JPS61172233A - 光デイスク用基板 - Google Patents
光デイスク用基板Info
- Publication number
- JPS61172233A JPS61172233A JP60011935A JP1193585A JPS61172233A JP S61172233 A JPS61172233 A JP S61172233A JP 60011935 A JP60011935 A JP 60011935A JP 1193585 A JP1193585 A JP 1193585A JP S61172233 A JPS61172233 A JP S61172233A
- Authority
- JP
- Japan
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- area
- substrate
- signal
- optical disk
- signal recording
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- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光ディスク用基板、特に、螺旋状または同心円
状の信号記録用トラックを有する光ディスク用トラック
を有する光ディスク用基板に関する。
状の信号記録用トラックを有する光ディスク用トラック
を有する光ディスク用基板に関する。
一般に、ＤＲＡＷ型と呼ばれるライトワンス型の光ディ
スク装置や、書き込み後に読み出し、さらに消去ができ
るイレーザブル型の光ディスクの装置に用いられる光デ
ィスク用基板にはトラッキングガイドとして案内溝すな
わち信号記録用トラックが形成されている。光ディスク
用の基板としては従来、ガラス、塩化ビニール、ポリメ
チルメタアクリレート、ポリカーボネート樹脂などが用
いられている。基板にトラッキングガイドとして溝を形
成する場合には、フォトポリマー法、射出成形法、射出
圧縮成形法等が用いられる。通常、ポリメチルメタアク
リレート、ポリカーボネート樹脂を用いた場合、射出成
形法、射出圧縮成形法を用いるのが一般的である。前述
したいずれの製法を用いるにせよ、光ディスク用基板上
に形成されたトラッキングガイドとしての溝が所定の形
状に形成されているか把握する必要がある。すなわち原
盤として用いたスタンパ−の所定の形状が正確に転写さ
れているか、換言すれば光ディスク用基板の溝形成をす
るときの成形条件の最適化がなさ ・れているか知る
必要がある。従来、信号記録用トラックを有する光ディ
スク用基板の溝形状は走査型電子顕微鏡を用いて表面像
や断面形状を観察したり、溝形状を直接、機械的な接触
型スタイラスで走査して測定している。又信号記録用ト
ラックを有する光ディスク用基板の記録媒体塗布後の欠
陥発生率を定量的に把握する方法はなかった。
スク装置や、書き込み後に読み出し、さらに消去ができ
るイレーザブル型の光ディスクの装置に用いられる光デ
ィスク用基板にはトラッキングガイドとして案内溝すな
わち信号記録用トラックが形成されている。光ディスク
用の基板としては従来、ガラス、塩化ビニール、ポリメ
チルメタアクリレート、ポリカーボネート樹脂などが用
いられている。基板にトラッキングガイドとして溝を形
成する場合には、フォトポリマー法、射出成形法、射出
圧縮成形法等が用いられる。通常、ポリメチルメタアク
リレート、ポリカーボネート樹脂を用いた場合、射出成
形法、射出圧縮成形法を用いるのが一般的である。前述
したいずれの製法を用いるにせよ、光ディスク用基板上
に形成されたトラッキングガイドとしての溝が所定の形
状に形成されているか把握する必要がある。すなわち原
盤として用いたスタンパ−の所定の形状が正確に転写さ
れているか、換言すれば光ディスク用基板の溝形成をす
るときの成形条件の最適化がなさ ・れているか知る
必要がある。従来、信号記録用トラックを有する光ディ
スク用基板の溝形状は走査型電子顕微鏡を用いて表面像
や断面形状を観察したり、溝形状を直接、機械的な接触
型スタイラスで走査して測定している。又信号記録用ト
ラックを有する光ディスク用基板の記録媒体塗布後の欠
陥発生率を定量的に把握する方法はなかった。
従来の信号記録用トランクを有する光ディスク用基板と
して、いくつかの形式が知られている。
して、いくつかの形式が知られている。
一つの形式は光ディスク用基板のほぼ全域にトラッキン
グガイドとしての案内溝すなわち信号記録用トラックを
形成したもの、他の一つの形式としてトラッキングガイ
ドとしての案内溝の円周上の特定セクターにプリフォー
マットされたレリーフビットを有する形式がある。次に
従来の光ディスク用基板について図面を参照して詳細に
説明する。
