JPS61160824A - 磁気記録媒体 - Google Patents
磁気記録媒体Info
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- JPS61160824A JPS61160824A JP23615584A JP23615584A JPS61160824A JP S61160824 A JPS61160824 A JP S61160824A JP 23615584 A JP23615584 A JP 23615584A JP 23615584 A JP23615584 A JP 23615584A JP S61160824 A JPS61160824 A JP S61160824A
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- Japan
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- film
- plasma
- magnetic recording
- recording medium
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
工 発明の背景
技術分野
本発明は、磁気記録媒体、特に連続薄膜型の磁性層を有
する磁気記録媒体のトップコート膜の改良に関する。
する磁気記録媒体のトップコート膜の改良に関する。
先行技術とその問題点
ビデオ用、オーディオ用等の磁気記録媒体として、テー
プ化して巻回したときのコンパクト性から、連続薄膜型
の磁性層を有するものの開発が活発に行われている。
プ化して巻回したときのコンパクト性から、連続薄膜型
の磁性層を有するものの開発が活発に行われている。
このような連続薄膜型の媒体の磁性層としては、特性−
ヒ、基体法線に対し所定の傾斜角にて基若を行う、いわ
ゆる斜め蒸着法によって形成したC01Co−Ni、C
o−0,Co−Ni−0系等の蒸着膜が最も好適である
。
ヒ、基体法線に対し所定の傾斜角にて基若を行う、いわ
ゆる斜め蒸着法によって形成したC01Co−Ni、C
o−0,Co−Ni−0系等の蒸着膜が最も好適である
。
しかし、このような磁性層は、走行摩擦が大きく、膜強
度が低く、ヘッドタッチも悪く、特に、走行耐久性が低
く、くりかえし走行によって出力が低下してしまう。
度が低く、ヘッドタッチも悪く、特に、走行耐久性が低
く、くりかえし走行によって出力が低下してしまう。
また、ビデオ用の媒体では、スチルと称される静止画像
モードでの耐久時間が小さい。
モードでの耐久時間が小さい。
さらに、いわゆるドロップアウトも多い。
このような実状から、従来、斜め蒸着膜磁性層のトップ
コート膜が種々提案されている。
コート膜が種々提案されている。
そして、トップコート膜の1例として、炭化水素系のプ
ラズマ重合膜が知られている(特開昭59−72653
号、同59−154641号、同59−160828号
等)。
ラズマ重合膜が知られている(特開昭59−72653
号、同59−154641号、同59−160828号
等)。
しかし、通常の方法で得られた炭化水素系のプラズマ重
合膜トップコートでは、耐食性の点で不十分であり、さ
らには走行耐久性に劣り再生出力が低下したり、あるい
は強度の点で不十分である等の不都合がある。
合膜トップコートでは、耐食性の点で不十分であり、さ
らには走行耐久性に劣り再生出力が低下したり、あるい
は強度の点で不十分である等の不都合がある。
II 発明の目的
本発明の目的は、このような不都合を解消し、耐食性、
耐久性が良好で1強度の高い磁気記録媒体を提供するこ
とにある。
耐久性が良好で1強度の高い磁気記録媒体を提供するこ
とにある。
■ 発明の開示
このような目的は下記の本発明によって達成される。
すなわち本発明は、
支持体上に強磁性金属薄膜を有し、この強磁性金属薄膜
上にトップコート膜を有する磁気記録媒体において、ト
ップコート膜が炭素および水素を含む膜厚10〜40人
のプラズマ重合膜を有し、かつこの重合膜の炭素/水素
の原子比が1〜6であり、しかもこの重合膜と水との接
触角が60°〜120°であることを特徴とする磁気記
録媒体である。
上にトップコート膜を有する磁気記録媒体において、ト
ップコート膜が炭素および水素を含む膜厚10〜40人
のプラズマ重合膜を有し、かつこの重合膜の炭素/水素
の原子比が1〜6であり、しかもこの重合膜と水との接
触角が60°〜120°であることを特徴とする磁気記
