JPS61142596A - メモリセル - Google Patents

メモリセル

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JPS61142596A
JPS61142596A JP59261867A JP26186784A JPS61142596A JP S61142596 A JPS61142596 A JP S61142596A JP 59261867 A JP59261867 A JP 59261867A JP 26186784 A JP26186784 A JP 26186784A JP S61142596 A JPS61142596 A JP S61142596A
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Japan
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signal line
potential
line
transistor
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JP59261867A
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Hikari Morita
光 森田
Michihiro Yamane
山根 道広
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、情報処理技術分野におけるメモリセルに関す
るものであり、更に詳しくは、2方向からのアクセスが
可能である如きメモリセルに関するものである。
〔従来の技術〕
第6図は、従来から提案されている単一方向アクセスス
タティックメモリセルを示す回路図である。
同図に示すように、メモリセル1は、情報保持手段とし
ての2個の入出力端子2.3を持つスタティックフリフ
ジフロップ形セル(以下、単にフリップフロップと云う
)4と、例えばnチャネルMIS形電界効果トランジス
タで構成されたトランジスタ5,6と、信号線?、8.
9とを有する。
この場合、信号線7はメモリセル1を選択するワード線
であり、信号線8,9はメモリセル1への書き込みデー
タ又はメモリセル1からの読み出しデータを転送するビ
ット線対である。スタティックフリップフロップ4は4
個のトランジスタ10〜13で構成され、例えばトラン
ジスタ10゜11はnチャネルMIS形電界効果トラン
ジスタ、トランジスタ12.13はpチャネルMIS形
電界効果トランジスタである。トランジスタ10゜11
はその一端をそれぞれ入出力端子2,3に接続され、他
端は共通に接地される。又、トランジスタ12.13は
その一端をそれぞれ入出力端子2.3に接続され、他端
は共通に電源端子14に接続される。トランジスタ10
.12のゲートは共通に入出力端子3に接続される。ト
ランジスタ11.13のゲートは共通に入出力端子2に
接続される。スタティックフリップフロップ4の入出力
端子2はトランジスタ5を介してビット線8に接続され
、スタティックフリ7ブフロツプ4の入出力端子3はト
ランジスタ6を介してビット線9に接続される。一方、
トランジスタ5.6のゲートはワード線7に共通に接続
されている。
以上が従来から提案されているメモリセルlの構成であ
る。
このような構成を有する従来のメモリセル1にデータを
書き込むには、書き込むデータと同相の電位をビット線
8に印加し、書き込むデータと逆相の電位をビット線9
に印加し、ワード線7を高電位にする。ここでは、論理
値“1”に高電位を、論理値“O”に低電位を対応させ
る。ワード線7が高電位なので、トランジスタ5,6が
オン状態となり、導通するので、ビットvA8の電位と
入出力端子2との電位およびビット線9の電位と入出力
端子3との電位がそれぞれ等しくなり、入出力端子2の
電位と入出力端子3の電位とが異なる極性を持つ。その
ため、スタティックフリップフロップ4のトランジスタ
10〜13のオン又はオフの状態が決定され、メモリセ
ル1にデータが書き込まれる。
データを保持するにはワード線7を低電位とし、トラン
ジスタ5,6をオフ状態とすることで、入出力端子2と
ビット線8との間および入出力端子3とビット線9との
間を非導通とし、フリップフロップ4とビット線8.9
とを切り離せばよい。
データを読み出すには、ビット線8をプリチャージして
高電位にした後に、ワード線7を高電位にして、スタテ
ィックフリップフロップ4に書き込まれ維持されている
状態をビット線8に伝える。
スタティックフリップフロップ4の入出力端子2に論理
値“l”が書き込まれている場合、入出力端子2は高電
位であるため、高電位となっているビット線8の電位が
変化しないことにより、論理値“1”が読み出される。
一方、スタティックフリップフロップ4の入出力端子2
に論理値“0”が書き込まれている場合、入出力端子2
は低電位であるため、高電位となっているビット線8の
電位が引き下げられることにより、論理値“0”が読み
出される。
一方、入出力端子3に書き込まれている状態を同様にビ
ット線9から読み出すことができる。
第7図は第6図に示した如きメモリセル1をm行n列に
(mXn)個配列することにより構成した単一方向アク
