JPS61197499A - 無機化合物単結晶の成長方法 - Google Patents

無機化合物単結晶の成長方法

Info

Publication number
JPS61197499A
JPS61197499A JP3859585A JP3859585A JPS61197499A JP S61197499 A JPS61197499 A JP S61197499A JP 3859585 A JP3859585 A JP 3859585A JP 3859585 A JP3859585 A JP 3859585A JP S61197499 A JPS61197499 A JP S61197499A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
single crystal
compound
group
inorganic compound
liquid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3859585A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0465035B2 (ja
Inventor
Toshihiko Ibuka
井深 敏彦
Toru Yoshino
徹 吉野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Kasei Polytec Co
Mitsubishi Kasei Corp
Original Assignee
Mitsubishi Kasei Corp
Mitsubishi Monsanto Chemical Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Kasei Corp, Mitsubishi Monsanto Chemical Co filed Critical Mitsubishi Kasei Corp
Priority to JP3859585A priority Critical patent/JPS61197499A/ja
Publication of JPS61197499A publication Critical patent/JPS61197499A/ja
Publication of JPH0465035B2 publication Critical patent/JPH0465035B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、周期律表第■b族元素及び第Vb族元素から
なる無機化合物(以下rnr−v族化合物」という。)
の単結晶の成長方法に関する。
「従来の技術」 ひ化ガリウム(G aA s)、リン化ガリウム(Ga
P)、リン化インジウム(InP)等の■−■族化合物
の単結晶は、発光ダイオード、電界効果トランジスター
(FET)、集積量m(IC)等の素材として多く用い
られている。
これらの単結晶は、ボート成長方法又は液体封止チョク
ラルスキー法(L 1quid −E neapsul
atedCzochralski法、以下rLEC法」
という。)により製造されるが、特に、LEC法は、得
られた単結晶の断面が円形であること、Si等の不純物
の混入が少なく高純度の単結晶が得られること等の利点
を有しているので、10%FET用のrtt−v族化合
物単結晶の成長方法として、広く採用されている。[今
井哲二等lii者(株)工業調査会発行[化合物半導体
デバイスJ[11pH5〜1201゜LEC法では、耐
圧容器内に設rnされたルツボに、■−■族化合物の多
結晶またはこれを生成すべき当量の第IIIb族元素及
び第Vb族元素、ならびにこれよりも低融、C:f、の
液体封止材(通常はB203)を収容し、当該■−■族
化合物の融烹以上に加熱して、■−■族化合物の融液お
よび液体封止材を形成する。この場合、液体封止材とし
ては、通常■−V族化合物の融液よりも比重が小さく、
相溶性のないものが選ばれるので、これが上記111−
V族化合物の融液の表面を覆って、直接耐圧容器内の雰
囲気との接触を遮断する6その結果、耐圧容器の内部は
、不活性がスにより高圧に保持され、蒸気圧の高いΔs
、 P等の第Vb族元素の逃散が防止できる。
従来、この目的の不活性が又としては、窒素またはアル
ゴンを、単独で用いるのが一般的であった。
[発明が解決しようとする問題点1 しかしながら、耐圧容器は水冷されており、その内壁の
温度は、通常は200°C以下である。一方、ルツポイ
」近は、IIT−V族化合物の融点付近の温度、すなわ
ち1200〜1500°Cである。従って耐圧容器内部
の温度勾配は非常に大さく、特に液体封止材中の温度勾
配は、数十〜数百”C/ canにも達する。その結果
、耐圧容器内に、不活性ガスの激しい対流が生じて、耐
圧容器内の温度勾配は乱れ、その不均一性が著しくなり
、成長させた単結晶には熱歪を残留させ、これが単結晶
中に転位等の結晶欠陥を生しる原因となっていた。
この欠陥を除去するため、従来は、ルツボの周囲に、ヒ
ート・シールドと称される保温部材を設置し、その形状
及び位置を変化させて、耐圧容器内の熱環境を調節して
いた。しかしながら、好適なヒート・シールドの設計は
、長期間の試行錯誤を要し、がっ、ヒート・シールドの
形状によっては、成長した単結晶の取り出しも困難であ
った。
本発明者等は、かかる問題点を解決することを目的とし
て、鋭意研究を重ねた結果、雰囲気として、2種の不活
性ガスを混合して用いることによって、耐圧容器内の熱
環境を調節し、その結果結晶欠陥の少ない旧−v族化合