録媒体である。
■ 発明の具体的構成
以下、本発明の具体的構成を詳細に説明する。
本発明のプラズマ重合膜は、炭素および水素を含む薄膜
である。
である。
原料ガスとしては1通常操作性の良いことから、常温で
気体のメタン、エタン、プロパン、ブタン、ペンタン、
エチレン、フロピレン、フテン、ブタジェン、アセチレ
ン、メチルアセチレン、その他の飽和ないし不飽和の炭
化水素の1種以上を用いるが、必要に応じて常温で液体
の炭化水素を原料としてプラズマ重合によって形成され
てもよい。
気体のメタン、エタン、プロパン、ブタン、ペンタン、
エチレン、フロピレン、フテン、ブタジェン、アセチレ
ン、メチルアセチレン、その他の飽和ないし不飽和の炭
化水素の1種以上を用いるが、必要に応じて常温で液体
の炭化水素を原料としてプラズマ重合によって形成され
てもよい。
また、必要に応じて、原料に窒素、酸素、ホウ素、リン
等の微量成分を添加することもできる。
等の微量成分を添加することもできる。
そして、プラズマ重合膜の膜厚は10〜40人である。
連続薄膜型の磁気記録媒体では、プラズマ重合膜が40
人をこえるとスペーシングロス(厚み分による磁気の損
失)が大きくなりすぎて磁束密度が低下する。
人をこえるとスペーシングロス(厚み分による磁気の損
失)が大きくなりすぎて磁束密度が低下する。
そして、目づまりが増加し、耐久走行後の出力低下が大
きくなる等の問題点が多発する。
きくなる等の問題点が多発する。
また、10人より薄いと、本発明の耐食性や耐久性かえ
られない、 また、フィルムの破断強度が低下する。
られない、 また、フィルムの破断強度が低下する。
このような膜厚の制御は、プラズマ重合膜形成の場合以
下で述べるように反応時間、媒体移行速度、原料ガス流
量を制御することによって行われ、スペーシングロスが
少なく、耐食性。
下で述べるように反応時間、媒体移行速度、原料ガス流
量を制御することによって行われ、スペーシングロスが
少なく、耐食性。
耐久性が良好で、フィルム破断強度の高い媒体が実現す
る。
る。
プラズマ重合膜は、原料ガスとして、前述の炭化水素等
を用い、このガスの放電プラズマを磁性層に接触させる
ことにより重合膜を形成するものである。
を用い、このガスの放電プラズマを磁性層に接触させる
ことにより重合膜を形成するものである。
プラズマ重合の原理について概説すると、気体を低圧に
保ち電場を作用させると、気体中に少駿存在する自由電
子は、常圧に比べ分子距離が非常に大きいため、電界加
速を受け5〜1゜eVの運動エネルギー(電子温度)を
獲得する。
保ち電場を作用させると、気体中に少駿存在する自由電
子は、常圧に比べ分子距離が非常に大きいため、電界加
速を受け5〜1゜eVの運動エネルギー(電子温度)を
獲得する。
この加速電子が原子や分子に衝突すると、原子軌道や分
子軌道を分断し、これらを電子、イオン、中性ラジカル
など1通常の状態では不安定の化学種に解離させる。
子軌道を分断し、これらを電子、イオン、中性ラジカル
など1通常の状態では不安定の化学種に解離させる。
解離した電子は再び電界加速を受けて、別の原子や分子
を解離させるが、この11鎖作用で気体はたちまち高度
の電離状態となる。 そしてこれはプラズマガスと呼ば
れている。
を解離させるが、この11鎖作用で気体はたちまち高度
の電離状態となる。 そしてこれはプラズマガスと呼ば
れている。
気体分子は電子との衝突の機会が少ないのでエネルギー
をあまり吸収せず、常温に使い温度に保たれている。
をあまり吸収せず、常温に使い温度に保たれている。
このように、電子の運動エネルギー(電子温度)と、分
子の熱運動(ガス温度)が分離した系は低温プラズマと
呼ばれ、ここでは化学種が比較的原型を保ったまま重合
等の加酸的化学反応を進めうる状況を創出しており、本
発明はこの状況を利用してベースフィルム上にプラズマ
重合膜を形成しようとするものである。 なお低温プラ
ズマを利用するため、ベースフィルムや磁性層の熱影響
は全くない。
子の熱運動(ガス温度)が分離した系は低温プラズマと
呼ばれ、ここでは化学種が比較的原型を保ったまま重合
等の加酸的化学反応を進めうる状況を創出しており、本
発明はこの状況を利用してベースフィルム上にプラズマ
重合膜を形成しようとするものである。 なお低温プラ
ズマを利用するため、ベースフィルムや磁性層の熱影響
は全くない。
ベースフィルム表面にプラズマ重合膜を形成する装置例
が第1図に示しである。 第 1 図は、周波数可変型
