JPS61196341A - メモリの誤り訂正方式 - Google Patents
メモリの誤り訂正方式Info
- Publication number
- JPS61196341A JPS61196341A JP60036582A JP3658285A JPS61196341A JP S61196341 A JPS61196341 A JP S61196341A JP 60036582 A JP60036582 A JP 60036582A JP 3658285 A JP3658285 A JP 3658285A JP S61196341 A JPS61196341 A JP S61196341A
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- JP
- Japan
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- bus
- memory
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- Detection And Correction Of Errors (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、例えばマイクロコンピュータシステムの如
きコンピュータシステム、特にかかるシステムにおける
RAM(ランタームアクセスメモリ)の誤り訂正方式に
関する。
きコンピュータシステム、特にかかるシステムにおける
RAM(ランタームアクセスメモリ)の誤り訂正方式に
関する。
マイクロコンピュータシステムにおけるRAMの信頼性
を向上させる方法として、 (I)パリティビットのチェックによる方法。
を向上させる方法として、 (I)パリティビットのチェックによる方法。
(II)ハミングコード等による検査ビットをデータに
付加する方法。
付加する方法。
の2つの方法がよく知られている。
このうち、(I)パリティチェックによる方法では、回
路構成としては本来のデータ用メモリ素子(RAM)の
他に、パリティビットの生成とチェックを行なうための
回路と、生成されたパリティビットを格納しておくため
のRAMとが設けられる。
路構成としては本来のデータ用メモリ素子(RAM)の
他に、パリティビットの生成とチェックを行なうための
回路と、生成されたパリティビットを格納しておくため
のRAMとが設けられる。
この場合の動作は、
1)データをRAMへ書き込む際に、そのデータのパリ
ティを生成してパリティビット用のRAMへ格納する。
ティを生成してパリティビット用のRAMへ格納する。
+1) データの読み出し時にそのデータに対するパ
リティを改めて生成し、データ書き込み時にRAMへ格
納したパリティビットとの比較を行なってデータ誤りの
発生を検出する。
リティを改めて生成し、データ書き込み時にRAMへ格
納したパリティビットとの比較を行なってデータ誤りの
発生を検出する。
というものであり、比較的簡単な回路構成でビット誤り
を検出することができる。
を検出することができる。
次に、(n)ハミングコード等による方法では、例えば
8ビツトのデータに5ビツトの検査ビットを加えること
により、1ビット誤りの検出とその訂正および2ビット
誤りの検出を行なうことができる。第6図は、誤り検出
および訂正(以下、ECCともいう。)方式の従来例を
示す構成図である。なお、同図において、2はデータ用
RAM。
8ビツトのデータに5ビツトの検査ビットを加えること
により、1ビット誤りの検出とその訂正および2ビット
誤りの検出を行なうことができる。第6図は、誤り検出
および訂正(以下、ECCともいう。)方式の従来例を
示す構成図である。なお、同図において、2はデータ用
RAM。
5はデータバス、11は検査ビット用RAM、12゜1
3は検査ビット発生器、14は誤り判定回路、15は誤
りビット訂正回路である。
3は検査ビット発生器、14は誤り判定回路、15は誤
りビット訂正回路である。
以下、第6図の動作について、書き込みサイクルと読み
出しサイクルとに分けて説明する。
出しサイクルとに分けて説明する。
1)データの書き込みサイクル
書き込みデータDwは、データ用RAM2へ書き込まれ
る。これと同時に、検査ビット発生器12で作られた書
き込みデータDWの検査ピッ) Cwが、検査ビット用
RAM11へ格納される。
る。これと同時に、検査ビット発生器12で作られた書
き込みデータDWの検査ピッ) Cwが、検査ビット用
