JPS61230006A - シ−ト状物体の継目検査法 - Google Patents

シ−ト状物体の継目検査法

Info

Publication number
JPS61230006A
JPS61230006A JP6990985A JP6990985A JPS61230006A JP S61230006 A JPS61230006 A JP S61230006A JP 6990985 A JP6990985 A JP 6990985A JP 6990985 A JP6990985 A JP 6990985A JP S61230006 A JPS61230006 A JP S61230006A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sheet
joint
seam
width
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6990985A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Matsumura
松村 猛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Bridgestone Corp
Original Assignee
Bridgestone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bridgestone Corp filed Critical Bridgestone Corp
Priority to JP6990985A priority Critical patent/JPS61230006A/ja
Publication of JPS61230006A publication Critical patent/JPS61230006A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はシート状物体、例えばインナーライチ、プライ
、ベルト等のタイヤ成形用部材、樹脂フィルムシート、
金属薄物シート、コンベアベルト等の継目、特q突き合
わせて接合した継目の検査法に関するものである。
(従来の技術) 従来のシート状物体の継目検査法として、光源および受
光素子を有する光マイクロメータにょうてシート状物体
表面の変位を検出して継゛目を検査する方法、継目部の
延在方向と直交する方向に配列した一次式アレイセンサ
に継目部の一部の像を結像させ、その画像信号を処理し
て継目を検査する方法、継目部にその延在方向と直交す
る方向に延在するスリット光を継目部の延在方向に沿っ
て順次投射して継目部を走査し、これらスリット光の投
射による継目部の像を二次元アレイセンサに結像させて
、その画像信号に基いて継目を検査する方法が知られて
いる。
(発明が解決しようとする問題点) しかし、上記の光マイクロメータを用いる方法にあって
は光マイクロメータとシート状物体とを相対的に移動さ
せる機構が必要になると共にスポット側光であるために
シート状物体表面の色、光沢、粗さの影響で誤計測し易
い問題がある。また、−次元アレイセンサを用いる方法
にあっては、1ラインの画像信号しか得られないために
、上記の光マイクロメータを用いる場合と同様、シート
状物体表面の色、光沢、粗さの影響で誤計測し易い問題
があり、二次元アサイセンサを用いる方法にあってはス
リット光を順次投射するため、画像信号の処理ロジック
が複雑になると共に、処理時間も長くなる問題がある。
本発明の目的は上述した種々の問題点を解決し、継目を
短時間で常に高精度で検査できると共に容易に実施でき
るシート状物体の継目検査法を提供しようとするもので
ある。
(問題点を解決するための手段) 本発明のシート状物体の継目検査法は、シート状物体の
継目部を、継目方向を境に一方の側および他方の側から
それぞれ照明して撮像し、各々の画像信号の濃度分布に
基づいて前記継目方向と直交する方向での暗濃度の幅を
求め、これら暗濃度の幅と基準値とを比較して継目を検
査することを特徴とするものである。
(作用) 第1図A−Cに示すように、シート状物体1の継目状態
には、シート1aおよび1bの端面が正確に突き合って
接合している正常状態(第1図A)と、例えばタイヤの
成形工程において見られるように両端面が離れているオ
ープン状態(第1図B)と、両端部が重なって接合して
いるラップ状態(第1図C)とがある。このような各種
の継目部を、第2図Aに示すように、継目部の延在方向
すなわち継目方向を境に一方のシー)1aの方向から照
明して二次元アレイセンサを有する撮像装置2に結像さ
せると、第1図A−Cに示す各継目部の画像は第3図A
−Cに示すようになり、また他方のシー)1bの方向か
ら照明して同じ撮像装置2に結像させると、第1図A−
Cの各画像は第4図A−Cに示すようになる。すなわち
、シート1aの方向から照明した場合、第1図Aに示す
正常状態では第3図Aに示すように継目線に沿って他の
中間濃度よりも明るいか、あるいは暗い濃度の幅の極め
て狭い筋が現われ、第1図Bに示すオープン状態では第
3図Bに示すようにシート1aの端面の影の部分が最も
暗く、シートlbの端面がその形状によって最も明るく
なるか、他の部分と同様に中間濃度となり、第1図Cに
示すラップ状態では第3図Cに示すようにシート1aが
シート1bに乗り上がる傾斜部分で最も明るく、シー)
1aのエツジの影の部分で最も暗く、その他は中間濃度
となる。また、シート1bの方向から照明した場合、正
常状態では第4図Aに示すように第3図Aの場合と同様
に継目線に沿って他の中間濃度よりも明るいか、あるい
は暗い濃度の幅の極めて狭い筋が現われ、オープン状態
では第4図Bに示すようにシート1bの端面の影の部分
が第3図Bの場合とほぼ等しい幅で最も暗く、シート1
aの端面が同様にその形状によって最も明るくなるか、
他の部分と同様に中間濃度となり、ラップ状態では第4
図Cに示すようにシート1aの端面が最も明るく、その
エツジの影の部分が第3図Cの場合よりも狭く、かつ第
4図Bの場合よりも狭い幅で他の中間濃度よ−りも暗く
なる。
このように、シート状物体1の継目部を継目方向を境に
それぞれの側から照明して撮像すると、ラップ状態にお
いては暗濃度の幅に差が生じ、その小さい幅はオープン
状態の暗濃度の幅よりも狭くなる。したがって、各画像
において暗濃度の幅を求め、これら暗濃度の幅と適当な
基準値とを比較すれば、正常、オープンラップの各継目
状態を正確に判定することができる。
(実施例) 第5図は本発明方法を実施する継目検査装置の一例の構
成図である。本例では、シート状物体1の継目部を二次
元アレイセンサを有する撮像装置2による撮像位置に位
置決めして検査する。撮像位置において、シート状物体
1の継目部の延在方向を境とする両側には光源3aおよ
び3bを配置する。
光源3a 、 3bは例えば波長830nmの光を発す
るレーザ光源を用い、これらを順次に発光させることに
よって光源3aによりシート1aの方向からシート平面