の電源を用いたプラズマ重合装置である。
が第1図に示しである。 第 1 図は、周波数可変型
の電源を用いたプラズマ重合装置である。
第1図において、反応容器Rには、原料ガス源511ま
たは512から原料ガスがそれぞれマスフローコントロ
ーラ521および522を経て供給される。ガス源51
1または512から別々のガスを供給する場合は、混合
器53において混合して供給する。
たは512から原料ガスがそれぞれマスフローコントロ
ーラ521および522を経て供給される。ガス源51
1または512から別々のガスを供給する場合は、混合
器53において混合して供給する。
原料ガスは、各々1〜250m1/分の流量範囲をとリ
ラる。
ラる。
反応容器R内には、被処理ベースフィルム支持装置が設
置され、ここでは磁気テープ用のフィルムの処理を目的
として、繰出しロール561と巻取りロール562が示
しである。
置され、ここでは磁気テープ用のフィルムの処理を目的
として、繰出しロール561と巻取りロール562が示
しである。
被着磁気記録媒体の形態に応じて様々の支持装置が使用
でき1例えば載置式の回転支持体装置が使用されうる。
でき1例えば載置式の回転支持体装置が使用されうる。
被処理ベースフィルムを間に挟んで対向する電極551
.552が設けられており、一方の電極551は周波数
可変型の電源54に接続され、他方の電極552は設置
されている。
.552が設けられており、一方の電極551は周波数
可変型の電源54に接続され、他方の電極552は設置
されている。
さらに1反応容器R内には、容器内を排気するための真
空系統が配備され、そしてこれは液体窒素トラップ57
.油回転ポンプ5Bおよび真空コントローラ59を含む
、 これら真空系統は反応容器内を0.01〜1OTo
rrの真空度の範囲に維持する。
空系統が配備され、そしてこれは液体窒素トラップ57
.油回転ポンプ5Bおよび真空コントローラ59を含む
、 これら真空系統は反応容器内を0.01〜1OTo
rrの真空度の範囲に維持する。
操作においては、反応容器R内がまず103Torr以
下になるまで油回転ポンプにより容器内を排気し、その
後原料ガスが所定の流量において容器内に混合状態で供
給される。
下になるまで油回転ポンプにより容器内を排気し、その
後原料ガスが所定の流量において容器内に混合状態で供
給される。
このとき、反応容器内の真空は0.01〜10Tarr
の範囲に管理される。
の範囲に管理される。
フィルムの移行速度ならびに原料ガスの流量が安定する
と、周波数可変型電源がオンにされる。 こうして、移
行中のベースフィルムにプラズマ重合膜が形成される。
と、周波数可変型電源がオンにされる。 こうして、移
行中のベースフィルムにプラズマ重合膜が形成される。
なお、キャリアガスとして、Ar、N2゜He、H2な
どを使用してもよい。
どを使用してもよい。
ここで、プラズマ処理の条件はW/F@Mで107〜l
012 (Jouls/sea )の条件が好適であ
る。 ただし、W:プラズマ電力(Joule/5ea
)、F:原料ガス流量(kg/sec)、M:原料ガス
分子量である。
012 (Jouls/sea )の条件が好適であ
る。 ただし、W:プラズマ電力(Joule/5ea
)、F:原料ガス流量(kg/sec)、M:原料ガス
分子量である。
W/F−Mが1012をこえると、下地に対するダメー
ジが大となり、W/F@Mが107より小さいとプラズ
マ重合膜の緻密さが不十分となるからである。
ジが大となり、W/F@Mが107より小さいとプラズ
マ重合膜の緻密さが不十分となるからである。
なお、印加電流、処理時間等は通常の条件とすればよい
。
。
プラズマ発生源としては、上述した高周波数放電の他に
、マイクロ波放電、直流放電、交流放電等いずれでも利
用できる。
、マイクロ波放電、直流放電、交流放電等いずれでも利
用できる。
このように形成されるプラズマ重合膜は、炭素と水素の
原子比(C/H比)が1〜6のものである。
原子比(C/H比)が1〜6のものである。
このようなC/H比をもつプラズマ重合膜は耐食性、耐
久性の向上効果が顕著である。
久性の向上効果が顕著である。
これに対し、C/H比1未満では、耐食性、耐久性、強
度の点で実用に耐えず、また6をこえると、耐久走行後
の出力低下がきわめて大きくなり実用に耐えない。
度の点で実用に耐えず、また6をこえると、耐久走行後
の出力低下がきわめて大きくなり実用に耐えない。
なお、C/H比は、SIMS (2次イオン質量分析)
