JPS61197499A - 無機化合物単結晶の成長方法 - Google Patents
無機化合物単結晶の成長方法Info
- Publication number
- JPS61197499A JPS61197499A JP3859585A JP3859585A JPS61197499A JP S61197499 A JPS61197499 A JP S61197499A JP 3859585 A JP3859585 A JP 3859585A JP 3859585 A JP3859585 A JP 3859585A JP S61197499 A JPS61197499 A JP S61197499A
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- Japan
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- single crystal
- compound
- group
- inorganic compound
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は、周期律表第■b族元素及び第Vb族元素から
なる無機化合物(以下rnr−v族化合物」という。)
の単結晶の成長方法に関する。
なる無機化合物(以下rnr−v族化合物」という。)
の単結晶の成長方法に関する。
「従来の技術」
ひ化ガリウム(G aA s)、リン化ガリウム(Ga
P)、リン化インジウム(InP)等の■−■族化合物
の単結晶は、発光ダイオード、電界効果トランジスター
(FET)、集積量m(IC)等の素材として多く用い
られている。
P)、リン化インジウム(InP)等の■−■族化合物
の単結晶は、発光ダイオード、電界効果トランジスター
(FET)、集積量m(IC)等の素材として多く用い
られている。
これらの単結晶は、ボート成長方法又は液体封止チョク
ラルスキー法(L 1quid −E neapsul
atedCzochralski法、以下rLEC法」
という。)により製造されるが、特に、LEC法は、得
られた単結晶の断面が円形であること、Si等の不純物
の混入が少なく高純度の単結晶が得られること等の利点
を有しているので、10%FET用のrtt−v族化合
物単結晶の成長方法として、広く採用されている。[今
井哲二等lii者(株)工業調査会発行[化合物半導体
デバイスJ[11pH5〜1201゜LEC法では、耐
圧容器内に設rnされたルツボに、■−■族化合物の多
結晶またはこれを生成すべき当量の第IIIb族元素及
び第Vb族元素、ならびにこれよりも低融、C:f、の
液体封止材(通常はB203)を収容し、当該■−■族
化合物の融烹以上に加熱して、■−■族化合物の融液お
よび液体封止材を形成する。この場合、液体封止材とし
ては、通常■−V族化合物の融液よりも比重が小さく、
相溶性のないものが選ばれるので、これが上記111−
V族化合物の融液の表面を覆って、直接耐圧容器内の雰
囲気との接触を遮断する6その結果、耐圧容器の内部は
、不活性がスにより高圧に保持され、蒸気圧の高いΔs
、 P等の第Vb族元素の逃散が防止できる。
ラルスキー法(L 1quid −E neapsul
atedCzochralski法、以下rLEC法」
という。)により製造されるが、特に、LEC法は、得
られた単結晶の断面が円形であること、Si等の不純物
の混入が少なく高純度の単結晶が得られること等の利点
を有しているので、10%FET用のrtt−v族化合
物単結晶の成長方法として、広く採用されている。[今
井哲二等lii者(株)工業調査会発行[化合物半導体
デバイスJ[11pH5〜1201゜LEC法では、耐
圧容器内に設rnされたルツボに、■−■族化合物の多
結晶またはこれを生成すべき当量の第IIIb族元素及
び第Vb族元素、ならびにこれよりも低融、C:f、の
液体封止材(通常はB203)を収容し、当該■−■族
化合物の融烹以上に加熱して、■−■族化合物の融液お
よび液体封止材を形成する。この場合、液体封止材とし
ては、通常■−V族化合物の融液よりも比重が小さく、
相溶性のないものが選ばれるので、これが上記111−
V族化合物の融液の表面を覆って、直接耐圧容器内の雰
囲気との接触を遮断する6その結果、耐圧容器の内部は
、不活性がスにより高圧に保持され、蒸気圧の高いΔs
、 P等の第Vb族元素の逃散が防止できる。
従来、この目的の不活性が又としては、窒素またはアル
ゴンを、単独で用いるのが一般的であった。
ゴンを、単独で用いるのが一般的であった。
[発明が解決しようとする問題点1
しかしながら、耐圧容器は水冷されており、その内壁の
温度は、通常は200°C以下である。一方、ルツポイ
」近は、IIT−V族化合物の融点付近の温度、すなわ
ち1200〜1500°Cである。従って耐圧容器内部
