JPH0545895B2 - - Google Patents
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- JPH0545895B2 JPH0545895B2 JP16026187A JP16026187A JPH0545895B2 JP H0545895 B2 JPH0545895 B2 JP H0545895B2 JP 16026187 A JP16026187 A JP 16026187A JP 16026187 A JP16026187 A JP 16026187A JP H0545895 B2 JPH0545895 B2 JP H0545895B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- angle
- waveguide
- prism
- deflection
- refractive index
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
概 要
本発明構成の測定装置にあつては、光源から出
射された平行光ビームが常に概略一定の位置から
プリズムに入射されるので、当該入射角を掃引し
て導波路の屈折率を測定する際に、プリズム及び
導波路基板を移動する必要がなくなる。また、本
発明の構成とすることにより、プリズムへの入射
角を直接測定することなしに、プリズムと導波路
のカツプリング臨界角を求めることが可能とな
る。
射された平行光ビームが常に概略一定の位置から
プリズムに入射されるので、当該入射角を掃引し
て導波路の屈折率を測定する際に、プリズム及び
導波路基板を移動する必要がなくなる。また、本
発明の構成とすることにより、プリズムへの入射
角を直接測定することなしに、プリズムと導波路
のカツプリング臨界角を求めることが可能とな
る。
産業上の利用分野
本発明は、導波路上に密着裁置されたプリズム
と該導波路とのカツプリング条件に基づき導波路
の屈折率を求める屈折率測定装置に関する。
と該導波路とのカツプリング条件に基づき導波路
の屈折率を求める屈折率測定装置に関する。
光通信の分野においては、送信機、受信機及び
伝送路以外に、光スイツチ及び光カプラ等の種々
の光デバイスが用いられている。光デバイスの形
態の１つとして、導波路型のものを挙げることが
できる。導波路型光デバイスは、例えば基板上に
それよりも屈折率の高い光導波路を設け、この光
導波路内に光ビームを閉込めた状態で制御するよ
うに構成されており、構造上小型化が容易で、プ
レーナ技術等を用いて量産することができるとい
う利点のほか、電界や磁界を効果的に印加するこ
とができ消費電力を飛躍的に軽減することが可能
であるという利点を有している。このような導波
路型光デバイスを製造するに際して、また研究す
るに際して、屈折率等の導波路パラメータを簡単
に精度良く求めることのできる測定装置が要望さ
れている。
伝送路以外に、光スイツチ及び光カプラ等の種々
の光デバイスが用いられている。光デバイスの形
態の１つとして、導波路型のものを挙げることが
できる。導波路型光デバイスは、例えば基板上に
それよりも屈折率の高い光導波路を設け、この光
導波路内に光ビームを閉込めた状態で制御するよ
うに構成されており、構造上小型化が容易で、プ
レーナ技術等を用いて量産することができるとい
う利点のほか、電界や磁界を効果的に印加するこ
とができ消費電力を飛躍的に軽減することが可能
であるという利点を有している。このような導波
路型光デバイスを製造するに際して、また研究す
るに際して、屈折率等の導波路パラメータを簡単
に精度良く求めることのできる測定装置が要望さ
れている。
従来の技術
第６図ａ，ｂは、平面導波路の屈折率測定装置
の主要部分の機能説明図である。導波路１の形成
された基板２は、移動台３上に載置固定されてお
り、この移動台３は、本体部分３ｂとこの本体部
分３ｂに対して移動可能な載置台３ａとからな
る。導波路１上には、三角プリズム等のプリズム
４が、境界面に空気層が介在しないように密着載
置されている。６は軸６ａの周りに回動自在に設
