JPS61242631A - 化合物超微粒子の作製方法および作製装置 - Google Patents
化合物超微粒子の作製方法および作製装置Info
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- JPS61242631A JPS61242631A JP60084930A JP8493085A JPS61242631A JP S61242631 A JPS61242631 A JP S61242631A JP 60084930 A JP60084930 A JP 60084930A JP 8493085 A JP8493085 A JP 8493085A JP S61242631 A JPS61242631 A JP S61242631A
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B13/00—Oxygen; Ozone; Oxides or hydroxides in general
- C01B13/14—Methods for preparing oxides or hydroxides in general
- C01B13/20—Methods for preparing oxides or hydroxides in general by oxidation of elements in the gaseous state; by oxidation or hydrolysis of compounds in the gaseous state
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/0021—Reactive sputtering or evaporation
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
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- Materials Engineering (AREA)
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Manufacture Of Metal Powder And Suspensions Thereof (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、低圧の反応性ガス中て材わ1を蒸発させ、蒸
気とガスの反応により化合物超微粒子を作製する方法お
よび装置に関するものである。
気とガスの反応により化合物超微粒子を作製する方法お
よび装置に関するものである。
[従来技術]
真空容器内C゛材料加熱し蒸発[しめるとともに容器内
に反応性ガスを導入し、蒸気とガスとを反応せしめるこ
とにより化合物超微粒子か得られる。例えば錫(Sn)
を蒸発さ一1g1素(02)と反応させて酸化第2錫(
Sn02 )の超微粒子を生成し、これを真空容器内に
設りた基板面に付着せしめて超微粒子膜を形成すること
が行なわれでおり、この超微粒子はガスレンサの感ガス
素子として用いられる。
に反応性ガスを導入し、蒸気とガスとを反応せしめるこ
とにより化合物超微粒子か得られる。例えば錫(Sn)
を蒸発さ一1g1素(02)と反応させて酸化第2錫(
Sn02 )の超微粒子を生成し、これを真空容器内に
設りた基板面に付着せしめて超微粒子膜を形成すること
が行なわれでおり、この超微粒子はガスレンサの感ガス
素子として用いられる。
しかしながら、この超微粒子作製方法の一つの問題点は
蒸気とガスとか完全に反応ぜず未反応の超微粒子か副生
酸することである。例えば上記 。
蒸気とガスとか完全に反応ぜず未反応の超微粒子か副生
酸することである。例えば上記 。
5n02超微粒子作製の場合、Snと02の反応が不十
分であるために酸化第1錫(Sn’0)超微粒子か副生
成1−る。
分であるために酸化第1錫(Sn’0)超微粒子か副生
成1−る。
ぞこでSnOの生成をなくする対策として、生成した5
n02とS「]0の混合超微粒子を酸素を含む雰囲気中
で熱処理リ−ることによりSnOをSnO2に変換する
手段か提案されているが、工程か増加づ−る仙に、熱処
理によって粒成長か起り、粒子か和犬化するという問題
かある。更(こ熱処理により基板等か障害を受【プる。
n02とS「]0の混合超微粒子を酸素を含む雰囲気中
で熱処理リ−ることによりSnOをSnO2に変換する
手段か提案されているが、工程か増加づ−る仙に、熱処
理によって粒成長か起り、粒子か和犬化するという問題
かある。更(こ熱処理により基板等か障害を受【プる。
例えば基板に5n02超微粒子肱を形成してガスセンサ
を構成する場合、基板や、その他電極、センサを集積化
する場合に半導体素子等が熱影響を受(プ、センサの信
頼″14を低下−「しめるおそれがある。
を構成する場合、基板や、その他電極、センサを集積化
する場合に半導体素子等が熱影響を受(プ、センサの信
頼″14を低下−「しめるおそれがある。
またSnと02の反応性を高めるために、高周波電力を
用いて02を励起状態にしてSnと灰応さける方法も提
案されている。しかしながら、この方法では1t:or
