JPS61257469A - 薄膜形成方法 - Google Patents
薄膜形成方法Info
- Publication number
- JPS61257469A JPS61257469A JP9727085A JP9727085A JPS61257469A JP S61257469 A JPS61257469 A JP S61257469A JP 9727085 A JP9727085 A JP 9727085A JP 9727085 A JP9727085 A JP 9727085A JP S61257469 A JPS61257469 A JP S61257469A
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- Japan
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- vacuum chamber
- vacuum
- substrate
- vessel
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、薄膜の形成方法に関し、主として、大型基板
表面の一部に、薄膜を効率良く形成づ−る方法に関する
。
表面の一部に、薄膜を効率良く形成づ−る方法に関する
。
本発明の方法は、真空槽内壁面の一部を、薄膜を形成す
べき基板表面で置換することを特徴とし、真空装置の小
型化、作業の効率化、省エネルギー化に貢献するもので
ある。
べき基板表面で置換することを特徴とし、真空装置の小
型化、作業の効率化、省エネルギー化に貢献するもので
ある。
[従来の技術]
近年、透明導電膜、熱線反射膜、反則防止膜等の薄膜を
、スパッタリング、イオンブレーティング、電子ビーム
蒸着等の真空成膜法によって、ウィンドシールドガラス
等の基板表面に形成することが行なわれている。
、スパッタリング、イオンブレーティング、電子ビーム
蒸着等の真空成膜法によって、ウィンドシールドガラス
等の基板表面に形成することが行なわれている。
従来、かかる薄膜の形成は、薄膜を形成すべき基板を真
空装置内に収納し、真空槽内を排気した後、行なってい
る。
空装置内に収納し、真空槽内を排気した後、行なってい
る。
したがって従来の方法によると、前記基板を収納し得る
大きさの真空槽を有する真空装置が必要である。
大きさの真空槽を有する真空装置が必要である。
このため、前記基板の形状が大きい場合は、装置が大型
化するばかりでなく、真空槽内の吸排気に要するエネル
ギーも大きくなり、また、長時間を要する。
化するばかりでなく、真空槽内の吸排気に要するエネル
ギーも大きくなり、また、長時間を要する。
故に、雨センサ用透明導電膜、あるいはヘッドアップデ
ィスプレイ用反則膜等のように、基板表面の一部のみに
薄膜を形成したい場合は、」−記従来の方法は、無駄の
大きい方法である。
ィスプレイ用反則膜等のように、基板表面の一部のみに
薄膜を形成したい場合は、」−記従来の方法は、無駄の
大きい方法である。
[発明が解決しにうどする問題点]
本発明は、かかる事情に鑑み案出されたものであり、比
較的小型の真空装置によって、基板表面に効率良く、か
つ、より少ないエネルギーで、薄膜を形成する方法を提
供するものである。
較的小型の真空装置によって、基板表面に効率良く、か
つ、より少ないエネルギーで、薄膜を形成する方法を提
供するものである。
[問題点を解決するための手段及び作用]本発明は、薄
膜を形成すべき基板表面を、真空槽内壁面の一部として
用いるものである。
膜を形成すべき基板表面を、真空槽内壁面の一部として
用いるものである。
即ち本発明は、
真空槽と、該真空槽に連通ずる吸排気系を有し、前記真
空槽壁面の一部に外部空間との連通口が形= 3
= 成されている真空装量内に、蒸発源を配冒し、前記連通
口に、基板を、該基板表面の少なくとも一部が前記真空
機内壁面の一部を構成するようにして気密的に配置し、 前記真空槽内を所定圧力に保ちつつ、該真空槽内壁面の
一部を構成している前記基板表面の少く【くとも一部に
、真空成膜法によって薄膜を形成することを特徴とづ−