グガイドとしての案内溝すなわち信号記録用トラックを
形成したもの、他の一つの形式としてトラッキングガイ
ドとしての案内溝の円周上の特定セクターにプリフォー
マットされたレリーフビットを有する形式がある。次に
従来の光ディスク用基板について図面を参照して詳細に
説明する。
第４図、第５図は従来の光ディスク用基板の一例を示す
平面図である。第４図に示す光ディスク用基板ｌはトラ
ッキングガイドとしての案内溝すなわち信号記録用トラ
ック２が基板のほぼ全域に形成されたものである。第５
図に示す光ディスク用基板１′は基板全域にトラッキン
グガイドとしての信号記録用トラック２が形成されてい
るが、信号記録用トラック２の円周上の特定セクタ一部
３にプリフォーマットされたレリーフビット４を有して
いる。
平面図である。第４図に示す光ディスク用基板ｌはトラ
ッキングガイドとしての案内溝すなわち信号記録用トラ
ック２が基板のほぼ全域に形成されたものである。第５
図に示す光ディスク用基板１′は基板全域にトラッキン
グガイドとしての信号記録用トラック２が形成されてい
るが、信号記録用トラック２の円周上の特定セクタ一部
３にプリフォーマットされたレリーフビット４を有して
いる。
上述した従来の光ディスク用基板は信号記録用トラック
の円周上の特定のセクターにレリーフビットを含む、形
式があるにせよ、基本的に、光ディスク用基板のほぼ全
域に信号記録用トラックだけが形成されているので、形
成された信号記録用トラックの溝形状の品質を管理、保
証する際に高度な観察技術、溝形状測定技術を必要とす
るという欠点があった。前述したように信号記録用トラ
ックの溝形状を走査型電子顕微鏡を利用して観察する場
合、観察の為の専用の試料作りを必要とするという欠点
、観察の為長い時間と高度の技能を必要とする欠点があ
った。又機械的な接触スタイラスを用いて溝形状を測定
する方法は測定針圧の問題で観察試料の破壊を誘発する
という欠点がある。何よりも従来の信号記録用トラック
を有する光ディスクの基板は記録媒体を塗布した後の個
々の光ディスク用基板の欠陥発生率を定量的に把握し、
管理、保証できる構成でなかったという欠点があった。
の円周上の特定のセクターにレリーフビットを含む、形
式があるにせよ、基本的に、光ディスク用基板のほぼ全
域に信号記録用トラックだけが形成されているので、形
成された信号記録用トラックの溝形状の品質を管理、保
証する際に高度な観察技術、溝形状測定技術を必要とす
るという欠点があった。前述したように信号記録用トラ
ックの溝形状を走査型電子顕微鏡を利用して観察する場
合、観察の為の専用の試料作りを必要とするという欠点
、観察の為長い時間と高度の技能を必要とする欠点があ
った。又機械的な接触スタイラスを用いて溝形状を測定
する方法は測定針圧の問題で観察試料の破壊を誘発する
という欠点がある。何よりも従来の信号記録用トラック
を有する光ディスクの基板は記録媒体を塗布した後の個
々の光ディスク用基板の欠陥発生率を定量的に把握し、
管理、保証できる構成でなかったという欠点があった。
そこで本発明はトラッキングガイドとしての案内溝、す
なわち信号配備用トランク１〜か形成されていなかった
従来の光ディスク用基板に、新たに前記信号記録用トラ
ック区域外の区域に所定周波数で形成した凹凸のビット
列の信号区域を追加形成することにより、前記凹凸のビ
ット列の信号区域だけを光ピツクアップでトラッキング
１゜て、ピットのないところとビットのあるところから
返って（る反射光量の差のレベルを検出１７て処理する
という比較的に簡単な方法で、実際の記録媒体を塗布し
た後の個々の光ディスク用基板溝形状が最適に形成され
ているか否かを同定でき、かつ実際の記録媒体を塗布し
た段階での欠陥発生率° を定量的に把握ｌ７、基板
の品質を管理、保証できるように１〜だ。本号用の目的
は光ディスク用基板に記録媒体を塗布した段階で、個々
の基板の信号＝５− 記録用トラックの溝深さが所定の深さに形成されている
かを把握することができ、さらに光ディスク用基板の記
録媒体を塗布した後の欠陥発生率を定量的に把握し、基
板の品質を管理、保証できる螺旋状または同心円状の信
号記録用トラックを有する光ディスク用基板を提供する
ことを目的とする。
なわち信号配備用トランク１〜か形成されていなかった
従来の光ディスク用基板に、新たに前記信号記録用トラ
ック区域外の区域に所定周波数で形成した凹凸のビット
列の信号区域を追加形成することにより、前記凹凸のビ
ット列の信号区域だけを光ピツクアップでトラッキング
１゜て、ピットのないところとビットのあるところから
返って（る反射光量の差のレベルを検出１７て処理する
という比較的に簡単な方法で、実際の記録媒体を塗布し
た後の個々の光ディスク用基板溝形状が最適に形成され
ているか否かを同定でき、かつ実際の記録媒体を塗布し
