JPS61154771A - 溶接位置検出装置 - Google Patents
溶接位置検出装置Info
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- JPS61154771A JPS61154771A JP59273597A JP27359784A JPS61154771A JP S61154771 A JPS61154771 A JP S61154771A JP 59273597 A JP59273597 A JP 59273597A JP 27359784 A JP27359784 A JP 27359784A JP S61154771 A JPS61154771 A JP S61154771A
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- B23K9/00—Arc welding or cutting
- B23K9/12—Automatic feeding or moving of electrodes or work for spot or seam welding or cutting
- B23K9/127—Means for tracking lines during arc welding or cutting
- B23K9/1272—Geometry oriented, e.g. beam optical trading
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- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q35/00—Control systems or devices for copying directly from a pattern or a master model; Devices for use in copying manually
- B23Q35/04—Control systems or devices for copying directly from a pattern or a master model; Devices for use in copying manually using a feeler or the like travelling along the outline of the pattern, model or drawing; Feelers, patterns, or models therefor
- B23Q35/08—Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work
- B23Q35/12—Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work involving electrical means
- B23Q35/127—Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work involving electrical means using non-mechanical sensing
- B23Q35/128—Sensing by using optical means
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/45—Nc applications
- G05B2219/45135—Welding
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/47—Tracing, tracking
- G05B2219/4701—Edge detector, project line, inclined camera detects discontinuity
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、光学系を用いてアーク画像及び被溶接部の開
先光切断画像を検出し、溶接すべき位置を検出する、全
自動アーク溶接ロゲットの溶接線倣い装置に好適な溶接
位置検出装置に関するものである。
先光切断画像を検出し、溶接すべき位置を検出する、全
自動アーク溶接ロゲットの溶接線倣い装置に好適な溶接
位置検出装置に関するものである。
従来、光学系を用いた溶接位置検出装置には第５図及び
