JPS61156745A - チツプ実装法 - Google Patents

チツプ実装法

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JPS61156745A
JPS61156745A JP59274514A JP27451484A JPS61156745A JP S61156745 A JPS61156745 A JP S61156745A JP 59274514 A JP59274514 A JP 59274514A JP 27451484 A JP27451484 A JP 27451484A JP S61156745 A JPS61156745 A JP S61156745A
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JP
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chip
solder
magnet
substrate
height
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JP59274514A
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English (en)
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Eiji Horikoshi
堀越 英二
Kaoru Hashimoto
薫 橋本
Hiroshi Kano
博司 鹿野
Takehiko Sato
武彦 佐藤
Motonobu Kawarada
河原田 元信
Wataru Yamagishi
山岸 互
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 皮栗上至剋且分団 本発明は、チップ実装法に関し、更に詳しく述べるなら
ば半導体集積回路チップと回路基板とをはんだパッドに
より接合して実装するフリップチップ実装法に関する。
丈米■艮歪 半導体集積回路チップを回路基板にはんだ接合するフリ
ップチップ実装法はよく知られている。
このようなフリップチップ実装法において、チップのは
んだ接合強度を高めて、得られる集積回路板の疲労寿命
を長くするために、基板に対するチップの接合高さを高
くすることが行われている。
チップの接合高さを調整する方法としては、はんだバン
プの径を大きくする方法や高さ調整用のバンプを設ける
方法がある。前者の如くバンプを大きくすることには自
ずから制限があり、また後者においては通電のためのバ
ンプ以外に高さ調整用のバンプを設けるため、チップ及
び回路基板にデッドスペースができるという問題点があ
る。あるいは、融点の異なる材料からなるはんだパッド
を用いることも行われているが、この方法では多種類の
はんだを用意しなければならないという問題点がある。
日が”°しようとする問題点 本発明は、上記の如き従来技術における問題点を解決し
ようとするものであって、容易にチップの接合高さを高
くすることができ、疲労寿命の長い集積回路板を製造す
ることのできるフリップチップ実装法を提供することを
目的とする。
問題点を解決するための手段 本発明によれば即ちはんだバンプを介してチップを基板
上に置き、これを加熱してはんだバンプをリフローさせ
ることによりチップを実装するフリップチップ実装法を
提供するものであって、この方法は、チップの裏面に磁
性体からなる部分を、形成し、はんだリフローの際に前
記チップを磁石により上方に吸引することにより基板に
対するチップの接合高さを高くすることを特徴とする。
本発明は、フリップチップのはんだリフロ一時に、あら
かじめチップの裏面に磁性材料により形成された放熱ス
タンド又は蒸着、スパッタなどの方法によって形成され
た磁性薄膜を、磁石あるいは電磁石により吸引すること
によりチップを上部に持ち上げて接合高さを高くし、疲
労寿命を長くするようにしたものである。
実施勇 以下、本発明の実施例について、添付の図面を参照しな
がら詳しく説明する。
第1図に本発明の原理を示す。アルミナまたはガラスセ
ラミック製の回路基板2上に、CuまたはNiCr+^
Uなどにより電極を形成し、Pb−5n、Pb−In系
などのはんだ3によりチップ1をフリップチップ(フェ
ースダウン)ボンデングする。チップlの裏面には、0
.1〜100μm程度の厚さにFe。
Fe−Co p Fe−Niなどの強磁性薄膜4を形成
する。
リフロー(はんだ溶融)時に、希土類−コバルト希土W
4−鉄、アルニコ、鉄−クロム−コバルトあるいはフェ
ライトなどの磁石または電磁石5によりチップ裏面の強
磁性薄膜4を吸引し、チップをもち上げはんだの接合高
さを高くする。
第2図は、このようにして接合高さを変化させた場合の
接合高さと寿命(0〜100℃間の熱サイクル数で示す
)の関係を示したものである。このように接合高さが高
(なるほど接合は長寿命化する。この熱サイクルは0℃
から100℃に昇温しそして100℃から0℃に冷却す
るサイクルを5分間で行い、lサイクルとする。
第3図は、チップの裏面に磁性材料からなる放熱スタッ
ドを取り付けた場合を説明する図である。
チップlには接続バ・7ド3の位置する面と反対側の面
に放熱スタッド7が接着されている。放熱スタッド7は
その一部又は全部が軟磁性材料で作られている。基板2
とチップ1をフリップチップ実装する際、はんだリフロ
一時に放熱スタッド7を電磁石5で吸引し、はんだ3の
高さを高くする。
しかして、本発明においては、第4図に示すように、電
磁石5を加熱炉内に設置しておくのが有利である。チッ
プ1が昇温部を通過し、はんだのりフロ一温度に設定さ
れた最高温度部にて、はんだは溶融し、フリップチップ
接合が行なわれる。
そして、冷却部において、はんだがまだ溶融している状
態で、電磁石5の作用によって、チップ1がもち上げら
れる。この状態で、さらに冷却することによって、はん
だが凝固し、高くした接合部を実現できる。
市販のりフロー炉の冷却部に希土類−コバルト磁石をと
りつけた。アルミナ製回路基板にNi−Crト^Uによ
り電極を形成した。
シリコンチップの表面には、Ni−Cr+Auによりは
んだパッドを形成し、裏面にFe−Co薄膜を10μm
の厚さで形成した。はんだとしては、Sn −37%1
1t%pbを用い、230℃でリフローした後、2′O
O℃たなる部分で、磁石によりチップをもち上げ、さら
に冷却したところ、磁石を用いない場合に比べて、2倍
の接合高さを得ることができた。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法の一態様を模式的に示す図、第2図
はこの方法により得られた集積回路のチップの接合高さ
と熱サイクル数との関係を示すグラフ、第3図は本発明
方法の他の態様を模式的に示す図、そして第4図はチッ
プの吸引のための磁石を加熱炉内に設けた例を示す模式
図である。 1・・・チップ、    2・・・基板、3・・・はん
だ、    4・・・強磁性薄膜、5・・・磁石、  
    6・・・ヒータ、7・・・放熱スタッド、 8
・・・ベルトコンベヤ。 第 1図 (a) 第2図 接合高さく、um)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、はんだバンプを介してチップを基板上に置き、これ
    を加熱してはんだバンプをリフローさせることによりチ
    ップを実装するフリップチップ実装法において、チップ
    の裏面に磁性体からなる部分を形成し、はんだリフロー
    の際に前記チップを磁石により上方に吸引することによ
    り基板に対するチップの接合高さを高くすることを特徴
    とする方法。
JP59274514A 1984-12-28 1984-12-28 チツプ実装法 Pending JPS61156745A (ja)

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JP59274514A JPS61156745A (ja) 1984-12-28 1984-12-28 チツプ実装法

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JP59274514A JPS61156745A (ja) 1984-12-28 1984-12-28 チツプ実装法

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JPS61156745A true JPS61156745A (ja) 1986-07-16

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ID=17542756

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04338657A (ja) * 1991-05-15 1992-11-25 Alps Electric Co Ltd チップ部品と基板との接続方法
CN110418517A (zh) * 2019-07-09 2019-11-05 惠州市华星光电技术有限公司 显示面板的小型发光二极管表面粘着组装方法
DE102021200017A1 (de) 2020-02-05 2021-08-05 Fuji Electric Co., Ltd. Halbleitermodul und verfahren zum herstellen eines halbleitermoduls

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