等に従えばよい、 SIMSを用いる場合1本発明の
トップコート膜は10〜40人であるので、トップコー
ト8表面にて、CおよびHをカウントして算出すればよ
い。
等に従えばよい、 SIMSを用いる場合1本発明の
トップコート膜は10〜40人であるので、トップコー
ト8表面にて、CおよびHをカウントして算出すればよ
い。
あるいは、Ar等でイオネッチングを行いながら、Cお
よびHのプロファイルを測定して算出してもよい。
よびHのプロファイルを測定して算出してもよい。
SIMSの測定については、第3巻 表面科学基礎講座
(19g4)表面分析の基礎と応用(P 70) “
SIMSおよびLAMMA”の記載に従えばよい。
(19g4)表面分析の基礎と応用(P 70) “
SIMSおよびLAMMA”の記載に従えばよい。
また、プラズマ重合膜と水との接触角は60@〜120
”である。
”である。
60°未満では耐久性、耐食性の点で実用に耐えない、
また、120@をこえるプラズマ重合膜を炭化水素膜
でつくるのは困難であり、また実用上その必要性がない
からである。
また、120@をこえるプラズマ重合膜を炭化水素膜
でつくるのは困難であり、また実用上その必要性がない
からである。
このようなプラズマ重合膜と水との接触角は、プラズマ
重合の際の原料ガスの種類と流量プラズマ重合条件によ
って実験的に求めることができる。
重合の際の原料ガスの種類と流量プラズマ重合条件によ
って実験的に求めることができる。
このように、表面にプラズマ重合膜を形成する磁性層と
しては1強磁性金属薄膜層からなり、Coを主成分とし
、これにOを含み、さらに必要に応じNiおよび/また
はCrが含有される組成を有する。
しては1強磁性金属薄膜層からなり、Coを主成分とし
、これにOを含み、さらに必要に応じNiおよび/また
はCrが含有される組成を有する。
すなわち、好ましい態様においては、Co単独からなっ
てもよく、CoとNiからなってもよい、 Niが含ま
れる場合、Co / N iの重量比は、1.5以上で
あることが好ましい。
てもよく、CoとNiからなってもよい、 Niが含ま
れる場合、Co / N iの重量比は、1.5以上で
あることが好ましい。
さらに、強磁性金属薄膜層中には、Crが含有されてい
てもよい。
てもよい。
Crが含有されると、電磁変換特性が向上し、出力およ
びS/N比が向上し、さらに膜強度も向上する。
びS/N比が向上し、さらに膜強度も向上する。
このような場合、Cr / CoあるいはCr/(Co
+Ni)の重量比は0.1以下、特にo、oot〜0.
1、より好ましくは、0.05〜0.05であることが
好ましい。
+Ni)の重量比は0.1以下、特にo、oot〜0.
1、より好ましくは、0.05〜0.05であることが
好ましい。
さらに1強磁性金属薄膜中には0が含有されるものであ
る。
る。
強磁性金属薄膜中の平均酸素量は、原子比、特にo/(
Cot?、はCo+N1)(7)原子比で、0.5以下
、より好ましくは0.05〜0.5であることが好まし
い。
Cot?、はCo+N1)(7)原子比で、0.5以下
、より好ましくは0.05〜0.5であることが好まし
い。
この場合1強磁性金属薄膜層の表面では、酸素が強磁性
金属(Co、Ni)と酸化物を形成している。
金属(Co、Ni)と酸化物を形成している。
すなわち、表面部、特に表面から50人〜500人、よ
り好ましくは50〜200人の厚さの範囲には、オージ
ェ分光分析により、酸化物を示すピークが認められるも
のである。 そして、この酸化物層の酸素含有量は、原
子比で0.5〜1.0程度である。
り好ましくは50〜200人の厚さの範囲には、オージ
ェ分光分析により、酸化物を示すピークが認められるも
のである。 そして、この酸化物層の酸素含有量は、原
子比で0.5〜1.0程度である。
なお、このような強磁性金属薄膜中には、さらに他の微
量成分、特に遷移元素、例えばF e * M n *
V 、Z r + N b 、T a + T t
+Z n 、 M o 、 W 、 Cu等が含まれて
いてもよい。
量成分、特に遷移元素、例えばF e * M n *
V 、Z r + N b 、T a + T t
+Z n 、 M o 、 W 、 Cu等が含まれて
いてもよい。
このような強磁性金属薄膜層は、好ましい態様において
、上記したCoを主成分とする柱状結晶粒の集合体から
なる。
、上記したCoを主成分とする柱状結晶粒の集合体から
なる。
この場合、強磁性金属薄膜層の厚さは、0゜05〜0.