RAM11へ格納される。
2)データの読み出しサイクル
(1)データ用FLAM2より読み出されるデータDw
′から、データ書き込み時と同じ(検査ビット発生器1
3により、検査ビットCRが生成される。
′から、データ書き込み時と同じ(検査ビット発生器1
3により、検査ビットCRが生成される。
(11)誤り判定回路14は、検査ピッ)CRと検査ビ
ット用RAM11から読み出される検査ビットCw′と
を比較する。
ット用RAM11から読み出される検査ビットCw′と
を比較する。
(fil)その結果、cR−Cw’のときは誤りビット
なしとして、誤りビットの訂正情報Eのビットをすべて
@0#とする。一方、cR←Cw′で、不一致のビット
のパターンが1ビット誤りに相当するものである場合は
、訂正情報Eのビットのうち誤りビット位置に相当する
ビットのみを′1”とする。これに対し、cR〜Cw′
で、不一致のビットのパターンが1ビット誤りに相当す
るものでない場合は、訂正不能な誤りの発生として故障
信号Fを発生する。
なしとして、誤りビットの訂正情報Eのビットをすべて
@0#とする。一方、cR←Cw′で、不一致のビット
のパターンが1ビット誤りに相当するものである場合は
、訂正情報Eのビットのうち誤りビット位置に相当する
ビットのみを′1”とする。これに対し、cR〜Cw′
で、不一致のビットのパターンが1ビット誤りに相当す
るものでない場合は、訂正不能な誤りの発生として故障
信号Fを発生する。
(1v)誤りビット訂正回路15ば、RAM2からの読
み出しデータDw′と訂正蕾報Eとの排他的論理和をと
り、その結果を読み出しデータDRとして出力する。こ
こで、誤りビットがない場合E wOであるからDR=
1)w/となる。また、1ビット誤りの場合データD
w′のうち誤りビットのみ1゜0が反転する(誤りが訂
正される)。この結果、1ビット誤りの検出とその訂正
および2ビット誤りの検出が行なわれる。
み出しデータDw′と訂正蕾報Eとの排他的論理和をと
り、その結果を読み出しデータDRとして出力する。こ
こで、誤りビットがない場合E wOであるからDR=
1)w/となる。また、1ビット誤りの場合データD
w′のうち誤りビットのみ1゜0が反転する(誤りが訂
正される)。この結果、1ビット誤りの検出とその訂正
および2ビット誤りの検出が行なわれる。
しかしながら、上記(I)の方法では誤りが発生してい
るという状態を検出するだけで、それ以上のこと、例え
ば誤りビットの特定および該ビットの反転をとることに
よるデータの訂正等を行なうことができないという、永
質的な問題を有している。
るという状態を検出するだけで、それ以上のこと、例え
ば誤りビットの特定および該ビットの反転をとることに
よるデータの訂正等を行なうことができないという、永
質的な問題を有している。
一万、上記(II)の方法には、以下の如き問題点があ
る。
る。
1)パリティチェック方式に比べて回路が複雑となる。
特に、第5図のRAM2.11としては、データの入力
端子と出力端子が同一端子になっているのが一般的であ
り、このため、現実的な回路構成としては、データの書
き込み時と読出し時とでデータの向きをDWからD W
/へ変えるべ(、)くスの切換回路が必要となる。
端子と出力端子が同一端子になっているのが一般的であ
り、このため、現実的な回路構成としては、データの書
き込み時と読出し時とでデータの向きをDWからD W
/へ変えるべ(、)くスの切換回路が必要となる。
2)誤り訂正が可能な場合、読み出しサイクルでデータ
バス上に出るデータDRは訂正された正しいデータであ
るが、データ用FLAM2に格納されているデータは、
依然として誤りを含んだデータである。
バス上に出るデータDRは訂正された正しいデータであ
るが、データ用FLAM2に格納されているデータは、
依然として誤りを含んだデータである。
3)データ用RAM2のデータ訂正を行なう方法として
は、 (イ)誤り発生アドレス、誤り訂正情報等をノ・−ドウ
エアで一時保持しておき、後でそれらの情報を用いてソ
フトウェアで訂正を行なう方法。
は、 (イ)誤り発生アドレス、誤り訂正情報等をノ・−ドウ
エアで一時保持しておき、後でそれらの情報を用いてソ
フトウェアで訂正を行なう方法。
(ロ)誤り訂正回路で訂正されたデータDRを使って、
直ちにデータ用RAMへ書き込むためのメモリサイクル
’!−CPUの動作とは無関係に、或はCPUの動作を
一時中断して発生させ、RAMへ訂正されたデータDR
t″書き込む方法。