物の単結晶を、LEC法によって成長させることがでさ
ることを見出して、本発明に到達したものである。
[問題点を解決するための手段」 本発明の上記の目的は、■−V族化合物単結晶をLEC
法によって成長させる方法において、耐圧容器内の雰囲
気を、窒素20〜90%及びアルゴン8O−ulo%か
らなる混合気体とすることによって達せられる。
本発明方法によって、単結晶成長を行う■−■族化合物
としては、通常GULP、 GILAS、rnP等が用
いられる。また、LEC法による単結晶成長装置として
は、特に制限はなく、通常用いられているものでよい。
雰囲気として用いられる混合ガスとしては、窒素20〜
90%及びアルゴン80へ、10%、好ましくは、窒素
40〜70%及びアルゴン60〜30%からなる混合ガ
スが適当である。窒素の含量が90%を超えると、結晶
欠陥が減少せず、20%未満では、同様に結晶欠陥が減
少しないばかりでなく第Vb族元素の逃散が激しくなる
ので、ともに好ましくない。なお、ここに言う混合比率
とは、窒素及びアルゴンの耐圧容器への充填圧の比率を
、百分率で表示したものである。耐圧容器内の圧力とし
ては、GaPの場合は60〜70 kg/ Cm2、G
 a A sの場合は10〜60 kg/ ca+2、
またInPの場合は30〜50kg/am2がそれぞれ
一般的である。
その他の単結晶の成長条件は、通常のLEC法の条件で
よい6 「発明の効果」 本発明方法によると、従来法の如く、ヒート・シールド
の形状を変化させることなく、単に窒素及びアルゴンの
混合比率を調節することによって、耐圧容器内の熱環境
を調節し、結晶欠陥の少ない■−■族化合物の単結晶を
成長させることができるので、産業上の利用価値は大で
ある。
「実施例」 実施例及び比較例に基づいて、本発明を、具体的に説明
する。
以下の実施例及び比較例において、LECVc置として
は、英国メタルリサーチ社製1−M5R−6RJ型を用
いた。
また、転位密度は、75°Cの弗化水素1、濃硫酸2及
び30%過酸化水素1からなるエツチング液中に測定試
料を3公開浸漬した後、顕微鏡により測定したエッチ・
ビット密度(EPD)により表示し飢 実施例 石英ルツボ(直径10cm)内に、多結晶GaP700
g、B、03150gを仕込み、耐圧容器に装入した。
耐圧容器内を、真空ポンプによって、真空にした後窒素
を圧力が10 kg/ e+*2になるまで注入した。
続いて、合計圧力が20 kg/ 0m2となるまでア
ルゴンを注入した。
次に、ルツボを取’7eむように設置した、ワイングラ
ス型のグラファイト製ヒーターを加熱して、ルツボ内の
GaP及びB、O,を融解した。耐圧容器内の圧力は、
60 kg/ e+a2に調整した。
続いて、ルツボ及び種結晶を、相互に逆方向に回転させ
ながら、種結晶をGaP融液に接触させて、GaP単結
晶を<100>方向に引き上げた。
得られた単結晶は、直径50nu++、長さ75mmで
あった。EPDは、フロント部分で8 X 103c+
*−’、テイル部分で2.5X10’cm−’であった
比較例1 雰囲気が又として窒素のみを用い、他の条件は実施例と
同様にして、GaP単結晶を成長させた6得られたGa
P単結晶は、直径49mm、長さ70IIIIIlであ
った。
EPDは、フロント部分で3,9X 10’em−”、
テイル部分で12.5X10’cm−”であった。
比較例2 雰囲気ガスとしてアルゴンのみを用い、他の条件は実施
例と同様にして、GaP単結晶を成長させた6得られた
GaP単結晶は、Pの逃散が激しく、表面に多数の凹凸
を生じており、その断面は円形とならず、不定形であっ
た。その結果、スライシングの際破壊し、ウェハが得ら
れなかった。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)周期律表第IIIb族元素及び第Vb族元素からな
    る無機化合物の単結晶を、液体封止チョクラルスキー法
    によって成長させる方法において、耐圧容器内の雰囲気
    を、窒素20〜90%及びアルゴン80〜10%からな
    る混合気体とすることを特徴とする方法。
  2. (2)周期律表第IIIb族元素及び第Vb族元素からな
    る無機化合物が、リン化ガリウムである特許請求の範囲
    第1項記載の方法。
  3. (3)周期律表第IIIb族元素及び第Vb族元素からな
    る無機化合物が、ひ化ガリウムである特許請求の範囲第
    1項記載の方法。
  4. (4)周期律表第IIIb族元素及び第Vb族元素からな
    る無機化合物が、リン化インジウムである特許請求の範
    囲第1項記載の方法。
JP3859585A 1985-02-27 1985-02-27 無機化合物単結晶の成長方法 Granted JPS61197499A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3859585A JPS61197499A (ja) 1985-02-27 1985-02-27 無機化合物単結晶の成長方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3859585A JPS61197499A (ja) 1985-02-27 1985-02-27 無機化合物単結晶の成長方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61197499A true JPS61197499A (ja) 1986-09-01
JPH0465035B2 JPH0465035B2 (ja) 1992-10-16

