JPS61190601A - 調節装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野１ この発明はプロセス制御に用いられ目標値変化と外乱と
の双方への同時の最適化を図った調節装置に関する。

［技術的背景とその問題点］ 近年、プロセス制御においでは、省資源・省エネルギー
化、省力化・省人化、均質化・高品質化、安全化、フレ
キシブル化等の要請の高度化に伴ない、増々高い制御性
を有する調節装置が求められて来ている。このため、特
に連続プロセスなどでは、個々の制御系が生産量の変化
、各種外乱、目標変更などの変動要因に乱れを生ぜずに
最適応答するよう調節装置の制御性を極限まで向上させ
ることが基本となる。

従来、このような制御性の向上はＰ（比例）、＋（積分
）、Ｄ（微分）の各制御要素の構造、組合せを変えるこ
とにより行なわれて来た。このような調節装置として従
来知られている代表例には、いわゆる標準型ＰＩＤ調節
装置、目標値フィルタ付Ｐ■Ｄ調節装置、Ｉ　−ＰＤ調
調装装置どがあり、そのブ「コック図を第１３〜１５図
に示す。

第１３図に示す標準型Ｐ■Ｄ調節装置１０１は、目標値
Ｓ■と測定値ＰＶとの偏差をＰＩＤ％算部１０３に入力
して「比例＋積分十微分」演算し、その出力を操作信号
ＭＶとして制御対象１０５に印加して、測定値Ｐｖが目
標値Ｓｖに等しくなるよう調節するものである。

第１４図に示す目標値フィルタ付ＰＩＤ調面装２７７１
は、標準型ＰＩＤ調節装置において目標値ＳＶを一時遅
れフィルタ１１３を介して入力するようにしたものであ
る。

第１５図に示すＩ−ＰＤＤ節装置１２１は、目標値Ｓｖ
と測定値ＰＶとの偏差を積分演算部１２３に入力して積
分演算し、その出力と測定値ＰＶを比例・微分演算部１
２５に入力して「比例＋微分」演算した出力との差を求
め、この差に比例部１２７により比例ゲインＫｐを乗じ
た出力を操作信号ＭＶとして制御対象１０５に印加して
、測定値ＰＶが目標値Ｓｖに等しくなるよう調節するも
のである。

しかしながら、このような従来の装置はいずれもそれな
りの制御性の改善があるものの、大きな欠陥も併有して
いる。

即ち、標準型ＰＩＤ調節装置１０１では、目標値追従に
最適なＰＩＤパラメータ（以下、対目標値最適パラメー
タという）と外乱抑制に最適なＰ１０パラメータ（以下
、対外乱最適パラメータという）とが別値で存在するた
めに、追従制御の場合、対目標値と対外乱の両最適パラ
メータの中間的値にＰＩＤパラメータを設定して妥協し
ているのが実情である。

このことを、対外乱最適パラメータと対目標値最適パラ
メータの特色が顕著に表われるレベル制御などの無定位
プロセスについて説明する。

ここで、無定位プロセスのモデルＧｐ　　（Ｓ）として
、 Ｇｐ　　（Ｓ）　＝ｅ−’／　（Ｓ　−（１＋Ｓ）　）
　・（＋）をとりあげる。

第３図はこのモデルにおＩＪる、ＰＴＤパラメータ、つ
まり比例ゲインＫＯ１積分時間Ｔｉ１微分時間Ｔｄにつ
いての対外乱最適パラメータＫｐｄ、Ｔｉｄ、Ｔｒｌｄ
及び第目標値最適パラメータＫｐｓ、Ｔｉ５１Ｔｒｌｓ
の値を示したものである。また、これら各最適パラメー
タを使用した時の、ステップ外乱に対する応答を第４図
に、目標値Ｓｖの単位ステップ変化に対す応答を第５図
に示す。