54m、好ましくは、0.07〜0・3ILmとされる
。
54m、好ましくは、0.07〜0・3ILmとされる
。
そして、柱状の結晶粒は、薄膜の厚さ方向のほぼ全域に
亘る長さをもち、その長手方向は。
亘る長さをもち、その長手方向は。
気体の主面の報線に対して、lO〜70”の範囲にて傾
斜していることが好ましい。
斜していることが好ましい。
なお、酸素は、表面部の柱状の結晶粒の表面に前記のと
おり化合物の形で存在するものである。
おり化合物の形で存在するものである。
また、強磁性金属薄膜層の酸素の濃度勾配の何如には特
に制限はない。
に制限はない。
また、結晶粒の短径は、50〜500人程度の長さをも
つことが好ましい。
つことが好ましい。
このような強磁性金属薄膜層を形成する基板は、非磁性
のものでありさえすれば特に制限はないが、特に可どう
性の基板、特にポリエステル、ポリイミド等の樹脂製の
ものであることが好ましい。
のものでありさえすれば特に制限はないが、特に可どう
性の基板、特にポリエステル、ポリイミド等の樹脂製の
ものであることが好ましい。
また、その厚さは、種々のもの〒あってよいが、特に5
〜204mであることが好ましい。
〜204mであることが好ましい。
この場合、基板の強磁性金属薄膜層形成面の裏面には、
公知の種々のバックコート層が形成されていてもよい。
公知の種々のバックコート層が形成されていてもよい。
なお、基板と強磁性金属薄膜層との間には、必要に応じ
、公知の各種下地層を介在させることもできる。
、公知の各種下地層を介在させることもできる。
また、もし必要であるならば、強磁性金属薄膜層を複数
に分割して、その間に非強磁性金属薄膜層を介在させて
もよい。
に分割して、その間に非強磁性金属薄膜層を介在させて
もよい。
磁性層の形成は電解薄着、イオンブレーティング等を用
いることもできるが、いわゆる斜め蒸着法によって形成
されることが好ましい。
いることもできるが、いわゆる斜め蒸着法によって形成
されることが好ましい。
この場合、基体法線に対する。蒸着物質の入射角の最小
値は、20@以上とすることが好ましい。
値は、20@以上とすることが好ましい。
入射角が20”未満となると、電磁変換特性が低下する
。
。
なお、蒸着雰囲気は、通常、アルゴン、ヘリウム、真空
等の不活性雰囲気に、酸素ガスを含む雰囲気とし、1O
−5X100Pa程度の圧力とし、また、蒸着距離、基
体搬送方向、キャンやマスクの構造、配置等は公知の条
件と同様にすればよい。
等の不活性雰囲気に、酸素ガスを含む雰囲気とし、1O
−5X100Pa程度の圧力とし、また、蒸着距離、基
体搬送方向、キャンやマスクの構造、配置等は公知の条
件と同様にすればよい。
そして、酸素雰囲気での蒸着により、表面に金属酸化物
の被膜が形成される。 なお、金属酸化物が形成される
酸素ガス分圧は、実験から容易に求めることができる。
の被膜が形成される。 なお、金属酸化物が形成される
酸素ガス分圧は、実験から容易に求めることができる。
なお、表面に金属酸化物の被膜を形成するには、各種酸
化処理が可能である。
化処理が可能である。
適用できる酸化処理としては下記のようなものがある。
l)乾式処理
a、エネルギー粒子処理
特願昭58−76640号に記載したように、蒸着の後
期に、イオンガンや中性ガンにより酸素をエネルギー粒
子として磁性層にさしむけるもの。
期に、イオンガンや中性ガンにより酸素をエネルギー粒
子として磁性層にさしむけるもの。
b9グロー処理
02 、 H20、02+H20等とAr。
N2等の不活性ガスとを用い、これをグロー放電してプ
ラズマを生じさせ、このプラズマ中に磁性膜表面をさら
すもの。
ラズマを生じさせ、このプラズマ中に磁性膜表面をさら
すもの。
C0醜化性ガス
オゾン、加熱水蒸気等の酸化性ガスを吹きつけるもの。
d、加熱処理
加熱によって酸化を行うもの、 加熱温度は60〜15
0℃程度。
0℃程度。
2)湿式処理
a、陽極酸化
す、アルカリ処理
C0酸処理
クロム酸塩処理、過マンガン酸塩処理、リン酸塩処理等
を用いる。
を用いる。
d、酸化剤処理
H2O2等を用いる。
■ 発明の具体的効果
本発明によれば、強磁性金属薄膜からなる磁性層上に炭
素と水素を含有するプラズマ重合膜が10〜40人の厚
さで形成され、しかも、この重合膜の炭素/水素の原子
比が1〜6であり、なおかつこの重合膜と水との接触角
が60@〜120°であるので、高密度磁気記録媒体に
おいてスペーシングロスを生じることなく耐食性のきわ
めてよい磁気記録媒体をうることができる。
素と水素を含有するプラズマ重合膜が10〜40人の厚
さで形成され、しかも、この重合膜の炭素/水素の原子
比が1〜6であり、なおかつこの重合膜と水との接触角
が60@〜120°であるので、高密度磁気記録媒体に
おいてスペーシングロスを生じることなく耐食性のきわ
めてよい磁気記録媒体をうることができる。
また、破断強度の非常に強い磁気記録媒体をうることが
できる。
できる。
さらに、プラズマ酸化は気相系反応であるため、高密度
架橋薄膜かえられ、防錆効果の向上に重要な役割を果し
ているものと思われる。
架橋薄膜かえられ、防錆効果の向上に重要な役割を果し
ているものと思われる。
加えて、プラズマ酸化法は高速での連続生成が可能であ
るため、磁気記録媒体製造工程に容易に組み込むことが
でき、その生産性を阻害しない。
るため、磁気記録媒体製造工程に容易に組み込むことが
でき、その生産性を阻害しない。
プラズマ酸化法により生成された薄膜は、磁気記録媒体
の磁気特性、電気特性、記録密度特性が何ら損なわれる
ことなく、上述した表面特性が大幅に改善される。 こ
れは、従来薄膜に比べてきわめて有意義な点である。
の磁気特性、電気特性、記録密度特性が何ら損なわれる
ことなく、上述した表面特性が大幅に改善される。 こ
れは、従来薄膜に比べてきわめて有意義な点である。
■ 発明の具体的実施例
以下、本発明の具体的実施例を示し、本発明をさらに詳
細に説明する。