けられる反射鏡であり、この回動角は精度良く測
定することができるようになつている。
の主要部分の機能説明図である。導波路１の形成
された基板２は、移動台３上に載置固定されてお
り、この移動台３は、本体部分３ｂとこの本体部
分３ｂに対して移動可能な載置台３ａとからな
る。導波路１上には、三角プリズム等のプリズム
４が、境界面に空気層が介在しないように密着載
置されている。６は軸６ａの周りに回動自在に設
けられる反射鏡であり、この回動角は精度良く測
定することができるようになつている。
He−Neレーザ５から出射された平行光ビーム
は、反射鏡６で反射されてプリズム４の斜面に入
射される。このときの入射角θが比較的小さい場
合には、第６図ａに示されるように、光ビームは
プリズム４から導波路１内に導波される。また、
入射角θ′が比較的大きい場合には、第６図ｂに示
されるように、光ビームはプリズム４から導波路
１にカツプリングされずに、導波路１表面におい
て反射して外部に逃げるようになつている。
は、反射鏡６で反射されてプリズム４の斜面に入
射される。このときの入射角θが比較的小さい場
合には、第６図ａに示されるように、光ビームは
プリズム４から導波路１内に導波される。また、
入射角θ′が比較的大きい場合には、第６図ｂに示
されるように、光ビームはプリズム４から導波路
１にカツプリングされずに、導波路１表面におい
て反射して外部に逃げるようになつている。
これら２つの状況は、所定の入射角を境に劇的
に変化するものなので、この変化を導波路１の端
面から出射される光強度の測定により検知して当
該入射臨界角を求め、この角度に基づいて導波路
１の屈折率を求めるようにしていた。
に変化するものなので、この変化を導波路１の端
面から出射される光強度の測定により検知して当
該入射臨界角を求め、この角度に基づいて導波路
１の屈折率を求めるようにしていた。
発明が解決しようとする問題点
しかし、上述した屈折率測定装置であると、プ
リズム４への入射角を変化させようとすると、反
射鏡６の反射光ビームを常に同一の位置からプリ
ズム４に入射させるために、プリズム４及び導波
路１の位置を移動台３により調整する必要があ
り、煩雑な作業が要求されるという問題があつ
た。また、臨界入射角は実際には反射鏡６の回動
角の測定により求めていたので、反射鏡６の回動
機構には極めて高い機械的精度が要求されるとい
う問題もあつた。
リズム４への入射角を変化させようとすると、反
射鏡６の反射光ビームを常に同一の位置からプリ
ズム４に入射させるために、プリズム４及び導波
路１の位置を移動台３により調整する必要があ
り、煩雑な作業が要求されるという問題があつ
た。また、臨界入射角は実際には反射鏡６の回動
角の測定により求めていたので、反射鏡６の回動
機構には極めて高い機械的精度が要求されるとい
う問題もあつた。
本発明はこれらの問題点に鑑みて創作されたも
ので、その目的は、入射臨界角の測定に際してプ
リズム及び導波路を移動する必要がなく、且つ高
精度な反射鏡の不要な導波路の屈折率測定装置を
提供することにある。
ので、その目的は、入射臨界角の測定に際してプ
リズム及び導波路を移動する必要がなく、且つ高
精度な反射鏡の不要な導波路の屈折率測定装置を
提供することにある。
問題点を解決するための手段
上述した従来技術の問題点は、その基本構成が
第１図に示される導波路の屈折率測定装置により
解決される。
第１図に示される導波路の屈折率測定装置により
解決される。
１１は光源であり、平行光ビームを出射する。
１２は偏向手段であり、前記平行光ビームの方
向を同一平面内で変化させる。
向を同一平面内で変化させる。
１３は凹面鏡であり、偏向された平行光ビーム
を反射して偏向方向にかかわらず概略同一の位置
を通過させる。
を反射して偏向方向にかかわらず概略同一の位置
を通過させる。
１４は基板２上に形成された導波路１に密着載
置されたプリズムであり、凹面鏡１３で反射され
た平行光ビームが当該通過位置から入射され、こ
の入射光を導波路１内に導波する。
置されたプリズムであり、凹面鏡１３で反射され
た平行光ビームが当該通過位置から入射され、こ