第４図に示すように、外乱に対しては、対外乱最適パラ
メータＫｌ）ｄ、　Ｔｉｄ、　Ｔｄｄを設定した場合に
はグラフ（Ａ）に示すごとく良好な応答が得られるが、
対目標値最適パラメータＫｐｓ、　Ｔｉｓ、　Ｔｄｓを
設定した場合にはグラフ（Ｃ）に示すごとく定常偏差が
生じてしまう。

その逆に、第５図に示すように、目標値ＳＶのステップ
変化に対しては、対目標値最適パラメータＫｌ）Ｓ、　
Ｔｉｓ、　Ｔｄｓを設定した場合にはグラフ（Ｃ）に示
すごとく良好な応答であるが、対外乱最適パラメータＫ
ｐｄ、　ＴｉｄｌＴｄｄを設定した場合にはグラフ（Ａ
）に示すごとくオーバーダンピングを生じ振動的となる
。

そこで、この点を解決すべく考えられたのが第１４図に
示した目標値フィルタ付ＰＩＤ；Ｊ節装首１１１で、こ
れは前記標準型ＰＭＤＷ４節装置に対して対外乱最適パ
ラメータＫｌ）ｄ、　Ｔｉｄ、　Ｔｄｄを設定しておき
、上述したような目標値Ｓｖの変化に対するオーバーダ
ンピングを防止するため、目標値ＳＶに一時遅れフィル
タ１１３を介して変化を遅らせてその影響をゆるやかに
しようとするものである。しかし、これとても全体の応
答を遅らせたのみで目標値追従に最適化させたわけでは
ない。

また、第１５図に示したＩ−ＰＤ調節装＠１２１は、前
記の対外乱最適パラメータＫ　＋”％　Ｔ　ｔｄ１Ｔｄ
（ｌを設定してお（づば、外乱に対しては第４図のグラ
フ（Ｂ）で示すように良好な応答となるが、目標値追従
については、目標値Ｓｖの変化に対し積分演算部１２３
のみで修正を行なっているので第５図のグラフ（Ｂ）で
示すごとく応答が非常に遅いという致命的な欠陥がある
。

このように１．従来のｖＡ「装置はいずれも「目標値追
従」と「外乱抑制」との双方に対し同時に最適化させる
ことができないため、プラントの個々の制御系の制御性
を極限まで向上させることができず、また、制御系ごと
にそのプロセス特性に応じた制御特性を有する調節装置
を適用しなければならないので多種多用の槙造の調節装
置を用意しなければならないという問題があった。

［発明の目的コ この発明は、上記問題を除去し、「目標値追従」と「外
乱抑制Ｊの両目的に対して同時に最適化することができ
る調節装置を提供する゛ことを目的とする。

［１明の概要１ 上記目的を達成するため、第１の発明は、比例演算を行
なう比例部ｎ手段と、積分演算を行なう積分演算手段と
を有する調節装置において、比例演算手段の測定値入力
経路に測定値の大きさを調節する調節手段を設けて目標
値と調節手段を介した測定値との比較結果を比例演算手
段に入力するとともに、積分演算手段の測定値入力経路
に進み要素を設けて目標値と進み要素を介した測定値と
の比較結果を積分演算手段に入力するようにしたことを
要旨とする。

また、第２の発明は、比例演算を行なう比例演算手段と
、微分演算を行なう微分演算手段と、積分演算を行なう
積分演算手段とを有する調節装置において、比例演算手
段の測定値入力経路に測定値の大きさを調節する第１の
調節手段を設けて目標値と第１の調節手段を介した測定
値との比較結果を比例演算手段に入力し、微分演算手段
の測定値入力経路に測定値の大きさを調節する第２の調
節手段を設けて目標値と第２の調節手段を介した測定値
との比較結果を微分演算手段に入力するとともに、積分
演算手段の測定値入力経路に進み要素を設けて目標値と
進み要素を介した測定値との比較結果を積分演算手段に
入力するようにしたことを要旨とする。

