JP2005044700A - 試料ホルダ - Google Patents

試料ホルダ Download PDF

Info

Publication number
JP2005044700A
JP2005044700A JP2003279439A JP2003279439A JP2005044700A JP 2005044700 A JP2005044700 A JP 2005044700A JP 2003279439 A JP2003279439 A JP 2003279439A JP 2003279439 A JP2003279439 A JP 2003279439A JP 2005044700 A JP2005044700 A JP 2005044700A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
axis
connecting member
holder
inclined body
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003279439A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4233948B2 (ja
Inventor
Kojin Kondo
行人 近藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP2003279439A priority Critical patent/JP4233948B2/ja
Publication of JP2005044700A publication Critical patent/JP2005044700A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4233948B2 publication Critical patent/JP4233948B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】 互いに直交する2軸回りに試料を傾斜可能で且つ試料の表面、裏面の両方を観察できるようにすること。
【解決手段】 ホルダ外筒11の内端部に設けられた外筒内端フレーム11aと、外筒内端フレーム11aに支持され且つ前記Y軸方向に延びる第1傾斜軸L1回りに傾斜可能な第1傾斜体28と、第1傾斜軸L1よりも内端側に配置されて前記外筒内端フレーム11aに支持され且つ前記Y軸方向に延びる第2傾斜軸L2回りに傾斜可能な第2傾斜体29と、第2傾斜体29により第2傾斜軸L2に垂直な軸回りに回転可能に支持され且つ内端に試料台51,59を支持する試料台支持軸49と、ホルダ外筒11内部を貫通してホルダ外筒11によりスライド可能且つ回転可能に支持された可動軸12と、可動軸12の回転時に前記試料台支持軸49を180°以上回転させることが可能且つ湾曲可能な回転用連結部材46とを備えた試料ホルダ。
【選択図】 図1