直ちにデータ用RAMへ書き込むためのメモリサイクル
’!−CPUの動作とは無関係に、或はCPUの動作を
一時中断して発生させ、RAMへ訂正されたデータDR
t″書き込む方法。
があるが、いずれの方法もそのための特別な回路を新た
に必要とする。特に、後者の場合は回路構成が複雑とな
るのに加えて、回路の動作タイミングを保証することが
きわめて難しくなる。
に必要とする。特に、後者の場合は回路構成が複雑とな
るのに加えて、回路の動作タイミングを保証することが
きわめて難しくなる。
〔問題点を解決するための手段および作用〕マイクロコ
ンピュータシステムにおけるデータバスとメモリ(RA
M)との間に、RAMへの書き込みデータに対して誤り
訂正と誤り検出が可能となるような検査ビットを加えた
冗長データを生成する機能を有する回路と、RAMから
のデータ読み出し時にその冗長データから誤りの検出と
訂正ヲ行すってマイクロコンピュータへの読み出しデー
タを再生する機能を有する回路とを設けることにより、
マイクロコンピュータのデータ読み出しにおけるデータ
の誤り訂正、誤り検出を行なうとともに、この機能とマ
イクロコンピュータがメモリの読み出し、書き込みを行
なう動作とを組み合わせて、メモリに格納されているデ
ータの誤り訂正をも行なうようにする。
ンピュータシステムにおけるデータバスとメモリ(RA
M)との間に、RAMへの書き込みデータに対して誤り
訂正と誤り検出が可能となるような検査ビットを加えた
冗長データを生成する機能を有する回路と、RAMから
のデータ読み出し時にその冗長データから誤りの検出と
訂正ヲ行すってマイクロコンピュータへの読み出しデー
タを再生する機能を有する回路とを設けることにより、
マイクロコンピュータのデータ読み出しにおけるデータ
の誤り訂正、誤り検出を行なうとともに、この機能とマ
イクロコンピュータがメモリの読み出し、書き込みを行
なう動作とを組み合わせて、メモリに格納されているデ
ータの誤り訂正をも行なうようにする。
第1図はこの発明の実施例を示す構成図、第2図はマイ
クロコンピュータの動作を説明するためのフローチャー
トである。第1図に示されるように、この実施例はマイ
クロコンピュータ1、FLA。
クロコンピュータの動作を説明するためのフローチャー
トである。第1図に示されるように、この実施例はマイ
クロコンピュータ1、FLA。
M2、検査ビットデコーダ6、検査ピットデコーダ4、
データバス5、アドレス・コントロールバス6およびE
CCバス7等から構成される。
データバス5、アドレス・コントロールバス6およびE
CCバス7等から構成される。
まず、メモリへの書き込みサイクルでは、マイクロコン
ピュータ1は書き込みデータDwをデータバス5に、書
き込み先アドレスAをアドレス・コントロールバス6へ
それぞれ出力するとともに、書き込み制御信号Wをアク
ティブにする。検査ピットエンコーダ3は、書き込み制
御信号Wがアクティブになっている間、データバス5か
らの人力データDWに応じて、このデータDWとDWに
対応する検査ビットとを合わせた冗長データCwをEC
Cバス7に出力する。RAM2は書き込み制御信号Wが
アクティブの間、ECCバス7に出力されている冗長デ
ータCwを、書き込み制御信号Wがアクティブ→イナク
ティブへ切り換わるタイミングで書き込み先アドレスA
に応じて書き込む。
ピュータ1は書き込みデータDwをデータバス5に、書
き込み先アドレスAをアドレス・コントロールバス6へ
それぞれ出力するとともに、書き込み制御信号Wをアク
ティブにする。検査ピットエンコーダ3は、書き込み制
御信号Wがアクティブになっている間、データバス5か
らの人力データDWに応じて、このデータDWとDWに
対応する検査ビットとを合わせた冗長データCwをEC
Cバス7に出力する。RAM2は書き込み制御信号Wが
アクティブの間、ECCバス7に出力されている冗長デ
ータCwを、書き込み制御信号Wがアクティブ→イナク
ティブへ切り換わるタイミングで書き込み先アドレスA
に応じて書き込む。
一方、メモリからの読み出しサイクルでは、マイクロコ
ンピュータ1は読み出しアドレスAをアドレス・コント
ロールバス6へ出力するとともに、読み出し制御信号R
をアクティブにする。RAM2は読み出し制御信号Rが
アクティブの間、読み出しアドレスAに応じた冗長デー
タCRをECCバス7へ出力する。検査ビットデコーダ
4は読み出し制御信号Rがアクティブの間、ECCバヌ
7上(D冗長データCRのピットのパターンを判定し、
それが有効なパターンである場合、すなわち誤りがない