［発明の実施例］ 以下、図面に従い実施例を説明する。

第１図は、この発明の第一実施例に係る調節装置のブロ
ック図を示す。

図示のように、当該調節装置１は、制御対象３から検出
された測定値Ｐｖの比例、積分、微分の各制御要素への
入力経路に夫々第１係数部５、第２係数部７及び進み要
素９（伝ｊヱ関数ＧＬ　（Ｓ）＝（１＋２ＸＴ＋　ｘｓ
）、／（１＋Ｔ＋　Ｘ５））を設けたところが前述の標
準型ＰＩＤ調節装置と異なる特徴である。

つまり、まず、測定値ＰＶは並列的に第１係数部５、＠
２係数部７、進み要素９に入力される。

第１係数部３では測定値ＰＶに係数αが乗じられ、その
出力αＳＶは第１減算部１３に入力されて目標値Ｓ■と
の１９ｉ差Ｄ１が演算される。第２係数部５では測定値
ＰＶに係数βが乗じられ、その出力βＳｖは第２減算部
１３に入力されて目標値Ｓ■との偏差Ｄ２が演算され、
偏差Ｄ２は微分演算部１５により微分時間Ｔｄで微分演
算が施される。

また、測定値ＰＶの進み要素９を介した出力ＬＳＶは第
３減算部１７に入力されて目標値Ｓｖとの偏差Ｄ３が演
算され、偏差Ｄ３は積分演算部１９により積分時間Ｔｉ
で積分演算が施される。

そして、偏差Ｄ＋　、微分演算部１５による偏差Ｄ２の
微分値ＤＤ２及び積分演算部１つによる偏差Ｄ３の積分
値■Ｄ３は加算部２１に入力されて加算合成された侵、
比例部２３に入力されて比例ゲインＫｐを乗じられ、操
作信号ＭＶとして制御対象３に印加される。これにより
、測定値Ｐｖが目標値ＳＶに等しくなるように制御され
る。

このような構成において、ＰＩＤパラメータＫｐ　、Ｔ
ｉ　、Ｔｄ及び係数α、β並びに進み要素９の時定数Ｔ
＋を次のように設定することにより、「目標値追従」と
「外乱抑制」の双方に同時に最適化させることができる
ようになっている。

（丁）まず、ＰＩＤパラメータＫｐ　、　Ｔｉ　、　Ｔ
ｄの夫々につき標準ＰＩＤｖ４節装置の対目標値最適パ
ラメータＫｐｓ、　Ｔｉｓ、　Ｔｄｓを設定する。

即ち、 Ｋｐ＝Ｋｌ）Ｓ Ｔｉ　＝Ｔｉ　ｓ Ｔｄ　＝Ｔｄ　ｓ と設定する。

この調節装置１はその構成から判るように目標値Ｓｖに
対しては標準型ＰＡＤ調節装置と同一の作用を為すので
、上記のような設定により目標値ＳＶに対しては対目標
ｌａＦ＆適パラメータＫｐｓ、Ｔｉｓ、　Ｔｄｓに従う
動作が得られ目標値変化に対する応答は良好なものとな
る。

（ｆｆ）次に、係数α、βにつき、標準ＰＩＤ調節装置
の対外乱、対目標値最適パラメータのうちの対外乱最適
比例ゲインＫｌ）ｄ、対外乱最適微分時間７ｄｄ、対目
標値最適比例ゲインＫｐｓ、対目標値最適微分時間Ｔ　
ｄｓｌｃ基づき、 α＝　Ｋ　ｐｄ／　Ｋ　ｐｓ・・・・・・（２）β＝α
×丁ｄｄ／　Ｔｄｓ・・・・・・（３）と設定する。

この調節装置１では係数α、βの作用により測定値ＰＶ
に対する実質比例ゲインはαＸＫＩ）　、実質微分時間
はβｘ）（ｐｘＴｄである。従って、上記のような係数
α、βの設定をすれば、Ｋｐ、丁ｄはすでに１（ｐｓ、
１（ｄｓに設定されているので、測定値Ｐ■に対する実
質比例ゲインはＫ１１ｄ、実質微分時間Ｋ　ｐｄｘ　Ｔ
　ｄｄとなる。即ち、測定値Ｐｖに対しては標準型ＰＩ
Ｄ調節装置に対外乱最適パラメータ）（ｐｄｌＴｉｄ、
　Ｔｄｄを設定したのと同様の比例、微分動作が得られ
る。

