JPH0814482B2 - 物品の仮想基準線からのエツジ位置の測定方法 - Google Patents

物品の仮想基準線からのエツジ位置の測定方法

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JPH0814482B2
JPH0814482B2 JP8003988A JP8003988A JPH0814482B2 JP H0814482 B2 JPH0814482 B2 JP H0814482B2 JP 8003988 A JP8003988 A JP 8003988A JP 8003988 A JP8003988 A JP 8003988A JP H0814482 B2 JPH0814482 B2 JP H0814482B2
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雅春 石川
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Sumitomo Riko Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、物品の基準となる2点を結ぶ仮想基準線か
らの当該物品のエツジの位置を精密に測定する方法に関
する。
〔従来の技術〕
物品のエツジの位置(高さ)を精密に測定する場合、
基準となる位置がその物品の底辺など既に形成されてい
る直線部であれば簡単であるが、このような基準となる
直線部が存在しない場合はその測定は極めて複雑にな
る。
例えば、ゼログラフイ等の乾式複写機で感光ドラムに
付いたトナーを清掃するために用いるクリーニングブレ
ードは、金属の支持板に透明な樹脂板を取付けたもので
あり、この透明樹脂板のエツジ(長い稜線)は支持板の
両端のほぼ中央部に形成した2つの支持板取付け穴を結
ぶ仮想基準線から所定の距離範囲内にあるべきことが厳
格に定められている。
このクリーニングブレードのエツジの位置は、支持板
の底辺からではなく、上記の仮想基準線からの位置とし
て測定しなければならない。その為従来は、仮想基準線
が水平になるようにクリーニングブレードを固定し、目
盛の付いた光学系を内蔵する所謂三次元測定機を用い、
その基準目盛を固定したクリーニングブレードの仮想基
準線から一定の高さに定め、クリーニングブレードのエ
ツジを光学系を通して目視しながらその位置を目盛から
読み取つていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記した従来の測定法では、1個所のエツジの測定で
あつても、人手に頼らなければならず、極めて煩雑で非
能率的であつた。しかも、クリーニングブレードのよう
に長い稜線に沿つて数十個所で測定を行なう必要がある
場合には、更に煩雑且つ非能率で、生産性向上の大きな
ネツクになつていた。
本発明はかかる従来の事情に鑑み、クリーニングブレ
ードのエツジの位置の測定のように、物品の基準となる
2点を結ぶ仮想基準線からのエツジの位置を簡単にしか
も能率的に測定する方法を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するため、本発明においては、物品の
基準となる2点を結ぶ仮想基準線を定められた位置に合
せて該物品を保持し、該物品の測定すべきエツジに光を
照射し、その透過光又は反射光を物品の仮想基準線に直
交して配列された複数の素子をもつイメージセンサーで
受光し、各素子の受光量に比例したイメージセンサーの
出力信号を得、この出力信号と予めエツジの位置の異な
る2以上のマスターゲージについて上記と同様の操作で
得られた出力信号とに基ずいて仮想基準線からのエツジ
の位置を求めることを特徴とする、物品の仮想基準線か
らのエツジ位置の測定方法を提供するものである。
クリーニングブレードのようにエツジが仮想基準線と
ほぼ同じ方向に延びた長い稜線である場合、稜線の長さ
方向の所定個所について上記の方法に従つてその個所で
の位置を求め、物品と光源及びイメージセンサーとを相
対的に物品の仮想基準線と平行な方向に移動させながら
稜線の長さ方向の複数個所で上記操作を繰返すことがで
きる。
〔実施例〕
第1図に示すように、クリーニングブレード1を複写
機に取付けるため支持板の両端ほぼ中央に形成した取付
け穴2を水平移動できるクランプ装置で把持し、2つの
取付け穴2を結ぶ仮想基準線が水平になるようにクリー
ニングブレード1を保持する。保持されたクリーニング
ブレード1の稜線3の一個所に光源4から平行光線を照
射し、その透過光を光源4と反対側に対向して配置した
イメージセンサー5で受光する。イメージセンサー5は
受光量を電気量に変換する素子4096個をクリーニングブ
レード1の仮想基準線に直交して(即ち鉛直に)一列に
配列してあり、約4倍の拡大倍率の光学系6が受光側に
取付けてある。このイメージセンサー5の各素子からは
夫々の受光量に比例する電圧信号が出力される。
第2図に示すように、クリーニングブレード1の稜線
3を通つてイメージセンサー5に入射する光(点線で図
示した範囲)は、クリーニングブレード1が透明でも稜
線3の部分で細い影を作り、第3図に示すようにイメー
ジセンサー5のビデオ信号にこの影に対応する谷9の部
分が現われる。詳しくは、第2図でイメージセンサー5
に入射する光のうち最も下側の素子(0ビツト)から稜