の入射光を導波路１内に導波する。
１５は導波光強度検出手段であり、導波路１内
に導波された光の強度を検出する。
に導波された光の強度を検出する。
１６はプリズム入射角検知手段であり、検出さ
れた導波光強度に対応して、プリズム１４への入
射角を検知する。プリズム入射角検知手段１６
は、プリズム１４での反射光に基づきプリズム１
４への入射角が零になるときの第１の偏向角を求
め、該第１の偏向角を基準として、予め定められ
た屈折率の導波路について算出される臨界入射角
に対応する第２の偏向角を求め、上記第１の偏向
角を基準として、屈折率を求めるべき導波路につ
いてその臨界入射角に対応する第３の偏向角を求
め、上記算出される臨界入射角並びに上記第２及
び第３の偏向角に基づいて上記屈折率を求めるべ
き導波路についての臨界入射角を求める。
れた導波光強度に対応して、プリズム１４への入
射角を検知する。プリズム入射角検知手段１６
は、プリズム１４での反射光に基づきプリズム１
４への入射角が零になるときの第１の偏向角を求
め、該第１の偏向角を基準として、予め定められ
た屈折率の導波路について算出される臨界入射角
に対応する第２の偏向角を求め、上記第１の偏向
角を基準として、屈折率を求めるべき導波路につ
いてその臨界入射角に対応する第３の偏向角を求
め、上記算出される臨界入射角並びに上記第２及
び第３の偏向角に基づいて上記屈折率を求めるべ
き導波路についての臨界入射角を求める。
作 用
本発明の測定装置にあつては、凹面鏡１３を用
いて、その反射光ビームが偏向手段１２の偏向方
向にかかわらず常に通過するような位置を生じさ
せているので、この位置から反射光が入射される
ようにプリズム１４の位置を設定することによ
り、プリズム１４の位置調整が不要となる。
いて、その反射光ビームが偏向手段１２の偏向方
向にかかわらず常に通過するような位置を生じさ
せているので、この位置から反射光が入射される
ようにプリズム１４の位置を設定することによ
り、プリズム１４の位置調整が不要となる。
また、予め定められた屈折率の導波路及び屈折
率を測定すべき導波路についての臨界入射角の違
いに基づいて導波路の屈折率を求めることができ
るので、入射角を直接測定するための精度の高い
従来の反射鏡が不要となる。
率を測定すべき導波路についての臨界入射角の違
いに基づいて導波路の屈折率を求めることができ
るので、入射角を直接測定するための精度の高い
従来の反射鏡が不要となる。
次に導波路１の屈折率の測定原理を第２図及び
第３図を用いて説明する。いま、平行光ビーム１
０１が屈折率n′＝１の空気中から屈折率npのプリ
ズム１４に入射されているとし、このときの入射
角をθ1、屈折率をθ2とする。さらに、この光ビー
ムがプリズム１４から屈折率ｎの導波路１内に導
波されているとし、このときの入射角をθ3、屈折
角をθ4とする。各境界面にスネルの法則を適用す
ると、 n′sinθ1＝npsinθ2 …(1) npsinθ3＝nsinθ4 …(2) プリズム１４と導波路１のマツチングにおける
臨界条件は、θ4＝90゜であるので、(2)式から、 ｎ＝npsinθ3 …(3) が得られる。
第３図を用いて説明する。いま、平行光ビーム１
０１が屈折率n′＝１の空気中から屈折率npのプリ
ズム１４に入射されているとし、このときの入射
角をθ1、屈折率をθ2とする。さらに、この光ビー
ムがプリズム１４から屈折率ｎの導波路１内に導
波されているとし、このときの入射角をθ3、屈折
角をθ4とする。各境界面にスネルの法則を適用す
ると、 n′sinθ1＝npsinθ2 …(1) npsinθ3＝nsinθ4 …(2) プリズム１４と導波路１のマツチングにおける
臨界条件は、θ4＝90゜であるので、(2)式から、 ｎ＝npsinθ3 …(3) が得られる。
尚、θ4＝90゜のときのθ1が臨界入射角である。
一方プリズム１４の導波路１に接する頂角をα
とすると、三角形の内角の和が180゜であることか
ら、 α＋（90゜−θ3）＋θ2＋90゜＝180゜ となり、 θ3＝θ2＋α …(4) が得られ、(1)，(3)，(4)式及びn′＝１から、 ｎ＝npsin（θ2＋α） …(5) θ2＝sin-1（sinθ1／np） …(6) となる。