（１）次に、時定数Ｔ１を調整して、測定値Ｐｖに対す
る実質積分時間が、標準型ＰＩＤ調節装置に対外乱最適
パラメータＫｐｓ、　Ｔｉｓ、　Ｔｄｓを設定したとき
の実質積分時間ＴｉＳ／Ｋｌ）ｄに等しくなるようにす
る。

この時定数Ｔ１の調整は例えば次のようにして行なう。

即ち、測定１ｉｉＰＶが外乱等により△ＰＶだけ変化し
て“Ｐｖ−ΔＰＶ″になったときの積分出力ｒＤ１は次
式で表わされる。

Ｔｉ　−８Ｔ１　　１＋ＴＩ　−８ この式に基づいた積分出力ＩＤ３の特性を第２図に示す
。

同図において、グラフ（Ａ＞は時定数Ｔ１＝０、つまり
進み要素９が無い場合、即らＩＤ：＋＝ΔＰＶ／　（Ｔ
ｉ　　・Ｓ）の場合を示す。そして、時定数Ｔ１を大き
くして行けば、グラフ（Ｂ）→（Ｃ）→（Ｄ）→（Ｅ）
に示ずように応答が早くなっていく。

ここで、一般に入力変化に対しては時間の小さい領域、
例えば図示した時刻ｔ１以下の領域で使用するので、時
定数Ｔ１を大きくすることは立ち上がりの傾斜を大きく
することになり、測定値ＰＶに対し積分時間７ｉを小さ
くすることと略等価であることになる。従って、時定数
Ｔ＋　を゛Ｏ″から次第に大きくして行き、測定［ＰＶ
に対する実質積分時間が、比例ゲインＫｌ）に対外乱・
最適比例ゲインＫｐｄを、積分時間ＴＩに対外乱最適積
分時間７ｉｄを設定した場合と略等価になるように時定
数Ｔ１を定めればよい。

上記ステップ（ｆｆ）、（Ｉ［Ｉ）における係数α、β
及び時定数Ｔ１の設定により、測定値Ｐｖに対しては対
外乱最適パラメータＫｐｄ、　Ｔｉｄ、　Ｔｄｄに従っ
た制御動作が得られるので良好な外乱抑制特性が得られ
ることになる。

以下、上記ステップ（Ｉ）、（ＩＩ）、（ｆ［Ｉ）につ
き、前述した（１）式の無定位プロセスのモデルを取り
上げオペレータの操作手順及びパラメータの設定方法を
具体的に説明する。

（Ｉ）まず、ＰＩＤパラメータＫｐ、Ｔｉ、Ｔｄの対目
標ｆｌｉＲ適パラメータを設定するために、対外乱最適
化の係数α、βを変化させる以前の状態で、目標値を所
定量だけステップ状に変化させる。

するとこの変化はプロセスにおいて測定ＩＰＶに変動が
生じ、この変動を最適化するように対目標値最適パラメ
ータを調整する。その例としては第３図に示す如く、Ｋ
ｐｓ＝０．１２６、Ｔ　ｉｓ＝■（分）　、　ＴｄＳ＝
２．０４　（分）となる。

ここで、積分時間Ｔｉについては■′°に設定すると、
外乱変化「、！Ｉにオフセットが出るので、実質的に“
′■パとみなせる時間を設定する。例えば、Ｔｉ　＝２
９．２　ｆ分）と設定する。この値に設定すると、後述
するように時定数Ｔ１も同じ値に設定できるので都合が
良い。