かまたは訂正可能な誤りである場合は、そのパターンか
ら一意的に決まる元のデータDRに再生してそれをデー
タバス5へ出力する。また、冗長データcRのパターン
が無効なもの(誤り訂正が不能)の場合は、故障信号E
をマイクロコンピュータ1へ出力する。
ンピュータ1は読み出しアドレスAをアドレス・コント
ロールバス6へ出力するとともに、読み出し制御信号R
をアクティブにする。RAM2は読み出し制御信号Rが
アクティブの間、読み出しアドレスAに応じた冗長デー
タCRをECCバス7へ出力する。検査ビットデコーダ
4は読み出し制御信号Rがアクティブの間、ECCバヌ
7上(D冗長データCRのピットのパターンを判定し、
それが有効なパターンである場合、すなわち誤りがない
かまたは訂正可能な誤りである場合は、そのパターンか
ら一意的に決まる元のデータDRに再生してそれをデー
タバス5へ出力する。また、冗長データcRのパターン
が無効なもの(誤り訂正が不能)の場合は、故障信号E
をマイクロコンピュータ1へ出力する。
マイクロコンピュータ1はデータバス5.アドレス・コ
ントロールバス6を介して通常の処理を行うほかに、第
2図のフローチャートで示されるような処理を通常の処
理の合い間に、1回ずつ繰り返して実行する。ここで、
第2図のフローチャートにて実行されるELead W
rite命令とは、アドレスポインタPTFLで示され
るアドレスに対してメモリ読み出しサイクルとメモリ書
き込みサイクルを連続して発生し、かつ、そのデータの
内容の変更を伴わない命令、例えば a)PTRで示されるメモリ内容に′0#を加算して、
その結果を同一アドレスに格納する命令b)PTRで示
されるメモリ内容から0”を減算して、その結果を同一
アドレスに格納する命令 c)PTRで示されるメモリ内容と”0”との論理和を
とって、その結果を同一アドレスに格納する命令 d)PTFLで示されるメモリ内容と°1#との論理積
をとって、その結果を同一アドレスに格納する命令 等の如く、通常のコンピュータにて実行可能な命令であ
る。
ントロールバス6を介して通常の処理を行うほかに、第
2図のフローチャートで示されるような処理を通常の処
理の合い間に、1回ずつ繰り返して実行する。ここで、
第2図のフローチャートにて実行されるELead W
rite命令とは、アドレスポインタPTFLで示され
るアドレスに対してメモリ読み出しサイクルとメモリ書
き込みサイクルを連続して発生し、かつ、そのデータの
内容の変更を伴わない命令、例えば a)PTRで示されるメモリ内容に′0#を加算して、
その結果を同一アドレスに格納する命令b)PTRで示
されるメモリ内容から0”を減算して、その結果を同一
アドレスに格納する命令 c)PTRで示されるメモリ内容と”0”との論理和を
とって、その結果を同一アドレスに格納する命令 d)PTFLで示されるメモリ内容と°1#との論理積
をとって、その結果を同一アドレスに格納する命令 等の如く、通常のコンピュータにて実行可能な命令であ
る。
この結果、メモリ読み出しサイクルで、RAM2から読
み出されるデータcRが誤りがないかまたは訂正可能な
誤りである場合は、マイクロコンピュータ1に読み込ま
れるデータDRは正しいデータであり、従って、次のメ
モリ書き込みサイクルで書き込みデータDW(DRと同
じ)に対応する冗長データCwtRAM2へ書き込むこ
とによって、メモリFLAM2内のデータの誤り訂正を
行なうことができる。
み出されるデータcRが誤りがないかまたは訂正可能な
誤りである場合は、マイクロコンピュータ1に読み込ま
れるデータDRは正しいデータであり、従って、次のメ
モリ書き込みサイクルで書き込みデータDW(DRと同
じ)に対応する冗長データCwtRAM2へ書き込むこ
とによって、メモリFLAM2内のデータの誤り訂正を
行なうことができる。
なお、マイクロコンピュータ1によるこのような処理は
、[tAM2のすべてのデータに対して無差別に実施さ
れることになるため、誤り訂正を行なう必要のないデー
タに対しても訂正を行なってしまう反面、本来訂正すべ
きメモリのデータがすぐには訂正されないことになる。
、[tAM2のすべてのデータに対して無差別に実施さ
れることになるため、誤り訂正を行なう必要のないデー
タに対しても訂正を行なってしまう反面、本来訂正すべ
きメモリのデータがすぐには訂正されないことになる。
しかし、誤り訂正を行なう必要のないデータ、すなわち
正しいデータを訂正しても結果は変わらないこと、また
、訂正すべきメモリデータもそれがFCCにより訂正可