とすると、三角形の内角の和が180゜であることか
ら、 α＋（90゜−θ3）＋θ2＋90゜＝180゜ となり、 θ3＝θ2＋α …(4) が得られ、(1)，(3)，(4)式及びn′＝１から、 ｎ＝npsin（θ2＋α） …(5) θ2＝sin-1（sinθ1／np） …(6) となる。
一般に、導波路１に導波される導波光の強度
は、プリズム１４への入射角θに応じて、例えば
第３図に示されるように変化する。臨界入射角θc
よりも僅かに小さな入射角では、光出力は急激に
減少し、θcを超える入射角では光出力は０とな
る。臨界入射角θcが明らかとなれば、(5)，(6)式か
ら導波路１の屈折率が求まる。本発明では、入射
角が零になるときの第１の偏向角と、予め定めら
れた屈折率の導波路についての臨界入射角(5)，(6)
式により算出可）を与える第２の偏向角と、屈折
率を測定すべき導波路についての臨界入射角を与
える第３の偏向角とをこの順に求めている。ここ
で、第１の偏向角は導波路の屈折率にかかわらず
一定であるので、例えば、第２の偏向角と第３の
偏向角の比と上述の予め定められた屈折率の導波
路の臨界入射角とから被測定導波路の臨界入射角
が求まり、これによりその屈折率が求まるのであ
る。
は、プリズム１４への入射角θに応じて、例えば
第３図に示されるように変化する。臨界入射角θc
よりも僅かに小さな入射角では、光出力は急激に
減少し、θcを超える入射角では光出力は０とな
る。臨界入射角θcが明らかとなれば、(5)，(6)式か
ら導波路１の屈折率が求まる。本発明では、入射
角が零になるときの第１の偏向角と、予め定めら
れた屈折率の導波路についての臨界入射角(5)，(6)
式により算出可）を与える第２の偏向角と、屈折
率を測定すべき導波路についての臨界入射角を与
える第３の偏向角とをこの順に求めている。ここ
で、第１の偏向角は導波路の屈折率にかかわらず
一定であるので、例えば、第２の偏向角と第３の
偏向角の比と上述の予め定められた屈折率の導波
路の臨界入射角とから被測定導波路の臨界入射角
が求まり、これによりその屈折率が求まるのであ
る。
実施例
以下本発明の望ましい実施例を図面に基づいて
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第４図は本発明を適用して構成される屈折率測
定装置の構成図であり、この測定装置は実質的に
はプリズムへの入射角と導波光強度の関係を測定
するものである。光源としてのHe−Neレーザ２
１から出射された平行光ビームは、ハーフミラー
２２を透過して、音叉２３の振動部分に設けられ
た反射鏡２４で反射されて、凹面鏡２５に入射さ
れる。音叉２３には一定振動数（例えば50〜1000
Hz）及び一定振巾で振動するように、交流電源に
接続された図示しない電磁石等の振動継続手段が
講じられており、これにより反射鏡２４による反
射光を定常的に偏向することができる。
定装置の構成図であり、この測定装置は実質的に
はプリズムへの入射角と導波光強度の関係を測定
するものである。光源としてのHe−Neレーザ２
１から出射された平行光ビームは、ハーフミラー
２２を透過して、音叉２３の振動部分に設けられ
た反射鏡２４で反射されて、凹面鏡２５に入射さ
れる。音叉２３には一定振動数（例えば50〜1000
Hz）及び一定振巾で振動するように、交流電源に
接続された図示しない電磁石等の振動継続手段が
講じられており、これにより反射鏡２４による反
射光を定常的に偏向することができる。
凹面鏡２５の反射面は、この反射面で反射した
平行光ビームが反射方向によらず常に略定点を通
過するように、その曲率が設定されている。例え
ば、該定点と反射鏡２４の反射位置とを焦点とす
る楕円形状となるように、その断面形状を設定し
ておくことで、この定点の変動がなくなる。
平行光ビームが反射方向によらず常に略定点を通
過するように、その曲率が設定されている。例え
ば、該定点と反射鏡２４の反射位置とを焦点とす
る楕円形状となるように、その断面形状を設定し