線3までの長さhと、稜線3から最も上側の素子(4096
ビツト)までの長さlは、第3図のビデオ信号では影に
対応する谷9の部分を挾んで素子の数、即ちビツト数
h′及びl′として現われ、ビデオ信号の谷9が現われ
たビツトの番号(ビツトデータ)nがクリーニングブレ
ード1の稜線3の位置に対応する。
このイメージセンサー5のビデオ信号をコントローラ
7でスライス処理して通常のon-off信号に整形した後、
on-off信号の変化から稜線3に対応するビツトの番号
(ビツトデータ)を求め、これをパソコン8等の演算部
で予め設定してある基準データと比較し演算することに
よつて、クリーニングブレード1の仮想基準線からの稜
線3の一個所での位置を求めることができる。
このようにしてクリーニングブレード1を光源4及び
イメージセンサー5に対して仮想基準線と平行な方向に
移動させながら、稜線3の全長に亘つて約50個所で測定
を繰返せば、稜線全長のレベルを求めることができる。
次に、予め設定した基準値と比較することにより、ク
リーニングブレード1の仮想基準線からの稜線3の位置
を求める方法を具体的に説明する。
クリーニングブレード1とほぼ同じ形状の2個のマス
ターゲージを用意し、望ましくは片方のマスターゲージ
はゲージ稜線をクリーニングブレード1の仮想基準線と
稜線3との許容下限距離Yminよりやゝ小さい距離に作成
し、他方はゲージ稜線をクリーニングブレード1の仮想
基準線と稜線3との許容上限距離Ymaxよりやゝ大きい距
離に作成する。この2個のマスターゲージを順次クラン
プ装置に保持し、三次元測定器でゲージの下側稜線位置
Ylowと上側稜線位置Yupを求め、その後イメージセンサ
ーを用いて実施例と同様にゲージ稜線の位置を測定す
る。その結果、第4図に示すようにゲージの下側稜線の
位置Ylow及び上側稜線の位置Yupに対応するイメージセ
ンサー5のビツトデータXlow及びXupが得られ、第4図
のグラフのような一定勾配の直線が求められる。この第
4図のグラフに基ずいて下記式により、与えられた任意
のビツトデータXnから求める稜線の位置Ynが算出でき
る: Yn=(Yup−Ylow)(Xn−Xlow)/(Xup−Xlow)+Y
low そこで、実際に測定すべきクリーニングブレード1をク
ランプ装置に保持して同様に操作し、イメージセンサー
5からビツトデータXが得られ、パソコン8等で第4図
に基ずく上記式での演算により稜線3の位置Yを求める
ことができる。このYの値がパソコン8等の比較部に入
力してある許容限度Ymin及びYmaxの間にあれば合格と判
定される。
尚、稜線3の測定すべき位置は第1図の場合に限ら
ず、側面方向での仮想基準線からの位置を測定すること
もでき、その場合は稜線3に対して光源4とイメージセ
ンサー5を同じ側に配置して、稜線3での反射光をイメ
ージセンサー5で受光する方法が好ましい。
〔発明の効果〕
本発明によれば、クリーニングブレードのエツジの位
置の測定のように、測定の基準となる基準線が物品の2
点を結ぶ仮想基準線であつても、イメージセンサーを用
いることによりエツジの位置を簡単にしかも能率的に測
定できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法によるクリーニングブレードの稜線
測定を説明するための概略の説明図であり、第2図はイ
メージセンサーに入射する光が稜線に照射されている状
態の説明図であり、第3図はイメージセンサーのビデオ
信号の図であり、第4図はビツトデータから稜線の位置
を判定する演算に用いるグラフである。 1……クリーニングブレード、2……取付け穴、3……
稜線、4……光源、5……イメージセンサー、6……光
学系、7……コントローラ、8……パソコン

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】物品の基準となる2点を結ぶ仮想基準線を
    定められた位置に合せて該物品を保持し、該物品の測定
    すべきエツジに光を照射し、その透過光又は反射光を物
    品の仮想基準線に直交して配列された複数の素子をもつ
    イメージセンサーで受光し、各素子の受光量に比例した
    イメージセンサーの出力信号を得、この出力信号と予め
    エツジの位置の異なる2以上のマスターゲージについて
    上記と同様の操作で得られた出力信号とに基ずいて仮想
    基準線からのエツジの位置を求めることを特徴とする、
    物品の仮想基準線からのエツジ位置の測定方法。
JP8003988A 1988-03-31 1988-03-31 物品の仮想基準線からのエツジ位置の測定方法 Expired - Lifetime JPH0814482B2 (ja)

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JPH01250805A JPH01250805A (ja) 1989-10-05
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JPH0833292B2 (ja) * 1991-08-31 1996-03-29 バンドー化学株式会社 クリーニングブレードの稜線検査装置

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