Description

本発明は、試料に対する顕微分析作業を行う電子顕微鏡等の荷電粒子線装置の荷電粒子ビーム源(電子銃、イオン銃等)から照射される荷電粒子ビームの通路に試料を保持する試料ホルダに関する。
また、本発明は互いに直交する2軸回りに試料を傾斜させて観察、顕微分析等を行うことが可能な試料ホルダに関する。
近年のマイクロファブリケーション技術の発展により、半導体素子はサブミクロンオーダまで小さくなってきている。このような大きさの半導体回路の欠陥解析には透過型顕微鏡を使う必要が出てきた。また、回路の断面を観察するために、集束イオンビームで試料の任意の場所を切りだし、その場所のナノメートルオーダーの元素分析やサブナノメートルの構造観察も一般的に行われるようになってきた。ここで半導体試料を作るのに最も短時間に試料から観察試料片を切りだすのに使用されるのが集束イオンビーム装置である。
前記集束イオンビーム装置を使用する方法では、切りだした試料片を静電ピンセット(マニピュレータつきの先を尖らせた棒)や金属ピンセットを使って、試料をピンセットに付着させ、試料片を試料台で搬送する方法が一般的に取られている。一度固定された試料は電子顕微鏡のホルダに固定され、電子現微鏡で観察される。
前記観察時に試料が厚すぎたりする場合には再加工が必要になる。特に目的としている部分を残して正確に削られているかは2次電子像で観察すると明瞭に確認できる。ところが表面は確認可能であるが裏面は試料を裏返す必要があるため、通常は試料を一旦真空外に出して裏返しにして観察する。
また、試料の回転が可能な試料ホルダが最近開発され、提案されているが、その場合でも試料をXY2軸方向に傾斜できない。通常、半導体試料はシリコン等の単結晶の上に作成されており、回路の方向は通常は下地の結晶方位に準じて決められているので、晶帯軸(結晶の方位)を正確に合わせて観察することで回路の配線を正面から観察することが理想的な観察条件になっている。
しかしながら、最近提案された試料ホルダにおいても試料の2軸傾斜は可能でないため、上記のような観察を最適の条件で行うことはできない。また、前記従来の2軸傾斜試料ホルダでは、試料の交換に時間がかかるという問題点があった。
本発明は、前述の事情に鑑み、下記の記載内容を課題とする。
(O01)互いに直交する2軸回りに試料を傾斜可能で且つ試料の表面、裏面の両方を観察できるようにすること。
(O02)試料を180°以上回転させることが可能で、回転時に視野が妨げられないようにして、試料の裏面のSEM像による観察と直角方向の観察を可能にすること。
次に、前記課題を解決するために案出した本発明を説明するが、本発明の要素には、後述の実施の形態の要素との対応を容易にするため、実施の形態の要素の符号をカッコで囲んだものを付記する。
また、本発明を後述の実施の形態の符号と対応させて説明する理由は、本発明の理解を容易にするためであり、本発明の範囲を実施の形態に限定するためではない。
(第1発明)
前記課題を解決するために、本出願の第1発明の試料ホルダは、次の構成要件(A01)〜(A09)を備えたことを特徴とする、
(A01)互いに垂直な上下に延びるZ軸、前後に延びるX軸、および左右に延びるY軸のうちのZ軸に沿った荷電粒子線の通路の外側を囲むように配置された鏡筒(Ta)をX軸方向に貫通する筒状のホルダ装着部材(7)により、X軸回りに回転可能且つX軸に沿ってスライド可能に支持されたホルダ外筒(11)、
(A02)前記ホルダ外筒(11)の内端部に設けられた外筒内端フレーム(11a)、
(A03)前記外筒内端フレーム(11a)に支持され且つ前記Y軸方向に延びる第1傾斜軸(L1)回りに傾斜可能な第1傾斜体(28)、
(A04)前記第1傾斜軸(L1)よりも内端側に配置されて前記外筒内端フレーム(11a)に支持され且つ前記Y軸方向に延びる第2傾斜軸(L2)回りに傾斜可能な第2傾斜体(29)、
(A05)前記第2傾斜体(29)により前記第2傾斜軸(L2)に垂直な軸回りに回転可能に支持され且つ内端側部分に試料(52,60)を支持する試料台支持軸(49)、
(A06)前記ホルダ外筒(11)内部を貫通して前記ホルダ外筒(11)によりスライド可能且つ回転可能に支持された可動軸(12)、
(A07)前記可動軸(12)が回転した時に回転せず且つスライドした時に連動してスライドするスライド連結部材(37)と、前記スライド連結部材(37)のスライド移動に応じて前記第1傾斜体(28)を傾斜させる傾斜連結部材(42)とを有するスライド時傾斜用連結部材(37+42)、
(A08)前記第1傾斜体(28)の傾斜に連動して前記第2傾斜体(29)を傾斜させる傾斜体連結部材(31)、
(A09)前記可動軸(12)の回転時に前記試料台支持軸(49)を180°以上回転させることが可能且つ湾曲可能な回転用連結部材(46)。
(第1発明の作用)
前記構成を備えた本出願の第1発明の試料ホルダでは、互いに垂直な上下に延びるZ軸、前後に延びるX軸、および左右に延びるY軸のうちのZ軸に沿った荷電粒子線の通路の外側を囲むように配置された鏡筒(Ta)をX軸方向に貫通する筒状のホルダ装着部材(7)は、ホルダ外筒(11)をX軸回りに回転可能且つX軸に沿ってスライド可能に支持する。
前記ホルダ外筒(11)の内端部に設けられた外筒内端フレーム(11a)は、第1傾斜体(28)を、前記Y軸方向に延びる第1傾斜軸(L1)回りに傾斜可能に支持するとともに、第2傾斜体(29)を、前記第1傾斜軸(L1)よりも内端側に配置された前記Y軸方向に延びる第2傾斜軸(L2)回りに傾斜可能に支持する。
前記第2傾斜体(29)により前記第2傾斜軸(L2)に垂直な軸回りに回転可能に支持された試料台支持軸(49)は、その内端側部分に直接または試料台(51,59)等を介して間接に試料(52,60)を支持することができる。
可動軸(12)は、前記ホルダ外筒(11)内部を貫通して前記ホルダ外筒(11)によりスライド可能且つ回転可能に支持される。
スライド時傾斜用連結部材(37+42)のスライド連結部材(37)は前記可動軸(12)が回転した時に回転せず且つスライドした時に連動してスライドする。傾斜連結部材(42)は、前記スライド連結部材(37)のスライド移動に応じて前記第1傾斜体(28)を傾斜させる。
傾斜体連結部材(31)は、前記第1傾斜体(28)の傾斜に連動して前記第2傾斜体(29)を傾斜させる。