ておくことで、この定点の変動がなくなる。
２６は例えば頂角が45゜の直角三角プリズムで
あり、導波路１上に密着載置されている。そして
プリズム２６の配設位置は、平行光ビームの入射
位置が前記定点となるように設定されている。
あり、導波路１上に密着載置されている。そして
プリズム２６の配設位置は、平行光ビームの入射
位置が前記定点となるように設定されている。
２７は例えばフオトダイオード等を用いて構成
される導波光強度検出器であり、導波路１の端面
から出射された光の強度を検出する。この検出器
２７の出力電気信号はオシロスコープ２８に入力
されている。
される導波光強度検出器であり、導波路１の端面
から出射された光の強度を検出する。この検出器
２７の出力電気信号はオシロスコープ２８に入力
されている。
この実施例では、検出器２７の出力電気信号は
オシロスコープ２８のＹ軸（縦軸）に入力され、
オシロスコープ２８のＸ軸（横軸）には反射鏡２
４の角度変位情報が入力される。反射鏡２４の角
度変位情報は例えば前述の電磁石等の振動継続手
段から得ることができる。
オシロスコープ２８のＹ軸（縦軸）に入力され、
オシロスコープ２８のＸ軸（横軸）には反射鏡２
４の角度変位情報が入力される。反射鏡２４の角
度変位情報は例えば前述の電磁石等の振動継続手
段から得ることができる。
３０は導波光強度検出器２７同様にフオトダイ
オード等を用いて構成される反射光検出器であ
り、ハーフミラー２２で反射した光を遮蔽板２９
に形成されたピンホール２９ａを介して検出す
る。プリズム２６の入射角（第２図におけるθ1に
準ずる）が0゜でないときには、プリズム２６での
反射光は反射光検出器３０に到達しないが、同入
射角が0゜のときには、この反射光は順方向の光路
を逆行してハーフミラー２２を介して反射光検出
器３０により検出される。従つて、反射光検出器
３０の電気出力をオシロスコープ２８に接続して
おき、掃引の際のトリガーとして用いることによ
り、プリズム２６への入射角の絶対的な基準（θ1
＝０）を設定することが可能となる。なお、反射
光をピンホール２９ａを介して反射光検出器３０
に入射させているのは、当該基準入射角の測定精
度を高めるためである。
オード等を用いて構成される反射光検出器であ
り、ハーフミラー２２で反射した光を遮蔽板２９
に形成されたピンホール２９ａを介して検出す
る。プリズム２６の入射角（第２図におけるθ1に
準ずる）が0゜でないときには、プリズム２６での
反射光は反射光検出器３０に到達しないが、同入
射角が0゜のときには、この反射光は順方向の光路
を逆行してハーフミラー２２を介して反射光検出
器３０により検出される。従つて、反射光検出器
３０の電気出力をオシロスコープ２８に接続して
おき、掃引の際のトリガーとして用いることによ
り、プリズム２６への入射角の絶対的な基準（θ1
＝０）を設定することが可能となる。なお、反射
光をピンホール２９ａを介して反射光検出器３０
に入射させているのは、当該基準入射角の測定精
度を高めるためである。
オシロスコープ２８の画面上で基準入射角につ
いての設定を終了したならば、屈折率が未知の導
波路についての臨界入射角（第３図におけるθ1）
を求めるのに先立ち、既知の（従つてθcも既知）
の導波路について導波光強度から臨界入射角とな
るような入射角の値をオシロスコープ２８の画面
上から読んでおく。これにより、相対的に屈折率
が未知の導波路について臨界入射角が求まり、こ
の値に応じて屈折率が求まるものである。
いての設定を終了したならば、屈折率が未知の導
波路についての臨界入射角（第３図におけるθ1）
を求めるのに先立ち、既知の（従つてθcも既知）
の導波路について導波光強度から臨界入射角とな
るような入射角の値をオシロスコープ２８の画面
上から読んでおく。これにより、相対的に屈折率
が未知の導波路について臨界入射角が求まり、こ
の値に応じて屈折率が求まるものである。
このように凹面鏡２５を用いているので、測定
に際してプリズム２６及び導波路１を移動する必
要がなくなり、プリズム２６への入射角を直接測
定する必要がないので、測定精度を高めるために