セスメモリ装置15を示す回路図である。同図において
、第i (i =1.2.・・・、II)のワード線7
に対応してアドレスWiを選択し、B1、B2.・・・
、 Bnで示すビット線8を介すか、又は81′、B2
’、・・・、Bn’で示すビット線9を介してメモリセ
ルlであるC il、  Ci2.・・・。
Cinのデータをそれぞれ読み書きする。
画像認識や文字認識などの分野においては、煩雑な処理
または大量のハードウェアの付加が必要となる。例えば
、文字認識においては、第8図(イ)に示すように、1
個の文字データ16を右方向、上方向の2方向にデータ
を走査することが必要となる。
第8図(ロ)に、第7図に示した単一方向アクセスメモ
リ装置からなる7ワード5ビッ−トのバタンメモリ装置
17に文字“F”を書き込んだ場合を示す。第8図(ロ
)中のアドレスW1〜W7、ビット線81〜B5は、第
7図におけるのと同一の趣旨で用いられる。
右 ロにデータを 査する場ム アクセス方向がバタンメモリ装置17のワード線の方向
と一致するので、1回のアクセスで、右方向の1ワ一ド
分のデータの読み出しができる。
上 口にデータを 査する ム 走査すべき特定のビット線について、アドレスW1〜W
7まで順次読み出す、従って、上方向に1回走査するの
に、7回のアクセスが必要となる。
以上の様に、一般にm行n列の単一方向アクセスメモリ
装置では、ワード線と同じ右方向に走査するのに、1回
のアクセスが必要となる一方、ワード線と異なる上方向
に走査するのに、m回のアクセスが必要となる。
第9図は、第8図の例に見られる走査時間の増加を短縮
するために、走査方向別に、専用のバタンメモリ装置を
備えた例を示している。第9図(イ)に示す7ワード5
ビツトのバタンメモリ装置18は右走査方向用の単一方
向アクセスメモリ装置である。第9図(ロ)に示す5ワ
ード7ビソトのバタンメモリ装置19は上走査方向用の
単一方向アクセスメモリ装置である。
ここで、各方向のデータの走査は、各バタンメモリ装置
へのアクセス1回の読み出しによりできるが、そのため
には、あらかじめ文字データを走査方向に応じて第9図
に示すように配置し直して各バタンメモリ装置に書き込
む操作が加わり、かつ2倍のメモリ装置が必要となる。
以上述べた様に、従来の単一方向アクセスメモリ装置を
バタンメモリ装置に用いる場合、バタンメモリ装置固有
のワード線の方向と異なる方向へデータを走査しようと
すると、バタンメモリ装置へのアクセス回数は、走査す
るビット数に等しい回数だけ必要となり、バタンメモリ
装置へのアクセス時間が膨大となる欠点があった。又、
バタンメモリ装置へのアクセス回数を増加させないため
には、走査方向別に、データをあらかじめ再配置して格
納しておくバタンメモリ装置が必要となる。
そのため、付加ハードウェア量が増大するだけでなく、
付加したバタンメモリ装置のそれぞれに対応する走査方
向のデータをバタンメモリ装置へのアクセス1回で読み
出せるように、あらかじめ再配置して書き込んでおく煩
雑な操作も必要となるという欠点があった・ 〔発明が解決しようとする問題点〕 本発明が解決しようとする問題点は、バタンメモリ装置
固有のワード線の方向と異なる方向へデータを走査する
ときの該メモリ装置へのアクセス時間の増大を、付加ハ
ードウェア量の増大や、データの再配置、書き込みのた
めの煩雑な操作を必要とすることなしに、阻止すること
、であると云える。
従って本発明は、上述のことを可能にするバタンメモリ
装置を構成することのできるメモリセルを提供すること
を目的とする。
〔問題点を解決するための手段および作用〕上記目的を
達成するため、本出願における第1の発明は、第1およ
び第2の2個の入出力端子を備えたフリップフロップ形
セルと、第1および第2の2個のトランジスタと、第1
および第2の2本のワード線と、第1および第2の2本
のビット線とを有し、 前記第1のトランジスタのゲートを前記第1のワード線
に、同じく該第1のトランジスタの第1の端子を前記フ
リップフロップ形セルの第1の入出力端子に、同じく該
第1のトランジスタの第2の端子を前記第1のビット線
に、それぞれ接続し、前記第2のトランジスタのゲート
を前記第2のワード線に、同じく該第2のトランジスタ
の第1の端子を前記フリップフロップ形セルの第2の入
出力端子に、同じく該第2のトランジスタの第2の端子
を前記第2のビット線に、それぞれ接続して成ることを
特徴とし、第2の発明は、第1および第2の2個の入出
力端子を備えたフリップフロップ形セルと、第1乃至第
4の4個のトランジスタと、第1乃至第4の4本の信号
線とを有し、前記第1のトランジスタのゲートは前記第
1の信号線へ、前記第2のトランジスタのゲートは前記
第2の信号線へ、それぞれ接続すると共に、該第1のト
ランジスタの第1の端子は前記第2の信号線へ、該第2
のトランジスタの第1の端子は前記第1の信号線へ、そ
れぞれ接続し、かつ前記第1、第2の各トランジスタの
第2の端子は前記フリップフロップ形セルの第1の入出
力端子に共通に接続し、 前記第3のトランジスタのゲートは前記第3の信号線へ
、前記第4のトランジスタのゲートは前記第4の信号線
へ、それぞれ接続すると共に、該第3のトランジスタの
第1の端子は前記第4の信号線へ、該第4のトランジス
タの第1の端子は前記第3の信号線へ、それぞれ接続し
