JPS60142204A - 物体の寸法計測方法 - Google Patents

物体の寸法計測方法

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Publication number
JPS60142204A
JPS60142204A JP25165283A JP25165283A JPS60142204A JP S60142204 A JPS60142204 A JP S60142204A JP 25165283 A JP25165283 A JP 25165283A JP 25165283 A JP25165283 A JP 25165283A JP S60142204 A JPS60142204 A JP S60142204A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measured
parallel
optical sensor
optical sensors
parallel rays
Prior art date
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Pending
Application number
JP25165283A
Other languages
English (en)
Inventor
Reiji Nakagawa
中川 令二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Honda Motor Co Ltd
Original Assignee
Honda Motor Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Honda Motor Co Ltd filed Critical Honda Motor Co Ltd
Priority to JP25165283A priority Critical patent/JPS60142204A/ja
Publication of JPS60142204A publication Critical patent/JPS60142204A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/08Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は光センサ−を用いることで、物体に非接触の状
態で当該物体の寸法を計測する方法に関する。
従来から、光学的に物体の寸法をWl1定する方法が各
種提案されている。この1つとして、照明装置から平行
光線を被測定物に向けて照射し、被Alll定物のAi
d定端部を通過した平行光線を光センサ−で検出し、こ
の検出値に基づいて=J法を算出する方法がある。そし
て、この方法による場合には高精度のAlll定を行え
る範囲が狭く、大きな物体から小さな物体まで精度よく
その寸法を測定することができない。例えば大きな司法
を精度よ< xlll ’>i.:するには第1図に示
すように、2台の光センサ−(1) −、、 (1)を
並列に配置し、寸法の大きな被Jlll定物(2)ノ測
定端(2a)、(2b)に向け,照明装置(3)から平
行光線(a) 、 (4)を照射し、11行光線(4)
 、 (4)のうち被測定物(2)によって遮られなか
った平行光線(4a)、(4a)を光センサ−(】)、
(1)で受光し、これら光センサ−(1) 、 (1)
の111lI定植に基づいて被測定物(2)の寸法(外
径)を計測することが考えられる。しかしながら、この
方法による場合には光センサ−(1) 、 (1)間の
幅、其体的には光センサ−(1) 、 (1)の受光部
(1a)、(1,a)間隔よりも小さな被測定物の寸法
は計測することができない。
本発明は上述した従来の問題点を改善すべく成したもの
であり、その目的とする処は、測定する=1法の大小に
かかわらず、簡易目、つ高精度に当該IJ法をN11l
定し得る計測方法を提供するにある。
この目的を達成すべく本発明は、一対の光センサーをも
って一、J法をAl1定することを前提にし、小さなJ
法の被測定物については照明装置からの平行光線をミラ
ー或いはプリズム等の反射体を介して該光センサーに入
光せしめるようにしたことをその概要とする。
以下に本発明の実施例を第2ド乃至第4図に基づいて説
明する。
第2図は未発り1方法の実施に用いる計測装置の概略図
であり、従来と同一の部材については同一の番吟を伺し
ている。
2台の光センサ−(1) 、 (1)は受光部(la)
、(1a)がともに光源を内臓した照明装置(3)方向
を向くように並列して配置されている。そして、各光セ
ンサ−U) 、 (1)と被測定物(2)の間にはそれ
ぞれ一対の反射鏡(5) 、 (6)が配置される。こ
れら反射鏡(5) 、 (13)は回転可能とされ、且
つ所定の回転角度位置において固定される。固定する位
置としては例えば平行光線(4)に対し45°とする。
このような角度で反射鏡(5) 、 (8)を固定する
と、照明装置(3)から被測定物(2)に向けて照射さ
れた平行光線(0のうち、被測定物(2)によって遮ら
れなかった平行光線、つまり被測定部(2)の測定端部
(2a)、(2b)の部分を通過した平行光線(4a)
、(4a)は、反射鏡(5)によって90°その向きを
変え平行光線(4b)として反射鏡(6)に向う。そし
て平行光線(4b)は反射鏡(6)にて90’その向き
を変え、前記平行光線(4a)と平行な平行光線(4c
)として光センサ−(1)の受光部(1a)に入射する
すると、光センサ−(1)は」二記平行光線(4c)の
入射を測定信号として第4図に示す如く演算処理装置(
7)に出力するにの演算処理装置(7)には予め平行光
線(4)の幅(旧)或いは反射鏡(5)、(6)間のピ
ッチ(Ll)#を人力しておく。
以上において、例えば平行光線(4C)の幅(W2)を
光センサ−(1)の測定値として演算処理装置(7)に
入力すれば被測定物(2)の寸法(X)はX=W+−2
W2 テ得られ、また平行光線(4c)、(4c)の間
隔(L2)を光センサ−(1)の測定値として演算処理
装置(7)に入力すれば、被測定物(2)のマJ法(X
)はX= L2−2Llで得られる。そして、得られた
被測定物(2)の実=J法はディスプレイ装置(8)に
表示される。
第3図は別実施例を示すものであり、この実施例にあっ
ては、光センサ−(]) 、 (1)の受光部(la)
、(la)を照明装置(3)に向けず、照明装置(3)
からの平行光線(4)と直交する方向に向けて並設して
いる。また、nII記実施例の一対の反射鏡(5) 、
 (fi)に代え、1つの反射鏡(9)を配置している
。このように構成しても前記実施例と同様に小さな被測
定物のす法を精度良く測定することができる。
尚、以上は本発明の実施例の一例を示したものであり、
本発明は]−記に限定されない。例えば第2図の実施例
において、反射鏡(5) 、 (5)はILいに接離す
る方向に移動可能としてもよい。
このようにすれば、更に小さな寸法の被Jll定物、或
いは大きな1法の被測定物の計測がn(能となる。
また、反射体としては反射鏡を用いたが、プリズム等任
意のものを用いることができる。
以上に説明したように本発明によれば、光センサーを用
いた寸法計測方法において、該光センサーを一対用意し
、大きな寸法を測定し得るようにし、しかも、各光セン
サーと被測定物の間に反射鏡等を配置するようにしたの
で、小さな寸法の被測定物をも容易且つ精度良く計測す
ることができ、更に、光センサーによる測定値を演算処
理装置に入力するようにしたので、自動的に寸法を知る
ことができる等多くの効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
第1図は光センサーを用いた従来の計測方法に用いる装
置の概略図、fff、2図は本発明方法の実施に用いる
装置の概略図、第3図は別実施例を示す第2図と同様の
概略図、第4図は#l arnの制御プロンク図である
。 尚、図面中(1)は光センサー、(2)は被測定物、(
3)は照明装置、(4) 、 (4a)、(4b)、(
4C)は911行光線、(5) 、 (8) 、 (9
)は反射体である。 4、r、iM 出 願 人 木IIi技研「業株式会ン
!代理人 弁理士 ド [11容一部 間 4r理十大橋 邦彦 同 弁理士小111 右 第1図 第2図 ] 第“3図 7 第4図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)並列に配置された一対の光センサーと照明装置と
    の間に被ΔIII定物をセットし、前記照明装置から被
    測定物に向って平行光線を照射し、この平行光線のうち
    被測定物によって遮られなかった平行光線の向きをミラ
    ー或いはプリズム等の反射体により変えて前記各光セン
    サーに入光せしめ、各光センサーの1!lll定仙を信
    号として演算処理装置に入力し、この演算処理装置にお
    いて前記測定値及び既に入力されている他の情報に基づ
    いて被測定物の実際のマノ法を算出するようにしたこと
    を特徴とする物体のズ1法測定方法。
  2. (2) tiii記ミラー或いはプリズム等の反射体は
    移動可能とされていることを特徴とする請求範囲第1項
    記載の物体の寸法計測方法ウ
JP25165283A 1983-12-28 1983-12-28 物体の寸法計測方法 Pending JPS60142204A (ja)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0214954A2 (de) * 1985-09-11 1987-03-18 RSF-Elektronik Gesellschaft m.b.H. Messvorrichtung zur berührungslosen Bestimmung von Massen nach dem Schattenbildverfahren
EP0215656A2 (en) * 1985-09-13 1987-03-25 Tesa Metrology Limited Optical measurement apparatus
WO1996005478A1 (en) * 1994-08-08 1996-02-22 General Inspection, Inc. An inspection device for measuring a geometric dimension of a part
US7633635B2 (en) 2006-08-07 2009-12-15 GII Acquisitions, LLC Method and system for automatically identifying non-labeled, manufactured parts
CN102169221A (zh) * 2010-11-27 2011-08-31 合肥市百胜科技发展股份有限公司 一种反光镜
CN106969717A (zh) * 2016-12-29 2017-07-21 北方民族大学 对称光桥式自稳激光测径系统及其标定方法、测量方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5245352A (en) * 1975-10-07 1977-04-09 Canon Inc Scanning device