第６図に示すものがあった。第５図に示す装置は、投光
手段１からの例えばレーデ光をスリット（図示せず）を
通して線状に鋭く集光させた光（線状集光光線）を被溶
接材２の開先面３に斜め上方から照射し、開先面３から
の反射光を！ＴＶカメラなどの受光手段４で検出し、得
られた画像を解析することＫよって溶接すべき位置を求
めるものであった。
第６図に示すものがあった。第５図に示す装置は、投光
手段１からの例えばレーデ光をスリット（図示せず）を
通して線状に鋭く集光させた光（線状集光光線）を被溶
接材２の開先面３に斜め上方から照射し、開先面３から
の反射光を！ＴＶカメラなどの受光手段４で検出し、得
られた画像を解析することＫよって溶接すべき位置を求
めるものであった。
この装置を前記溶接ロゲットに適用し、溶接トーチ５を
制御する場合には、溶接前に一度開先面３を倣って外部
記憶手段（図示せず）に開先情報を記憶させ、溶接時に
記憶情報に基づいてトーチ５を制御する方法と、溶接ワ
イヤ６に電力を供給し、アーク７を発生させて実際に溶
接しながら開先面３を倣い、トーチ５の位置制御を行う
方法とがあった。
制御する場合には、溶接前に一度開先面３を倣って外部
記憶手段（図示せず）に開先情報を記憶させ、溶接時に
記憶情報に基づいてトーチ５を制御する方法と、溶接ワ
イヤ６に電力を供給し、アーク７を発生させて実際に溶
接しながら開先面３を倣い、トーチ５の位置制御を行う
方法とがあった。
しかしいずれの方法でも、上述従来装置はワイヤ６先端
を直接観測していないため、ワイヤ６の曲がりや突出し
量の変化などを検出できず、このため浴接線に対して正
確にトーチ５を倣わせることができなかった。
を直接観測していないため、ワイヤ６の曲がりや突出し
量の変化などを検出できず、このため浴接線に対して正
確にトーチ５を倣わせることができなかった。
一方第６図に示す装置は、溶接中のアーク７点からの光
（アーク光）をフィルタ群８を介して受光手段４に取込
み、得られた画像を解析してワイヤ６先端のアーク７発
生位置を求めるものであった。
（アーク光）をフィルタ群８を介して受光手段４に取込
み、得られた画像を解析してワイヤ６先端のアーク７発
生位置を求めるものであった。
しかしこの装置では、ワイヤ６の曲がりや突出し量など
を検出することはできるが、トーチ５と被溶接材２の相
対位置関係は検出できず、倣うべき浴接線の検出に適用
できなかった。このため、この装置に、アーク光自体を
光源として開先位置を検出する装置を併用することが考
えられるが、アーク光強度は変動が大きいので観測系の
レベル設定が困難であった。
を検出することはできるが、トーチ５と被溶接材２の相
対位置関係は検出できず、倣うべき浴接線の検出に適用
できなかった。このため、この装置に、アーク光自体を
光源として開先位置を検出する装置を併用することが考
えられるが、アーク光強度は変動が大きいので観測系の
レベル設定が困難であった。
そこで、上述諸問題を全て解消するために、第５図及び
第６図に示す両装置を用いて１つの溶接位置検出装置を
構成することが考えられるが、これでは装置が大型かつ
複雑化し、実用的でないという問題点があった。
第６図に示す両装置を用いて１つの溶接位置検出装置を
構成することが考えられるが、これでは装置が大型かつ
複雑化し、実用的でないという問題点があった。
本発明は上記のような問題点を解消するためになされた
もので、ワイヤの曲がりや突出し量が検出できると共に
溶接線の検出にも適用でき、しかもこれらが小型かつ簡
単な構成で達成できる、全自動アーク溶接ロゲットに好
適な溶接位置検出装置を提供することを目的とする。
もので、ワイヤの曲がりや突出し量が検出できると共に
溶接線の検出にも適用でき、しかもこれらが小型かつ簡
単な構成で達成できる、全自動アーク溶接ロゲットに好
適な溶接位置検出装置を提供することを目的とする。
本発明装置は、アークを観測用光学系で観測する一方で
、アーク点に先行した、通常、アーク点近傍の開先面に
線状集光光線を照射させ、その反射光を前記観測用光学
系でアーク観測と同時に観測するように光学系を配置す
ることで、アーク画像と開先光切断画像を１つの観測用
光学系の２次元光位置検出器の視野内に直接入るように
し、簡易な構成で前記両画像が同時に検出されるように
してアーク溶接の自動化に便宜を計ったものである。
、アーク点に先行した、通常、アーク点近傍の開先面に
線状集光光線を照射させ、その反射光を前記観測用光学
系でアーク観測と同時に観測するように光学系を配置す