の温度勾配は非常に大さく、特に液体封止材中の温度勾
配は、数十〜数百”C/ canにも達する。その結果
、耐圧容器内に、不活性ガスの激しい対流が生じて、耐
圧容器内の温度勾配は乱れ、その不均一性が著しくなり
、成長させた単結晶には熱歪を残留させ、これが単結晶
中に転位等の結晶欠陥を生しる原因となっていた。
温度は、通常は200°C以下である。一方、ルツポイ
」近は、IIT−V族化合物の融点付近の温度、すなわ
ち1200〜1500°Cである。従って耐圧容器内部
の温度勾配は非常に大さく、特に液体封止材中の温度勾
配は、数十〜数百”C/ canにも達する。その結果
、耐圧容器内に、不活性ガスの激しい対流が生じて、耐
圧容器内の温度勾配は乱れ、その不均一性が著しくなり
、成長させた単結晶には熱歪を残留させ、これが単結晶
中に転位等の結晶欠陥を生しる原因となっていた。
この欠陥を除去するため、従来は、ルツボの周囲に、ヒ
ート・シールドと称される保温部材を設置し、その形状
及び位置を変化させて、耐圧容器内の熱環境を調節して
いた。しかしながら、好適なヒート・シールドの設計は
、長期間の試行錯誤を要し、がっ、ヒート・シールドの
形状によっては、成長した単結晶の取り出しも困難であ
った。
ート・シールドと称される保温部材を設置し、その形状
及び位置を変化させて、耐圧容器内の熱環境を調節して
いた。しかしながら、好適なヒート・シールドの設計は
、長期間の試行錯誤を要し、がっ、ヒート・シールドの
形状によっては、成長した単結晶の取り出しも困難であ
った。
本発明者等は、かかる問題点を解決することを目的とし
て、鋭意研究を重ねた結果、雰囲気として、2種の不活
性ガスを混合して用いることによって、耐圧容器内の熱
環境を調節し、その結果結晶欠陥の少ない旧−v族化合
物の単結晶を、LEC法によって成長させることがでさ
ることを見出して、本発明に到達したものである。
て、鋭意研究を重ねた結果、雰囲気として、2種の不活
性ガスを混合して用いることによって、耐圧容器内の熱
環境を調節し、その結果結晶欠陥の少ない旧−v族化合
物の単結晶を、LEC法によって成長させることがでさ
ることを見出して、本発明に到達したものである。
[問題点を解決するための手段」
本発明の上記の目的は、■−V族化合物単結晶をLEC
法によって成長させる方法において、耐圧容器内の雰囲
気を、窒素20〜90%及びアルゴン8O−ulo%か
らなる混合気体とすることによって達せられる。
法によって成長させる方法において、耐圧容器内の雰囲
気を、窒素20〜90%及びアルゴン8O−ulo%か
らなる混合気体とすることによって達せられる。
本発明方法によって、単結晶成長を行う■−■族化合物
としては、通常GULP、 GILAS、rnP等が用
いられる。また、LEC法による単結晶成長装置として
は、特に制限はなく、通常用いられているものでよい。
としては、通常GULP、 GILAS、rnP等が用
いられる。また、LEC法による単結晶成長装置として
は、特に制限はなく、通常用いられているものでよい。
雰囲気として用いられる混合ガスとしては、窒素20〜
90%及びアルゴン80へ、10%、好ましくは、窒素
40〜70%及びアルゴン60〜30%からなる混合ガ
スが適当である。窒素の含量が90%を超えると、結晶
欠陥が減少せず、20%未満では、同様に結晶欠陥が減
少しないばかりでなく第Vb族元素の逃散が激しくなる
ので、ともに好ましくない。なお、ここに言う混合比率
とは、窒素及びアルゴンの耐圧容器への充填圧の比率を
、百分率で表示したものである。耐圧容器内の圧力とし
ては、GaPの場合は60〜70 kg/ Cm2、G
a A sの場合は10〜60 kg/ ca+2、
またInPの場合は30〜50kg/am2がそれぞれ
一般的である。
90%及びアルゴン80へ、10%、好ましくは、窒素
40〜70%及びアルゴン60〜30%からなる混合ガ
スが適当である。窒素の含量が90%を超えると、結晶
欠陥が減少せず、20%未満では、同様に結晶欠陥が減
少しないばかりでなく第Vb族元素の逃散が激しくなる
ので、ともに好ましくない。なお、ここに言う混合比率
とは、窒素及びアルゴンの耐圧容器への充填圧の比率を
、百分率で表示したものである。耐圧容器内の圧力とし
ては、GaPの場合は60〜70 kg/ Cm2、G
a A sの場合は10〜60 kg/ ca+2、
またInPの場合は30〜50kg/am2がそれぞれ
一般的である。
その他の単結晶の成長条件は、通常のLEC法の条件で
よい6 「発明の効果」 本発明方法によると、従来法の如く、ヒート・シールド
の形状を変化させることなく、単に窒素及びアルゴンの
混合比率を調節することによって、耐圧容器内の熱環境
を調節し、結晶欠陥の少ない■−■族化合物の単結晶を
成長させることができるので、産業上の利用価値は大で