湾曲可能な回転用連結部材(46)は、前記可動軸(12)の回転時に前記試料台支持軸(49)を180°以上回転させることができる。
前記試料台支持軸(49)は第2傾斜体(29)の傾斜に従って傾斜するが、そのとき、回転用連結部材(46)は湾曲状態となって回転する。したがって、第2傾斜体(29)が回転した状態でも、可動軸12の回転を回転用連結部材(46)を介して試料台支持軸(49)に伝達することができる。
前記本出願の第1発明の試料ホルダは、次の構成要件(A010)を備えることが可能である。
(A010)ベローズ(46a)またはコイルバネまたは超弾性ワイヤ等の湾曲可能な弾性体を有する前記回転用連結部材(46)。
前記構成要件(A010)を備えた試料ホルダでは、ベローズ(46a)またはコイルバネまたは超弾性ワイヤ等の湾曲可能な弾性体を有する前記回転用連結部材(46)は、湾曲可能で且つ、前記可動軸(12)の回転時に前記試料台支持軸(49)を180°以上回転させることができる。
前記本出願の第1発明の試料ホルダは、次の構成要件(A011)を備えることが可能である。
(A011)前記第1傾斜体(28)および第2傾斜体(29)を連結する板バネ(31)により構成された前記傾斜体連結部材(31)。
前記構成要件(A011)を備えた試料ホルダでは、前記第1傾斜体(28)および第2傾斜体(29)を連結する前記傾斜体連結部材(31)は板バネ(31)により構成されており、前記板バネ(31)は、前記第1傾斜体(28)の傾斜に連動して弾性変形しながら前記第2傾斜体(29)を押したり引っ張ったりして傾斜させる。
前記本出願の第1発明の試料ホルダは、次の構成要件(A012)を備えることが可能である。
(A012)先端部に試料(52,60)を保持する針状の試料台(51,59)を支持し且つ前記試料台支持軸(49)に装着された試料台ソケット(50,54)。
前記構成要件(A012)を備えた試料ホルダでは、前記試料台支持軸(49)に装着された試料台ソケット(50,54)は、その先端部に針状の試料台(51,59)を支持し且つ前記試料台(51,59)は試料(52,60)を保持する。前記試料台支持軸(49)は、前記可動軸(12)の回転時に180°以上回転させることができるので、試料台(51,59)に支持された試料(52,60)は180°以上回転可能である。このため、試料(52,60)の表裏両面の観察および試料(52,60)の表面または裏面に垂直な面を観察することができる。
前述の本発明の試料ホルダは、下記の効果(E01),(E02)を奏することができる。
(E01)互いに直交する2軸回りに試料を傾斜可能で且つ試料の表面、裏面の両方を観察できるようにすることができる。
(E02)試料を180°以上回転させることが可能で、回転時に視野が妨げられないようにして、試料の裏面のSEM像による観察と直角方向の観察を可能にすることができる。
次に図面を参照しながら、本発明の試料ホルダの実施の形態を説明するが、本発明は以下の実施の形態に限定されるものではない。
なお、以後の説明の理解を容易にするために、図面において、前後方向をX軸方向、左右方向をY軸方向、上下方向をZ軸方向とし、矢印X,−X,Y,−Y,Z,−Zで示す方向または示す側をそれぞれ、前方、後方、右方、左方、上方、下方、または、前側、後側、右側、左側、上側、下側とする。
また、図中、「○」の中に「・」が記載されたものは紙面の裏から表に向かう矢印を意味し、「○」の中に「×」が記載されたものは紙面の表から裏に向かう矢印を意味するものとする。
(実施の形態1)
図1は本発明の実施の形態1の試料ホルダが顕微作業装置としての走査型透過電子顕微鏡(STEM)に装着された状態を示す図である。
図1において、本発明の顕微作業装置の実施の形態1としての走査型透過電子顕微鏡Tは、内部を真空に保持された鏡筒(外壁)Taを有している。鏡筒Taは鉛直なZ軸に沿って配置されている。鏡筒Taの中間部にはゴニオ支持ステージGSおよびゴニオメータGMが設けられている。
図1において、鏡筒Taの一部を構成するゴニオ支持ステージGSの内部には、上下方向に延びるZ軸(上下軸)に沿った電子ビームの通路が形成されている。ゴニオ支持ステージGSは前記Z軸に垂直なX軸方向(前後方向)に延び且つ前記鏡筒Taの内外を連通させるゴニオメータ装着孔1と、前記ゴニオメータ装着孔1の内端部に設けられた軸受支持部材2および球面軸受け3と、前記ゴニオメータ装着孔1の外端部に設けられた軸受4とを有する。
ゴニオメータGMは前記軸受4により回転可能に支持された回転部材6と、前記回転部材6および前記球面軸受3により支持された円筒状のホルダ装着部材7を有している。前記ホルダ装着部材7は前記回転部材6の中心線回りに所定角度範囲内で回動可能且つ前記球面軸受3の球面中心回りに所定角度範囲内で上下および左右に回動可能に支持されている。前記ゴニオメータGMの円筒状のホルダ装着部材7には、試料ホルダHが装着されている。このような構成を有するゴニオ支持ステージGSおよびゴニオメータGMは従来周知(特開平11−204074号公報、特開2000−268758号公報、特開2000−315471号公報、等参照)である。
前記鏡筒Taの上端に設けた電子銃(図示せず)から出射した電子ビームはZ軸に沿って下方に進み、順次、鏡筒Ta内部に配置された集束レンズ(図示せず)、走査コイル(図示せず)を通過して、対物レンズRの上磁極R1および下磁極R2の間の電子ビームの集束位置(ビームフォーカス位置、試料観察位置)F1(図1参照)で集束してから、投影レンズ(図示せず)等を通過して下端部に配置したTEM用撮像装置(図示せず)に到達するように構成されている。なお、対物レンズRの上方にはSEM用の2次電子検出器(図示せず)が配置されている。
前記試料ホルダHの内端部には試料(後述)が保持され、その試料は前記電子ビームの集束位置(ビームフォーカス位置)F1に配置される。
図2は試料ホルダの全体説明図である。
図1、図2において、試料ホルダHは、外筒11および前記外筒11の内部に回転可能且つスライド可能に支持された可動軸12を有している。
図2において、外筒11の外端(後端、すなわち、−X端)にはリング状プレート13が固定されており、リング状プレート13には後方(−X方向)に突出する一対の後方突出アーム14,14が固定されている。前記後方突出アーム14,14の後部(−X部)は連結部材15により連結されている。