ることで、アーク画像と開先光切断画像を１つの観測用
光学系の２次元光位置検出器の視野内に直接入るように
し、簡易な構成で前記両画像が同時に検出されるように
してアーク溶接の自動化に便宜を計ったものである。
以下第１図〜第４図を参照して本発明の詳細な説明する
。第１図は本発明による溶接位置検出装置の一実施例を
概略的に示す斜視図で、図中２゜３．５及び６は各々第
５図と同様である。１１は線状集光光線照射用光学系で
、アーク点Ｐに先行するアーク点Ｐ近傍位置の開先面３
に線状集光光線を照射する。１２は、例えばＩＴＶカメ
ラあるいはＣＯＤセンサなどからなる２次元光位置検出
器１２＆、干渉フィルタ１２ｂ及び減光フィルタ１２ｅ
などで構成された観測用光学系で、アーク点Ｐの光（ア
ーク光）と前記線状集光光線の開先面３での反射光との
両方が前記検出器１２ｍの受光面に入射すべく各部材１
２ａ ｙ １２ａの選定やそれらの配置位置設定、光軸
調整がなされている。ここでは、検出器１２ｍの光軸を
開先面３上のアーク点Ｐと線状集光光線の開先面での反
射部分との中央部に向け、かつその中央部と検出器１２
ｍの間隔を適宜設定することで前記アーク光と反射光が
検出器１２ｍ受光面に入射すべくなされている。
。第１図は本発明による溶接位置検出装置の一実施例を
概略的に示す斜視図で、図中２゜３．５及び６は各々第
５図と同様である。１１は線状集光光線照射用光学系で
、アーク点Ｐに先行するアーク点Ｐ近傍位置の開先面３
に線状集光光線を照射する。１２は、例えばＩＴＶカメ
ラあるいはＣＯＤセンサなどからなる２次元光位置検出
器１２＆、干渉フィルタ１２ｂ及び減光フィルタ１２ｅ
などで構成された観測用光学系で、アーク点Ｐの光（ア
ーク光）と前記線状集光光線の開先面３での反射光との
両方が前記検出器１２ｍの受光面に入射すべく各部材１
２ａ ｙ １２ａの選定やそれらの配置位置設定、光軸
調整がなされている。ここでは、検出器１２ｍの光軸を
開先面３上のアーク点Ｐと線状集光光線の開先面での反
射部分との中央部に向け、かつその中央部と検出器１２
ｍの間隔を適宜設定することで前記アーク光と反射光が
検出器１２ｍ受光面に入射すべくなされている。
線分Ｑ、〜Ｑｓは光学系１１からの線状集光光線よって
開先面３上に生じる光切断線を表わす。
開先面３上に生じる光切断線を表わす。
即ち本発明は、例えば上述したように構成することで、
アーク画像と開先光切断画像とが観測用光学系１２の視
野内に直接入るようになされ、それら両画像が同時に検
出されるようＫしたものである。ここでは、開先面３上
の光切断画像は、前記光切断線部分からの反射光を、前
記線状集光光線と同じ波長領域の光のみを透過する特性
をもった干渉フィルタ１２ｂを介して検出器１２ａ Ｋ
入射させることにより、検出器１２ｍで検出される。ま
た開先光切断画像は、アーク光を減光フィルタ１２ｃに
よシ前記光切断線部分から反射される散乱光強度と同程
度になるよう減光した後、干渉フィルタ１２ｂを介して
検出器１２ｍに入射され、検出器１２ｍで前記開先光切
断画像検出と同時に検出される。
アーク画像と開先光切断画像とが観測用光学系１２の視
野内に直接入るようになされ、それら両画像が同時に検
出されるようＫしたものである。ここでは、開先面３上
の光切断画像は、前記光切断線部分からの反射光を、前
記線状集光光線と同じ波長領域の光のみを透過する特性
をもった干渉フィルタ１２ｂを介して検出器１２ａ Ｋ
入射させることにより、検出器１２ｍで検出される。ま
た開先光切断画像は、アーク光を減光フィルタ１２ｃに
よシ前記光切断線部分から反射される散乱光強度と同程
度になるよう減光した後、干渉フィルタ１２ｂを介して
検出器１２ｍに入射され、検出器１２ｍで前記開先光切
断画像検出と同時に検出される。
第２図は上述本発明装置が適用された全自動アーク溶接
ロゲットの一例の概略構成図で、図中２゜５．６及び７
は各々第５図と同様である。２１は上記光学系１１．１
２を一括内蔵してなる上述本発明装置部（以下、センナ
部という）である。このセンサ部２１でアーク画像と開
先光切断画像が同時に検出されて得られた画像信号は、
画像処理装置２２に入力される。画像処理装置２２では
、アーク画像及び開先光切断画像の各々が記録された特
定領域の画像信号についてが［定の画像処理を行なう。
ロゲットの一例の概略構成図で、図中２゜５．６及び７
は各々第５図と同様である。２１は上記光学系１１．１
２を一括内蔵してなる上述本発明装置部（以下、センナ