る薄膜形成方法である。
空槽壁面の一部に外部空間との連通口が形= 3
= 成されている真空装量内に、蒸発源を配冒し、前記連通
口に、基板を、該基板表面の少なくとも一部が前記真空
機内壁面の一部を構成するようにして気密的に配置し、 前記真空槽内を所定圧力に保ちつつ、該真空槽内壁面の
一部を構成している前記基板表面の少く【くとも一部に
、真空成膜法によって薄膜を形成することを特徴とづ−
る薄膜形成方法である。
真空装置どしては、真空槽の壁面の一部に間口部(前記
連通口)を有し、該間口部によって真空槽の内部空間と
、外部空間とが連通され、該開口部に、基板表面の薄膜
を形成すべき部分を、気密的に配置し得るものを用いる
。
連通口)を有し、該間口部によって真空槽の内部空間と
、外部空間とが連通され、該開口部に、基板表面の薄膜
を形成すべき部分を、気密的に配置し得るものを用いる
。
かかる真空装置の真空槽内に蒸発源を設置し、前記開口
部に、基板を、該基板の薄膜を形成ずべき表面部分が真
空槽の内壁面の一部を構成η−るようにして、気密的に
配置する。ここに真空槽と基板との気密シールは、例え
ばOリング等のシール部材を用いて行なう。
部に、基板を、該基板の薄膜を形成ずべき表面部分が真
空槽の内壁面の一部を構成η−るようにして、気密的に
配置する。ここに真空槽と基板との気密シールは、例え
ばOリング等のシール部材を用いて行なう。
その後、実施すべき真空成膜法において必要とされる所
定圧ツノに真空槽内を保ちつつ、薄膜を形成する。ここ
に真空成膜法としては、スパッタリング、イオンブレー
ティング、電子ビーム蒸着等、従来性なわれている方法
を適用できる。
定圧ツノに真空槽内を保ちつつ、薄膜を形成する。ここ
に真空成膜法としては、スパッタリング、イオンブレー
ティング、電子ビーム蒸着等、従来性なわれている方法
を適用できる。
上記において、前記基板の機械的強度が弱く、真空槽内
の減圧時に、負圧(外部空間と真空槽内・の圧力差)に
よって破損する恐れがある場合は、特許請求の範囲第2
項記載の如く、前記真空槽内壁面を構成している基板表
面の部分に対応する反対側の部分に、第2の真空装置の
真空槽を気密的に設置し、両面の圧力を一致させると良
い。
の減圧時に、負圧(外部空間と真空槽内・の圧力差)に
よって破損する恐れがある場合は、特許請求の範囲第2
項記載の如く、前記真空槽内壁面を構成している基板表
面の部分に対応する反対側の部分に、第2の真空装置の
真空槽を気密的に設置し、両面の圧力を一致させると良
い。
以上述べたように本発明の方法によると、真空装置を従
来よりも小型化でき、したがって、吸排気に要するエネ
ルギー及び時間も少なく、作業の効率化が達成される。
来よりも小型化でき、したがって、吸排気に要するエネ
ルギー及び時間も少なく、作業の効率化が達成される。
[実施例]
以下、本発明を具体的な実施例に基づいて説明する。
(1)第1実施例
第1図は、本発明の第1実施例を説明する図であり、第
2図は、本第1実施例で表面に薄膜を形成したウィンド
シールドガラスの平面図である。
2図は、本第1実施例で表面に薄膜を形成したウィンド
シールドガラスの平面図である。
本第1実施例は、自動車用ウィンドシールドガラスの凹
面側の表面の一部に、ヘッドアップディスプレイ(投影
式表示装置)用反射膜である7io2膜を形成する場合
であり、以下の手順で実施される。
面側の表面の一部に、ヘッドアップディスプレイ(投影
式表示装置)用反射膜である7io2膜を形成する場合
であり、以下の手順で実施される。
まず、ウィンドシールドガラス1の凹面側表面の所定部
分にマスク層2を形成し、これを第1図に示すように、
電子線加熱式蒸発源(蒸発材料Ti0z)4を収納した
真空槽3の開口部30に、前記マスク層2で囲まれてい
る部分が前記蒸発源4と対向するようにして、Oリング
9を介して配置する。
分にマスク層2を形成し、これを第1図に示すように、
電子線加熱式蒸発源(蒸発材料Ti0z)4を収納した
真空槽3の開口部30に、前記マスク層2で囲まれてい
る部分が前記蒸発源4と対向するようにして、Oリング
9を介して配置する。