rの02中でSnを蒸発させた場合、生成した超微粒子
中に含まれる5n02の割合は最高で70%弱である。
用いて02を励起状態にしてSnと灰応さける方法も提
案されている。しかしながら、この方法では1t:or
rの02中でSnを蒸発させた場合、生成した超微粒子
中に含まれる5n02の割合は最高で70%弱である。
E水弁明か解決しようとする問題点]
本発明は上記の実情に鑑みてなされたもので、処理工程
を増すことなく、副生成物を含まない化合物超微粒子を
生成せしめる方法およびその方法を実施する装置を提供
し、もって上記従来の問題点を解決することを目的とす
るものである。
を増すことなく、副生成物を含まない化合物超微粒子を
生成せしめる方法およびその方法を実施する装置を提供
し、もって上記従来の問題点を解決することを目的とす
るものである。
[問題点を解決するための手段1
真空容器のガス中でvJ利を蒸発させた場合、材料の蒸
気か存在するのは熱源から数mmの距離範囲にあり、反
応(,1この範囲内で起る。本発明は、この反応領域内
へガスを強制的に供給し、外方へ向う〕Jスの流れを作
ることにより、上記の目的を達成するものである。ガス
供給は、反応領域の中心部とするのか最もよい。そして
上記のようにガスを供給する手段としては、ガス導入パ
イプのガス噴出口を上記反応領域の中心部ないしその近
傍に位置せしめるのである。
気か存在するのは熱源から数mmの距離範囲にあり、反
応(,1この範囲内で起る。本発明は、この反応領域内
へガスを強制的に供給し、外方へ向う〕Jスの流れを作
ることにより、上記の目的を達成するものである。ガス
供給は、反応領域の中心部とするのか最もよい。そして
上記のようにガスを供給する手段としては、ガス導入パ
イプのガス噴出口を上記反応領域の中心部ないしその近
傍に位置せしめるのである。
[作用1 ゛
材料の蒸気とガスの反応性が不足する原因は、局所的に
、蒸発物質の原子数に対しガスの分子数が不足すること
にある。
、蒸発物質の原子数に対しガスの分子数が不足すること
にある。
発明者らの実験によれば、真空ガス容器内で蒸発源たる
小−l〜によりSnを加熱して蒸発せしめて02ガスと
反応さ−け、生成された化合物超微粒子をボー1〜の真
上の位置に設(プた基板に付着させて超微粒子膜を形成
した場合、第8図に示すように基板の中心部にd3いて
sno?含有量がもつとも少なく、外方l\向ってSn
O2含有量か増加することを見出した。
小−l〜によりSnを加熱して蒸発せしめて02ガスと
反応さ−け、生成された化合物超微粒子をボー1〜の真
上の位置に設(プた基板に付着させて超微粒子膜を形成
した場合、第8図に示すように基板の中心部にd3いて
sno?含有量がもつとも少なく、外方l\向ってSn
O2含有量か増加することを見出した。
この減少は次のような理由(こよるものと認めた。
即ち第9図に示すようにボートか加熱されたSnH利か
蒸発し始めると、3n原子と02分子か衡突して反応す
る反応領域に存在する02【ユ消費される。02が消費
された後はSnの蒸発量が多いため雰囲気中の02か反
応領域に入り込めない状態となり、対流となって上昇づ
−る。また反応領域内に入り込もうとする02も領域の
中心部分に達する前に3nによって消費される。かくし
て反応本発明は」−記の知見に基づ゛くものであり、ガ
スか不足する反応領域内へ、望ましくはその中心部l\
ガスを強制的に送り込み、領域の中心から外部へ向かう
ガスの流れを生じせしめることで蒸発物質とガスとを完
全に反応けしめ、副生成物を含まない目的とする化合物
超微粒子のみを生成せしめることに成功したのである。
蒸発し始めると、3n原子と02分子か衡突して反応す
る反応領域に存在する02【ユ消費される。02が消費
された後はSnの蒸発量が多いため雰囲気中の02か反
応領域に入り込めない状態となり、対流となって上昇づ
−る。また反応領域内に入り込もうとする02も領域の
中心部分に達する前に3nによって消費される。かくし
て反応本発明は」−記の知見に基づ゛くものであり、ガ
スか不足する反応領域内へ、望ましくはその中心部l\
ガスを強制的に送り込み、領域の中心から外部へ向かう
ガスの流れを生じせしめることで蒸発物質とガスとを完
全に反応けしめ、副生成物を含まない目的とする化合物
超微粒子のみを生成せしめることに成功したのである。
[実施例」
第1図に示すように、ペルジャーIA4フィートスル−
カラー1B、ベースプレー1へ’ICにより真空容器1
を構成する。真空容器1内には容器外の電源3に接続す
る銅製の電極2a、2bがベースプレート1’Cに絶縁
材を介して設置してあり、その先端に蒸発源たるタング
ステン製のボート4が支持せしめである。ホード4は蒸
発せしめるべき材料Snを保持する。
カラー1B、ベースプレー1へ’ICにより真空容器1
を構成する。真空容器1内には容器外の電源3に接続す
る銅製の電極2a、2bがベースプレート1’Cに絶縁
材を介して設置してあり、その先端に蒸発源たるタング
ステン製のボート4が支持せしめである。ホード4は蒸
発せしめるべき材料Snを保持する。
ベースプレート1Gには真空ポンプ6に接続したバキュ
ームパイプ5が開口せしめである。バキュームパイプ5
にはバキュームバルブ7か取付けてあって、これを開閉
することにより容器1内を10 ” torr程度の真
空度とすることかでざる。
ームパイプ5が開口せしめである。バキュームパイプ5
にはバキュームバルブ7か取付けてあって、これを開閉
することにより容器1内を10 ” torr程度の真
空度とすることかでざる。
フィートスルーカラー1Bにはガス導入パイプ8が気密
に挿通してあり、ぞの人気側に1はガス導入バルブ9が
取[[あり、導入ガス流量を任意に変えることかできる
。ガス導入パイプ8の容器内のガス噴出口8′口J1、
小−1へ4の中央的2 cmの直上番こ位置し、下方に
開[1しでいる。
に挿通してあり、ぞの人気側に1はガス導入バルブ9が
取[[あり、導入ガス流量を任意に変えることかできる
。ガス導入パイプ8の容器内のガス噴出口8′口J1、
小−1へ4の中央的2 cmの直上番こ位置し、下方に
開[1しでいる。
ノイートスル〜カラー1Bにはまた、容器1内の斥力を
モニター復る真空的10が取付Cプである。
モニター復る真空的10が取付Cプである。
容器1内には小−1〜4の上方位置に冷却された基板1
1か支持i!シめである。
1か支持i!シめである。
真空ポンプ6をオンし、ハキ]−ムパルブ7を聞き、真
空容器]内を1O−6 1o4.程度の真空に した後、パキニ1−ムパルブ7を閉じる。ガス導入バル
ブ9を聞ぎ、容器1内か所定圧力、例えば11o6.に
なるまで0 を導入する。’torrとなった? 後、バルブ9を閉じる。電源3をオンし、小−ト4に通
電Jる。小−1へ4の加熱によりsnか蒸発し始めると
02か消費されて容器1内の圧力か低下覆る。この圧力
を真空計10によりモニターしながらパルプ90開度を
調整し、圧力が1 torrを維持J−るように02の
流量を制御し、02をガス導入パイプ8の噴出口81か
ら材料Snの直上へ直接供給する。
空容器]内を1O−6 1o4.程度の真空に した後、パキニ1−ムパルブ7を閉じる。ガス導入バル
ブ9を聞ぎ、容器1内か所定圧力、例えば11o6.に
なるまで0 を導入する。’torrとなった? 後、バルブ9を閉じる。電源3をオンし、小−ト4に通
電Jる。小−1へ4の加熱によりsnか蒸発し始めると
02か消費されて容器1内の圧力か低下覆る。この圧力
を真空計10によりモニターしながらパルプ90開度を
調整し、圧力が1 torrを維持J−るように02の
流量を制御し、02をガス導入パイプ8の噴出口81か
ら材料Snの直上へ直接供給する。
一ト記噴出ロ81かその中心近傍に位Mづる反応領域で
、蒸発したSnと02か反応してSnO2超微粒子か生
成され、該超微粒子(は02ガスの対流に乗って上昇し
、基板11にイ」着する。
、蒸発したSnと02か反応してSnO2超微粒子か生
成され、該超微粒子(は02ガスの対流に乗って上昇し
、基板11にイ」着する。
第7図に本装置により得られた超微粒子中の5n02含
有量を示づ。02圧力1、。rr以上で、副生成物(S
nO)を伴わない完全な5n02超微粒子を得ることが
できる。
有量を示づ。02圧力1、。rr以上で、副生成物(S
nO)を伴わない完全な5n02超微粒子を得ることが
できる。
ガス導入パイプ8のガス噴出口81は上記実施例に限ら
ず種々の構造とすることができる。
ず種々の構造とすることができる。
材料か小−1・4上に広がりをもって置かれており、反
応領域か広くなる場合は、第2図に示すように多数の小
孔82を有するノズル状とし、ガスを広範囲に均一に噴
出させるのか効果的である。
応領域か広くなる場合は、第2図に示すように多数の小
孔82を有するノズル状とし、ガスを広範囲に均一に噴
出させるのか効果的である。
また蒸発が不均一に起こる場合には、それに対応して第
3図に示すように大きさの異なる小孔83.84を設【
プるのが有効である。また、反応領域か小−1−4に極
めて近接している場合は、第4図に示すようにパイプ8
の噴出口81を小−1〜4に向りるとよい。また第5図
にに示すように噴出+181を小−1・4の下部に位置
せしめてもよい。更に、複数のガス導入パイプを、qす
、例えば第6図に示すように、パイプ8aにより小−1
〜4の上方から、パイプ8[)により小−1・4の下方
からガスを噴出せしめてもよい。
3図に示すように大きさの異なる小孔83.84を設【
プるのが有効である。また、反応領域か小−1−4に極
めて近接している場合は、第4図に示すようにパイプ8
の噴出口81を小−1〜4に向りるとよい。また第5図
にに示すように噴出+181を小−1・4の下部に位置
せしめてもよい。更に、複数のガス導入パイプを、qす
、例えば第6図に示すように、パイプ8aにより小−1
〜4の上方から、パイプ8[)により小−1・4の下方
からガスを噴出せしめてもよい。
蒸発せしめる材料はSnに限らず蒸発可能な伯の材料を
用いることができる。またガスは02に限らず窒化物超
微粒子を作製する場合にはNH3等を、炭化物超微粒子
の場合に4.11clI4等を用いることができる。
用いることができる。またガスは02に限らず窒化物超
微粒子を作製する場合にはNH3等を、炭化物超微粒子
の場合に4.11clI4等を用いることができる。
蒸発源については、上記実施例に限らず、るつぼ型のも