前記連結部材15の下面(−Z面)にはX軸回転モータMxが支持されており、上面にはY軸傾斜モータMyが支持されている。X軸回転モータMxの出力軸17にはギヤG1が固着されている。ギヤG1は前記可動軸12の後端部に固着されたギヤG2と噛み合っている。Y軸傾斜モータMyの出力軸18の外周には雄ネジ18aが形成されている。前記雄ネジ18aは枠状のスライダ19の後部の雌ネジ19aに螺合している。
スライダ19は左右(Y軸方向)に突出する回り止めアーム19b,19cを有している。回り止めアーム19b,19cは前記後方突出アーム14,14上面に支持されている。スライダ19の前端に設けた前端プレート19dの前面は前記可動軸12の後端面に対向して配置されている。前記可動軸12から後方に突出する後方突出軸12aは前記前端プレート19dを貫通して後方に延びている。前記後方突出軸12aにはリングプレート20およびナット21が装着されている。前記後方突出軸12aは前記可動軸12と一体に構成したり、別体に構成して固着したりすることが可能である。
前記後方突出軸12aの外周面には雄ネジが形成されており前記雄ネジには前記ナット21が螺合している。前記可動軸12の後端面と前端プレート19dの前面との間、および前端プレート19dの後面とリングプレート20との間にボール22を挟んだ状態で、前記ナット21が締めつけられている。前記符号20〜22で示された要素により、スライダ19と可動軸12とは相対的に回転可能且つスライド方向の相対移動不能に連結されている。前記符号20〜22で示された要素により、相対回転可能且つ軸方向相対移動不能連結部材(20〜22)が構成されている。前記相対回転可能且つ軸方向相対移動不能連結部材(20〜22)により、前記X軸回転モータMxが回転したとき、ギヤG1,G2および可動軸12が回転するが、スライダ19は回転しないようになっている。
また、Y軸傾斜モータMyが回転すると、スライダ19が後方突出アーム14,14の上面にガイドされて、可動軸12と一体的にX軸方向にスライドする。
図3は試料ホルダの内端部の拡大図で、図3Aは平面図、図3Bは側面図で前記図3AのIIIB−IIIB線から見た図である。
図4は前記図3に示す試料ホルダ内端部の斜視図である。
図3、図4において、外筒11の前端には2本のアーム(外筒内端フレーム)11a,11aが前方に突出して設けられている。前記アーム11a,11aには左右一対の第1ボルト26,26および第2ボルト27,27がX軸方向に間隔を空けて支持されており、前記第1ボルト26よりも第2ボルト27の方が前端側(X側)に配置されている。第1ボルト26および26は、図3に示すように左右方向(Y軸方向)に対向して配置され、第2ボルト27および27も左右方向に対向して配置されている。
前記左右方向に対向して配置された第1ボルト26,26の軸線により第1傾斜軸L1が形成され、第2ボルト27,27の軸線により第2傾斜軸L2が形成される。
前記第1ボルト26および第2ボルト27は、前記アーム11aに螺合して固定されており、第1ボルト26の先端部にはネジの無い軸部分26aが形成されている。第2ボルト27の先端部には球27aが回転可能に保持されている。
前記アーム11a,11aの内側には第1傾斜体28,28が配置されており、第1傾斜体28,28には軸嵌合孔28a,28aが形成されている。軸嵌合孔28a,28aは前記第1ボルト26,26の軸部分26a,26aに回転可能に嵌合しており、前記軸部分26a,26aにより前記第1傾斜体28,28は第1傾斜軸L1回りに傾斜可能である。
前記アーム11a,11aの内側の第1傾斜体28,28よりも前方向(X方向)には第2傾斜体29が配置されており、第2傾斜体29は前後に延びる左右一対のアーム部29a,29aと、前記一対のアーム部29a,29aの後部(−X側部分)を接続する接続部29bとを有している。前記一対のアーム部29a,29aの外側面には凹部29c,29c(図3参照)が形成されている。前記凹部29c,29cには前記第2ボルト27先端部の球27aが回転可能に嵌合しており、前記球27a,27aにより前記第2傾斜体29は第2傾斜軸L2回りに傾斜可能である。
前記第2傾斜体29の接続部29bには試料台支持用の貫通孔29dが形成されている。試料台については後述する。
なおこの実施の形態1では、前記傾斜体28,28は別体に構成されているが、前記第2傾斜体29の接続部29bと同様の接続部により傾斜体28,28を一体的に接続した構成とすることが可能である。
図3において、前記第2傾斜体29の接続部29bの左右端部の下面と前記第1傾斜体28,28の前端部上面とは、板バネ31,31により連結されている。
図3において、可動軸12の前端面には円筒軸36が固定されて前方に突出している。前記円筒軸36は、前記可動軸12の前端面に対向して配置された回転防止プレート(スライド連結部材)37を貫通している。前記円筒軸36にはリングプレート38およびナット39が装着されている。
前記円筒軸36の外周面には雄ネジが形成されており前記雄ネジには前記ナット39が螺合している。前記可動軸12の前端面(X側端面)と回転防止プレート37の後面(−X側端面)との間、および回転防止プレート37の前面(X側端面)とリングプレート38の後面(−X側端面)との間にそれぞれボール40を挟んだ状態で、前記ナット39が締めつけられている。
図3、図4において、前記回転防止プレート37には左右に延びる一対のアーム37a,37a(図3、図4参照)と、下部の左右において前方に突出して設けた板バネ連結部37b,37b(図3参照)とを有している。前記一対のアーム37a,37aは、外筒11の左右のアーム11a,11aの上端に支持されている。このため、回転防止プレート37はX軸回りに回転不可能である。
前記符号36,39〜40で示された要素により、可動軸12と回転防止プレート37とは相対的に回転可能且つスライド方向の相対移動不能(一体的にスライド可能)に連結されている。また、前記符号36,39〜40で示された要素により、前記X軸回転モータMxが回転したとき、ギヤG1,G2、可動軸12、円筒軸36、リングプレート38およびナット39は回転するが、回転防止プレート37は回転しないように構成されている。したがって、回転防止プレート37は、前記可動軸(12)が回転した時に回転せず且つスライドした時に連動してスライドするスライド連結部材(37)として構成されている。