次に、油回転ポンプ7によって真空槽3内を排気した後
、油拡散ポンプ5を用いて該真空槽3内を、1O−3P
a以下の高真空とする。
、油拡散ポンプ5を用いて該真空槽3内を、1O−3P
a以下の高真空とする。
その後、真空槽3内に02ガスを3X10−2pa導入
し、イオンブレーティング法によって、TiO2反剣膜
10を、第2図に示すように形成しIこ。
し、イオンブレーティング法によって、TiO2反剣膜
10を、第2図に示すように形成しIこ。
次に、真空槽3内を大気圧に戻した後、基板1を真空4
g3から取りはずし、マスク層2を除去しlこ 。
g3から取りはずし、マスク層2を除去しlこ 。
(2)第2実施例
第3図は、本発明の第2実施例の説明図である。
本第2実施例は、自動車用ウィンドシールドガラス1の
凸面側の表面の一部に、雨センサ用の透明導電膜11を
形成する場合であり、以下の手順で実施される。
凸面側の表面の一部に、雨センサ用の透明導電膜11を
形成する場合であり、以下の手順で実施される。
マスク層2を形成した後、基板1を真空槽3の間口部3
0に、Oリング9を介して配置するまでは、前記第1実
施例と同様である。(ただし、蒸発源どしては、TTO
(インディラム・ナイン・オキサイド)を用いている。
0に、Oリング9を介して配置するまでは、前記第1実
施例と同様である。(ただし、蒸発源どしては、TTO
(インディラム・ナイン・オキサイド)を用いている。
)
上記配@後、真空槽3の内部を排気するに先たち、第2
の真空装置の真空槽3aの開口部30aを、第3図に示
すように、前記基板1の凹面側の表面であって、前記第
1の真空槽3の内壁面を構成している部分に対応する部
分が、第2の真空槽3aの内壁面を構成するように、O
リング9aを介して基板1に気密的に配置する。
の真空装置の真空槽3aの開口部30aを、第3図に示
すように、前記基板1の凹面側の表面であって、前記第
1の真空槽3の内壁面を構成している部分に対応する部
分が、第2の真空槽3aの内壁面を構成するように、O
リング9aを介して基板1に気密的に配置する。
次に、油回転ポンプ7によって、真空槽3と第2の真空
槽3aとを同時に排気し、その後、油拡散ポンプ5によ
って、真空槽3内を1O−3Pa以下の高真空と1”る
。
槽3aとを同時に排気し、その後、油拡散ポンプ5によ
って、真空槽3内を1O−3Pa以下の高真空と1”る
。
次に、真空槽3の内部に△rガガス3X10−1 p
a導入し、高周波スパッタリング法によって透明導電膜
11を形成する。
a導入し、高周波スパッタリング法によって透明導電膜
11を形成する。
その後、前記第1実施例ど同様にして、マスク層の除去
、絶縁保護(△1203)膜の形成を行なう。
、絶縁保護(△1203)膜の形成を行なう。
(評価)
上記2つの実施例と同様の薄膜を、従来の方法(ウィン
ドシールドガラス全体を真空槽内に収納して薄膜の形成
を行なう方法)で実施するためには、真空槽として、そ
の内径が2000mmφ以上の大きさの真空槽が必要で
あった。
ドシールドガラス全体を真空槽内に収納して薄膜の形成
を行なう方法)で実施するためには、真空槽として、そ
の内径が2000mmφ以上の大きさの真空槽が必要で
あった。
これに対し上記実施例では、真空槽3として、内径40
0mmφのもので薄膜の形成を行なうこどができた。
0mmφのもので薄膜の形成を行なうこどができた。
即ち、上記2つの実施例では、真空槽の容積が従来のも
のに比し、非常に小さいもので足り、このため前記排気
に要する時間は、従来の115に短縮され、全工程に要
する時間も1/3に短縮されている。
のに比し、非常に小さいもので足り、このため前記排気
に要する時間は、従来の115に短縮され、全工程に要
する時間も1/3に短縮されている。
また、装置の小型化に伴ない、軒1持費、電力も低減さ
れている。
れている。
[効果コ
以上、要覆るに本発明は、薄膜を形成すべき基板表面を
、真空槽内壁面の一部として用いる薄膜の形成方法であ
る。
、真空槽内壁面の一部として用いる薄膜の形成方法であ
る。
実施例に述べたところからも明らかなように、本発明で
は、基板全体を真空槽内に収納するのではなく、薄膜を