に対して156〜25°の角度で平行光線を投射して継
目部を照射し、光源3bによりシート1bの方向からシ
ート平面に対して15″〜25°の角度で平行光線を投
射して継目部を証明する。光源3aによって照明された
継目部の像は撮像装置2に結像させ、その画像信号をス
イッチ回路4を経てフレームメモリ5aに格納した後、
ウィンドウ設定回路6aを経て所定の範囲の画像信号を
抽出し、その抽出した画像信号に対して光量むら補正回
路7aにおいて光量むらを補正する。
すなわち、光源によって平坦な面を斜め方向から照明す
ると、照射面における照度分布は光源に近い程大きく、
また光源の発光密度は中心部が高くなるガラス分布とな
るために光束の中心部における照度が大きくなる。この
ためこれらの現象による照射面における照明光の投射方
向およびそれと直交する幅方向での照度分布は、第6図
AおよびBにそれぞれ破線および実線で示すようになる
そこで、本例では光量むら補正回路7aにおいて、光源
3aにより照射面が等価的に一様な照度分布で照明され
たように画像信号を補正する。
第5図において、光量むら補正回路7aで光量むらを補
正した画像信号は平滑化回路8aに供給し、ここで局所
積分処理を行ってシート状物体1の表面の色、光沢、粗
さのばらつきによる部分的ノイズを除去した後フレーム
メモリ9aに格納する。このフレームメモリ9aに格納
された画像信号は積分回路10aに供給し、ここで継目
方向における画素信号を積分して継目方向と直交する方
向での濃度分布を求め、これを幅検出回路11aに供給
する。
幅検出回路11aにおいては、積分回路10aからの積
分値と暗濃度における適当な闇値とを比較して、積分出
力が闇値を下回る暗濃度の幅を求め、これを判定回路1
2に供給する。
一方、光源3bによる照明によって撮像装置2から得ら
れる継目部の画像信号は、スイッチ回路4を経てフレー
ムメモリ5bに格納し、ウィンドウ設定回路6b、光量
むら補正回路7b、平滑化回路8b、フレームメモリ9
b、積分回路10bおよび幅検出回路11bを経て同様
に処理して暗濃度の幅を求め、これを判定回路12に供
給する。
判定回路12においては、幅検出回路11aおよび11
bからの幅情報に基づいて第7図に示すフローチャート
に従って正常、オーブン、ラップの各継目状態を判定す
る。ここで、幅検出回路11aで検出した暗濃度の幅を
Dl、幅検出回路11bで検出した暗濃度の幅をO7、
正常状態において検出される暗濃度の幅をLo、オーブ
ン状態において検出される暗濃度の幅をしいラップ状態
において検出される暗濃度の大きい方の幅をL2、小さ
い方の幅をし3として、第7図に示す判定動作を説明す
る。各継目状態において検出される暗濃度の幅には、上
述したところから明らかなように、t、o < Li 
< LいLo < Ll < Lxの関係がある。そこ
で本例では、先ずLiよりも大きくかつり、およびI、
tよりも小さい基準値R+(t、、<pl <L、 、
 Lx)とり、とを比較し、その結果0.がR3より大
きいときは、次にO2とR1とを比較し、その結果D2
がR5より大きいときはオーブン、小さいときはラップ
とそれぞれ判定する。
また、D、とR6との比較の結果、D、がR1よりも小
さいときは、次にLoよりも大きくかつLiよりも小さ
い基準値Rg(Lo <R2< Li )とO2とを比
較し、その結果D2がR2より大きいときはラップ、小
さいときは正常とそれぞれ判定する。
判定回路12での判定結果は、例えば表示装置13に供
給して表示させたり、あるいは警報装置に供給してオー
ブンおよびラップの場合に警報を発生させるのに用いる
本実施例によれば、光源3aからの照明による画像信号
および光源3bからの照明による画像信号をそれぞれ光
量むら補正処理および平滑化処理して暗濃度の幅を求め
るものであるから、光量むら、シート状物体表面の色、
光沢、粗さのばらつきに影響されることなく、その幅を
正確に求めることができ、したがって継目を常に高精度
で検査することができる。
なお、上述した実施例では判定回路12に至る各′画像
の処理回路を別個に設けたが、1つの画像における一連
の処理回路を他の画像処理において共用するように構成
することもできる。
(発明の効果) 以上述べたように、本発明によれば継目部の二次元的な
画像情報を取込むものであるから、シート状物体表面の
色、光沢、粗さのばらつきを容易に補正でき、したがっ
て継目を常に高精度で検査することができる。また、照
明光源、撮像装置、シート状物体を相対的に移動させる
ことなく、継口部を境とする一方および他方側からの照
明による順次の画像を取込んで処理するものであるから
、機械的構成および信号処理回路の電気的構成が簡単に
でき、したがって容易に実施することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図A〜C1第2図A、 B、第3図A−Cおよび第
4図A−Cは本発明の詳細な説明するための図、 第5図は本発明方法を実施する継目検査装置の一例の構
成図、 第6図A、Bおよび第7図はその動作を説明するための
図である。 1・・・シート状物体  1a、 lb・・・シート2
・・・撮像装置    3a、 3b・・・光源4・・
・スイッチ回路  5a、 5b・・・フレームメモリ
6a、 6b・・・ウィンドウ設定回路7a、 7b・
・・光量むら補強回路 8a、 8b・・・平滑化回路 9a、 9b・・・フレームメモリ 10a、 10b・・・積分回路 11a、 llb・・・幅検出回路 12・・・判定回路 工3・・・表示装置 特許出願人株式会社ブリヂストン 第3図 A       B       C 第4図 A       B        C第6図 A         B 第7図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、シート状物体の継目部を、継目方向を境に一方の側
    および他方の側からそれぞれ照明して撮像し、各々の画
    像信号の濃度分布に基づいて前記継目方向と直交する方
    向での暗濃度の幅を求め、これら暗濃度の幅と基準値と
    を比較して継目を検査することを特徴とするシート状物
    体の継目検査法。
JP6990985A 1985-04-04 1985-04-04 シ−ト状物体の継目検査法 Pending JPS61230006A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6990985A JPS61230006A (ja) 1985-04-04 1985-04-04 シ−ト状物体の継目検査法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6990985A JPS61230006A (ja) 1985-04-04 1985-04-04 シ−ト状物体の継目検査法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61230006A true JPS61230006A (ja) 1986-10-14