（ｌＩ［）次に、（Ｉ）により対目標値パラメータが設
定されると、次にオペレークは対外乱変化を最適化すべ
く係数α、βを設定する。

即ち、第３図により対外乱最適比例ゲインＫｐｄ、対目
標値最適比例ゲインＫｐｓ、対外乱最適微分時間Ｔｄｄ
及び対目標値最適微分時間Ｔｄｓは、Ｋｒ＋ｄ＝０．１
８８、Ｋｐｓ＝０．１２６Ｔｄｄ＝１．９８（分）　、
Ｔｄｓ＝２．０４　（分）である。

これを前記（５）、（６）式に代入して、α＝　Ｋ　ｐ
ｄ／　Ｋ　ｐｓ ＝０．１８８１０．１２６ ＝１．４９ β＝αｘＴｄｄ／Ｔｄｓ ＝１、４９Ｘ１．　９８／２．０４ ＝１．　４５ と設定される。

（ＩＩＩ）次に、時定数Ｔ１を設定する。

ステップ（Ｉ）により、積分演算部１９の積分時間Ｔ１
は２９．２（分）に設定されている。そこで、時定数Ｔ
１を１１０１１から次第に大きくして行き、測定値ＰＶ
に対してはあたかも積分時間Ｔｉに対外乱最適積分時間
Ｔｉｄ＝１４．６（分）が設定されているかのごとく作
用するように調整する。

この場合、時定数Ｔ１は積分時間Ｔ１と同じ２９゜２（
分）に設定すればよいことがわかっている。

以上の各ステップ（Ｉ）、＜ＩＦ＞、（Ｉ［Ｉ）の設　
　　定により、この調節装置１の応答は、ステップ外乱
に対しては第４図のグラフ（Ａ）で示すような標準型Ｐ
ｒＤ調節装置に対外乱最適パラメータＫｐｄ、　Ｔｉｄ
、　Ｔｄｄを設定したと同様の応答が、また目標値Ｓｖ
の単位ステップ変化に対しては第５図のグラフ（Ｃ）で
示すような標準型ＰＩＤ調節装置ニ対目１１Ｘ値ｒａｌ
ａハラメータＫｐｓ１Ｔｉｓ、　Ｔｄｓヲ設定したのと
同様の応答が得られ、「外、乱抑制」と「目標値追従」
との双方に最適化されたことになる。

この結果、制御しようとするプロセス３が例えば「−次
遅れ＋ムダ時間」の要素で構成されている場合の単位ス
テップ応答としては、第６図の（ａ＞、（ｂ）に示すよ
うになる。すなわち、外乱変化に対する制御性としては
時定数Ｔ＋　が大きくなってもオフセットを生じること
なく良好である（第６図（ａ））一方、目標値変化に対
する制御性についても第６図（１１）に示す如くオーバ
シュートが小さく高い追従性を得ることができる。

また、この調節装置にあっては、対外乱および対目標の
応答を最適化するため、制御装置全体に渡って対外乱お
よび対目標の応答性を同時に考慮しつつ各制御パラメー
タを決定するという複雑な処理を行なう必要がなく、そ
れぞれの制御ループについて別個独立に前述したステッ
プ（Ｉ）〜（Ｉ［［）に示した如き簡単な設定処理を行
なうだけでよいので調整が極めて容易になり結局オペレ
ータのコンソール上での調整のみで足りる。

尚、今まで説明した無定位プロセスでの最適化が最も難
しく、「−次遅れ＋むだ時間」プロセス（ｅ−’Ｆ／　
（（１＋Ｔ＋　　・Ｓ））や「二次遅れ＋（ｌ　タ時間
」プロセス（ｅ−”／　（１＋Ｔ＋　　・Ｓ）　／　（
１＋Ｔ２　・Ｓ））などであれば、対目標値最適積分時
間Ｔｉｓが無限大になることがないので最適化が一層容
易となる。