細に説明する。
実施例1
10終mのポリエチレンテレフタレート(PET)製の
基板を、真空槽中に設けた冷却用ロールに沿わせて走行
させながら、Co−Ni合金をEBガンで加熱し02を
導入しつつ蒸着した。
基板を、真空槽中に設けた冷却用ロールに沿わせて走行
させながら、Co−Ni合金をEBガンで加熱し02を
導入しつつ蒸着した。
この場合バックグラウンドの圧力は、5X10 ’ T
orr、 02導入後の圧力は2 X 10−’Tor
rとした。
orr、 02導入後の圧力は2 X 10−’Tor
rとした。
また1、蒸着の入射角は、90°から30°まで連続的
に減少させた。
に減少させた。
組成は、Co8O−Ni20 (重量比)であり、膜厚
は約1500人とした。
は約1500人とした。
次に、これを真空チャンバ中に入れ、一旦10 ’ T
arrの真空に引いた後、ガス状炭化水素としてCH4
,キャリアガスとしてArを、l:1で導入し、ガス圧
0.1Torrに保ちなから500Wの13.56MH
z+7)高周波電圧をかけてプラズマを発生させ、プラ
ズマ重合膜を磁性層上に形成した。
arrの真空に引いた後、ガス状炭化水素としてCH4
,キャリアガスとしてArを、l:1で導入し、ガス圧
0.1Torrに保ちなから500Wの13.56MH
z+7)高周波電圧をかけてプラズマを発生させ、プラ
ズマ重合膜を磁性層上に形成した。
膜厚は25人であった。
マタ、W/F −Mt* 5 X 1011 、 C/
H比4*2であった。
H比4*2であった。
これに準じ、磁性層上に、下記表1に示されるトップコ
ート層を形成した。
ート層を形成した。
なお、これらトップコート層の元素分析は。
SIMSで測定した。
これら各サンプルについて特性を測定した。
なお、特性の測定は以下のとおりである。
(1)耐食性
初期および60℃、相対湿度80%にて3日間保存後の
Δφm/m(%)を測定した。
Δφm/m(%)を測定した。
(2)破断強度
引張力により破断する強度を測定した。
(3)出力低下
50パス走行後、4MHzの信号の減少量(dB)を測
定した。
定した。
これらの結果から1本発明の効果があきらかである。
第1図は直流、交流および周波数可変型電源を使用した
プラズブ処理装置の概略図である。 符号の説明 53・・・混合器、 54・・・直流、交流および周波数可変型電源、57・
・・液体窒素トラップ、 58・・・油回転ポンプ。 511.512・・・処理ガス源、 521.522・・・マスフローコントローラ。 561.562・・・繰出しおよび巻取りロール 手続補正書(自発) 6 昭和61年 1月 8日 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 1、事件の表示 昭和59年特許願第236155号 2、発明の名称 磁気記録媒体 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人任 所
東京参り駆日本橋−丁目13番1号名 称 (3
06) ティーディーケイ株式会社イ壕者 大蔵 寛 4、代理人 〒101 住 所 東京都千代田区岩木町3丁目2番2号
千代田岩本ビル4階 f1864−4498 Fax、864−6280明
細書の「特許請求の範囲」および「発明の詳細な説明」
の欄、補正の内容 (1)明細書の「2、特許請求の範囲」の項の記載を別
紙のとおり補正する。 (2)明細書の「3、発明の詳細な説明」6項の記載を
下記のとおり補正する。 1)明細書第9頁13行目の「103」をrlo−3J
と補正する。 2) 同第10頁6行目のr (Joule/sec
) Jをr (Joule/kg) Jと補正する。 3) 第10頁8行目の「F:原料ガス流量(kg/s
ec) 、Jを「F:原料ガス流量(kg−mol/s
ec)、 Jと補正する。 4) 同第19頁1行目の「プラズマ酸化」をrプラズ
マ重合jと補正する。 5)同第19頁4行目の「プラズマ酸化」をrプラズマ
重合1と補正する。 8) 同第19頁8行目の「プラズマ酸化」をrプラズ
マ重合」と補正する。 2、特許請求の範囲 (1)支持体上に強磁性金属薄膜を有し、この強磁性金
属薄膜上にトップコート膜を有する磁気記録媒体におい
て、トップコート膜が炭素および水素を含む膜厚10〜
40人のプラズマ重合膜を存し、かつ、この重合膜の炭
素/水素の原子比が1〜6であり、しかもこの重合膜と
水との接触角が60’〜120° であることを特徴と
する磁気記録媒体。 (2)プラズマ重合膜の形成が、W/F−M〔ここに、
Wはプラズマ投入電力(Joule/sec)、Fは原
料ガス流量(kg−tnol/sec) 、 Mは原料
ガス分子量〕が107〜10 l2Joule/kgの
条件で行われる特許請求の範囲第1項に記載の磁気記録
媒体。 (3)強磁性金属薄膜がCoを主体とする蒸着膜である
特許請求の範囲第1項または第2項に記載の磁気記録媒
体。 (4)強磁性金属薄膜が0を含む特許請求の範囲第3項
に記載の磁気記録媒体。 手続補正書(0釦 昭和61年 2月 7日 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 1、事件の表示
電昭和59年特許願第236155号 2、発明の名称 磁気記録媒体 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都中央区日本橋−丁目13番1号名
称 (306)ティーディーケイ株式会社4、代理
人 〒101電話864−44986、補正の内容 (1)明細書の「2、特許請求の範囲」の項の記載を別
紙のとおり補正する。 (2)明細書の[3、発明の詳細な説明]の項の記載を
下記のとおり補正する。 ■) 第10頁8行目のrF:LIK料ガス流量(Kg
−o+ojL /sec) 、Jを「F:原料ガス流量
(にg/sec)、」と補正する。 2、特許請求の範囲 (1)支持体上に強磁性金属薄膜を有し、この強磁性金