能な限りにおいてはマイクロコンピュータ1から見て実
用上問題はなく訂正に緊急性はないこと等を考慮すれは
、上記の如き処理は誤り訂正に際して何ら訂正情報を必
要としないので、そのための特別なハードウェアが不要
であるというメリットがもたらされるものである。
正しいデータを訂正しても結果は変わらないこと、また
、訂正すべきメモリデータもそれがFCCにより訂正可
能な限りにおいてはマイクロコンピュータ1から見て実
用上問題はなく訂正に緊急性はないこと等を考慮すれは
、上記の如き処理は誤り訂正に際して何ら訂正情報を必
要としないので、そのための特別なハードウェアが不要
であるというメリットがもたらされるものである。
なお、この発明で使用する検査ピットエンコーダ3.検
査ビットデコーダ4は、以下の如くすることができる。
査ビットデコーダ4は、以下の如くすることができる。
イ)エンコーダ、デコーダともに入力データに対して一
様に出力が決まる論理演算を行なえばよいことから、R
OM等によるパターンジェネレータ機能で実現すること
ができる。
様に出力が決まる論理演算を行なえばよいことから、R
OM等によるパターンジェネレータ機能で実現すること
ができる。
口)エンコーダ、デコーダに要求される動的な特性とし
ては、入力から出力への遅延時間のみを考慮すればよ(
、シかもメモリに対するアクセスタイムと同一に扱うこ
とができるため、回路動作における微妙なタイミングの
管理をする必要がない。
ては、入力から出力への遅延時間のみを考慮すればよ(
、シかもメモリに対するアクセスタイムと同一に扱うこ
とができるため、回路動作における微妙なタイミングの
管理をする必要がない。
ハ)エンコーダ、デコーダはマイクロコンピュータで使
用されるデータと冗長データの間の符号の変換のみを行
なうため、その構成(構造)はデータのビット長とEC
Cの方式のみに依存し、アドレスには依存しない。従っ
て、任意のアドレス空間(メモリ容i)に対して適用が
可能である。
用されるデータと冗長データの間の符号の変換のみを行
なうため、その構成(構造)はデータのビット長とEC
Cの方式のみに依存し、アドレスには依存しない。従っ
て、任意のアドレス空間(メモリ容i)に対して適用が
可能である。
二)工/コーダ、デコーダによってデータバスとECC
バスとを分離しており、いわばバッファとしての機能も
果している。このため、入力。
バスとを分離しており、いわばバッファとしての機能も
果している。このため、入力。
出力が同一端子になっているRAMを使用して誤り訂正
を行なう場合にもデータバスの切り換えを考慮する必要
がない。さらに、複数のメモリ素子で大容量のメモリを
構成する場合でも、データバス側からはエンコーダ、デ
コーダの(電気的な)負荷のみを考慮すればよい。
を行なう場合にもデータバスの切り換えを考慮する必要
がない。さらに、複数のメモリ素子で大容量のメモリを
構成する場合でも、データバス側からはエンコーダ、デ
コーダの(電気的な)負荷のみを考慮すればよい。
この発明によれば、メモリの誤り検出および訂正を行な
う回路において、書き込みデータから実際にメモリへ格
納する検査ピットを加えた冗長データへの変換および冗
長データからのデータの逆変換ならびに誤り訂正、検出
機能を論理的な演算による符号の変換器として構成する
ようにしたから、簡便な回路構成でマイクロコンピュー
タニヨるメモリの読み書き動作に対する誤り訂正、検出
機能を実現し、かつ、これとマイクロコンピュータによ
るメモリの読み書き動作とを組み合わせることにより、
メモリに格納された冗長データの誤り訂正を新たな回路
を追加することなしに実現することができる利点がもた
らされる。
う回路において、書き込みデータから実際にメモリへ格
納する検査ピットを加えた冗長データへの変換および冗
長データからのデータの逆変換ならびに誤り訂正、検出
機能を論理的な演算による符号の変換器として構成する
ようにしたから、簡便な回路構成でマイクロコンピュー
タニヨるメモリの読み書き動作に対する誤り訂正、検出
機能を実現し、かつ、これとマイクロコンピュータによ
るメモリの読み書き動作とを組み合わせることにより、
メモリに格納された冗長データの誤り訂正を新たな回路
を追加することなしに実現することができる利点がもた
らされる。
第1図はこの発明の実施9りを示す構成図、第2図は第
1図におけるデータ処理装置の動作を説明するだめのフ
ローチャート、第3図はメモリの誤り訂正方式の従来例