例えば反射鏡の機械的精度を高める必要がなくな
る。この実施例では導波路の屈折率を±３／
10000以下で測定することができた。
に際してプリズム２６及び導波路１を移動する必
要がなくなり、プリズム２６への入射角を直接測
定する必要がないので、測定精度を高めるために
例えば反射鏡の機械的精度を高める必要がなくな
る。この実施例では導波路の屈折率を±３／
10000以下で測定することができた。
第５図は偏向手段の他の例を説明するためのも
のである。第５図ａにおいて反射鏡３４は、トー
シヨンバー３２，３２を介して固定フレームに固
定されており、回動振動可能である。反射鏡３４
に照射された光ビームは、この反射鏡３４表面で
偏向される。このような構成によれば、第４図の
実施例における音叉２３と比較して、偏向角を大
きくとることができる。また、第５図ｂに示され
る実施例では、偏向手段として例えばLiNbO3等
の複屈折性光学結晶からなる複屈折性プリズム３
６を用い、これに印加する電圧をコントロールす
ることで入射光の偏向角を制御するようにしてい
る。このように電気的に偏向角を制御することに
より、機械的振動部分が完全に排除され、高精度
な測定が可能となる。第５図に図示された例のほ
かに、偏向手段としては、回転反射鏡、回転プリ
ズム、音響光学効果を有する光学結晶等を用いる
ことができる。
のである。第５図ａにおいて反射鏡３４は、トー
シヨンバー３２，３２を介して固定フレームに固
定されており、回動振動可能である。反射鏡３４
に照射された光ビームは、この反射鏡３４表面で
偏向される。このような構成によれば、第４図の
実施例における音叉２３と比較して、偏向角を大
きくとることができる。また、第５図ｂに示され
る実施例では、偏向手段として例えばLiNbO3等
の複屈折性光学結晶からなる複屈折性プリズム３
６を用い、これに印加する電圧をコントロールす
ることで入射光の偏向角を制御するようにしてい
る。このように電気的に偏向角を制御することに
より、機械的振動部分が完全に排除され、高精度
な測定が可能となる。第５図に図示された例のほ
かに、偏向手段としては、回転反射鏡、回転プリ
ズム、音響光学効果を有する光学結晶等を用いる
ことができる。
発明の効果
以上詳述したように、本発明によれば、偏向手
段により偏向された光ビームを凹面鏡を用いてほ
ぼ同一の位置からプリズムに入射させるように装
置を構成しているので、測定に際してプリズム及
び導波路を移動させる必要がなくなり、作業が簡
略化されるという効果を奏する。
段により偏向された光ビームを凹面鏡を用いてほ
ぼ同一の位置からプリズムに入射させるように装
置を構成しているので、測定に際してプリズム及
び導波路を移動させる必要がなくなり、作業が簡
略化されるという効果を奏する。
また、検出された導波光強度に対応してプリズ
ムへの入射角を検知するようにしているので、該
入射角を直接測定する必要がなくなり、入射角測
定のために精度の高い反射鏡を用いる必要がなく
なるという効果もある。
ムへの入射角を検知するようにしているので、該
入射角を直接測定する必要がなくなり、入射角測
定のために精度の高い反射鏡を用いる必要がなく
なるという効果もある。
第１図は本発明の原理図であつて、装置の基本
構成図、第２図は本発明の原理図であつて、光路
の説明図、第３図は本発明の原理図であつて、臨
界角の説明図、第４図は本発明の望ましい実施例
を示す屈折率測定装置の構成図、第５図は本発明
の他の望ましい実施例を示す偏向手段の構成図、
第６図は従来の屈折率測定装置の構成及び動作説
明図である。 １…導波路、２…基板、４，１４，２６…プリ
ズム、１１…光源、１３，２５…凹面鏡。
構成図、第２図は本発明の原理図であつて、光路
の説明図、第３図は本発明の原理図であつて、臨
界角の説明図、第４図は本発明の望ましい実施例
を示す屈折率測定装置の構成図、第５図は本発明
の他の望ましい実施例を示す偏向手段の構成図、
第６図は従来の屈折率測定装置の構成及び動作説
明図である。 １…導波路、２…基板、４，１４，２６…プリ