、かつ前記第3、第4の各トランジスタの第2の端子は
、前記フリップフロップ形セルの第2の入出力端子に共
通に接続して成ることを特徴とする。
〔実施例〕
第1図は本発明の一実施例を示す回路図である。
同図において、メモリセル20は、情報保持手段として
の2個の入出力端子21.22を持つスタティックフリ
ップフロップ4と、例えばnチャネルMIS形電界効果
トランジスタで構成されたトランジスタ23.24と、
2本のワード線25゜26と、2本のビット線27.2
8とを有する。
スタティックフリップフロップ4は、2個の入出力端子
21.22を有し、第6図と同様の接続関係を有する。
すなわちスタティックフリップフロップ4の第1の入出
力端子21は、第1のトランジスタ23を介して第1の
ビットf%127に接続され、第1のトランジスタ23
のゲートは第1のワード線25に接続されている。又、
スタティックフリップフロップ4の第2の入出力端子2
2は、第2のトランジスタ24を介して第1のビット線
28に接続され、第2のトランジスタ24のゲートは第
2のワード線26に接続されている。
以上がメモリセル20の構成である。以下にメモリセル
20の動作を説明する。
[データの書き込み] このような構成を有するメモリセル20へ、書き込むデ
ータと同相の電位を第1のビット線27に印加し、書き
込むデータと逆相の電位を第2のビット線28に印加し
、第1のワード線25と第2のワード線26を両方とも
高電位にする。この様にすると、第1のワード線25に
制御される第1のトランジスタ23がオン状態となり、
導通するので、第1のビット線27の電位と第1の入出
力端子21の電位とが同電位となる。一方、高電位とな
った第2のワード線26に制御される第2のトランジス
タ24がオン状態となり、導通するので、第2のビット
線28の電位と第2の入出力端子22の電位とが同電位
となる。この様にして、スタティックフリップフロップ
4の2個の入出力端子21.22にそれぞれ書き込むデ
ータの電位と同相と逆相の電位が印加されるので、これ
に伴いスタテイツタフリップフロップ内のオンオフ状態
が遷移し、データを書き込むことが出来る。
[データの保持] このデータを保持するにはワード線25.26の両方を
低電位とし、2個の入出力端子21,22を両方ともハ
イインピーダンス状態とすることで、スタテイツタフリ
ップフロップ4の状態を維持する。
[データの読み出し] 右方向アクセス 右方向にアクセスしてデータを読み出すには、第1のビ
ット線27をディスチャージして低電位にした後に、第
1のワード線25を高電位にして、スタティックフリッ
プフロップ4に保持された状態を第1の入出力端子21
から第1のビット線27に伝え、この電位の変化を検出
することによって、データが読み出される。
第1のビット線27をディスチャージするのは以下の理
由による。仮に第1のビット線27の電位をプリチャー
ジすると、スタティックフリップフロップ4の第1の入
出力端子21にオン状態の第1のトランジスタ23を介
して高電位が印加され、スタティックフリップフロップ
4に誤ったデータを蓄積することがある。そのため、メ
モリセル20に誤ったデータが書き込まれることを防ぐ
ために、あらかじめ第1のビット線27をディスチャー
ジし低電位にしておく。
上方向アクセス 上方向にアクセスしてデータを読み出すには、第2のビ
ット線28をディスチャージして低電位にした後に、第
2のワード線26を高電位し、第2のビット線28から
書き込まれたデータと逆相の電位の読み出しを行うこと
が出来る。
直又ヱL皇ス 第1のワード線と第1のビット線との組み合わせによる
読み出し動作と、第2のワード線と第2のビット線との
組み合わせによる読み出し動作とは全く独立に行うこと
が出来る。そのため、第1のワード線25により右方向
にアクセスして、第1のビット線27からデータと同相
の電位を読み出す。これと同時に、第2のワード線26
により上方向にアクセスして、第2のビットvA28か
らデータと逆相の電位を読み出し、同時に2方向からの
アクセスが可能となる。
以上の構成により、2方向からデータの読み出しが同等
に行える2方向アクセススタテイツクメモリセルを構成
することができる。
第2図は、第1図に示したメモリセル20をm行n列に
(mXn)個配列し、信号線25.26゜27.28は
隣接する縦横のメモリセルとそれぞれ共有して配線され
た2方向アクセススタテイツクメモリ装置31を示す概
念図である。2方向アクセススタテイツクメモリ装置3
1を構成するのに必要なアドレス回路、信号線駆動回路
等は従来のスタティックメモリ装置に用いられている回
路と同様の回路が使用出来るので、第2図はそれらをす
べて省略しである。
第1のワード線25は右方向にアクセスするとき選択さ
れ、それぞれアドレスWXI 、WX2 。
・・・、WXmを与えられ、第1のビット線27はビッ
ト線BYI 、BY2 、 ・・・、BYnを介してデ
ータの読み書きを行う。又、第2のワード線26は上方
向にアクセスするとき選択され、それぞれアドレスWY
I 、WY2、−、WYnを与えられ、第2のビット線
28はビット線BXI 、BX2 。
・・・、BXmを介して読み書きを行う。
以下にメモリ装置31の動作を説明する。
[データの書き込み] メモリセルCij (i=1.2.−、m  j=1.