部という）である。このセンサ部２１でアーク画像と開
先光切断画像が同時に検出されて得られた画像信号は、
画像処理装置２２に入力される。画像処理装置２２では
、アーク画像及び開先光切断画像の各々が記録された特
定領域の画像信号についてが［定の画像処理を行なう。
このうち開先光切断画像から開先位置を検出し、この信
号を遅延回路筋を介して遅延処理をした後、ロゲット制
御装置スに出力させる。また、アーク画像から溶接ワイ
ヤ６の曲がり、突出し量を検出し、この信号をロゲット
制御装置Ｕに出力させると共に、アーク情報を溶接機制
御装置２５に送る。前記ロゲット制御装置賞は、前記遅
延処理後の開先位置情報と前記アーク情報（ワイヤ６の
曲がり、突出し量）Ｋ基づいて溶接トーチ５の位置を制
御する。同様に、前記溶接機制御装置部は、アーク情報
に基づき、溶接電流、アーク電圧の制御を実行するもの
である。
号を遅延回路筋を介して遅延処理をした後、ロゲット制
御装置スに出力させる。また、アーク画像から溶接ワイ
ヤ６の曲がり、突出し量を検出し、この信号をロゲット
制御装置Ｕに出力させると共に、アーク情報を溶接機制
御装置２５に送る。前記ロゲット制御装置賞は、前記遅
延処理後の開先位置情報と前記アーク情報（ワイヤ６の
曲がり、突出し量）Ｋ基づいて溶接トーチ５の位置を制
御する。同様に、前記溶接機制御装置部は、アーク情報
に基づき、溶接電流、アーク電圧の制御を実行するもの
である。
上述ロゲットによれば、１つの検出器１２ａ（第１図参
照）を備えた１つのセンサ部２１で、換言すれば小型か
つ簡単な構成でアーク画像と開先光切断画像を取込むこ
とができる。そして、開先光切断画像の観測によって溶
接線を検出でき、また、アーク画像の観測によって溶接
中のワイヤ６の曲がりや突出し量も同時に検出してトー
チ５位置を溶接線に倣って制御できるため、位置決め精
度の高い溶接が可能となる。さらに、アーク情報の検出
によって適正な溶接条件のもとでの溶接が可能になる。
照）を備えた１つのセンサ部２１で、換言すれば小型か
つ簡単な構成でアーク画像と開先光切断画像を取込むこ
とができる。そして、開先光切断画像の観測によって溶
接線を検出でき、また、アーク画像の観測によって溶接
中のワイヤ６の曲がりや突出し量も同時に検出してトー
チ５位置を溶接線に倣って制御できるため、位置決め精
度の高い溶接が可能となる。さらに、アーク情報の検出
によって適正な溶接条件のもとでの溶接が可能になる。
第３図は前述本発明装置（上記センサ部２１ ）の具体
例を示す断面図で、この図において第１図及び第２図と
同一符号は同−又は相当部分を示す。
例を示す断面図で、この図において第１図及び第２図と
同一符号は同−又は相当部分を示す。
１１ａは発光素子、ｌｌｂはこの発光素子１１ｍからの
光線に指向性をもたせるための集光レンズ、１１Ｃはミ
ラー、１１ｄはシリンドリカルレンズで、これらは線状
集光光線照射用光学系１１を構成する。この光学系１１
は、ここではトーチ５を挾んで対称位置に一対（一方は
図示省略）、設け、それらの光学系１１．１１からの各
光線ｔ、が直線状に接がるよう配置されている。１２ｄ
はレンズ、１２ｓは耐熱が２ス板で、検出器１２ａ１干
渉フイルタ１２ｂ及び減光フィルタ１２ｃとで観測用光
学系１２を構成している。
光線に指向性をもたせるための集光レンズ、１１Ｃはミ
ラー、１１ｄはシリンドリカルレンズで、これらは線状
集光光線照射用光学系１１を構成する。この光学系１１
は、ここではトーチ５を挾んで対称位置に一対（一方は
図示省略）、設け、それらの光学系１１．１１からの各
光線ｔ、が直線状に接がるよう配置されている。１２ｄ
はレンズ、１２ｓは耐熱が２ス板で、検出器１２ａ１干
渉フイルタ１２ｂ及び減光フィルタ１２ｃとで観測用光
学系１２を構成している。
上述本発明装置において、ワイヤ６の先端を含むアーク
画像は、アーク光が狭い開口３１を通り、耐熱ｆラス板
１２０１減光フィルタ１２ｃ 、干渉フィルタ１２ｂ及
びレンズ１２ｄを介して検出器１２ｍに入射されること
により検出器１２ｍで検出される。また開先光切断画像
は、光切断線Ｑ部分からの反射光が開口３２を通シ、耐
熱ガラス板１２ｅ１干渉フイルタ１２ｂ及びレンズ１２
ｄを介して検出器１２ｍに入射されることにより、検出
器１２＆で前記アーク画像検出と同時に検出される。こ
こで、検出器１２＆及びレンズ１２ｄは、その先軸がア
ーク点Ｐと光切断線Ｑとの中央部と交叉し、前記画像が
検出器１２ａの視野内に直接入るように配置されている