また、前記Y軸傾斜モータMyが回転したとき前記スライダ19(図2参照)が後方突出アーム14,14の上面にガイドされて、可動軸12と一体的にX軸方向にスライドすると共に、前記可動軸12と一体的に円筒軸36および回転防止プレート37等がスライド移動する。
図3Bにおいて、前記板バネ連結部37bの下面と前記第1傾斜体28の下面とは板バネ42により連結されている。前記板バネ42は、前記回転防止プレート(スライド連結部材)37のスライド移動に応じて前記第1傾斜体28を傾斜させる傾斜連結部材(42)として構成されている。
前記回転防止プレート(スライド連結部材)37と、前記回転防止プレート(スライド連結部材)37のスライド移動に応じて前記第1傾斜体28を傾斜させる板バネ(傾斜連結部材)42とにより、スライド時傾斜用連結部材(37+42)が構成されている。
図5は回転防止プレートがX軸方向にスライドしたときの第1傾斜体と第2傾斜体との姿勢の変化を示す図で、図5Aは通常状態、図5Bは回転防止プレートが前進した状態、図5Cは回転防止プレートが後退した状態を示す図である。
図5Aの状態で回転防止プレート37が前進すると、回転防止プレート37の板バネ連結部37bが前進する。このとき、図5Bに示すように、第1傾斜体28,28が第1傾斜軸L1回りに時計方向に回転し且つ第2傾斜体29が第2傾斜軸L2回りに反時計方向に回転する。このとき板バネ42,31は図5Bに示すようになる。
図5Aの状態で回転防止プレート37が後退すると、回転防止プレート37の板バネ連結部37bが後退する。このとき、図5Cに示すように、第1傾斜体28,28が第1傾斜軸L1回りに反時計方向に回転し且つ第2傾斜体29が第2傾斜軸L2回りに時計方向に回転する。このとき板バネ42,31は図5Cに示すようになる。
図6は針状の試料台を回転可能に支持する第2傾斜体と可動軸の回転に連動して前記試料台を回転させる回転用連結部材の説明図で、図6Aは平面図、図6Bは側面図で前記図6Aの矢印VIBから見た図である。
図7は針状の試料台を回転可能に支持する第2傾斜体と可動軸の回転に連動して前記試料台を回転させる回転用連結部材の説明図で、図7Aは部分分解平面図、図7Bは部分分解側面図である。
図6、図7において、前記円筒軸36の前端部にはピン45が貫通し且つ固着されている。
回転用連結部材46は、金属ベローズ46aとその両端に連結した円筒部材46b,46bとを有している。円筒部材46bには一対のスリット46cが対向して形成されている。前記回転用連結部材46の後端側の円筒部材46bには前記円筒軸36の前端部分が嵌合しており、前記後端側の円筒部材46bの一対のスリット46cには、前記円筒軸36に固着されたピン45の両端がスライド可能に係合している。
前記回転用連結部材46の前端側の円筒部材46bには円筒状の支持軸保持部材47がスライド可能に嵌合しており、前記前端側の円筒部材46bの一対のスリット46cには、前記円筒状の支持軸保持部材47に固着されたピン48の両端がスライド可能に係合している。前記円筒状の支持軸保持部材47には前方に突出する試料台支持軸49が嵌合状態で固着されている。
前記試料台支持軸49は前記第2傾斜体29の試料台支持用の貫通孔29dを回転可能に貫通して、接続部29bの前方に突出している。
図8は試料を保持する試料台および試料台ソケットの説明図で、図8Aは平断面図、図8Bは前記図8Aの矢印VIIIBで示す部分の拡大図である。
図6〜図8において、前記試料台支持軸49の前端部には試料台ソケット50が装着されている。試料台ソケット50には前方に延びる針状の試料台51が固着されている。前記針状の試料台51は直径数100μm以下の針状部材であり、その前端には試料52が、金属のデポジションによって析出した金属や接着剤等により固着されている。
(実施の形態1の作用)
前記構成を備えた実施の形態1の試料ホルダHでは、X軸回転モータMxを回転駆動することによって、ギヤG1及びギヤG2を介して可動軸12がX軸回りに回転する。前記可動軸12の回転に伴い可動軸12に固定支持された円筒軸36が回転し、円筒軸36のピン45により回転用連結部材46に回転が伝達される。そして、回転用連結部材46の回転がピン48によって試料台支持軸49に回転が伝達され、試料52がX軸回りに回転する。したがって、前記X軸回転モータMxを回転駆動することによって、試料52を収束位置(試料観察位置)F1でX軸回りに回転した状態で電子ビームにより観察することができる。このときの、X軸回りの回転は、X軸回転モータMxの駆動により任意の範囲で調節でき、360°以上回転させることも可能である。
この結果、実施の形態1の試料ホルダHは、試料52を180°以上回転させることが可能であり、回転時に視野が妨げられないようにして、試料52の裏面のSEM像による観察と直角方向の観察を可能にすることができる。また、試料52を180°回転させて裏返すことができるので、従来のように、試料52の裏面を観察する際に一旦真空外に試料を出して裏返す作業を省略することができ、試料観察作業の作業時間の短縮及び作業効率を高めることができる。
なお、前記X軸回転モータMxが回転しても、前記回転防止プレート37は、リングプレート38やボール40等によって回転しないので、第1傾斜体28が第1傾斜軸L1回りに傾斜することはない。即ち、X軸回転モータMx回転時に、図5に示すような第1傾斜体28及び第2傾斜体29の第2傾斜軸L2回りの傾斜は発生せず、試料52が第2傾斜軸L2(Y軸)回りに回転することはない。
一方、Y軸回転モータMyを回転駆動すると、Y軸傾斜モータMyの出力軸18がX軸回りに回転するが、後方突出アーム14によってスライダ19が回転不能に支持されているので、雄ネジ18aと雌ネジ19aとの螺合により、スライダ19は前後方向(X軸方向)にスライド移動する。前記スライダ19のスライド移動に伴い、可動軸12及び回転防止プレート37が前後方向にスライド移動する。したがって、図5に示すように、回転防止プレート37の前後方向の移動に応じて、第1傾斜体28及び第2傾斜体29が、Y軸に平行な第1傾斜軸L1及び第2傾斜軸L2回りに傾斜する。この結果、Y軸回転モータMyを回転駆動することによって、第2傾斜軸L2上に配置された試料52をY軸回りに傾斜(回転)させた状態で観察することができる。