2s”、n)にデータを書き込む場合、アドレスW X
 iの第1のワード線25とアドレスWYj の第2の
ワード線26を高電位とし、その他のアドレスのワード
線25.26を低電位とし、書き込むデータと同相の電
位を第1のビットvA27BYjに印加し、書き込むデ
ータと逆相の電位を第2のビット線28BXiに印加す
る。
[データの読み出し] 玄1血ヱ久鬼ス 第2図の様な構成を有するメモリ装置31から、データ
を右方向にアクセスし読み出す方法は、アドレスWXi
(i・1,2.・・・+m)で指定される第1のワード
線25を高電位とし、これ以外のアドレスの第1のワー
ド線25を低電位とし、あらかしめディスチャージされ
ていた第1のビット線27から、メモリセルCit、 
 Ci2.・・・、Cinのデータを読み出す。
上方向アクセス 前述の右方向にアクセスして読み出す方法と同様に、上
方向にアクセスし読み出す方法は、アドレスWYj(j
・1,2.・・・、m)で指定される第2のワード線2
6を高電位とし、これ以外のアドレスの第2のワード*
26を低電位とし、あらかじめディスチャージされてい
た第2のビット線28から、メモリセルC1j、  C
2j、・・・、Cmjのデータを読み出す。
12 ロアクセス データを右方向にアクセスすると同時に、上方向にアク
セスし、2方向から読み出すこともできる。例えば、ア
ドレスWXiで指定される第1のワード線25を高電位
とし、これ以外のアドレスの第1のワード線25を低電
位とし、あらかじめディスチャージされていた第1のビ
ット線27から、メモリセルCiL  CiL ”・、
Cinのデータを読み出す。これと同時に、アドレスW
Yjで指定される第2のワード線26を高電位とし、こ
れ以外のアドレスの第2のワード線26を低電位とし、
あらかじめディスチャージされていた第2のビット線2
8から、メモリセルC1j、 C2j、・・・、 Ca
+jに蓄えられたデータの逆相の電位を読み出す。
この様にして従来の単一方向アクセスメモリ装置では不
可能であった2方向からデータを読み出すことを同等に
行える2方向アクセススタテイツクメモリ装置を実現で
きる。
以上の実施例で、2方向アクセススタテイツクメモリセ
ルに示すように、2個のトランジスタと、2本のワード
線と、2本のビット線と、入出力端子2個を備えるスタ
ティックフリップフロップからなる情報保持手段とによ
り、2方向からデータの読み出しができる2方向アクセ
ススタテイツクメモリセルを構成でき、これらメモリセ
ルの複数個をアレイ状に配置し、同時に縦横2方向から
のアドレス選択に対してデータを読み出しできることを
特徴とする2方向アクセススタテイツクメモリ装置を実
現できる。
以上が、本願発明の第1の実施例による構成の説明図で
ある。
第3図に本発明の第2の実施例を示す。同図において、
メモリセル120は、情報保持手段としての2個の入出
力端子121.122を持つスタティックフリップフロ
ップ4と、例えばnチャネルMIS形電界効果トランジ
スタで構成されたトランジスタ123,124,125
.126と4本の信号5a127,128,129.1
30とを有する。
この場合、4本の信号線127,128,129.13
0はそれぞれメモリセル120を選択する第1の信号線
、第2の信号線、第3の信号線、第4の信号線である。
スタティックフリップフロップ4は、2個の入出力端子
121,122に接続され、第6図と同様の接続関係を
有する。2個のトランジスタ123,124のゲートは
それぞれ第1の信号線127.第2の信号Na12Bに
接続される一方、スタティックフリップフロップ4の第
1の入出力端子121は、第1のトランジスタ123を
介して第2の信号線128に接続され、第2のトランジ
スタ124を介して第1の信号線127に接続されてい
る。又、2個のトランジスタ125.126のゲートは
それぞれ第3の信号線129.第4の信号線130に接
続される一方、スタティックフリップフロップ4の第2
の入出力端子122は、第3のトランジスタ125を介
して第4の信号線130に接続され、第4のトランジス
タ126を介して第3の信号線129に接続されている
以上がメモリセル120の構成である。以下にメモリセ
ル120の動作を説明する。
[データの書き込み] 立方輿ヱえ皇ス このような構成を有するメモリセル120へ、右方向に
配線される信号線によりアクセスしてデータを書き込む
場合、第1の信号線127と第3の信号線129がワー
ド線対となり、第2の信号vA12Bと第4の信号線1
30がビット線対となる。書き込むデータと同相の電位
を第2の信号線128に印加し、書き込むデータと逆相
の電位を第4の信号線130に印加し、第1の信号線1
27と第3の信号線129の両方を高電位にする。
この様にすると、第1の信号線127に制御される第1
のトランジスタ123がオン状態となり導通するので、
第1の入出力端子121には、第2の信号線128上の
書き込みデータと同相の電位が印加される。一方、高電
位となった第3の信号線129に制御される第3のトラ
ンジスタ125がオン状態となり導通するので、第2の
入出力端子122には、第4の信号線130上の書き込
みデータと逆相の電位が印加される。この様にして、ス
タティックフリップフロップ4の2個の入出力端子12
1.122に、それぞれ書き込むデータと同相と逆相の
電位が印加されるので、これに伴いスタティックフリッ
プフロップ4内のオンオフ状態が遷移し、データを書き
込むことが出来る。
書き込むデータが論理値“1”の場合、第2の信号線1
28には書き込みデータと同相の高電位が印加され、第
2のトランジスタ124もオン状態となり、第1の信号
線127の電位が第1の入出力端子121に伝達される
。しかし、ワード線である第1の信号線127は高電位
であり、第2の信号線128に印加される書き込みデー
タの電位も高電位であるので、2個のトランジスタ12