Family

ID=13416294

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6990985A Pending JPS61230006A (ja) 1985-04-04 1985-04-04 シ−ト状物体の継目検査法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61230006A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS649348A (en) * 1987-07-01 1989-01-12 Fuji Photo Film Co Ltd Junction inspecting apparatus
JPH01212305A (ja) * 1988-02-19 1989-08-25 Fuji Photo Film Co Ltd 接合検査方法および装置
US5245409A (en) * 1991-11-27 1993-09-14 Arvin Industries, Inc. Tube seam weld inspection device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS649348A (en) * 1987-07-01 1989-01-12 Fuji Photo Film Co Ltd Junction inspecting apparatus
JPH01212305A (ja) * 1988-02-19 1989-08-25 Fuji Photo Film Co Ltd 接合検査方法および装置
US5245409A (en) * 1991-11-27 1993-09-14 Arvin Industries, Inc. Tube seam weld inspection device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2397840B1 (en) Image inspecting apparatus, image inspecting method, image forming apparatus
US11892414B2 (en) Device and method for checking for surface defect, using image sensor
JPS61230006A (ja) シ−ト状物体の継目検査法
JP2678411B2 (ja) 海苔の検査方法および装置
JPS6043657B2 (ja) 物体状態検査方法
JPS61230005A (ja) シ−ト状物体の継目検査法
JPH1172439A (ja) 表面検査装置
JPH04296978A (ja) 選果装置
JP3007849B2 (ja) 物体表面の形状検出方法及び形状検出装置
KR20230024646A (ko) 이차전지 결함 검사장치 및 방법
JPH033884B2 (ja)
JPS6355445A (ja) 外観検査方式
JPH08233747A (ja) 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
JPS60207980A (ja) 画像取込用装置および方法
JPH10197455A (ja) 表面欠陥検査装置
JPH01227910A (ja) 光学検査装置
JPH11316841A (ja) 検査方法およびその装置
JPH0613444Y2 (ja) 密封容器の真空度検査装置
JPH11183151A (ja) 透明シート検査装置
JP3056552B2 (ja) 表面状態検査方法
JPS6319793Y2 (ja)
JPH05240738A (ja) ねじ検査方法およびその装置
JPH03210461A (ja) レーザ光学系装置
JPH03167416A (ja) 外観検査機
JPS6048578A (ja) パタ−ン検出装置