JPS61116062U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS61116062U JPS61116062U JP20210184U JP20210184U JPS61116062U JP S61116062 U JPS61116062 U JP S61116062U JP 20210184 U JP20210184 U JP 20210184U JP 20210184 U JP20210184 U JP 20210184U JP S61116062 U JPS61116062 U JP S61116062U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- specimen
- sample
- plate spring
- electron microscope
- tilting device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 1
Description
第1図は本考案の一実施例を示す断面図、第2
図は試料台部分の分解斜視図、第3図は本考案の
他の実施例を示す断面図である。 1……鏡体、2……試料ホルダ、3a,3b…
…対物レンズの上磁極、下磁極、5a,5b……
縦溝、6……把持部、7……試料台、8a,8b
……傾斜軸、9……試料、10……リングバネ、
11,12……板バネ、13……移動体、14…
…テコ体、16……斜面、17……ネジ棒、18
……摘子、19……スプリング、20……移動棒
、23……雌ネジ体。
図は試料台部分の分解斜視図、第3図は本考案の
他の実施例を示す断面図である。 1……鏡体、2……試料ホルダ、3a,3b…
…対物レンズの上磁極、下磁極、5a,5b……
縦溝、6……把持部、7……試料台、8a,8b
……傾斜軸、9……試料、10……リングバネ、
11,12……板バネ、13……移動体、14…
…テコ体、16……斜面、17……ネジ棒、18
……摘子、19……スプリング、20……移動棒
、23……雌ネジ体。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 鏡体を貫通して回転可能に保持され、且つ
軸心が光軸と直交するように置かれた試料ホルダ
と、該試料ホルダの軸心と直交する傾斜軸を介し
て傾動可能にこの試料ホルダに支持され、且つ試
料を保持した試料台と、該試料台の一端に取付け
られた板バネと、該板バネの端部を折り曲げるこ
とにより試料台を傾動させるための手段とからな
る電子顕微鏡における試料傾斜装置。 (2) 前記試料台と板バネとを一体に形成したこ
とを特徴とする実用新案登録請求の範囲第1項記
載の電子顕微鏡における試料傾斜装置。 (3) 前記板バネの折り曲げ手段としては回転あ
るいは往復動を利用することを特徴とする実用新
案登録請求の範囲第1項乃至第2項に記載の電子
顕微鏡における試料傾斜装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20210184U JPS61116062U (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20210184U JPS61116062U (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61116062U true JPS61116062U (ja) | 1986-07-22 |
Family
ID=30764507
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20210184U Pending JPS61116062U (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61116062U (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005044700A (ja) * | 2003-07-24 | 2005-02-17 | Jeol Ltd | 試料ホルダ |
JP2011175908A (ja) * | 2010-02-25 | 2011-09-08 | National Institute For Materials Science | 試料ホルダおよび走査型透過電子顕微鏡 |
WO2023127083A1 (ja) * | 2021-12-28 | 2023-07-06 | 株式会社日立ハイテク | 荷電粒子線装置 |
-
1984
- 1984-12-28 JP JP20210184U patent/JPS61116062U/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005044700A (ja) * | 2003-07-24 | 2005-02-17 | Jeol Ltd | 試料ホルダ |
JP2011175908A (ja) * | 2010-02-25 | 2011-09-08 | National Institute For Materials Science | 試料ホルダおよび走査型透過電子顕微鏡 |
WO2023127083A1 (ja) * | 2021-12-28 | 2023-07-06 | 株式会社日立ハイテク | 荷電粒子線装置 |
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