JPS61136542U - - Google Patents

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JPS61136542U
JPS61136542U JP1993185U JP1993185U JPS61136542U JP S61136542 U JPS61136542 U JP S61136542U JP 1993185 U JP1993185 U JP 1993185U JP 1993185 U JP1993185 U JP 1993185U JP S61136542 U JPS61136542 U JP S61136542U
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JP
Japan
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jig
probes
integrated circuit
measuring characteristics
holding plate
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JP1993185U
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Publication date
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図aは本考案の一実施例の探針を特性測定
のウエーハに接触している状態の探針保持板を透
視して示す平面図、同図bは探針保持板を含む側
面図、第2図は多ピンペレツトに対する探針接触
を示す本考案の実施例の使用例を示す平面図、第
3図aは第1図aに対応する従来のプローブカー
ドの平面図、同図bは第1図bに対応する従来例
の断面図、第4図は4個のペレツト同時測定の従
来のプローブカードと測定ウエーハを示す平面図
である。 1,11……探針保持板、2a,2b,3……
探針、4……ウエーハ、P,P,P,P
,P……ペレツト。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 半導体集積回路ウエーハ上のボンデイングパツ
    ドに電気的接続をとるために接触させる多数の探
    針が探針保持板に植設された集積回路の特性測定
    用治具において、前記探針は二重以上の同心円の
    円周上に植設されていることを特徴とする集積回
    路の特性測定用治具。
JP1993185U 1985-02-14 1985-02-14 Pending JPS61136542U (ja)

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JP1993185U JPS61136542U (ja) 1985-02-14 1985-02-14

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JPS61136542U true JPS61136542U (ja) 1986-08-25

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JP1993185U Pending JPS61136542U (ja) 1985-02-14 1985-02-14

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