第７図は、この発明の第２実施例に係る調節装置ブロッ
ク図を示す。

同図に示すように、本実施例に係る調節装置３１は、第
１減算部１１及び第２減算部１３の各目標ｔ＊ＳＶ入力
経路にも夫々第３係数部３３及び第４係数部３５を設け
て、目標値Ｓｖに第３係数部３３の係数γを乗じた信号
γＳＶを比例演算に、目標値ＳＶに第４係数部３５の係
数δを乗じた信号δＳＶを微分演算に供するようにして
いる点が第１実施例と異なる特徴である。

この第３及び第４係数部３３．３５を付加したことによ
り、一層最適調整が容易になっている。

更に、係数α、β、γ、δを“１″又は゛０パにするこ
とにより、従来の各種の制御方式を選択することもでき
る。例えば、時定数Ｔ＋　＝Ｏとすれば以下のようにな
る。

（Ｉ）α＝β＝γ＝δ＝１のとき 第１〜第４係数部を無くしたことになり、標準型Ｐ　Ｉ
　Ｄｉ［装置と等価になる。

（Ｕ）α＝β＝γ＝１、δ＝Ｏのとき 微分動作を測定値ＰＶのみに作用させたことになり、い
わゆるＰＶ微分先行型ＰＴＤ調節装置と等価になる。

（Ｉ［ｌ）α＝β＝１、γ＝δ−〇のとき比例、微分動
作を測定値ＰＶのみに作用させたことになり、Ｉ−ＰＤ
ＷＡ節装置と等価になる。

このように、本実施例に係る調節装置１は従来技術の欠
陥を解消するとともに、各種の従来の制御方式も自由に
選択でき、高い制御性と広い沼川性とを有するものであ
る。

従って、この調節装置３１をプラント内にちりばめて適
用することにより、プラントの各制御が外乱と目標変更
の双方に対して最適化され、前述したような近年の厳し
い要請にこれまでよりもより一層応えることができ、産
業界への貢献は極めて大きいと言える。

また、第８図は第３実施例のブ［１ツク図を示したもの
で、本実施例に係る調節装置４１は、上記第２実施例に
おいて第３、第４係数部３３．３５を夫々第１、第２ス
イツチ４５．４３に置き換えたものである。これは、第
２実施例の係数γ、δを“ＯＩＴ又は“１″に切換えら
れるようにしたもので、第１実施例と同様にして外乱と
目標値変化の双方に対して最適調整ができるとともに、
第２実施例と同様にして従来の制御方法の選択も可能で
ある。

尚、以上の第１〜第３実施例において、微分動作につい
ては完全微分（Ｔｄ−３）で説明したが、実際の場合は
不完全微分（Ｔｄ／（１＋η・Ｔｄ・Ｓ）、η＝Ｏ１２
〜０．３）を用いる。

第９図は、この発明の第４実施例に係る調節装置のブロ
ック図を示す。

図示するように、この調節装置５１は、第１実施例から
微分動作に係わる第２係数部７、第２減算部１３及び微
分演鐸部１５を削除したものである。

また、第１０．１１図は、この発明の第５．６実施例に
係る調面装＠６１．７１のブロック図を夫々示したもの
で、このＷｆｌｉｌ装置６１．７１は第２．３実施例か
ら微分動作に係る要素を削除したものである。

これら第４〜６実施例は、プロセスによってＰＩｉｌＩ
ＩＩｌｌＩで十分な場合に適用されるもので、ＰＩ副制
御範囲内で、夫々第１〜３実施例が有していた特性を有
する。

尚、以上の第１〜６実施例の変形例として次のようなも
のが考えられる。

（１）進み要素９の伝達関数ＧＬ　　（Ｓ）は次のよう
に変形できる。

従って、第１２図に示すように、目標値ＳＶと測定値Ｐ
Ｖとの偏差Ｄ４を求め、この偏差Ｄ４と測定値ＰＶに上
式の第２項の伝達関数を有するフィルタ８１を介した信
号との偏差Ｄ３を求め、この偏差Ｄ３を積分演算部１９
に加えるようにしても等価である。

（ＩＩ）実質比例ゲインの調整を微分、積分動作から独
立して行なえるようにするために、第１減算部つと加算
部２１との間の位置に、新たに係数部を付加したり、或
いはこの位置に比例部２３を移してもよい。