た段階での欠陥発生率° を定量的に把握ｌ７、基板
の品質を管理、保証できるように１〜だ。本号用の目的
は光ディスク用基板に記録媒体を塗布した段階で、個々
の基板の信号＝５− 記録用トラックの溝深さが所定の深さに形成されている
かを把握することができ、さらに光ディスク用基板の記
録媒体を塗布した後の欠陥発生率を定量的に把握し、基
板の品質を管理、保証できる螺旋状または同心円状の信
号記録用トラックを有する光ディスク用基板を提供する
ことを目的とする。
本発明の光ディスクの基板は螺旋状または同心円状の信
号記録用トラック領域の外周または内周あるいはその双
方に沿ってあらかじめ定められたビット列を含んで構成
される。
号記録用トラック領域の外周または内周あるいはその双
方に沿ってあらかじめ定められたビット列を含んで構成
される。
次に、本考案の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
第１図は本発明の第１の実施例を示す断面斜視図である
。第１図に示す本発明による光ディスク用基板５は基板
上にトラッキングガイドとしての案内溝、すなわち信号
記録用トラック区域６と一定の周波数で形成された凹凸
のビット列の信号区域７を形成している。本発明の光デ
ィスク用基板５の信号記録用トラック区域６以外に形成
した凹凸のピット列の信号区域７は信号記録用トラック
区域６の溝が最適に形成されているかモニターする手段
、あるいは記録媒体を塗布した後の光ディスク用基板の
欠陥発生率を定量的に把握し、基板の品質を管理、保証
するために用℃・られる。次に本発明の光ディスク用基
板５の有効性について詳細に説明する。第２図は凹凸ピ
ット列の信号区域７の凹凸段差（光路差）による平担部
と凹凸部の反射光量の差と信号記録用トランク区域６の
溝からの反射光量の変化特性を示したものである。図に
おいて反射光量の差信号ａは信号区域７のピット列の凹
凸の段差が入射光波要人の１／４の条件の時に最大とな
り、凹凸のピット列の段差が）ｖ’４より大きくまたは
小さくなるに従って減少する。
。第１図に示す本発明による光ディスク用基板５は基板
上にトラッキングガイドとしての案内溝、すなわち信号
記録用トラック区域６と一定の周波数で形成された凹凸
のビット列の信号区域７を形成している。本発明の光デ
ィスク用基板５の信号記録用トラック区域６以外に形成
した凹凸のピット列の信号区域７は信号記録用トラック
区域６の溝が最適に形成されているかモニターする手段
、あるいは記録媒体を塗布した後の光ディスク用基板の
欠陥発生率を定量的に把握し、基板の品質を管理、保証
するために用℃・られる。次に本発明の光ディスク用基
板５の有効性について詳細に説明する。第２図は凹凸ピ
ット列の信号区域７の凹凸段差（光路差）による平担部
と凹凸部の反射光量の差と信号記録用トランク区域６の
溝からの反射光量の変化特性を示したものである。図に
おいて反射光量の差信号ａは信号区域７のピット列の凹
凸の段差が入射光波要人の１／４の条件の時に最大とな
り、凹凸のピット列の段差が）ｖ’４より大きくまたは
小さくなるに従って減少する。
図において記録用トランク区域６の溝からの反射光量す
は記録用トラック区域６の溝の段差が零の条件の時に最
大となり、溝の段差が大きくなるに従って減少する。つ
まり凹凸の段差寸法がほぼ入／６〜入／１２の条件の時
に凹凸ピット列の信号区域７に対しても信号記録用トラ
ック区域６の溝に対しても最適になることを示している
。ちなみに最近の光ディスク用基板の信号記録用トラッ
ク２のピッチは１．６μｍ〜２．５μｍのオーダーで溝
の深さは、たとえばブツシュ・プル法というトラッキン
グサーボ方式を採用した場合、トラッキングサーボの誤
差信号が最大となるよう、入射光波要人の１／８に設定
している。さて光ディスク用基板５の信号記録用トラッ
ク区域６の溝が最適の深さに形成されているかを調べる
場合は、第２図の説明から理解できるように、一定の周
波数で形成した凹凸ピット列の信号区域７の平担部と凹
凸部の反射光量の差が所定のレベル、すなわち信号記録
用トラック区域６の溝の深さが入射光波要人の１／８に
相幽するレベルにあることを光ピツクアップでトラッキ
ングしてモニターすれば、光ディスク用基板に記録媒体
が塗布された段階で、個々の信号記録用トラック区域６
の溝深さを把握することができる。さらに、何よりも本
発明による光ディスク用基板の構成をとれば、凹凸のピ
ット列の信号区域７の原盤記録時の書き込みデータと光
ディスク用基板５に記録媒体を塗布した後の再生読み取
りデータを比較照合ができるから記録媒体を塗布した後
の信号記録用トラックを有した光ディスク用基板の欠陥
発生率を定量的に把握し、基板の品質を管理、保証する
ことができる。第３図（ａ）、 （ｂ）は第２．第３の
実施例を示す平面図である。