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5245352A (en) * 1975-10-07 1977-04-09 Canon Inc Scanning device

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0214954A2 (de) * 1985-09-11 1987-03-18 RSF-Elektronik Gesellschaft m.b.H. Messvorrichtung zur berührungslosen Bestimmung von Massen nach dem Schattenbildverfahren
EP0215656A2 (en) * 1985-09-13 1987-03-25 Tesa Metrology Limited Optical measurement apparatus
WO1996005478A1 (en) * 1994-08-08 1996-02-22 General Inspection, Inc. An inspection device for measuring a geometric dimension of a part
US5608530A (en) * 1994-08-08 1997-03-04 General Inspection, Inc. Inspection device for measuring a geometric dimension of a part
US7633635B2 (en) 2006-08-07 2009-12-15 GII Acquisitions, LLC Method and system for automatically identifying non-labeled, manufactured parts
CN102169221A (zh) * 2010-11-27 2011-08-31 合肥市百胜科技发展股份有限公司 一种反光镜
CN106969717A (zh) * 2016-12-29 2017-07-21 北方民族大学 对称光桥式自稳激光测径系统及其标定方法、测量方法
CN106969717B (zh) * 2016-12-29 2022-12-20 北方民族大学 对称光桥式自稳激光测径系统的标定方法、测量方法

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