ある。
よい6 「発明の効果」 本発明方法によると、従来法の如く、ヒート・シールド
の形状を変化させることなく、単に窒素及びアルゴンの
混合比率を調節することによって、耐圧容器内の熱環境
を調節し、結晶欠陥の少ない■−■族化合物の単結晶を
成長させることができるので、産業上の利用価値は大で
ある。
「実施例」
実施例及び比較例に基づいて、本発明を、具体的に説明
する。
する。
以下の実施例及び比較例において、LECVc置として
は、英国メタルリサーチ社製1−M5R−6RJ型を用
いた。
は、英国メタルリサーチ社製1−M5R−6RJ型を用
いた。
また、転位密度は、75°Cの弗化水素1、濃硫酸2及
び30%過酸化水素1からなるエツチング液中に測定試
料を3公開浸漬した後、顕微鏡により測定したエッチ・
ビット密度(EPD)により表示し飢 実施例 石英ルツボ(直径10cm)内に、多結晶GaP700
g、B、03150gを仕込み、耐圧容器に装入した。
び30%過酸化水素1からなるエツチング液中に測定試
料を3公開浸漬した後、顕微鏡により測定したエッチ・
ビット密度(EPD)により表示し飢 実施例 石英ルツボ(直径10cm)内に、多結晶GaP700
g、B、03150gを仕込み、耐圧容器に装入した。
耐圧容器内を、真空ポンプによって、真空にした後窒素
を圧力が10 kg/ e+*2になるまで注入した。
を圧力が10 kg/ e+*2になるまで注入した。
続いて、合計圧力が20 kg/ 0m2となるまでア
ルゴンを注入した。
ルゴンを注入した。
次に、ルツボを取’7eむように設置した、ワイングラ
ス型のグラファイト製ヒーターを加熱して、ルツボ内の
GaP及びB、O,を融解した。耐圧容器内の圧力は、
60 kg/ e+a2に調整した。
ス型のグラファイト製ヒーターを加熱して、ルツボ内の
GaP及びB、O,を融解した。耐圧容器内の圧力は、
60 kg/ e+a2に調整した。
続いて、ルツボ及び種結晶を、相互に逆方向に回転させ
ながら、種結晶をGaP融液に接触させて、GaP単結
晶を<100>方向に引き上げた。
ながら、種結晶をGaP融液に接触させて、GaP単結
晶を<100>方向に引き上げた。
得られた単結晶は、直径50nu++、長さ75mmで
あった。EPDは、フロント部分で8 X 103c+
*−’、テイル部分で2.5X10’cm−’であった
。
あった。EPDは、フロント部分で8 X 103c+
*−’、テイル部分で2.5X10’cm−’であった
。
比較例1
雰囲気が又として窒素のみを用い、他の条件は実施例と
同様にして、GaP単結晶を成長させた6得られたGa
P単結晶は、直径49mm、長さ70IIIIIlであ
った。
同様にして、GaP単結晶を成長させた6得られたGa
P単結晶は、直径49mm、長さ70IIIIIlであ
った。
EPDは、フロント部分で3,9X 10’em−”、
テイル部分で12.5X10’cm−”であった。
テイル部分で12.5X10’cm−”であった。
比較例2
雰囲気ガスとしてアルゴンのみを用い、他の条件は実施
例と同様にして、GaP単結晶を成長させた6得られた
GaP単結晶は、Pの逃散が激しく、表面に多数の凹凸
を生じており、その断面は円形とならず、不定形であっ
た。その結果、スライシングの際破壊し、ウェハが得ら
れなかった。
例と同様にして、GaP単結晶を成長させた6得られた
GaP単結晶は、Pの逃散が激しく、表面に多数の凹凸
を生じており、その断面は円形とならず、不定形であっ
た。その結果、スライシングの際破壊し、ウェハが得ら
れなかった。
Claims (4)
- (1)周期律表第IIIb族元素及び第Vb族元素からな
る無機化合物の単結晶を、液体封止チョクラルスキー法
によって成長させる方法において、耐圧容器内の雰囲気
を、窒素20〜90%及びアルゴン80〜10%からな
る混合気体とすることを特徴とする方法。 - (2)周期律表第IIIb族元素及び第Vb族元素からな
る無機化合物が、リン化ガリウムである特許請求の範囲
第1項記載の方法。 - (3)周期律表第IIIb族元素及び第Vb族元素からな
る無機化合物が、ひ化ガリウムである特許請求の範囲第
1項記載の方法。 - (4)周期律表第IIIb族元素及び第Vb族元素からな
る無機化合物が、リン化インジウムである特許請求の範
囲第1項記載の方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3859585A JPS61197499A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | 無機化合物単結晶の成長方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3859585A JPS61197499A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | 無機化合物単結晶の成長方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61197499A true JPS61197499A (ja) | 1986-09-01 |