ズム、１１…光源、１３，２５…凹面鏡。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 平行光ビームを出射する光源１１と、 該平行光ビームの方向を同一平面内で変化させ
る偏向手段１２と、 偏向された平行光ビームを反射して偏向方向に
かかわらず概略同一の位置を通過させるための凹
面鏡１３と、 該凹面鏡１３で反射された平行光ビームが上記
概略同一の位置から入射され、この入射光を導波
路１内に導波するプリズム１４と、 該導波路１内に導波された光の強度を検出する
導波光強度検出手段１５と、 検出された導波光強度に対応してプリズム１４
への入射角を検知するプリズム入射角検知手段１
６とを備え、 該プリズム入射角検知手段１６は、 上記プリズム１４での反射光に基づき該プリズ
ム１４への入射角が零になるときの第１の偏向角
を求め、 該第１の偏向角を基準として、予め定められた
屈折率の導波路について算出される臨界入射角に
対応する第２の偏向角を求め、 上記第１の偏向角を基準として、屈折率を求め
るべき導波路についてその臨界入射角に対応する
第３の偏向角を求め、 上記算出される臨界入射角並びに上記第２及び
第３の偏向角に基づいて上記屈折率を求めるべき
導波路についての臨界入射角を求めることを特徴
とする導波路の屈折率測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16026187A JPS643536A (en) | 1987-06-26 | 1987-06-26 | Instrument for measuring refractive index of waveguide |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16026187A JPS643536A (en) | 1987-06-26 | 1987-06-26 | Instrument for measuring refractive index of waveguide |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS643536A JPS643536A (en) | 1989-01-09 |
| JPH0545895B2 true JPH0545895B2 (ja) | 1993-07-12 |
Family
ID=15711180
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16026187A Granted JPS643536A (en) | 1987-06-26 | 1987-06-26 | Instrument for measuring refractive index of waveguide |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS643536A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1994026601A1 (fr) * | 1993-05-17 | 1994-11-24 | Yoshino Kogyosho Co., Ltd. | Bouteille en resine synthetique pourvue d'une poignee et procede de production |
| WO1999028200A1 (en) * | 1997-11-28 | 1999-06-10 | Mitsubishi Plastics, Inc. | Handle for plastic bottles and handle-carrying plastic bottle |
-
1987
- 1987-06-26 JP JP16026187A patent/JPS643536A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS643536A (en) | 1989-01-09 |
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