Family

ID=12529641

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3859585A Granted JPS61197499A (ja) 1985-02-27 1985-02-27 無機化合物単結晶の成長方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61197499A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61201696A (ja) * 1985-02-28 1986-09-06 Agency Of Ind Science & Technol 化合物半導体単結晶の製造方法
EP0355833A2 (en) * 1988-08-25 1990-02-28 Shin-Etsu Handotai Company Limited Method of producing compound semiconductor single crystal
US5041186A (en) * 1987-11-30 1991-08-20 Kabushiki Kaisha Toshiba Method for manufacturing compound semiconductor single crystals using a hydrogen monitor gas

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57156396A (en) * 1981-03-16 1982-09-27 Sumitomo Electric Ind Ltd Pulling up of single crystal at high pressure

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57156396A (en) * 1981-03-16 1982-09-27 Sumitomo Electric Ind Ltd Pulling up of single crystal at high pressure

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61201696A (ja) * 1985-02-28 1986-09-06 Agency Of Ind Science & Technol 化合物半導体単結晶の製造方法
JPH0329036B2 (ja) * 1985-02-28 1991-04-22 Kogyo Gijutsuin
US5041186A (en) * 1987-11-30 1991-08-20 Kabushiki Kaisha Toshiba Method for manufacturing compound semiconductor single crystals using a hydrogen monitor gas
EP0355833A2 (en) * 1988-08-25 1990-02-28 Shin-Etsu Handotai Company Limited Method of producing compound semiconductor single crystal
JPH0259489A (ja) * 1988-08-25 1990-02-28 Shin Etsu Handotai Co Ltd 化合物半導体単結晶の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0465035B2 (ja) 1992-10-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6273948B1 (en) Method of fabrication of highly resistive GaN bulk crystals
JPH03122097A (ja) 単結晶の2‐6族または3‐5族化合物の製造法及びそれより作られる製品
JPS61197499A (ja) 無機化合物単結晶の成長方法
JPH0341433B2 (ja)
JPH0234597A (ja) 水平ブリッジマン法によるGaAs単結晶の成長方法
JPH0244798B2 (ja)
JPH0557240B2 (ja)
JPS61178497A (ja) 低転位密度ひ化ガリウム単結晶の成長方法
JP2001180918A (ja) リン化インジウムの直接合成法
RU2534106C1 (ru) Способ получения крупногабаритных малодислокационных монокристаллов антимонида галлия
JPS5912639B2 (ja) 結晶成長法
JPS6259598A (ja) リン化インジウム単結晶およびその製造方法
JP2003146791A (ja) 化合物半導体単結晶の製造方法
JPS5983999A (ja) 3−5族化合物単結晶の製造方法
JPS6355195A (ja) 無機化合物単結晶の成長方法
JPS62105999A (ja) GaAs単結晶の製造方法とこれに用いる装置
JP3412853B2 (ja) 半導体結晶の製造装置
JPS5869800A (ja) 3−5族化合物半導体の結晶成長方法
JPS61117198A (ja) InP単結晶の成長用溶解物およびその使用法
Talyzin et al. The Preparation and Properties of Indium Phosphide
JPH0818904B2 (ja) ▲iii▼−▲v▼族化合物半導体単結晶の製造方法
JP2737990B2 (ja) 化合物半導体単結晶製造装置
JPS62119198A (ja) 磁場印加単結晶回転引き上げ装置
JPS6389497A (ja) 珪素添加ガリウム砒素単結晶の製造方法
JP2766716B2 (ja) 単結晶の製造方法