形成すべき部分(及びその近傍の限られた部分)のみを
真空槽の内部空間に暉ずものである。
は、基板全体を真空槽内に収納するのではなく、薄膜を
形成すべき部分(及びその近傍の限られた部分)のみを
真空槽の内部空間に暉ずものである。
このため真空槽を従来よりも小型化でき、消費電力、作
業に要する時間、維持費等を低減することができる。
業に要する時間、維持費等を低減することができる。
第1図は、第1実施例で用いる装置の説明図であり、第
2図は、該実施例で薄膜を形成したウィンドシールドガ
ラスの平面図である。第3図は、第2実施例で用いる装
置の説明図である。
2図は、該実施例で薄膜を形成したウィンドシールドガ
ラスの平面図である。第3図は、第2実施例で用いる装
置の説明図である。
Claims (2)
- (1)真空槽と、該真空槽に連通する吸排気系を有し、
前記真空槽壁面の一部に外部空間との連通口が形成され
ている真空装置内に、蒸発源を配置し、 前記連通口に、基板を、該基板表面の少なくとも一部が
前記真空槽内壁面の一部を構成するようにして気密的に
配置し、 前記真空槽内を所定圧力に保ちつつ、該真空槽内壁面の
一部を構成している前記基板表面の少なくとも一部に、
真空成膜法によって薄膜を形成することを特徴とする薄
膜形成方法。 - (2)前記真空槽に対して気密的に配置された基板の前
記外部空間側の表面に、第2の真空装置の真空槽の連通
口を気密的に配置し、該第2の真空装置の槽内圧力を、
略前記所定圧力に保つ特許請求の範囲第1項記載の形成
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9727085A JPS61257469A (ja) | 1985-05-08 | 1985-05-08 | 薄膜形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9727085A JPS61257469A (ja) | 1985-05-08 | 1985-05-08 | 薄膜形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61257469A true JPS61257469A (ja) | 1986-11-14 |
Family
ID=14187837
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9727085A Pending JPS61257469A (ja) | 1985-05-08 | 1985-05-08 | 薄膜形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61257469A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006299292A (ja) * | 2005-04-15 | 2006-11-02 | Ulvac Kyushu Corp | 真空成膜装置及び成膜方法 |
JP2011089203A (ja) * | 2010-10-25 | 2011-05-06 | Ulvac Kyushu Corp | 真空成膜装置及び成膜方法 |
-
1985
- 1985-05-08 JP JP9727085A patent/JPS61257469A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006299292A (ja) * | 2005-04-15 | 2006-11-02 | Ulvac Kyushu Corp | 真空成膜装置及び成膜方法 |
JP4691385B2 (ja) * | 2005-04-15 | 2011-06-01 | アルバック九州株式会社 | 真空成膜装置 |
JP2011089203A (ja) * | 2010-10-25 | 2011-05-06 | Ulvac Kyushu Corp | 真空成膜装置及び成膜方法 |
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