3.124両方を介して第1の入出力端子121に高電
位が印加されることになり、動作は矛盾しない。
書き込むデータが論理値“0”の場合、第1の信号線と
第2の信号線の組み合わせによる場合と同様に、第4の
信号線130には書き込みデータと逆相の高電位が印加
され、第4のトランジスタ126もオン状態となり、第
3の信号線129の電位が第2の入出力端子122に伝
達される。しかし、ワード線である第3の信号線129
は高電位であり、第4の信号線130に印加される書き
込みデータの電位も高電位であるので、2個のトランジ
スタ125,126両方を介して第2の入出力端子12
2に高電位が印加されることになり、動作は矛盾しない
上方何ヱL鬼久 メモリセル120では、第1の信号線と第2の信号線と
が対称な構成となり、第3の信号線と第4の信号線とが
対称な構成となっているので、上述の説明と同様に、メ
モリセル120へ上方向に配線される信号線によりデー
タをアクセスして書き込む場合、第2の信号tlA 1
28と第4の信号線130との信号線対をワード線対と
し、第1の信号線127と第3の信号線129との信号
線対をビット線対とすることによっても、全く同様にデ
ータの書き込みが出来る。
慎】ミ乙久±ノ、 互いに直交する第2の信号線128と第3の信号線12
9との信号線対をワード線対とし、互いに直交する第1
の信号!127と第4の信号線130との信号線対をビ
ット線対とすることによって、メモリセル120を選択
し、データを書き込む。
すなわち、書き込むデータと同相の電位を第1の信号線
127に印加し、書き込むデータと逆相の電位を第4の
信号&’1130に印加し、第2の信号線128と第3
の信号線129の両方を高電位にする。この様にすると
、第2の信号線128に制御される第2のトランジスタ
124がオン状態となり導通するので、第1の入出力端
子121には、第1の信号線127上の書き込みデータ
と同相の電位が印加される。一方、高電位となった第3
の信号線129に制御される第3のトランジスタ125
がオン状態となり導通するので、第2の入出力端子12
2には、第4の信号線130上の書き込みデータと逆相
の電位が印加される。この様にして、スタティックフリ
ソフフロソプ4の2個の入出力端子121,122に、
それぞれ書き込むデータと同相と逆相の電位が印加され
るので、これに伴いスタティックフリップフロップ4内
のオンオフ状態が遷移し、データを書き込むことが出来
る。
又、互いに直交する第1の信号線127と第4の信号線
130との信号線対をワード線対とし、互いに直交する
第2の信号線128と第3の信号線129との信号線対
をビット線対とすることによって、メモリセル120を
選択し、データを書き込むこともできる。
[データの保持] このデータを保持するには信号線127,128の両方
またはどちらか一方を低電位とし、信号線129,13
0の両方またはどちらか一方を低電位とし、2個の入出
力端子121,122が低電位またはハイインピーダン
ス状態となることで、スタティックフリップフロップ4
の状態を維持する。
[データの読み出し] 立方鳳ヱ久皇久 ■データと同相の電位が印加されるビット線からの読み
出し 第2の信号線128をディスチャージして低電位にした
後に、ワード線として第1の信号線127を高電位にし
て、スタティックフリップフロップ4に保持された状態
を第1の入出力端子121から第2の信号線128に伝
え、・この電位の変化を検出することによってデータが
読み出される。
第2の信号線128をディスチャージするのは以下の理
由による。仮に第2の信号線128の電位をプリチャー
ジすると、第1の信号[127と第2の信号128が両
方とも高電位になり、2個のトランジスタ123.12
4がオン状態となり、スタティックフリップフロップ4
の第1の入出力端子121に高電位が印加され、スタテ
ィックフリップフロップ4の内部状態に関係なく、2個
のトランジスタ123,124を介して第1の信号線1
27の高電位が第2の信号線128に伝わり、誤ったデ
ータを読み出すことがある。そのため、メモリセル12
0から誤ったデータを読み出すことと、メモリセル12
0に誤ったデータが書き込まれることを防ぐために、あ
らかじめ第2の信号128をディスチャージし低電位に
しておく。
■データと逆相の電位が印加されるビット線からの読み
出し 第4の信号線130をディスチャージして低電位にした
後に、ワード線として第3の信号線129を高電位にし
て、スタテイツタフリップフロップ4に保持された状態
を第2の入出力端子122の電位から第4の信号線13
0に伝え、この信号線の電位の変化を検出することによ
り、書き込まれたデータと逆相の電位の読み出しを行え
る。
■データと同相・逆相の電位が印加される2本のビット
線からの同時読み出し 右方向にアクセスする場合、第1の信号線127をワー
ド線とし、第2の信号vA128をビット線とし、書き
込まれたデータと同相の電位を読み出すと同時に、第3
の信号線129をワード線とし、第4の信号m130を
ビット線とし、書き込まれたデータと逆相の電位を読み
出すことも出来る。
上方向アクセス 第1の信号線と第2の信号線とは第1の入出力端子12
1に関して対称であり、第3の信号線と第4の信号線と
は第2の入出力端子122に関して対称であるので、前
述の右方向アクセスと同様に、上方向アクセスによる読
み出し動作を行うことができる。
■データと同相の電位が印加されるビット線からの読み
出し 第1の信号線127をディスチャージして低電位にした
後に、ワード線として第2の信号線128を高電位にし
て、スタティックフリップフロップ4に保持された状態
を第1の入出力端子121から第1の信号線127に伝
え、この電位の変化を検出することによってデータが読
み出される。
■データと逆相の電位が印加されるビット線からの読み
出し 第3の信号wAl 29をディスチャージして低電位に