前記第1傾斜体28及び第2傾斜体29が、Y軸に平行な第1傾斜軸L1及び第2傾斜軸L2回りに傾斜した状態では、前記回転用連結部材46のベローズ46aが湾曲状態となるが、その湾曲状態でも、回転用連結部材46は回転可能である。
したがって、実施の形態1の試料ホルダHは、Y軸回転モータMyにより試料52をY軸回りに傾斜させることができ、且つ、X軸回転モータMxにより試料52をX軸回りに180°以上回転させることができる。この結果、試料52を互いに直交するX軸およびY軸回りにそれぞれ独立に回転させることが可能となる。また、前記X軸回りには試料52を180°以上回転可能であるので、試料の表面、裏面の両方を観察できるようにすることができる。
(実施の形態2)
図9は本発明の実施の形態2の要部説明図で、図9Aは試料台ソケットに試料を針状の試料台を装着する前の状態を示す図、図9Bは前記図9AのIXB-IXB線断面図、図9Cは試料台ソケットに針状の試料台を装着する作業を開始した時の状態を示す図、図9Dは試料台ソケットに針状の試料台を装着する作業を終了したときの状態を示す図である。
なお、この実施の形態2の説明において、前記実施の形態1の構成要素に対応する構成要素には同一の符号を付して、その詳細な説明を省略する。
この実施の形態2は、前記実施の形態1の試料台支持軸49の前端に装着される試料台ソケット50の代わりに試料台ソケット54を使用する点で、前記実施の形態1と相違している。また前記試料台ソケット54に装着可能な試料台は実施の形態1の針状の試料台51の代わりにプレート状の試料台59(後述)を使用することが可能である。また、試料台59としては、FIB(Focused Ion Beam)試料の一般的な形の半月状のメッシュまたは通常TEMに使用されるメッシュ等を使用することが可能である。
本実施の形態2は、その他の点では前記実施の形態1と同様に構成されている。
図9Aにおいて、試料台ソケット54は、ソケット本体55を有している。ソケット本体55は、前記試料台支持軸49(図6、図7参照)の先端に嵌合する嵌合孔55aを有している。前記ソケット本体55にはワイヤ挿通孔55bが合計4個形成されている(図9A、図9B参照)。ソケット本体55の上方に配置される固定用プレート56には、前記ワイヤ挿通孔55bを下方から上方に貫通する一対のU字型ワイヤ57,57の上端が固着されている。なお、前記U字型ワイヤ57,57の代わりに、U字型金属棒を使用することが可能である。
形状記憶合金製の一対の棒状部材58,58は、図9Bから分かるように、前記U字型ワイヤ57,57の下部の上側に配置されており、前記上端が固定用プレート56に固着されたU字型ワイヤ57,57の上方への移動を規制している。
図9A、図9Bの状態において、前記U字型ワイヤ57,57を下から押し上げて、形状合金製の棒状部材58,58を曲げて前記固定用プレート56を上方に持ち上げて図9Cの状態とし、その状態(図9Cの状態)で、ソケット本体55の上面と固定用プレート56との間の空間を広げて、前記空間内にプレート状の試料台59を挿入する。その状態で赤外線を照射する等の機械的な力の作用しない手段で加熱すると、形状記憶効果で、形状記憶合金の棒状部材58,58は元の形状に戻り、試料台59およびその前端に固着された試料60は試料台ソケット54にしっかりと固定される。
この実施の形態1では形状記憶合金を使用して試料台59を試料台ソケット59に固定したが、ネジ止めや、板バネに挟んで固定する方法等を採用することが可能である。
(変更例)
以上、本発明の実施の形態を詳述したが、本発明は、前記実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内で、種々の変更を行うことが可能である。本発明の変更例を下記に例示する。
(H01)前記実施の形態において、回転用連結部材としての金属ベローズ46aに替えて、コイルバネを使用することも可能である。また、その回転用連結部材として湾曲可能な超弾性ワイヤ(非常に柔らかいワイヤ)等の湾曲可能な弾性体を使用可能である。
図1は本発明の実施の形態1の試料ホルダが顕微作業装置としての走査型透過電子顕微鏡(STEM)に装着された状態を示す図である。 図2は試料ホルダの全体説明図である。 図3は試料ホルダの内端部の拡大図で、図3Aは平面図、図3Bは側面図で前記図3AのIIIB−IIIB線から見た図である。 図4は前記図3に示す試料ホルダ内端部の斜視図である。 図5は回転防止プレートがX軸方向にスライドしたときの第1傾斜体と第2傾斜体との姿勢の変化を示す図で、図5Aは通常状態、図5Bは回転防止プレートが前進した状態、図5Cは回転防止プレートが後退した状態を示す図である。 図6は針状の試料台を回転可能に支持する第2傾斜体と可動軸の回転に連動して前記試料台を回転させる回転用連結部材の説明図で、図6Aは平面図、図6Bは側面図で前記図6Aの矢印VIBから見た図である。 図7は針状の試料台を回転可能に支持する第2傾斜体と可動軸の回転に連動して前記試料台を回転させる回転用連結部材の説明図で、図7Aは部分分解平面図、図7Bは部分分解側面図である。 図8は試料を保持する試料台および試料台ソケットの説明図で、図8Aは平断面図、図8Bは前記図8Aの矢印VIIIBで示す部分の拡大図である。 図9は本発明の実施の形態2の要部説明図で、図9Aは試料台ソケットに試料を針状の試料台を装着する前の状態を示す図、図9Bは前記図9AのIXB-IXB線断面図、図9Cは試料台ソケットに針状の試料台を装着する作業を開始した時の状態を示す図、図9Dは試料台ソケットに針状の試料台を装着する作業を終了したときの状態を示す図である。
符号の説明
L1…第1傾斜軸、
L2…第2傾斜軸、
Ta…鏡筒、
7…ホルダ装着部材、
11…ホルダ外筒、
11a…外筒内端フレーム(アーム)、
12…可動軸、
28…第1傾斜体、
29…第2傾斜体、
31…傾斜体連結部材(板バネ)、
37…スライド連結部材(回転防止プレート)、
42…傾斜連結部材(板バネ)、
46…回転用連結部材、
46a…ベローズ(コイルバネ)
49…試料台支持軸、
50,54…試料台ソケット、
51,59…試料台、
52,60…試料、
(37+42)…スライド時傾斜用連結部材、