属薄膜上にトップコート膜を有する磁気記録媒体におい
て、トップコート膜が炭素および水素を含む膜厚10〜
40人のプラズマ重合膜を有し、かつ、この重合膜の炭
素/水素の原子比が1〜6であり、しかもこの重合膜と
水との接触角が60°〜120°であることを特徴とす
る磁気記録媒体。 (2)プラズマ重合膜の形成が、W/F−M(ここに、
Wはプラズマ投入電力(Joule/sec)、F&を
原料ガス流量(iム胚) 、Mは原料ガス分子量〕がl
Oフ〜1012 Joule/kgの条件で行われる特
許請求の範囲第1項に記載の磁気記録媒体。 (3)強磁性金属薄膜がCoを主体とする蒸着膜である
特許請求の範囲第1項または第2項に記載の磁気記録媒
体。 (4)強磁性金属薄膜が0を含む特許請求の範間第3項
に記載の磁気記録媒体。
プラズブ処理装置の概略図である。 符号の説明 53・・・混合器、 54・・・直流、交流および周波数可変型電源、57・
・・液体窒素トラップ、 58・・・油回転ポンプ。 511.512・・・処理ガス源、 521.522・・・マスフローコントローラ。 561.562・・・繰出しおよび巻取りロール 手続補正書(自発) 6 昭和61年 1月 8日 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 1、事件の表示 昭和59年特許願第236155号 2、発明の名称 磁気記録媒体 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人任 所
東京参り駆日本橋−丁目13番1号名 称 (3
06) ティーディーケイ株式会社イ壕者 大蔵 寛 4、代理人 〒101 住 所 東京都千代田区岩木町3丁目2番2号
千代田岩本ビル4階 f1864−4498 Fax、864−6280明
細書の「特許請求の範囲」および「発明の詳細な説明」
の欄、補正の内容 (1)明細書の「2、特許請求の範囲」の項の記載を別
紙のとおり補正する。 (2)明細書の「3、発明の詳細な説明」6項の記載を
下記のとおり補正する。 1)明細書第9頁13行目の「103」をrlo−3J
と補正する。 2) 同第10頁6行目のr (Joule/sec
) Jをr (Joule/kg) Jと補正する。 3) 第10頁8行目の「F:原料ガス流量(kg/s
ec) 、Jを「F:原料ガス流量(kg−mol/s
ec)、 Jと補正する。 4) 同第19頁1行目の「プラズマ酸化」をrプラズ
マ重合jと補正する。 5)同第19頁4行目の「プラズマ酸化」をrプラズマ
重合1と補正する。 8) 同第19頁8行目の「プラズマ酸化」をrプラズ
マ重合」と補正する。 2、特許請求の範囲 (1)支持体上に強磁性金属薄膜を有し、この強磁性金
属薄膜上にトップコート膜を有する磁気記録媒体におい
て、トップコート膜が炭素および水素を含む膜厚10〜
40人のプラズマ重合膜を存し、かつ、この重合膜の炭
素/水素の原子比が1〜6であり、しかもこの重合膜と
水との接触角が60’〜120° であることを特徴と
する磁気記録媒体。 (2)プラズマ重合膜の形成が、W/F−M〔ここに、
Wはプラズマ投入電力(Joule/sec)、Fは原
料ガス流量(kg−tnol/sec) 、 Mは原料
ガス分子量〕が107〜10 l2Joule/kgの
条件で行われる特許請求の範囲第1項に記載の磁気記録
媒体。 (3)強磁性金属薄膜がCoを主体とする蒸着膜である
特許請求の範囲第1項または第2項に記載の磁気記録媒
体。 (4)強磁性金属薄膜が0を含む特許請求の範囲第3項
に記載の磁気記録媒体。 手続補正書(0釦 昭和61年 2月 7日 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 1、事件の表示
電昭和59年特許願第236155号 2、発明の名称 磁気記録媒体 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都中央区日本橋−丁目13番1号名
称 (306)ティーディーケイ株式会社4、代理
人 〒101電話864−44986、補正の内容 (1)明細書の「2、特許請求の範囲」の項の記載を別
紙のとおり補正する。 (2)明細書の[3、発明の詳細な説明]の項の記載を
下記のとおり補正する。 ■) 第10頁8行目のrF:LIK料ガス流量(Kg
−o+ojL /sec) 、Jを「F:原料ガス流量
(にg/sec)、」と補正する。 2、特許請求の範囲 (1)支持体上に強磁性金属薄膜を有し、この強磁性金
属薄膜上にトップコート膜を有する磁気記録媒体におい
て、トップコート膜が炭素および水素を含む膜厚10〜
40人のプラズマ重合膜を有し、かつ、この重合膜の炭
素/水素の原子比が1〜6であり、しかもこの重合膜と
水との接触角が60°〜120°であることを特徴とす
る磁気記録媒体。 (2)プラズマ重合膜の形成が、W/F−M(ここに、
Wはプラズマ投入電力(Joule/sec)、F&を
原料ガス流量(iム胚) 、Mは原料ガス分子量〕がl
Oフ〜1012 Joule/kgの条件で行われる特
許請求の範囲第1項に記載の磁気記録媒体。 (3)強磁性金属薄膜がCoを主体とする蒸着膜である
特許請求の範囲第1項または第2項に記載の磁気記録媒
体。 (4)強磁性金属薄膜が0を含む特許請求の範間第3項
に記載の磁気記録媒体。
Claims (4)
- (1)支持体上に強磁性金属薄膜を有し、この強磁性金
属薄膜上にトップコート膜を有する磁気記録媒体におい
て、トップコート膜が炭素および水素を含む膜厚10〜
40Åのプラズマ重合膜を有し、かつこの重合膜の炭素
/水素の原子比が1〜6であり、しかもこの重合膜と水
との接触角が60°〜120°であることを特徴とする
磁気記録媒体。 - (2)プラズマ重合膜の形成が、W/F・M〔ここに、
Wはプラズマ投入電力(Joule/sec)、Fは原
料ガス流量(kg/sec) 、Mは原料ガス分子量〕
が10^7〜10^1^2Joule/kgの条件で行