した後に、ワード線として第4の信号線130を高電位
にして、スタティックフリップフロップ4に保持された
状態を第2の入出力端子122の電位から第3の信号線
129に伝え、この信号線の電位の変化を検出すること
により、書き込まれたデータと逆相の電位の読み出しを
行える。
■データと同相・逆相の電位が印加される2本のビット
線からの同時読み出し 上方向にアクセスする場合、第2の信号線128をワー
ド線とし、第1の信号線127をビット線とし、書き込
まれたデータと同相の電位を読み出すと同時に、第4の
信号線130をワード線とし、第3の信号線129をビ
ット線とし、書き込まれたデータと逆相の電位を読み出
すことも出来る。
右 口と上 pの6gアクセス 第1の信号線と第2の信号線との組み合わせによる読み
出し動作と、第3の信号線と第4の信号線との組み合わ
せによる読み出し動作とは全く独立に行うことが出来る
。そのため、第1の信号線127をワード線とし、第2
の信号線128をビット線として右方向にアクセスして
データと同相のデータを読み出すと同時に、第4の信号
線130をワード線とし、第3の信号線129をビット
線として上方向にアクセスしてデータと逆相の電位を読
み出すことが可能である。
又、第2の信号線128をワード線とし、第1の信号1
27をビット線として上方向にアクセスしてデータと同
相のデータを読み出すと同時に、第3の信号線129を
ワード線とし、第4の信号線130をビット線として右
方向にアクセスしてデータと逆相の電位を読み出すこと
も可能である。
以上の構成により、2方向からデータの読み書きが同等
におこなえる2方向アクセススタテイ・ツクメモリセル
を構成することができる。
第4図は、第3図に示したメモリセル120をm行n列
に(mXn)個配列し、信号線127゜128.129
,130は隣接する縦横のメモリセルとそれぞれ共有し
て配線された2方向アクセススタテイツクメモリ装置1
31を示す概念図である。2方向アクセススタテイツク
メモリ装置131を構成するのに必要なアドレス回路、
信号線駆動回路等は従来のスタティックメモリ装置に用
いられている回路と同様の回路が使用出来るので、第4
図ではそれらをすべて省略しである。
信号線127.129は右方向にアクセスした場合のワ
ード線対となりアドレスWXI、WX2゜・・・、WX
mを与えられ、信号線128,130はビット線対BY
1.BY2.・・・、BYnを表わす。
又、信号vA128,130は上方向にアクセスした場
合のワード線対となりアドレスWYI、WY2、−、W
Ynを与えられ、信号線127.129はビット線対B
X1.BX2. ・”、BXmを表わす。
以下にメモリ装置131の動作を説明する。
[データの書き込み] メモリ装置131には、右方向アクセスしてワード単位
にデータを書き込むモードと、上方向アクセスしてワー
ド単位にデータを書き込むモードと、特定のメモリセル
だけにデータを書き込むモードの3通りの書き込み方法
がある。
右方向アクセス メモリ装置131にデータを右方向にアクセスして書き
込む場合、必要なアドレスWXi(i・1,2゜・・・
+m)を選択し、指定されるワード線対127゜129
だけを高電位とし、これ以外のアドレスのワード線対1
27,129は低電位として、メモリセルCil、  
Cm2.−、  Cinにビット線対BYl。
BY2.・・・、BYnを介してデータを書き込む。
上方向アクセス 右方向アクセスと同様に、データを上方向にアクセスし
て書き込む場合、必要なアドレスWYj(j=1.2.
・・・+n)を選択し、指定されるワード線対128.
130だけを高電位とし、これ以外のアドレスのワード
線対128,130は低電位として、メモリセルC1j
、  C2j、・・・、Cmjにビット線対BXi、B
X2.・・・、BXmを介してデータを書き込む。
産文ヱL鬼久 特定のメモリセルCIJ(1” 1121”・1m  
J=1+2+”・+n)だけにデータを書き込む場合、
アドレスW X iの第1の信号線127とアドレスW
Yj の第4の信号線130をワード線対とし、書き込
むデータと同相の電位をビット線対BYj の第2の信
号線128に印加し、書き込むデータと逆相の電位をビ
ット線対BXiの第3の信号!129に印加し、これ以
外のすべての信号線を低電位とする。
又、アドレスWYjの第2の信号線128とアドレスW
 X iの第3の信号線129をワード線対とし、書き
込むデータと同相の電位をビット線BXiの第1の信号
線127に印加し、書き込むデータと逆相の電位をビッ
ト線対BYjの第4の信号、線130に印加し、これ以
外のすべての信号を低電位としても、特定のメモリセル
C1jにデータを書き込める。
この様にして、互いに直交するワード線対と互いに直交
するビット線対により、特定のメモリセル1個にデータ
を書き込むことができる。
[データの読み出しコ メモリ装置131には、右方向アクセスしてワード単位
にデータを読み出すモードと、上方向アクセスしてワー
ド単位にデータを読み出すモードと、これらの右方向ア
クセスのワード単位のデータと上方向アクセスのワード
単位のデータとを同時に読み出すモードの3通りの読み
出し方法がある。
玄防1戸−漏1ム メモリ装置131から、データを右方向にアクセスし読
み出す方法は以下の3通りある。
■データと同相の電位が印加されるビット線からの読み
出し アドレスWXi(i=1.2.・・・+m)で指定され
る第1の信号線127を高電位とし、これ以外のアドレ
スの第1の信号線127を低電位とし、あらかじめディ
スチャージされていた第2の信号線128から、メモリ
セルCil、 Ci2.・・・Cinのデータを読み出
す。
■データと逆相の電位が印加されるビット線からの読み
出し。
アドレスWXp (p= 1 + 2 、・・・、#)
で指定される第3の信号線129を高電位とし、これ以