Claims (4)

  1. 次の構成要件(A01)〜(A09)を備えた試料ホルダ、
    (A01)互いに垂直な上下に延びるZ軸、前後に延びるX軸、および左右に延びるY軸のうちのZ軸に沿った荷電粒子線の通路の外側を囲むように配置された鏡筒をX軸方向に貫通する筒状のホルダ装着部材により、X軸回りに回転可能且つX軸に沿ってスライド可能に支持されたホルダ外筒、
    (A02)前記ホルダ外筒の内端部に設けられた外筒内端フレーム、
    (A03)前記外筒内端フレームに支持され且つ前記Y軸方向に延びる第1傾斜軸回りに傾斜可能な第1傾斜体、
    (A04)前記第1傾斜軸よりも内端側に配置されて前記外筒内端フレームに支持され且つ前記Y軸方向に延びる第2傾斜軸回りに傾斜可能な第2傾斜体、
    (A05)前記第2傾斜体により前記第2傾斜軸に垂直な軸回りに回転可能に支持され且つ内端側部分により試料を支持する試料台支持軸、
    (A06)前記ホルダ外筒内部を貫通して前記ホルダ外筒によりスライド可能且つ回転可能に支持された可動軸、
    (A07)前記可動軸が回転した時に回転せず且つスライドした時に連動してスライドするスライド連結部材と、前記スライド連結部材のスライド移動に応じて前記第1傾斜体を傾斜させる傾斜連結部材とを有するスライド時傾斜用連結部材、
    (A08)前記第1傾斜体の傾斜に連動して前記第2傾斜体を傾斜させる傾斜体連結部材、
    (A09)前記可動軸の回転時に前記試料台支持軸を180°以上回転させることが可能且つ湾曲可能な回転用連結部材。
  2. 次の構成要件(A010)を備えたことを特徴とする請求項1記載の試料ホルダ、
    (A010)ベローズまたはコイルバネまたは超弾性ワイヤ等の湾曲可能な弾性体を有する前記回転用連結部材。
  3. 次の構成要件(A011)を備えたことを特徴とする請求項1または2記載の試料ホルダ、
    (A011)前記第1傾斜体および第2傾斜体を連結する板バネにより構成された前記傾斜体連結部材。
  4. 次の構成要件(A012)を備えたことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか記載の試料ホルダ、
    (A012)先端部に試料を保持する針状の試料台を支持し且つ前記試料台支持軸に装着された試料台ソケット。