。なお図中３３は、溶接中に発生するスパッタ、ヒエー
ムなどが開先光切断画像を検出する視野内に侵入するこ
とを防止するために設けられたもので、これＫより鮮明
な開先光切断画像を得ることができる。
画像は、アーク光が狭い開口３１を通り、耐熱ｆラス板
１２０１減光フィルタ１２ｃ 、干渉フィルタ１２ｂ及
びレンズ１２ｄを介して検出器１２ｍに入射されること
により検出器１２ｍで検出される。また開先光切断画像
は、光切断線Ｑ部分からの反射光が開口３２を通シ、耐
熱ガラス板１２ｅ１干渉フイルタ１２ｂ及びレンズ１２
ｄを介して検出器１２ｍに入射されることにより、検出
器１２＆で前記アーク画像検出と同時に検出される。こ
こで、検出器１２＆及びレンズ１２ｄは、その先軸がア
ーク点Ｐと光切断線Ｑとの中央部と交叉し、前記画像が
検出器１２ａの視野内に直接入るように配置されている
。なお図中３３は、溶接中に発生するスパッタ、ヒエー
ムなどが開先光切断画像を検出する視野内に侵入するこ
とを防止するために設けられたもので、これＫより鮮明
な開先光切断画像を得ることができる。
上述第３図に示す例によれば、
（１）ワイヤ６先端部を含むアーク部分のみの像を狭い
開口３１を通し、それ以外の像は除去されて観測される
ので、アーク点Ｐ及びワイヤ６先端位置を求める際の画
像処理が容易になり、 （２）検出器１２ａの観測視野内にアーク画像と開先光
切断画像が入るようにすることでアーク点ＰＫ近い開先
光切断画像を得ることができ、かつ装置センサ部２１）
全体を小型化でき、 （３）検出器１２ｍの受光面に結像される上記両画像が
互いに重なり合うことがなく分離された像となっている
ので、画像処理の際には各々の画像領域のみについて処
理を行えばよく、処理構成が容易となる、 などの効果がある。
開口３１を通し、それ以外の像は除去されて観測される
ので、アーク点Ｐ及びワイヤ６先端位置を求める際の画
像処理が容易になり、 （２）検出器１２ａの観測視野内にアーク画像と開先光
切断画像が入るようにすることでアーク点ＰＫ近い開先
光切断画像を得ることができ、かつ装置センサ部２１）
全体を小型化でき、 （３）検出器１２ｍの受光面に結像される上記両画像が
互いに重なり合うことがなく分離された像となっている
ので、画像処理の際には各々の画像領域のみについて処
理を行えばよく、処理構成が容易となる、 などの効果がある。
第４図は前述本発明装置の他の具体例を示す断面図で、
この図において、第３図と同一符号は同−又は相当部分
を示す。ＩＩｓ 、 １２ｆは各々オノチカルファイ
ノ々を多数束ねてなる光フアイバケーブル、１１ｆは光
ファイ／？ケーブル１１ｅの端面１１ｇで広がる光線を
平行光にするだめのレンズ、１２ｇは光フアイバケーブ
ル１２ｆで伝達された画像を検出器１２＆の受光面に結
像させるだめの接眼レンズである。
この図において、第３図と同一符号は同−又は相当部分
を示す。ＩＩｓ 、 １２ｆは各々オノチカルファイ
ノ々を多数束ねてなる光フアイバケーブル、１１ｆは光
ファイ／？ケーブル１１ｅの端面１１ｇで広がる光線を
平行光にするだめのレンズ、１２ｇは光フアイバケーブ
ル１２ｆで伝達された画像を検出器１２＆の受光面に結
像させるだめの接眼レンズである。
即ち上述例は、両光学系１１．１２の光線（像）の伝送
路に光ファイ・９ケーブルｌｉｅ 、 １２ｆを用い
、かつ検出器１２ｍ及び発光素子１１ａをトーチ５がら
離れた位置に設けたもので、これＫよれば、検出器１２
ｍ及び発光素子１１ａが熱や電気などにょる外乱の影響
を抑制できるという効果もある。
路に光ファイ・９ケーブルｌｉｅ 、 １２ｆを用い
、かつ検出器１２ｍ及び発光素子１１ａをトーチ５がら
離れた位置に設けたもので、これＫよれば、検出器１２
ｍ及び発光素子１１ａが熱や電気などにょる外乱の影響
を抑制できるという効果もある。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明によれば、溶接ワイヤの曲がり
や突出し量が検出できると共に溶接線の検出にも適用で
き、しかもこれらが小型かつ簡単な構成で達成でき、従
って全自動アーク溶接ロゲットに適用して大なる効果が
ある。
や突出し量が検出できると共に溶接線の検出にも適用で
き、しかもこれらが小型かつ簡単な構成で達成でき、従
って全自動アーク溶接ロゲットに適用して大なる効果が
ある。
第１図は本発明装置の一実施例を概略的に示す斜視図、
第２図は本発明装置が適用された全自動アーク溶接ロゼ
ツトの一例の概略構成図、第３図及び第４図は各々本発
明装置の具体例を示す断面図、第５図及び第６図は各々
従来装置の概略構成図である。 ２・・・被溶接材、３・・・開先面、５・・・溶接トー
チ、６・・・溶接ワイヤ、７・・・アーク、１１・・・
線状集光光線照射用光学系、ｌｉｅ、 １２ｆ・・・
光フアイバケーブル、１２・・・観測用光学系、１２ｍ
・・・２次元光位置検出器、Ｐ・・・アーク点、Ｑ・・
・光切断線。 代理人 弁理士 秋 本 正 実 第１図 第２図 第３図 第５図 第６図
第２図は本発明装置が適用された全自動アーク溶接ロゼ
ツトの一例の概略構成図、第３図及び第４図は各々本発
明装置の具体例を示す断面図、第５図及び第６図は各々
従来装置の概略構成図である。 ２・・・被溶接材、３・・・開先面、５・・・溶接トー
チ、６・・・溶接ワイヤ、７・・・アーク、１１・・・
線状集光光線照射用光学系、ｌｉｅ、 １２ｆ・・・
光フアイバケーブル、１２・・・観測用光学系、１２ｍ
・・・２次元光位置検出器、Ｐ・・・アーク点、Ｑ・・
・光切断線。 代理人 弁理士 秋 本 正 実 第１図 第２図 第３図 第５図 第６図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、線状集光光線照射用光学系及び観測用光学系を備え
、アーク画像及び被溶接部の開先光切断画像を検出して
溶接すべき位置を検出する装置において、アーク画像と
アーク点に先行した位置の開先光切断画像とが前記観測
用光学系の視野内に直接入るように前記線状集光光線照
射用光学系及び観測用光学系を配置し、前記アーク画像
と開先切断画像とが同時に検出されるべく構成したこと
を特徴とする溶接位置検出装置。 ２、前記観測用光学系は、前記アーク画像としては溶接
ワイヤ先端を含むアーク部分のみの像が観測用光学系の
２次元光位置検出器受光面に入射すべくアーク画像観測
用開口手段を備えたことを特徴とする特許請求の範囲第
１項記載の溶接位置検出装置。 ３、前記線状集光光線照射用光学系及び観測用光学系は
、溶接トーチと一体的に構成したことを特徴とする特許
請求の範囲第１項又は第２項記載の溶接位置検出装置。 ４、前記アーク点と前記開先光切断画像を得る開先位置
との間に衝立を設けたことを特徴とする特許請求の範囲
第１項、第２項又は第３項記載の溶接位置検出装置。 ５、前記線状集光光線照射用光学系及び観測用光学系は
、その光線及び観測像の伝送路に各々光ファイバケーブ
ルを用いたことを特徴とする特許請求の範囲第１項〜第
４項のうちのいずれかに記載の溶接位置検出装置。
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|---|---|---|---|
| JP59273597A JPS61154771A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 溶接位置検出装置 |
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Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP59273597A JPS61154771A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 溶接位置検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61154771A true JPS61154771A (ja) | 1986-07-14 |
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Family
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP59273597A Granted JPS61154771A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 溶接位置検出装置 |
Country Status (5)
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- 1985-12-27 EP EP85116618A patent/EP0188817B1/en not_active Expired
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