JPS61141191A - 集積型半導体レ−ザ - Google Patents

集積型半導体レ−ザ

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JPS61141191A
JPS61141191A JP26302084A JP26302084A JPS61141191A JP S61141191 A JPS61141191 A JP S61141191A JP 26302084 A JP26302084 A JP 26302084A JP 26302084 A JP26302084 A JP 26302084A JP S61141191 A JPS61141191 A JP S61141191A
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JP
Japan
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waveguide
beta1
beta2
waveguides
interval
Prior art date
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Application number
JP26302084A
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English (en)
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JPS641953B2 (ja
Inventor
Jun Osawa
大沢 潤
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National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、集積型半導体レーザに関し、特にその横モ
ード制御に関するものである。
〔従来の技術〕
第5図は、例えば電子通信学会研究会0QE84−53
に示された2連集積型レーザの一例で、2連内部ストラ
イプレーザと称されたものの断面模式図である。1はp
−GaAs基板、2はp −AjtGaAs下クラフト
層、りはA 110aAs活性層、4はn−AjEGa
As上クラッド層、5はn−GaAs電流阻止層、6は
ローGaAsキャンプ層、7はn側電極、8はp側電極
、9は第1の導波路、10は第2の導波路であり、2つ
の導波路9.10の幅はW1間隔はSである。
第6図は、第5図の従来例を変形した他の例を示し、電
流阻止層5を上クラッド層4上に設け、該上クラッド層
4と同じ結晶からなる埋込み層6aで全体を埋込んでい
る。この構成はMO−CVD法によれば実現可能であり
、以下の説明はこの構造を基にして行なう。
次に動作について説明する。p側電極8より流れ込む電
流は電流阻止層5により狭窄されるため2つの導波路9
.10に集中する。活性層3に注入されたキャリアは、
該活性層3内で発光再結合し活性層3近傍に広がる。こ
の時、上クラッド層4が適度に薄いと、電流阻止層5の
ある部分では光が一部吸収損失を受けるため、電流阻止
層5のない2つの導波路9,10に比べ、等価的な屈折
率が低下し、結果として光の導波路9.10が形成され
る。なお、上記の光吸収は、電流阻止層5のバンドギャ
ップが、活性層3で生じる光のエネルギーより小さいこ
とに基づいている。また、第1及び第2の導波路9,1
0の幅Wは等しい。
ここで、2つの導波路9.10の間隔、即ち両者の中央
間の間隔Sを小さくして、各導波路9゜10の光が相互
作用するようにすれば、通常の半導体レーザと同様な増
幅・帰還作用により発振が生じた時、2つの導波路9.
10から成る2連レーザは同一波長で発振する。これを
位相同期発振という。
第7図(a)に、等価屈折率Neの分布、伽)に間隔S
が小さい場合の2つの固有モードの電界分布、(C)に
導波光の伝搬定数βの間隔Sによる変化を示す、同図(
a)では2つの導波路の等価屈折率の値が周辺部での値
NeOよりΔNeだけ大きいことを示している。
同図(C)によると、間隔Sの減少に伴い、単一導波路
元来の伝搬定数β0が、対称モードの伝搬定b    
                        a
数β0 と反対称モードの伝搬定数β0 とに分離し、
間隔がScになると、遂にはβOa がKONeoより
小さくなり、反対称モードが伝搬し得なくなることが判
る。ここに、KO−2π/λ、λは発振波長、Scは反
対称モードがカットオフ(遮断)される間隔である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
このように、従来の位相同期2連レーザは、2つの導波
路が同等で同じ伝搬定数β0を持つように構成されてい
るので、対称モードのみが伝搬するようにするためには
間隔Sを非常に小さくすることが必要で、現在の加工技
術では製作が困難で    □ある等の問題点があった
。また、間隔が広い場合には2つのモードの伝搬定数が
ほぼ等しく、両方のモードが伝搬するために、構造の不
均一や動作条件によってはレーザの遠視野像が一定しな
いという欠蕉があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、比較的広い間隔Sにおいて反対称モードを遮
断して対称モードのみを選択的に伝搬させ得るとともに
、反対称モードが遮断されていない条件下でも対称モー
ドで発振することのできる集積型半導体レーザを得るこ
とを目的としている。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係る位相同期集積型半導体レーザは、2つの
導波路の導波路幅W1等価屈折率差ΔNe等を変化させ
ることによって、各導波路の伝搬定数を変化させ、かつ
伝搬定数の大きい方の導波路の導波光に対する利得が高
くなるようにしたものである。
〔作用〕
この発明においては、各導波路の単体としての伝搬定数
が異なるため、集積化した場合の固有モードの伝搬定数
の差がより大きくなり、逆位相の電界分布を持つ1次モ
ードが遮断される間隔Scが大きくなる。また、元来の
伝搬定数の大きい方の導波路に、より強い同位相の電界
分布を持っ0次モードに対するモード利得が大きくなる
〔実施例〕
以下、この発明の実施例を図について説明する。
第1図において、第6図と同一符号は同−又は相当部分
を示し、19は電流阻止層5に挟まれた。
幅がWlの第1の導波路、20は幅がW2の第2の導波
路(W2>Wl)である。
次に作用効果について説明する。電流阻止層5による電
流狭窄、活性層3へのキャリア注入による発振、及び2
つの導波路19.20の結合にょ定数の導波路間隔によ
る変化を示したものである。
2つの導波路19.20の幅にw2>wlの関係がある
ため、第2図(C)に示すように各導波路19゜20の
単体としての伝搬定数はβ2〉β1となる。
導波路間隔Sの減少に従い結合が増加しβ1とβ2の差
は大きくなるが、元々のβ1とβ2とに差があるので、
一定のSに対する2つの固有モードの伝搬定数の差(β
2−β1)は、従来例の場合より大きい。また、固有モ
ードの電界分布を同図(b)に示しており、β2に対応
するモードは、幅の広い第2の導波路20に強い電界を
持つ0次モード、β1に対応するモードは、幅の狭い第
1の導波路19に逆位相の強い電界を持つ1次モードで
ある。
このように本実施例では、(β2−β1)の差が大きい
ことにより、1次モードが遮断される間隔Scは従来例
の時より太き(でき、本半導体レーザの製造を容易にす
ることができる。
更に、w2>wlであるため、同じ電流密度であっても
幅の広い第2の導波路20の方が導波光に対する利得が
高い。このことは、第2の導波路20に強い電界を有す
る0次モードに対するモード利得が、1次モードに対す
るモード利得より高くなることを意味し、0次モードで
の発振が優勢となる。
次に、この発明の他の実施例を第3図に示す。
第6図と同一符号は同−又は相当部分を示し、4aは一
方の導波路部に活性層3の近傍まで溝を設けた上クラッ
ド層、6bは該上クラッド層4aより屈折率が低く(A
n!組成比が高く)、抵抗率が若干高いn−^I Ga
As埋込み層である。29は第2の導波路10より小さ
い等価屈折率を持つ、第1の導波路である。
第4図に、第3図の実施例における上記第2図と同様の
説明図を示す、第1の導波路29では、屈折率の低い埋
込み層6bが影響してその等価屈折率が下がるため、第
4図(a)に示すような屈折率分布となる。これにより
第2図の場合と同様に、第4図(C)に示すようにβ2
〉β1となり、上記実施例と同様に1次モードの遮断さ
れる間隔Scを    ゛大きくできる。
更に、埋込み層6bと上クラッド層4aとの抵抗率の差
により、電流は抵抗の低い第2の導波路10の方へ多く
流れ、結果的に第2の導波路10の利得が高くなる。従
って、上記実施例で説明した通り0次モード発振が優勢
となる。
このように、本実施例は上記実施例と同様の効果を奏す
る。
なお、これらの実施例では、A I GaAs / G
aAsレーザについて説明したが、A ml GaAs
をInPに、 GaAsをInGaAsPにそれぞれ置
換えたInGaAsP /1nPレーザでも上記2つの
実施例と同様の効果を奏する。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明に係る集積型半導体レーザによ
れば、2つの導波路の伝搬定数が異なるようにし、かつ
、より大きい伝搬定数を持つ導波路の利得が高くなるよ
うに構成したので、逆位相で発振する固有モードを遮断
できる導波路間隔を広くでき、その製造が容易となり、
゛また同位相で発振する固有モードでの発振を優勢にで
きるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による集積型半導体レーザ
の断面図、第2図は該レーザにおける等価屈折率分布、
2連導波路の固有モードの電界分布、及び伝搬定数の導
波路間隔による変化を示す図、第3図及び第4図は各々
この発明の他の実施例の断面図及びその説明図、第5図
は従来の2連集積型レーザの断面図、第6図はその変形
例を示す断面図、第7図は従来構造における等価屈折率
分布、2連導波路の固有モードの電界分布、及び伝搬定
数の導波路間隔による変化を示す図である。 10.19.20.29・・・導波路。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 出願人 工業技術院長 等々力 達 tlJJ・ 第1図 19:第肯嘩違鯵 20:箪2め暑癩諮 第2図 第3図 29:誦13I以 +O:$、^傷處鉢 第4図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)2つの導波路を隣接して設けた位相同期集積型半
    導体レーザにおいて、各導波路は相互に異なる単体とし
    ての伝搬定数を有することを特徴とする集積型半導体レ
    ーザ。
  2. (2)上記2つの導波路は異なる幅を有することにより
    異なる伝搬定数を有することを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の集積型半導体レーザ。
  3. (3)上記2つの導波路は異なる等価屈折率を有するこ
    とにより異なる伝搬定数を有することを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載の集積型半導体レーザ。
  4. (4)単体としての伝搬定数が大きい第2の導波路にお
    ける利得は、第1の導波路の利得より大きいことを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の集積型半導体レーザ
JP26302084A 1984-12-14 1984-12-14 集積型半導体レ−ザ Granted JPS61141191A (ja)

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JP26302084A JPS61141191A (ja) 1984-12-14 1984-12-14 集積型半導体レ−ザ

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JPS61141191A true JPS61141191A (ja) 1986-06-28
JPS641953B2 JPS641953B2 (ja) 1989-01-13

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ID=17383764

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JP (1) JPS61141191A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5982799A (en) * 1994-09-14 1999-11-09 Xerox Corporation Multiple-wavelength laser diode array using quantum well band filling

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5982799A (en) * 1994-09-14 1999-11-09 Xerox Corporation Multiple-wavelength laser diode array using quantum well band filling

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JPS641953B2 (ja) 1989-01-13

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