（ＩＩＩ）今まで説明した位置形演算方式だけではなく
、ＤＤＣで多用される速度形演算方式においても本発明
は適用可能である。

［発明の効果］ 以上説明したように、第１の発明は比例及び積分演算手
段を有する調節装置において、比例演算手段の測定値入
力経路に測定値の大きさを調節する調節手段を設けると
ともに、積分演算手段の測定値入力経路に進み要素を設
け、また、第２の発明は比例、積分及び微分演算手段を
有する調節装置において、比例及び微分演算手段の各測
定値入力経路に測定値の大きさを夫々調節する第１及び
第２の調節手段を各々設けるとともに、積分演算手段の
目標値入力経路に進み要素を設【プることにより、目標
値と測定値の夫々に作用する実質比例ゲイン、実質積分
時間、及び第２の発明にあっては更に実質微分時間を夫
々独立に調整することがひきるようにしているので、「
目標値追従」と「外乱抑制Ｊの双方について同時に最適
化を図ることができる調節装置を提供することができる
。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の第１実施例に係る調節装置のブロッ
ク図、第２図は積分動作の応答特性を示す図、第３図は
対外乱及び対目標値最適パラメータの値を示す図、第４
図は外乱に対する応答特性を示す図、第５図は目標値変
更に対する応答特性を示す図、第６図は第１図の調節装
置における単位ステップ応答を示す図、第７図は第２実
施例のブロック図、第８図は第３実施例のブロック図、
第９図は第４実施例のブロック図、第１０図は第５実施
例のブロック図、第１１図は第６実施例のブロック図、
第１２図は第１〜６実施例の変形例の要部のブロック図
、第１３図は標！１’−Ｐ　Ｉ　Ｄ調節装置のブロック
図、第１４図は目標値フィルタ（＝ＪＰＩＤ調節装置の
ブロック図、第１５図はＩ−ＰＤ調調装装置ブロック図
である。 １．３１，４１．５１，６１．７１・・・調節装置５・
・・第１係数部 ７・・・第２係数部 ９・・・進み要素 １１・・・第１減算部 １３・・・対２減算部 １５・・・微分演算部 １７・・・第３減算部 １９・・・積分演算部 ２３・・・比例部 Ｓ■・・・目標値 ＰＶ・・・測定部 ＊１区 ｒ　　　−−−−−−−−−−）− 冥２図 頁３区 °　　７ｄ図 第５図 ＴＩＭＥ 第９図 Ｌ　　＋＋　　　＋−一−−一−−−−−−−＋　　　
ｊア１エズ 何１と丁 ｑ 第　１３　　ｒＡ ｒ−−’−−−−−−２゜ 第Ａ４図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）比例演算を行なう比例演算手段と、積分演算を行
   なう積分手段とを有する調節装置において、比例演算手
   段の測定値入力経路に測定値の大きさを調節する調節手
   段を設けて目標値と調節手段を介した測定値との比較結
   果を比例演算手段に入力するとともに、積分演算手段の
   測定値入力経路に進み要素を設けて目標値と進み要素を
   介した測定値との比較結果を積分演算手段に入力するよ
   うにしたことを特徴とする調節装置。
2. （２）比例演算を行なう比例演算手段と、微分演算を行
   なう微分演算手段と、積分演算を行なう積分演算手段と
   を有する調節装置において、比例演算手段の測定値入力
   経路に測定値の大きさを調節する第１の調節手段を設け
   て目標値と第１の調節手段を介した測定値との比較結果
   を比例演算手段に入力し、微分演算手段の測定値入力経
   路に測定値の大きさを調節する第２の調節手段を設けて
   目標値と第２の調節手段を介した測定値との比較結果を
   微分演算手段に入力するとともに、積分演算手段の測定
   値入力経路に進み要素を設けて目標値と進み要素を介し
   た測定値との比較結果を積分演算手段に入力するように
   したことを特徴とする調節装置。