われる特許請求の範囲第1項に記載の磁気記録媒体。 - (3)強磁性金属薄膜がCoを主体とする蒸着膜である
特許請求の範囲第1項または第2項に記載の磁気記録媒
体。 - (4)強磁性金属薄膜がOを含む特許請求の範囲第3項
に記載の磁気記録媒体。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59236155A JPH0777017B2 (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | 磁気記録媒体の製造方法 |
GB8527246A GB2166668B (en) | 1984-11-09 | 1985-11-05 | Magnetic recording medium |
US06/795,433 US4844978A (en) | 1984-11-09 | 1985-11-06 | Magnetic recording medium |
DE19853539724 DE3539724A1 (de) | 1984-11-09 | 1985-11-08 | Magnetaufzeichnungsmedium |
US07/041,340 US4749608A (en) | 1984-11-09 | 1987-04-22 | Magnetic recording medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59236155A JPH0777017B2 (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61160824A true JPS61160824A (ja) | 1986-07-21 |
JPH0777017B2 JPH0777017B2 (ja) | 1995-08-16 |
Family
ID=16996575
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59236155A Expired - Lifetime JPH0777017B2 (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0777017B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US5060002A (en) * | 1988-02-11 | 1991-10-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Automatic focus adjusting device |
US5440367A (en) * | 1990-11-07 | 1995-08-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detecting apparatus provided with a plurality of detection fields |
US5486892A (en) * | 1988-03-23 | 1996-01-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Camera with visual axis detecting device |
US5678097A (en) * | 1990-07-06 | 1997-10-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detecting device |
US5845156A (en) * | 1991-09-06 | 1998-12-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Image stabilizing device |
Citations (3)
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JPS57123526A (en) * | 1981-01-23 | 1982-08-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Metallic thin-film type magnetic recording tape |
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-
1984
- 1984-11-09 JP JP59236155A patent/JPH0777017B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
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US5440367A (en) * | 1990-11-07 | 1995-08-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detecting apparatus provided with a plurality of detection fields |
US5845156A (en) * | 1991-09-06 | 1998-12-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Image stabilizing device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0777017B2 (ja) | 1995-08-16 |
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---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |