JPS61237071A - Ｉｃ試験装置 - Google Patents
Ｉｃ試験装置Info
- Publication number
- JPS61237071A JPS61237071A JP60079717A JP7971785A JPS61237071A JP S61237071 A JPS61237071 A JP S61237071A JP 60079717 A JP60079717 A JP 60079717A JP 7971785 A JP7971785 A JP 7971785A JP S61237071 A JPS61237071 A JP S61237071A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- video signal
- tested
- digital
- pattern
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2273—Test methods
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明はＩＣ試験装置に関し、特にビデオ信号系のＩＣ
（ＬＳＩ）を測定するための機能の拡大に−す′る。
（ＬＳＩ）を測定するための機能の拡大に−す′る。
（従来の技術）
従来より、ア多ログＬＳＩ等のＩＣ（以下被□試験デバ
イスという）にパターン信号を与えて、その応答出力信
号と期待値とを比較し、その不一致を検出して線試験デ
ｌ（イスの良否を検出するｌ試験がある。
イスという）にパターン信号を与えて、その応答出力信
号と期待値とを比較し、その不一致を検出して線試験デ
ｌ（イスの良否を検出するｌ試験がある。
（癲明が解決しようとする問題点）
しかしながら、この様な従来のｔＣ試験装置では、ビデ
オ信号系のＩＣ（ＬＳＩ＞の測定に必要なビデオ信号発
生器ｉ、ディジタルとアナログとが混在したＩＣ（ＬＳ
Ｉ）等に与えるディジタル的レベルパターンを発生する
と共に、ＬＳＩより出力されるデー゛りあ良否を判定す
る機能を有すｉ′パターン発生・検出器とは、別々のモ
ジュール構成となっていて、同期関係のないクロックで
動赫 □してい゛る。
オ信号系のＩＣ（ＬＳＩ＞の測定に必要なビデオ信号発
生器ｉ、ディジタルとアナログとが混在したＩＣ（ＬＳ
Ｉ）等に与えるディジタル的レベルパターンを発生する
と共に、ＬＳＩより出力されるデー゛りあ良否を判定す
る機能を有すｉ′パターン発生・検出器とは、別々のモ
ジュール構成となっていて、同期関係のないクロックで
動赫 □してい゛る。
また、ディジタル・テレビジョン用のＩＣを試験する場
合には、従来のビデオ信号発生と共に、大量のディジタ
ルパターンの発生及び判定が必要な場合がある。しかも
、そのディジタルパターンはビデオ信号と同期している
必要がある。しかし、現在の装置では、それらのモジュ
ールは同期関係のない別々のクロックで動作しているた
め、このようなＩＣの試験は不可能であった。
合には、従来のビデオ信号発生と共に、大量のディジタ
ルパターンの発生及び判定が必要な場合がある。しかも
、そのディジタルパターンはビデオ信号と同期している
必要がある。しかし、現在の装置では、それらのモジュ
ールは同期関係のない別々のクロックで動作しているた
め、このようなＩＣの試験は不可能であった。
また、ビデオ信号とディジタルパターンとを同時に発生
するようなモジュールは価格の点で実現不可能であった
。
するようなモジュールは価格の点で実現不可能であった
。
本発明の目的は、この様な点に鑑み、ディジタル・テレ
ビジョン用のＬＳＩのような、ビデオ信号に同期したデ
ィジタルパターンを必要とするＬＳＩに対して機能試験
を行うことができ、しかしながら価格的には従来の装置
とほぼ同等であるようなアナログＬＳＩ試験装置を提供
することにある。
ビジョン用のＬＳＩのような、ビデオ信号に同期したデ
ィジタルパターンを必要とするＬＳＩに対して機能試験
を行うことができ、しかしながら価格的には従来の装置
とほぼ同等であるようなアナログＬＳＩ試験装置を提供
することにある。
（問題点を解決するための手段）
この様な目的を達成するために本発明では、ビデオ信号
を発生すると共にそのビデオ信号に同期したタイミング
信号を発生するこのできるビデオ信号発生器と、 前記タイミング信号に同期してデジタルパターンを発生
することができると共に被試験デバイスからのデジタル
出力をビデオ信号に同期したタイミングで検出するパタ
ーン発生・検出器と、被試験装置が出力するビデオ信号
を測定するビデオ信号測定器とを具備したことを特徴と
する。
を発生すると共にそのビデオ信号に同期したタイミング
信号を発生するこのできるビデオ信号発生器と、 前記タイミング信号に同期してデジタルパターンを発生
することができると共に被試験デバイスからのデジタル
出力をビデオ信号に同期したタイミングで検出するパタ
ーン発生・検出器と、被試験装置が出力するビデオ信号
を測定するビデオ信号測定器とを具備したことを特徴と
する。
（実施例）
以下図面を用いて本発明の詳細な説明する。図はそのよ
うなＩＣ試験装置の一例を示す要部構成図である。同図
において、１はビデオ信号及びタイミング信号５ｔａｒ
ｔ、５ｔｏｐを発生するビデオ信号発生器である。ビデ
オ信号発生器から出力されたビデオ信号は被測定デバイ
ス２に供給される。タイミング信号５ｔａｒｔ及び５ｔ
ｏｐはビデオ信号の同期信号に同期して発生する。
うなＩＣ試験装置の一例を示す要部構成図である。同図
において、１はビデオ信号及びタイミング信号５ｔａｒ
ｔ、５ｔｏｐを発生するビデオ信号発生器である。ビデ
オ信号発生器から出力されたビデオ信号は被測定デバイ
ス２に供給される。タイミング信号５ｔａｒｔ及び５ｔ
ｏｐはビデオ信号の同期信号に同期して発生する。
被測定デバイス２は、アナログ・デジタル変換器（以下
Ａ／Ｄと略す）２１、デジタル・アナログ変換゛器（以
下Ｄ／Ａと略す）２２を有し、Ａ１０２１によりデジタ
ル化したビデオ信号を一度取出して、補正演算を施し、
これをＤ／Ａ ２２でアナログ信号に変換して出力する
ための機能や、入力ビデオ信号を外部から与えられるデ
ジタルパターンで補正するための機能等を持っている。
Ａ／Ｄと略す）２１、デジタル・アナログ変換゛器（以
下Ｄ／Ａと略す）２２を有し、Ａ１０２１によりデジタ
ル化したビデオ信号を一度取出して、補正演算を施し、
これをＤ／Ａ ２２でアナログ信号に変換して出力する
ための機能や、入力ビデオ信号を外部から与えられるデ
ジタルパターンで補正するための機能等を持っている。
３はパターン発生・検出器で、複数ピット構成のパター
ン信号を所定の時１ＩＩｎ！隅で発生する機能、また被
測定デバイスからの複数ピット構成のＡ／Ｄ出力を受け
、入力ビデオ信号に一致するかどうか等の良否判定を行
う機能を含む。またパターン発生・検出器にはメモリが
備えられ、出力するデジタルパターンの格納や、被測定
デバイスからのデータの格納に利用される。
ン信号を所定の時１ＩＩｎ！隅で発生する機能、また被
測定デバイスからの複数ピット構成のＡ／Ｄ出力を受け
、入力ビデオ信号に一致するかどうか等の良否判定を行
う機能を含む。またパターン発生・検出器にはメモリが
備えられ、出力するデジタルパターンの格納や、被測定
デバイスからのデータの格納に利用される。
４は被試験デバイス２のアナログ出力（ビデオ信号）を
測定するビデオ信号測定器である。
測定するビデオ信号測定器である。
５は被試験デバイス２の下床箇所あるいは下り。
の原因等を解析するための不良解析装置である。
この様な構成における動ヤを次に説明する。
■被試験デバイス内のＡ／Ｄの試験の場合ビデオ信号発
生器１より被試験デバイス２にビデオ信号を与え、被試
験デバイス２のデジタル出力をパターン発生・検出１３
で検出し、不良解析装置５でその良否を判定する。この
良否の判定は、例えば入力信号と一致したデジタルデー
タとなっているかどうか等の判定である。
生器１より被試験デバイス２にビデオ信号を与え、被試
験デバイス２のデジタル出力をパターン発生・検出１３
で検出し、不良解析装置５でその良否を判定する。この
良否の判定は、例えば入力信号と一致したデジタルデー
タとなっているかどうか等の判定である。
■被試験デバイス全体の機°能の試験の場合ビデオ信号
と同時にパターン発生・検出器３よリデジタル・パター
ンを被試験デバイス２に加え、被試験デバイスのアナロ
グ出力をビデオ信号測定器４により測定する。不良解析
装置５は、入力されたビデオ信号が、同時に与えられた
デジタルパターンによって補正されているかどうかを調
べ、その良否を判定する。
と同時にパターン発生・検出器３よリデジタル・パター
ンを被試験デバイス２に加え、被試験デバイスのアナロ
グ出力をビデオ信号測定器４により測定する。不良解析
装置５は、入力されたビデオ信号が、同時に与えられた
デジタルパターンによって補正されているかどうかを調
べ、その良否を判定する。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、次のような効果
がある。
がある。
デジタル・テレビジョン用ＬＳＩのようなビデオ信号に
同期したデジタルパターンが必要なＬＳＩの試験に、デ
ジタルパターンの発生及び検出の機能を゛待った特殊な
ビデオ信号発生器は必要とせず、従来より知られている
ビデオ信号発生器にタイミング信号発生機能をもたせた
程度のビデオ信号発生器のモジュールを使用し、このモ
ジュールと、従来の装置に設けられているデジタルパタ
ーン発生器を利用したパターン発生・検出器のモジュー
ルを同期して作動させることにより、ビデオ信号に同期
したデジタルパターンの必要なＬＳＩの試験を容易に行
うことができると共に、各モジュールの価格は従来のモ
ジュールに比べてそれほど高価にはならず安価である。
同期したデジタルパターンが必要なＬＳＩの試験に、デ
ジタルパターンの発生及び検出の機能を゛待った特殊な
ビデオ信号発生器は必要とせず、従来より知られている
ビデオ信号発生器にタイミング信号発生機能をもたせた
程度のビデオ信号発生器のモジュールを使用し、このモ
ジュールと、従来の装置に設けられているデジタルパタ
ーン発生器を利用したパターン発生・検出器のモジュー
ルを同期して作動させることにより、ビデオ信号に同期
したデジタルパターンの必要なＬＳＩの試験を容易に行
うことができると共に、各モジュールの価格は従来のモ
ジュールに比べてそれほど高価にはならず安価である。
図は本発明に係るＩＣ試験装置の一実施例を示す構成図
である。 １・・・ビデオ信号発生器、２・・・被試験デバイス、
３・・・パターン発生・検出器、４・・・ビデオ信号測
定器、５・・・不良解析装置。
である。 １・・・ビデオ信号発生器、２・・・被試験デバイス、
３・・・パターン発生・検出器、４・・・ビデオ信号測
定器、５・・・不良解析装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被試験デバイスにパターン信号を加え、その応答出力の
良否を判定することができるように構成されたＩＣ試験
装置において、 ビデオ信号を発生すると共にそのビデオ信号に同期した
タイミング信号を発生するこのできるビデオ信号発生器
と、 前記タイミング信号に同期してデジタルパターンを発生
することができると共に被試験デバイスからのデジタル
出力をビデオ信号に同期したタイミングで検出するパタ
ーン発生・検出器と、被試験装置が出力するビデオ信号
を測定するビデオ信号測定器とを具備したことを特徴と
するＩＣ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60079717A JPS61237071A (ja) | 1985-04-15 | 1985-04-15 | Ｉｃ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60079717A JPS61237071A (ja) | 1985-04-15 | 1985-04-15 | Ｉｃ試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61237071A true JPS61237071A (ja) | 1986-10-22 |
Family
ID=13697955
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60079717A Pending JPS61237071A (ja) | 1985-04-15 | 1985-04-15 | Ｉｃ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61237071A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002243809A (ja) * | 2001-02-09 | 2002-08-28 | Advantest Corp | アナログ・デジタル混成ｉｃ用テストシステム |
| WO2007116472A1 (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Fujitsu Limited | 試験装置、試験解析システム、ヘッド試験装置、およびヘッド試験解析システム |
-
1985
- 1985-04-15 JP JP60079717A patent/JPS61237071A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002243809A (ja) * | 2001-02-09 | 2002-08-28 | Advantest Corp | アナログ・デジタル混成ｉｃ用テストシステム |
| WO2007116472A1 (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Fujitsu Limited | 試験装置、試験解析システム、ヘッド試験装置、およびヘッド試験解析システム |
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