JPH0465035B2 JPH0465035B2 (ja) | 1992-10-16 |
Family
ID=12529641
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3859585A Granted JPS61197499A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | 無機化合物単結晶の成長方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61197499A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61201696A (ja) * | 1985-02-28 | 1986-09-06 | Agency Of Ind Science & Technol | 化合物半導体単結晶の製造方法 |
EP0355833A2 (en) * | 1988-08-25 | 1990-02-28 | Shin-Etsu Handotai Company Limited | Method of producing compound semiconductor single crystal |
US5041186A (en) * | 1987-11-30 | 1991-08-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for manufacturing compound semiconductor single crystals using a hydrogen monitor gas |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57156396A (en) * | 1981-03-16 | 1982-09-27 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Pulling up of single crystal at high pressure |
-
1985
- 1985-02-27 JP JP3859585A patent/JPS61197499A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57156396A (en) * | 1981-03-16 | 1982-09-27 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Pulling up of single crystal at high pressure |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61201696A (ja) * | 1985-02-28 | 1986-09-06 | Agency Of Ind Science & Technol | 化合物半導体単結晶の製造方法 |
JPH0329036B2 (ja) * | 1985-02-28 | 1991-04-22 | Kogyo Gijutsuin | |
US5041186A (en) * | 1987-11-30 | 1991-08-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for manufacturing compound semiconductor single crystals using a hydrogen monitor gas |
EP0355833A2 (en) * | 1988-08-25 | 1990-02-28 | Shin-Etsu Handotai Company Limited | Method of producing compound semiconductor single crystal |
JPH0259489A (ja) * | 1988-08-25 | 1990-02-28 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 化合物半導体単結晶の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0465035B2 (ja) | 1992-10-16 |
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