のを用いてもよいし、高周波誘導り1熱等の手段を用い
てもよい。
のを用いてもよいし、高周波誘導り1熱等の手段を用い
てもよい。
本発明によれば、従来の方法に比ベニ数やコスト増をき
たすことなく、副生成物を含まない化合物超微粒子を得
ることかできる。
たすことなく、副生成物を含まない化合物超微粒子を得
ることかできる。
第1図は本発明装置の一実施例を示J−図、第2図、第
3図、第4図、第5図、第6図はそれぞれ本発明装置に
用いるガス導入パイプの開口の構造を示す図、第7図は
本発明の効果に関する実験結果を示す図、第8図は従来
の装置を用いた場合の超微粒子中のSnO2含有量の分
布を示す図、第9図は従来の装置を用いた場合の超微粒
子生成機構のモチ゛ル図である。 1・・・・・・真空容器 2a、2b・・・・・・電極 4・・・・・・蒸発源 5・・・・・・バキュームパイプ 8・・・・・・ガス導入パイプ 81・・・・・・ガス噴出口 82.83・・・・・・小孔 11・・・・・・基板 薪6図8゜ X 第5図 第7凶 02 ff7U(Torr)
3図、第4図、第5図、第6図はそれぞれ本発明装置に
用いるガス導入パイプの開口の構造を示す図、第7図は
本発明の効果に関する実験結果を示す図、第8図は従来
の装置を用いた場合の超微粒子中のSnO2含有量の分
布を示す図、第9図は従来の装置を用いた場合の超微粒
子生成機構のモチ゛ル図である。 1・・・・・・真空容器 2a、2b・・・・・・電極 4・・・・・・蒸発源 5・・・・・・バキュームパイプ 8・・・・・・ガス導入パイプ 81・・・・・・ガス噴出口 82.83・・・・・・小孔 11・・・・・・基板 薪6図8゜ X 第5図 第7凶 02 ff7U(Torr)
Claims (4)
- (1)低圧の反応性ガス中で材料を蒸発させ、ガスと材
料の蒸気とを反応せしめて化合物超微粒子を作製する方
法において、ガスと蒸気との反応領域にガスを強制的に
送給し、両者の反応効率を高めることを特徴とする化合
物超微粒子の作製方法。 - (2)上記ガスを上記反応領域の中心部に送給する特許
請求の範囲第1項記載の化合物超微粒子の作製方法。 - (3)真空容器と、真空容器中に設け材料を加熱して蒸
発せしめる蒸発源と、真空容器内へ反応性ガスを送給す
るガス導入パイプを備え、ガス導入パイプのガス噴出口
をガスと材料の蒸気との反応領域の中心部ないしその近
傍に位置せしめたことを特徴とする化合物超微粒子作製
装置。 - (4)上記噴出口を複数の小孔を有するノズルとした特
許請求の範囲第2項記載の化合物超微粒子作製装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60084930A JPS61242631A (ja) | 1985-04-20 | 1985-04-20 | 化合物超微粒子の作製方法および作製装置 |
US06/853,761 US4714047A (en) | 1985-04-20 | 1986-04-18 | Method and device for forming ultrafine particle film of compound |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60084930A JPS61242631A (ja) | 1985-04-20 | 1985-04-20 | 化合物超微粒子の作製方法および作製装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61242631A true JPS61242631A (ja) | 1986-10-28 |
JPH0526536B2 JPH0526536B2 (ja) | 1993-04-16 |
Family
ID=13844407
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60084930A Granted JPS61242631A (ja) | 1985-04-20 | 1985-04-20 | 化合物超微粒子の作製方法および作製装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4714047A (ja) |
JP (1) | JPS61242631A (ja) |
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CN114506846A (zh) * | 2022-02-15 | 2022-05-17 | 厦门金鹭特种合金有限公司 | 一种超细碳化物的生产方法及生产装置 |
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1985
- 1985-04-20 JP JP60084930A patent/JPS61242631A/ja active Granted
-
1986
- 1986-04-18 US US06/853,761 patent/US4714047A/en not_active Expired - Fee Related
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