外のアドレスの第3の信号線129を低電位とし、あら
かじめディスチャージされていた第4の信号線130か
ら、メモリセルCρ1.  Ca2.・・・Cpnに蓄
えられたデータの逆相の電位を読み出す。
■2アドレスのデータの同時読み出し 第1の信号線と第2の信号線との組み合わせによるアド
レスWXiのデータの読み出し動作と、第3の信号線と
第4の信号線との組み合わせによるアドレスWXpのデ
ータの読み出し動作とは全く独立に行うことが出来るの
で、アドレスW X iとアドレスWXpは同時にアク
セス可能であり、2ポートRAM(7)動作をする。W
Xp =WXi (7)ときは、同一ワードのデータに
ついて、同相と逆相の電位を同時に読み出すことになる
上必1斤−と1ム 前述の右方向にアクセスして読み出す方法と同様に、上
方向にアクセスし読み出す方法も3通りある。
■データと同相の電位が印加されるビット線からの読み
出し アドレスWYj(j=1.2.・・・+n)で指定され
る第2の信号線128を高電位とし、これ以外のアドレ
スの第2の信号線128を低電位とし、あらかじめディ
スチャージされていた第1の信号線127から、メモリ
セルC1j、  C2j、・・・、Cmjのデータを読
み出す。
■データと逆相の電位が印加されるビット線からの読み
出し アドレスWYq(q=1.2.・・・+n)で指定され
る第4の信号線130を高電位とし、これ以外のアドレ
スの第4の信号線130を低電位とし、あらかじめディ
スチャージされていた第3の信号線129から、メモリ
セルC1q、  C2q、・・・、Cmqに蓄えられた
データの逆相の電位を読み出す。
■2アドレスのデータの同時読み出し 第1の信号線と第2の信号線との組み合わせによるアド
レスWYjのデータの読み出し動作と、第3の信号線と
第4の信号線との組み合わせによるアドレスWYqのデ
ータの読み出し動作とは全く独立に行うことが出来るの
で、アドレスWYjとアドレスWYqは同時にアクセス
可能である。
同時2方向アクセス データを右方向にアクセスすると同時に、上方向にアク
セスし、2方向から読み出す方法も以下の2通りある。
■右方向ワード単位にデータと同相の電位を読み出し、
かつ上方向ワード単位にデータと逆相の電位を読み出す
方法 アドレスW X iで指定される第1の信号線127を
高電位とし、これ以外のアドレスの第1の信号vAl 
27を低電位とし、あらかじめディスチャージされてい
た第2の信号線128から、メモリセルCil、Ci2
+ ・・・、Cinのデータを読み出す。
これと同時に、アドレスWYqで指定される第4の信号
線130を高電位とし、これ以外のアドレスの第4の信
号線130を低電位とし、あらかじめディスチャージさ
れていた第3の信号線129から、メモリセルC1q、
  C2q、・・・、Cmqにiえられたデータの逆相
の電位を読み出す。
■右方向ワード単位にデータと逆相の電位を読み出し、
かつ上方向ワード単位にデータと同相の電位を読み出す
方法 アドレスWXpで指定される第3の信号線129を高電
位とし、これ以外のアドレスの第3の信号線129を低
電位とし、あらかじめディスチャージされていた第4の
信号線130から、メモリセ)LtCpl、  Cp2
.・・・、Cpnのデータの逆相の電位を読み出す。こ
れと同時に、アドレスWYjで指定される第2の信号線
128を高電位とし、これ以外のアドレスの第2の信号
線128を低電位とし、あらかじめディスチャージされ
ていた第1の信号線127から、メモリセルC1j、 
C2j、・・・。
Cmjに蓄えられたデータを読み出す。
この様にして従来の単一方向アクセスメモリ装置では不
可能であった2方向からデータの読み書きを同等に行え
る2方向アクセススタテイツクメモリ装置を実現できる
以上の実施例で、2方向アクセススタテイツクメモリセ
ルに示すように、4個のトランジスタと、4本の信号線
と、入出力端子2個を備えるフリップフロップからなる
情報保持手段とにより、2方向からデータの読み出し書
き込みができる2方向アクセススタテイツクメモリセル
を構成でき、これらメモリセルの複数個をアレイ状に配
置し、ワード線の選択の仕方で2方向から読み書きでき
、同時に2個のアドレス選択に対してデータを読み出し
できることを特徴とする2方向アクセススタテイツクメ
モリ装置を実現できる。
以上が、発明の第2の実施例による構成の説明である。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明のメモリセルによれば、縦
横2方向から選択可能なメモリ装置を実現できる。画像
処理や文字認識など2次元に配置されるデータを処理す
る場合、本発明のメモリセルからなる2方向アクセスス
タテイツクメモリ装置を使用することにより、従来の単
一方向アクセススタティックメモリ装置では不可能であ
った2方向からのデータの読み出しが容易に行えるよう
になる。
前記従来技術の項で記述した第8図、第9図の例におけ
るバタンメモリ装置に、本発明の第1の実施例による2
方向アクセススタテイツクメモリ装置および本発明の第
2の実施例による2方向アクセススタテイツクメモリ装
置を適用した例を第5図に示す。
第5図に示される縦横2方向からアクセス可能な2方向
アクセススタテイツクメモリ装置は、第2図に示した第
1の実施例によるバタンメモリ装置31または第4図に
示した第2の実施例によるバタンメモリ装置131のm
=7.n=5の場合で実現され、第5図のバタンメモリ
装置32のアドレス、ビット線はメモリ装置31または
メモリ装置131と同一の趣旨で用いられる。
右 口にデータを走査する6合 アドレスWXI〜WX7により選択し、ビット線BYI
〜BY5から読み出す。
上 田にデータを 査する6人 アドレスWYI〜WY5により選択し、ビット線BX1
7−BX7から読み出す。
以上のことから、縦横どちらの方向からデータを読み出