JP2003279439A 2003-07-24 2003-07-24 試料ホルダ Expired - Fee Related JP4233948B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003279439A JP4233948B2 (ja) 2003-07-24 2003-07-24 試料ホルダ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003279439A JP4233948B2 (ja) 2003-07-24 2003-07-24 試料ホルダ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005044700A true JP2005044700A (ja) 2005-02-17
JP4233948B2 JP4233948B2 (ja) 2009-03-04

Family

ID=34265538

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003279439A Expired - Fee Related JP4233948B2 (ja) 2003-07-24 2003-07-24 試料ホルダ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4233948B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007026815A (ja) * 2005-07-14 2007-02-01 Kyoto Univ トップエントリ式試料ステージ傾斜装置
JP2011175908A (ja) * 2010-02-25 2011-09-08 National Institute For Materials Science 試料ホルダおよび走査型透過電子顕微鏡
JP2012155870A (ja) * 2011-01-24 2012-08-16 Hironari Miyazaki 試料ホルダー及び試料ホルダー駆動装置
JP2018077950A (ja) * 2016-11-07 2018-05-17 日本電子株式会社 試料台支持具

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61116062U (ja) * 1984-12-28 1986-07-22
JPH02239560A (ja) * 1989-03-10 1990-09-21 Jeol Ltd 電子顕微鏡等用試料装置
JPH0326902A (ja) * 1989-06-26 1991-02-05 Jeol Ltd 走査形トンネル顕微鏡
JPH03102752A (ja) * 1989-09-18 1991-04-30 Hitachi Ltd 試料ステージの制御方法
JPH11185686A (ja) * 1997-12-25 1999-07-09 Jeol Ltd 試料ホルダ、試料保持部材装着ホルダおよび試料保持部材
JPH11204074A (ja) * 1998-01-16 1999-07-30 Jeol Ltd 試料ホルダ
JP2000100365A (ja) * 1998-09-25 2000-04-07 Hitachi Ltd 電子顕微鏡の試料支持装置およびその方法
JP2000268758A (ja) * 1999-03-17 2000-09-29 Jeol Ltd 試料ホルダ支持装置
JP2000315471A (ja) * 1999-04-28 2000-11-14 Jeol Ltd 試料ホルダ支持装置
JP2002124206A (ja) * 2000-10-12 2002-04-26 Jeol Ltd 顕微分析装置

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61116062U (ja) * 1984-12-28 1986-07-22
JPH02239560A (ja) * 1989-03-10 1990-09-21 Jeol Ltd 電子顕微鏡等用試料装置
JPH0326902A (ja) * 1989-06-26 1991-02-05 Jeol Ltd 走査形トンネル顕微鏡
JPH03102752A (ja) * 1989-09-18 1991-04-30 Hitachi Ltd 試料ステージの制御方法
JPH11185686A (ja) * 1997-12-25 1999-07-09 Jeol Ltd 試料ホルダ、試料保持部材装着ホルダおよび試料保持部材
JPH11204074A (ja) * 1998-01-16 1999-07-30 Jeol Ltd 試料ホルダ
JP2000100365A (ja) * 1998-09-25 2000-04-07 Hitachi Ltd 電子顕微鏡の試料支持装置およびその方法
JP2000268758A (ja) * 1999-03-17 2000-09-29 Jeol Ltd 試料ホルダ支持装置
JP2000315471A (ja) * 1999-04-28 2000-11-14 Jeol Ltd 試料ホルダ支持装置
JP2002124206A (ja) * 2000-10-12 2002-04-26 Jeol Ltd 顕微分析装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007026815A (ja) * 2005-07-14 2007-02-01 Kyoto Univ トップエントリ式試料ステージ傾斜装置
JP4679279B2 (ja) * 2005-07-14 2011-04-27 日本電子株式会社 トップエントリ式試料ステージ傾斜装置
JP2011175908A (ja) * 2010-02-25 2011-09-08 National Institute For Materials Science 試料ホルダおよび走査型透過電子顕微鏡
JP2012155870A (ja) * 2011-01-24 2012-08-16 Hironari Miyazaki 試料ホルダー及び試料ホルダー駆動装置
JP2018077950A (ja) * 2016-11-07 2018-05-17 日本電子株式会社 試料台支持具

Also Published As

Publication number Publication date
JP4233948B2 (ja) 2009-03-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9741527B2 (en) Specimen holder for a charged particle microscope
JP6054728B2 (ja) 試料位置決め装置および荷電粒子線装置
CN1924553B (zh) 用于确定粒子光学装置中透镜误差的方法
US8963102B2 (en) Charged particle beam microscope, sample holder for charged particle beam microscope, and charged particle beam microscopy
JP5048596B2 (ja) 試料台,試料回転ホルダ,試料台作製方法,及び試料分析方法
JP2011514641A (ja) 試料ホルダアセンブリ
US20110174972A1 (en) Apparatus and methods for controlling electron microscope stages
JP2006331979A (ja) 電子顕微鏡の試料ホルダ
JP2008270056A (ja) 走査型透過電子顕微鏡
JP4233948B2 (ja) 試料ホルダ
JP2014239039A (ja) 電子線トモグラフィ法
US8653476B2 (en) Specimen holder and specimen holder movement device
US9618101B2 (en) Actuator, sample positioning device, and charged particle beam system
US6669121B2 (en) Holder support device
JP2012247805A (ja) ステージ及び顕微鏡システム
JP4073271B2 (ja) 試料ホルダ支持装置
JP5927235B2 (ja) 試料ホルダー
JP2000315471A (ja) 試料ホルダ支持装置
CN218996649U (zh) 一种应用于透射电镜的双向倾转三维重构样品杆
JP2001256912A (ja) 試料ホルダおよびそれが使用された試料移動装置並びに電子顕微鏡
JP5939814B2 (ja) 試料ホルダー支持装置
Pawley et al. A robust micromanipulator for the scanning electron microscope
EP3825578A1 (en) Actuator, sample positioning device, and charged particle beam system
JP3472058B2 (ja) 試料ホルダおよび試料保持装置
Ruble et al. A simple method for motorized alignment of Osmic confocal optics

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060327

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20060912

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20081120

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20081202

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20081210

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111219

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4233948

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121219

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121219

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131219

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees