JPS61129803A - 内部欠陥のない高透磁率磁性薄鋼板の製造方法 - Google Patents

内部欠陥のない高透磁率磁性薄鋼板の製造方法

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JPS61129803A
JPS61129803A JP59250568A JP25056884A JPS61129803A JP S61129803 A JPS61129803 A JP S61129803A JP 59250568 A JP59250568 A JP 59250568A JP 25056884 A JP25056884 A JP 25056884A JP S61129803 A JPS61129803 A JP S61129803A
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Japan
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steel sheet
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permeation
sicl4
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Kazuhide Nakaoka
中岡 一秀
Yoshiichi Takada
高田 芳一
Yasushi Tanaka
靖 田中
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JFE Engineering Corp
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NKK Corp
Nippon Kokan Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は内部欠陥のない高透磁率磁性薄鋼板の製造方
法に関し、特に内部欠陥のない製品を得ることを目的と
する。
〔従来の技術〕
Fe−81合金、 Fe −81−AA金合金中には、
F・−6,5憾si合金や?・−9,6憾si−翫4係
At合金(センダスト)のように、極めて透磁率が高く
、優れた軟磁気特性を示すものがある。
特にセンダストは、1973年に増本、中本両博士によ
って発明されて以来、ダストコア、磁気ヘッドなど多く
の電子機器に応用されて来ている。特番ζ磁気ヘッド奢
こ関しては、磁気記録媒体の高密度化に伴い記録媒体の
高保磁力化が進みつつある昨今では、従来側われてきた
フェライトヘッドよりも飽和磁化の高いセンダストの方
が記録に適する材料として注目されている。また、F・
−&59681合金についても、高い飽和磁束密度を持
つことから変圧器の鉄心やその他の電気、電子機器への
利用が考えられている。
軟磁気特性の優れたこれらの高81合金を実際に電子部
品等屹適用する場合、最も問題となるのは、これらの合
金が脆性を示すため圧延により薄く加工することができ
ないという点である。このためセンダストの場合には、
鋳造後、素材をスライスすることにより磁気ヘッド用薄
片を作製しており、ヘッドの製造工程の中では極めて効
率の悪い工程となっている。その上、センダストは鋳造
凝固時にクラック、ピンホールなどが出来やすく、これ
らの欠陥の除去が不可欠であり、そのための工程も必要
となる。
以上のような製造工程上の問題を解決するため、以下の
ような様々な方法が試みられて来ている。
■熱間に詔ける圧延、変形 ■添加元素による加工性の改善 ■融体急冷法 ■圧延後成分1i11整法 ■の熱間において圧延、変形を行なう方法は、1000
’O以上で極めて低い歪速度をとることにより可能とな
るが、その条件を工業的に実現するのはかなりの困難を
伴なうものである。
■の添加元素により加工性を向上させようという試みも
、元素の添加により若干の加工性の改善は見られるもの
のやはり脆性を示し、薄板への加工は依然困難であると
とも1こ、これら添加元素により磁性が悪化してしまう
という欠点がある。■の融体気冷法は溶融金属から直接
薄板形状へ鋳造しようというもので、圧延加工すること
なしに薄板が得られるという点で、このような脆性を示
す素材に対しては極めて有効な方法である。■の圧延後
の成分調整法は低Si、低AL鋼を溶製し、圧延により
薄板とした後、表面からの浸透によりstあるいは紅を
富化させ、最終的に高81鋼薄板とするものである。こ
の方法は、1弓、同郷により提案され、三谷、大西らに
より詳しく検討されたものである。
しかしながら、従来までに提案された浸透方法は、浸透
処理時間が30分以上と長く、また温度も1z a o
 °a IIA Weと極めて高いことから、浸透処理
後の薄鋼板の形状が極めて悪くなるという欠点があった
。更に高透磁率材料を製造する上で最も致命的な現象は
、従来、法では浸透に伴いカーケンダルボイドと称する
大きなボイドが生成し、焼結処理を施してもなお相当量
残存するため、透磁率が著しく低下するということにあ
る。B1の浸透法により高81薄鋼板を製造する方法が
未だ現実のものとなっていないのは、ボイドの消去が困
難であるという一点にあると言っても過言ではない。
〔発明の概要〕
本発明は上記した従来技術の欠点を改善するためになさ
れたもので、圧延後成分調整法に改良を加えることによ
り、ボイドの生成を極めて低く抑制することのできる製
造法を提供しようとするものである。
本発明者らは、従来性なわれてきたSi浸透条件を詳細
に検討した結果、st浸透処理後にも拡散均一化処理後
にもボイドの残留しない条件を見い出した。かつ、この
Si浸透処現により所望の81量に調整した結果、極め
て高い透磁率を有する高Si薄板を得ることができた。
即ち、本発明者らは試験、研究を重ねた結果、外部雰囲
気からの81の浸透する速度に関してB1化合物の分圧
が極めて大きな要因となって訝り、B1化合物の分圧が
高ければ高い程81の浸透速度は速いが、反面分圧が高
いとボイド量が多くなることを見い出したものである。
第1 !!il i(8LC1,雰囲気中テF*−14
To At鋼を処理する場合において、5tcz、分圧
を変えるため導入ガス中81OA、量を10%、16悌
、55%と変えた場合の基板の重量変化を示す。
重量変化はsiの浸透の程度を表わすパラメーターであ
り、重量変化が大きい程Siが多く浸透していることを
示している。この現象はFeC4が系外に出る5 Fe
 + S IC4−* Fe、 8 l+2F’eCL
、の反応のためであると考えられている。この第1図よ
り、明らかに81分圧が高いほうが、Siの浸透速度が
速いことがわかる。
しかし、ボイド量については、逆にSi分圧が高くなる
と増加する傾向が認められる。
第2図はSi浸透処理後と拡散均一化処理後の5tct
、量とボイド量との関係を示すもので、Si分圧が高く
なるとボイド量が増加することが明確に示されている。
この理由は明確ではないが、次のよう1こ考えられる。
即ち、導入ガス中のs i at4量を少なくすると、
単位時間、単位表面積あたり外部より浸透する81量は
減少するが、これはカーケンダル界面を通して内部に浸
透する81原子の量も少なくなることを示しており、空
孔、つまりカーケンダルボイドの発生も少なくなる。こ
のような状況下では、試料が熱的に活性であるために起
こるFe%81原子の拡散が81の浸透現象とオーダー
的に並行して進行するため、生成したカーケンダルボイ
ドが集合して安定なボイドとなる以前基ζ、内部の転位
等によって吸収、消滅しやすくなる。
従って81の浸透スピードを遅くすることにより、ボイ
ドの残留が抑制されることになる。
本発明者らは、更に81分圧と得られた製品の磁性特性
についても検討した結果、第3図に示すように、5tc
t、量が少ないほど保磁力が低くなるとの知見を得た。
本発明は、これら実験研究により得られた知見に基づく
もので、Sl浸透処理雰囲気中の81分圧を制御するこ
とにより、ボイドがなく、シかも磁性特性に優れた製品
を得るようにしたものである。
即ち、本発明は通常の工程で製造した薄鋼板をSiCl
4を含む雰囲気中に置き、該薄鋼板に81を浸透させる
に際し、該雰囲気中の5lct、量25係以下、81浸
透温度1100〜1200°oの条件で所要時間Si浸
透処理を施し、次いで不活性雰囲気中で拡散処理を施す
ことを基本的な特徴とするものである。
これらの限定理由を述べる。
まず5ict、量については、第2図から明らかなよう
に、81CL、量25慢以下ではボイドは殆ど発生しな
い。また第3図から5ict、量25憾以下で保磁力の
低下は飽和する。この2つの観点から本発明においては
Si浸透処理雰囲気中の5iC4量を21596 以下
に限定する。
また浸透温度は、1000 ’O未満ではSlの浸透が
極めて遅(,1200”0以上ではsi浸透層1こ形成
されるF・、atが融解してしまうため1000〜12
00 ’0の範囲とする。但し、ボイド抑制のためには
、できる限り高温にするのが有利である。
上記した条件の処理によりSiが所定量浸透した後、拡
散処理により成分を均一化するのであるが、この拡散処
理は基板を冷却せずに雰囲気を不活性ガスに切り換える
ことにより引き続き行なってもよいし、基板を一度室温
付近まで冷却し、改めて拡散処理を施してもよい。
な諸、本発明法によって製造し得る高透磁率磁性薄板の
種類としては3〜6.5 ’lr Si −Fe合金、
センダスト合金があるが、Slの浸透に供する出発薄鋼
板の成分としては、以下のように定めるのが好ましい。
■3〜6.5481−F・合金の場合 C0,0ILs以下、 81 0〜4.O1Mn 24
以下、その他年可避不純物は極力低い 方が望ましい。
■センダスト合金の場合 co、oi慢以下、81 4チ以下、At3〜8嘩、N
14%以下、Mn2%以下、Or。
T1などの耐食性を増す元素5%以下、その他の不可避
不純物は極力低い方が 望ましい。
〔実施例〕
以下に示す化学成分を持つ合金を、熱間、冷間圧延を経
て、板厚0.40mの薄板を作製この基板を、第4図に
示す装置を用いて、Si浸透処理を施した。第4図中、
(1)はSiC2゜を溝たした丸底フラスコ、(2)は
恒温水槽、(3)は炉、(X)は試料である。
導入ガス中の5tcz、は、81C1,気化器の恒温槽
(2)の温度をコントロールすることにより変化させた
。また浸透処理条件は、いずれもSlが9.6優まで浸
透する条件に合わせた。
Si浸透処理に用いた炉(3)は、炭化ケイ素発熱体を
有し、炉心管は内径40mのセラミック展で81CA、
のキャリアガスとしては人rを用い、その流量は0.5
17m1nである。
このように81浸透処理を施した試料を化学分析したと
ころ、いずれも目標とするSi量(e、g、)を含有す
ることがわかった。
第5図及び第6図に、B1浸透処理後及び120G’0
 1時間不活性雰囲気中にて拡散均一化処理後の試料人
〜Dの断面組織写真を示す。導入ガス中の81C4量が
増すほどst浸透処還後、拡散均一化処理後ともにボイ
ドの生成が顕著となっている。
拡散均一化処理後の組織を見ると、試料りは残留ボイド
が大きく、数多くあるのに比べ、試料A −Cはいずれ
もボイドはほとんど見られない。
【図面の簡単な説明】
第1図は81浸透逃埋時間と重量変化との関係を示すグ
ラフ、第2図はs t ct4量とボイド量との関係を
示すグラフ、第3図は81C1,量と保磁力との関係を
示すグラフ、第4図は実施例実施のための装置概略図、
第S図と第6図は金属の断面組織を示す顕微鏡写真であ
る。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 通常の工程で製造した薄鋼板をSiCl_4を含む雰囲
    気中に置き、該薄鋼板にSiを浸 透させるに際し、 該雰囲気中のSiCl_4量25%以下、Si浸透温変
    1100〜1200℃の条件で所要時間Si浸透処理を
    施し、次いで不活性雰囲気 中で拡散処理を施すことを特徴とする内部 欠陥のない高透磁率磁性薄鋼板の製造方法。
JP59250568A 1984-09-28 1984-11-29 内部欠陥のない高透磁率磁性薄鋼板の製造方法 Granted JPS61129803A (ja)

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DE8585904865T DE3585686D1 (de) 1984-09-28 1985-09-26 Verfahren zur herstellung duenner magnetischer stahlbleche hoher permeabilitaet.
PCT/JP1985/000535 WO1986002105A1 (en) 1984-09-28 1985-09-26 Process for producing thin magnetic steel plate having high permeability
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