は記録用トラック区域６の溝の段差が零の条件の時に最
大となり、溝の段差が大きくなるに従って減少する。つ
まり凹凸の段差寸法がほぼ入／６〜入／１２の条件の時
に凹凸ピット列の信号区域７に対しても信号記録用トラ
ック区域６の溝に対しても最適になることを示している
。ちなみに最近の光ディスク用基板の信号記録用トラッ
ク２のピッチは１．６μｍ〜２．５μｍのオーダーで溝
の深さは、たとえばブツシュ・プル法というトラッキン
グサーボ方式を採用した場合、トラッキングサーボの誤
差信号が最大となるよう、入射光波要人の１／８に設定
している。さて光ディスク用基板５の信号記録用トラッ
ク区域６の溝が最適の深さに形成されているかを調べる
場合は、第２図の説明から理解できるように、一定の周
波数で形成した凹凸ピット列の信号区域７の平担部と凹
凸部の反射光量の差が所定のレベル、すなわち信号記録
用トラック区域６の溝の深さが入射光波要人の１／８に
相幽するレベルにあることを光ピツクアップでトラッキ
ングしてモニターすれば、光ディスク用基板に記録媒体
が塗布された段階で、個々の信号記録用トラック区域６
の溝深さを把握することができる。さらに、何よりも本
発明による光ディスク用基板の構成をとれば、凹凸のピ
ット列の信号区域７の原盤記録時の書き込みデータと光
ディスク用基板５に記録媒体を塗布した後の再生読み取
りデータを比較照合ができるから記録媒体を塗布した後
の信号記録用トラックを有した光ディスク用基板の欠陥
発生率を定量的に把握し、基板の品質を管理、保証する
ことができる。第３図（ａ）、 （ｂ）は第２．第３の
実施例を示す平面図である。
第３図（ａ）に示す光ディスク用基板５′は一定の周波
数で形成した凹凸ピット列の信号区域７を基板の内周領
域に配置したもの、第３図中）に示す光ディスク用基板
５′は前記信号区域７を基板の外周領域に配置したもの
である。ちなみに凹凸ピット列め信号区域７の形成領域
は基本的には数トラツク程度でもその機能を達成するこ
とができる。多くすれば光ディスク用基板の信号記録用
トラックの専有区域が基本的に減少するが、たとえばト
ラックピッチを１．６μｍとした場合、信号区域を１０
０ トラック分形成しても０．１６ｍ＋ｎで光ディスク
用基板の全体の記録容量の低下に及ぼす影響は少ない。
数で形成した凹凸ピット列の信号区域７を基板の内周領
域に配置したもの、第３図中）に示す光ディスク用基板
５′は前記信号区域７を基板の外周領域に配置したもの
である。ちなみに凹凸ピット列め信号区域７の形成領域
は基本的には数トラツク程度でもその機能を達成するこ
とができる。多くすれば光ディスク用基板の信号記録用
トラックの専有区域が基本的に減少するが、たとえばト
ラックピッチを１．６μｍとした場合、信号区域を１０
０ トラック分形成しても０．１６ｍ＋ｎで光ディスク
用基板の全体の記録容量の低下に及ぼす影響は少ない。
以上本発明の実施例について説明したが、上述の実施例
に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の
変形が可能である。たとえば前述した実施例では凹凸ピ
ット列の信号区域を信号記録用トラック区域の両サイド
あるいは基板の内周部側または外周部側の片側に構成配
置したが、基本的に溝形成のモニターと欠陥発生率を管
理、保証するための凹凸ピット列の信号区域と信号記録
用トラック区域が基板の半径方向にゾーン配置する構成
ならば別の構成でもよい。
に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の
変形が可能である。たとえば前述した実施例では凹凸ピ
ット列の信号区域を信号記録用トラック区域の両サイド
あるいは基板の内周部側または外周部側の片側に構成配
置したが、基本的に溝形成のモニターと欠陥発生率を管
理、保証するための凹凸ピット列の信号区域と信号記録
用トラック区域が基板の半径方向にゾーン配置する構成
ならば別の構成でもよい。
本発明の光ディスク用基板は、基本的には回転中心を中
心とする螺旋状または同心円状のトラッキングガイドと
しての案内溝、すなわち信号記録用トラックしか形成さ
れていなかった従来の光ディスク用基板に、新たに前記
信号記録用トラック区域外の区域に所定周波数で形成し
た凹凸のピット列の信号区域を追加形成することにより
、溝形状観察の為に専用の試料を作成し、高度な観察技
能と、長い観察工数をかけて走査型電子顕微鏡で表面形
状あるいは断面形状を直接観察したり、試料破壊を発生
する機械的な接触型スタイラスを用いたり、高度な溝形
状測定装置を用いることなく、前記追加形成した所定周
波数で形成した凹凸のピット列の信号区域だけを光ピツ
クアップでトラッキングして、ビットのないところとビ
ットのあるところから返ってくる反射光量の差のレベル