す場合でも、1回のアクセスで十分とな−る。すなわち
、m行n列の単一方向アクセスメモリ装置では、ワード
線と異なる方向に走査する場合、m回のアクセスが必要
であったのに対して、1回のアクセスで実行できる。ま
た、本発明によると、走査方向別にメモリ装置を備える
ことが不要となるばかりでなく、そのメモリ装置へあら
かじめ各走査方向別に配列を変えてデータを書き込む必
要がなくなり、ハードウェア量、選択時間を著しく削減
できる効果がある。
又、本発明のメモリセルからなる2方向アクセススタテ
イツクメモリ装置によれば、書き込み操作をビット単位
に行なえる利点もある。
すなわち、CCDイメージセンサ等のビットシリアルな
画像データを右方向、上方向へ任意にラスクスキャンし
て書き込むメモリ装置としても使用できる。また、ベク
タスキャンして書き込むメモリ装置としての用途や、2
次元データ全面を走査しないで変更箇所のビットだけを
書き換えるメモリ装置としての用途にも使用できる。
なお、上述において、メモリセルの僅かな実施例を述べ
たに留ったが、本発明の精神を脱することなしに、種々
の変形、変更をなし得る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は第1
図に示したメモリセルをアレイ状に配列して成る2方向
アクセススタテイツクメモリ装置を示す概念図、第3図
は本発明の第2の実施例を示す回路図、第4図は第3図
のメモリセルをアレイ状に配列して成る2方向アクセス
スタテイツクメモリ装置を示す概念図、第5図は文字デ
ータ用の2次元のデータのバタンメモリ装置を示す概念
図、第6図は従来から提案されている単一方向アクセス
スタティックメモリセルを示す回路図、第7図は第6図
のセルを用いた従来の単一方向アクセススタティックメ
モリ装置を示す概念図、第8図は文字データ用のバタン
メモリ装置が1個の場合を示す概念図、第9図は文字デ
ータのバタンメモリ装置が2個の場合を示す概念図であ
る。 符号説明 1・・・単一方向アクセススタティックメモリセル、2
.3・・・入出力端子、4・・・スタティックフリップ
フロップ形セル、5.6・・・nチャネルMIS形電界
効果トランジスタ、7・・・ワード線、8.9・・・ビ
ット線、10.11・・・nチャネルMIS形電界効果
トランジスタ、12.13・・・pチャネルMrS形電
界効果トランジスタ、14・・・電源端子、15・・・
単一方向アクセススタティックメモリ装置、16・・・
文字データ、17・・・バタンメモリ装置、18・・・
右走査方向専用バタンメモリ装置、19・・・主走査方
向専用バタンメモリ装置、20・・・2方向アクセスス
タテイツクメモリセル、21.22・・・入出力端子、
23.24・・・nチャネルMis形電界効果トランジ
スタ、25・・・第1のワード線、26・・・第2のワ
ード線、27・・・第1のビット線、28・・・第2の
ビット線、31・・・2方向アクセススタテイツクメモ
リ装置、32・・・文字データ用の2方向アクセススタ
テイツクメモリ装置、120・・・2方向アクセススタ
テイツクメモリセル、121.122・・・入出力端子
、123〜126・・・nチャネルMIs形電界効果ト
ランジスタ、127・・・第1の信号線、128・・・
第2の信号線、129・・・第3の信号線、130・・
・第4の信号線、131・・・2方向アクセススタテツ
クメモリ装置 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎   清 III  図 7− F”線 fl12図 jlI3I!!

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)第1および第2の2個の入出力端子を備えたフリッ
    プフロップ形セルと、第1および第2の2個のトランジ
    スタと、第1および第2の2本のワード線と、第1およ
    び第2の2本のビット線とを有し、 前記第1のトランジスタのゲートを前記第1のワード線
    に、同じく該第1のトランジスタの第1の端子を前記フ
    リップフロップ形セルの第1の入出力端子に、同じく該
    第1のトランジスタの第2の端子を前記第1のビット線
    に、それぞれ接続し、前記第2のトランジスタのゲート
    を前記第2のワード線に、同じく該第2のトランジスタ
    の第1の端子を前記フリップフロップ形セルの第2の入
    出力端子に、同じく該第2のトランジスタの第2の端子
    を前記第2のビット線に、それぞれ接続して成ることを
    特徴とするメモリセル。 2)第1および第2の2個の入出力端子を備えたフリッ
    プフロップ形セルと、第1乃至第4の4個のトランジス
    タと、第1乃至第4の4本の信号線とを有し、 前記第1のトランジスタのゲートは前記第1の信号線へ
    、前記第2のトランジスタのゲートは前記第2の信号線
    へ、それぞれ接続すると共に、該第1のトランジスタの
    第1の端子は前記第2の信号線へ、該第2のトランジス
    タの第1の端子は前記第1の信号線へ、それぞれ接続し
    、かつ前記第1、第2の各トランジスタの第2の端子は
    前記フリップフロップ形セルの第1の入出力端子に共通
    に接続し、 前記第3のトランジスタのゲートは前記第3の信号線へ
    、前記第4のトランジスタのゲートは前記第4の信号線
    へ、それぞれ接続すると共に、該第3のトランジスタの
    第1の端子は前記第4の信号線へ、該第4のトランジス
    タの第1の端子は前記第3の信号線へ、それぞれ接続し
    、かつ前記第3、第4の各トランジスタの第2の端子は
    、前記フリップフロップ形セルの第2の入出力端子に共
    通に接続して成ることを特徴とするメモリセル。
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