθよりθ1に、11’の角度はθ0より0
2に変化している。この角度変化によ抄、スポットビー
ムB、B’の反射角も点線で示すように変化し、交点の
位置aは3′に変化する。点線で示す12′は光センサ
手段12を下方向(矢印Xで示す)K移動させて、a′
点を一点で受光した場合の位置を示し、X方向の移動量
と、a点の位置を基準としたXと直角方向のa′の移動
it(矢印yで示す)を読み取る。現在実現可能な精度
は、スポットビームの径を1011m以下、光センサ手
段の分解能1101J、移動手段の分解能11n程度で
ちる。
第3図はこの取み取りの手順を示す説明図で、第1図(
4)(イ)は初期状態を示し、スポットビームの交点a
に光センサ手段がセットされ、ビームB。
B′の交点aの受光出力は(ロ)に示すごとく一本のス
ベクルて表わされる。この位置をX方向の0位置とする
第3図ω)(イ)はG点に力Fを作用させ、光センサ手
段を下方向に移動させる途中を示し、スポットビームは
光センサ手段12に2点で当るので、受光のスペクトル
は(ロ)に示すごとく2本のスペクトルで表わされる。
第3図(C)は光セ/す手段12を更に下方に移動させ
て37点を1点で受光した場合であり、(ロ)に示すご
とく受光スペクトルは再び一本となる。このスペクトル
のy方向0泣置からの移動量yと光センサ手段の移動量
Xはこのような手順で測定される。
&にこのように測定されるパラメータX+yを用いてた
わみ量とヤング率を求めるプロ七スを説明する。
余弦定理を用いて全反射ミラー11.11’の変化角度
Δθ 、Δθ2は、X+ y+ t+θ0を用いて、と
表わさせる。
一方G点に力Fを作用させた場合の梁の角度を01、θ
2とすると、一般的々梁の式よりと表わされる。ここで
 ■は梁の断面2次モーメントで既知の値である。
従って、(4)式又は(5)式で計算されるΔθ1.Δ
θ2を(6)式又は(7)式のθ 、θ とすればF、
t、tl。
t2.は既知の値であるからヤング率Eは簡単に計算す
ることができる。
又たわみ量V txは。
で与えられるので、(6) 、 (7)式で計算された
ヤング率Eを用いてたわみ量Vl□も簡単に計算するこ
とが可能である。
(4)式7(8)式の計算は、電卓等で手計算すること
も出来るが、マイクロコンピュータを用いて、パラメー
タを入力して自動計算させることも容易である。
又、光学センサ手段の移動方法はマイクロメータ等の手
動操作の他、受光スペクトルの間隔が最小(一致)する
ようがサーボ系を構成して自動追従させ、追従量に基づ
いて移動量を自動的に求めるような構成も容易である。
第4図、第5図はスポットビームB、B’を得るための
変形実施例で、第4図はアパーチャー9をレンズ7の直
後に置いて1個でスポットビームを形成するようにした
もの。f45図はレンズ7に代えてセルフォックスレン
ズ(屈折率階段形ファイバ)を用い、ビームの中心部に
当る部分をスポットビームとして取出すようにして、ア
パーチャーを省いた例を示す。
く効果〉 以上説明したようK、本発明によれば梁の角度変化を計
算するパラメータを視差による影響を受けずに高精度で
測定することができ、ヤング率やたわみ量を高精度で計
算することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図り第3
図はその動作説明図、第4図、第5図は光源の他の実施
例を示す構成図、第6図、第7図は従来装置の一例を示
す構成図である。 1・・・梁、2,2′・・・支点、6・・・光源、7・
・・レンズ、8・・・半透過ミラー、9.9’・・・ア
パーチャー、10・・・全反射ミラー、11.11’・
・・全反射ミラー、12・・・光センサ手段、13・・
・表示手段、14・・・移動手段。 代理人   弁理士  小 沢 信 助第2図 L−一一一り一一一 第4図 第5図 第す図 第7図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 両端部が支点支持されその途中に荷重が印加される梁と
    、この梁の両端部に梁の水平面に対して同一角度をもっ
    て対向的に固定された一対のミラー手段と、これらミラ
    ーに対して上記梁と直角方向にスポットビームを供給す
    る光源と、上記夫々のミラーよりの反射ビームが直交す
    る位置を検出する光センサ手段とを具備した形状変化測
    定装置。
JP10225485A 1985-05-14 1985-05-14 形状変化測定装置 Pending JPS61259136A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10225485A JPS61259136A (ja) 1985-05-14 1985-05-14 形状変化測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10225485A JPS61259136A (ja) 1985-05-14 1985-05-14 形状変化測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61259136A true JPS61259136A (ja) 1986-11-17

Family

ID=14322456

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10225485A Pending JPS61259136A (ja) 1985-05-14 1985-05-14 形状変化測定装置

Country Status (1)

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JP (1) JPS61259136A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01167635A (ja) * 1987-11-27 1989-07-03 Carl Schenck Ag 試験機において試験片あるいは被検査体の変形を測定する方法とその装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01167635A (ja) * 1987-11-27 1989-07-03 Carl Schenck Ag 試験機において試験片あるいは被検査体の変形を測定する方法とその装置

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