を示す構成図である。 符号説明 1・・・・・・データ処理装置(マイクロコンピュータ
)、2・・・・・・ランダムアクセスメモリ(RAM)
、3・・・・・・エンコーダ、4・・・・・・デコーダ
、5・・・・・・チー p ハス、6・・・・・・アド
レス・コントロールバス、7・・・・・・ECCバス、
11・・・・・・検査ビット用メモリ、12.13・・
・・・・検査ビット発生器、14・・・・・・誤り判定
回路、15・・・・・・誤りビット発生回路。 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清 第1図 !! 2 図 第3図
1図におけるデータ処理装置の動作を説明するだめのフ
ローチャート、第3図はメモリの誤り訂正方式の従来例
を示す構成図である。 符号説明 1・・・・・・データ処理装置(マイクロコンピュータ
)、2・・・・・・ランダムアクセスメモリ(RAM)
、3・・・・・・エンコーダ、4・・・・・・デコーダ
、5・・・・・・チー p ハス、6・・・・・・アド
レス・コントロールバス、7・・・・・・ECCバス、
11・・・・・・検査ビット用メモリ、12.13・・
・・・・検査ビット発生器、14・・・・・・誤り判定
回路、15・・・・・・誤りビット発生回路。 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清 第1図 !! 2 図 第3図
Claims (1)
- メモリと、データ処理装置と、該処理装置からメモリへ
書き込まれるデータに対して誤り検出および訂正が可能
な検査ビットを加えた冗長データを生成する符号発生器
と、前記メモリから読み出される冗長データにもとづい
て誤りの検出および訂正を行なう符号再生器とを備え、
データ処理装置によるデータの書込み、読出しに対して
は前記符号発生器および符号再生器を用いてデータの誤
り検出および訂正を行なうメモリの誤り訂正方式におい
て、前記データ処理装置はデータの誤り検出および訂正
動作と併行して各アドレスのメモリデータを読み出して
は同じアドレスに書き込む動作を順次実行することによ
り、メモリに格納されているデータの訂正を行なうこと
を特徴とするメモリの誤り訂正方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60036582A JPS61196341A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | メモリの誤り訂正方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60036582A JPS61196341A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | メモリの誤り訂正方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61196341A true JPS61196341A (ja) | 1986-08-30 |
Family
ID=12473763
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60036582A Pending JPS61196341A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | メモリの誤り訂正方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61196341A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02276099A (ja) * | 1989-04-18 | 1990-11-09 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロプロセッサ |
-
1985
- 1985-02-27 JP JP60036582A patent/JPS61196341A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02276099A (ja) * | 1989-04-18 | 1990-11-09 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロプロセッサ |
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