を検出できるから、光ディスク用基板に最終の記録媒体
を塗布した段階で、個々の基板の信号記録用トラックの
溝深さが所定の深さに形成されているか否かを把握する
ことができ、さらに光ディスク用基板の記録媒体を塗布
した後の欠陥発生率を定量的に把握し、基板の品質を管
理、保証できる螺旋状または同心円状の信号記録用トラ
ックを有する光ディスク用基板を提供できるという効果
がある。
心とする螺旋状または同心円状のトラッキングガイドと
しての案内溝、すなわち信号記録用トラックしか形成さ
れていなかった従来の光ディスク用基板に、新たに前記
信号記録用トラック区域外の区域に所定周波数で形成し
た凹凸のピット列の信号区域を追加形成することにより
、溝形状観察の為に専用の試料を作成し、高度な観察技
能と、長い観察工数をかけて走査型電子顕微鏡で表面形
状あるいは断面形状を直接観察したり、試料破壊を発生
する機械的な接触型スタイラスを用いたり、高度な溝形
状測定装置を用いることなく、前記追加形成した所定周
波数で形成した凹凸のピット列の信号区域だけを光ピツ
クアップでトラッキングして、ビットのないところとビ
ットのあるところから返ってくる反射光量の差のレベル
を検出できるから、光ディスク用基板に最終の記録媒体
を塗布した段階で、個々の基板の信号記録用トラックの
溝深さが所定の深さに形成されているか否かを把握する
ことができ、さらに光ディスク用基板の記録媒体を塗布
した後の欠陥発生率を定量的に把握し、基板の品質を管
理、保証できる螺旋状または同心円状の信号記録用トラ
ックを有する光ディスク用基板を提供できるという効果
がある。
図は凹凸ビット列と信号記録トラックの段差に対する反
射光量の変化特性を示す図、第３図（ａ）、 （ｂ）は
本考案轢本発朋−の他の実施例を示す平面図、第４図、
第５図は従来の光ディスク用基板の構成を示す平面図で
ある。
射光量の変化特性を示す図、第３図（ａ）、 （ｂ）は
本考案轢本発朋−の他の実施例を示す平面図、第４図、
第５図は従来の光ディスク用基板の構成を示す平面図で
ある。
１．１′・・・・・・光ディスク用基板、２・・・・・
・信号記録用トラック、３・・・・・・特定セクタ一部
、４・・・・・・レリーフビット、５．５’、 ５’・
・・・・・光ディスク用基板、６・・・・・・信号記録
用トラック区域、７・・・・・・凹凸ピント列の信号区
域。
・信号記録用トラック、３・・・・・・特定セクタ一部
、４・・・・・・レリーフビット、５．５’、 ５’・
・・・・・光ディスク用基板、６・・・・・・信号記録
用トラック区域、７・・・・・・凹凸ピント列の信号区
域。
Claims (1)
- 螺旋状または同心円状の信号記録用トラック領域の外周
または内周あるいはその双方に沿ってあらかじめ定めら
れたピット列を形成したことを特徴とする光ディスク用
基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60011935A JPS61172233A (ja) | 1985-01-25 | 1985-01-25 | 光デイスク用基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60011935A JPS61172233A (ja) | 1985-01-25 | 1985-01-25 | 光デイスク用基板 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61172233A true JPS61172233A (ja) | 1986-08-02 |
| JPH047019B2 JPH047019B2 (ja) | 1992-02-07 |
Family
ID=11791518
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60011935A Granted JPS61172233A (ja) | 1985-01-25 | 1985-01-25 | 光デイスク用基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61172233A (ja) |
Cited By (2)
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-
1985
- 1985-01-25 JP JP60011935A patent/JPS61172233A/ja active Granted
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH047019B2 (ja) | 1992-02-07 |
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