JPH02239560A - 電子顕微鏡等用試料装置 - Google Patents

電子顕微鏡等用試料装置

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JPH02239560A
JPH02239560A JP5863589A JP5863589A JPH02239560A JP H02239560 A JPH02239560 A JP H02239560A JP 5863589 A JP5863589 A JP 5863589A JP 5863589 A JP5863589 A JP 5863589A JP H02239560 A JPH02239560 A JP H02239560A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、電子顕微鏡等用の試料装置に関し、特に、試
料室に超高真空が必要な電子顕微鏡等に使用されるユー
セントリック機構を有する電子顕微鏡等用試料装置に関
する。
[従来の技術] 従来、電子顕微鏡用の試料装置として第4図及び第5図
に示すような構造のサイドエントリータイプの試料移動
装置が知られている。
第4図及び第5図において、31は電子顕微鏡鏡筒、3
2はその軸中心が電子線光軸と直交するように前記鏡筒
31に取り付けられ基部、33はベアリンク34g.3
4bを介して前記基部32に回転可能に取り付けられて
いる第1の保持筒、35は前記第1の保持筒内に設けら
れた球体軸受36によって任意の向きへの傾斜が可能に
取り付けられた第2の保持筒、37は前記第2の保持筒
35に嵌合するように挿入される試料ホルダであり、該
試料ホルダ37の先端には試料Sが取り付けられている
。38及び39は前記第2の保持筒35を回動させるた
めに前記第1の保持筒33に螺合された押しねじで、3
8は第1の保持筒の軸(X軸)に直交する光軸(Z幀)
方向に配置され、39は前記X軸とZ軸に直交する軸(
Y軸)方向に配置されている。
上述のような構成の試料移動装置において、試料ホルダ
37は大気圧によって鏡筒内に押し付けられているため
、該ホルダ37に取り付けられた試料をX軸に沿って移
動させるためには、前記試料ホルダ37の挿入方向に抗
する方向(X軸方向)に試料ホルダを移動させる機構4
4を使用して移動を行なう。また、押しねじ38を回す
と第2の保持筒35が球体軸受36を中心としてX軸及
びY軸を含む平面内で回動するため試料がY軸に沿って
移動される。さらに、押しねじ39を回すことにより、
第2の保持筒35が球体軸受36を中心としてX軸及び
Z軸を含む平面内で回動される。
ここで、前記X軸方向への移動と押しねじ38及び押し
ねじ39の移動を同時に行うことにより、試料の表面は
前記第2の保持筒35の回転軸に一致させることができ
る。
さらに、第1の保持筒33を回転させると球体軸受36
及び第2の保持筒35を介して試料ホルダ37が回動ず
るため、該ホルダ37の先端に取り付けられた試料を傾
斜させることができる。
これにより、試料を傾斜しても視野がずれず、また試料
を移動しても焦点がずれないような、所謂ユーセントリ
ック機構を有する試料移動装置が実現されている。
[発明が解決しようとする課届] ところで、上述したサイドエントリータイプの試料移動
装置を組込んだ電子顕微鏡においては、鏡筒31内の真
空が鏡筒31と基部32との嵌合部、基部32と第1の
保持筒33との勘合部、球体軸受部36、及び第2の保
持筒35と試料ホルダ37との嵌合部でOリングパッキ
ン40乃至43によって封止されている。特に、回動や
摺動等を行なう可動部分にはゴム製の0リングパッキン
が使用されている。
さて、近年では超高真空に排気された電子顕微鏡鏡筒内
に試料を導入し、該試料に電子線を照射して電子顕微鏡
像など観察することが行なわれている。このような、超
高真空に排気された鏡筒内に導入された試料を移動させ
るために、上述したような構成の試料移動装置を用いた
場合、可動部をゴム製のOリングパッキンによって真空
封止して鏡筒内の超高真空を維持することは極めて難し
い。また、鏡筒内で超高真空を得るために、鏡筒及び鏡
筒周辺の金属部分(試料移動装置を含む)のベークアウ
トを行なう必要があり、該ベークアウトによって高温度
に加熱される部分にはゴム製のOリングパッキンは使用
できない。そこで、超高真空に排気された電子顕微鏡に
おいては第6図に示すような可動部分にメタルベローズ
45が使用された試料移動装置が用いられている。
しかし、第6図に示すような試料移動装置では軸の回り
について回転不可能なメタルベローズ45が使用されて
いるため試料ホルダの傾斜角度に限界が生じる。そのた
め、前記ユーセントリック機構が失われてしまうことが
問題となる。
本発明は、上述した問題点を考慮し、試料室に超高真空
が必要な電子顕微鏡等に使用されるユーセントリック機
構を有する電子顕微鏡等用試料装置を提供することを目
的としている。
[課題を解決するための手段] 第1の本発明は、その軸中心が電子線光軸と直交するよ
うに取り付けられ基部と、該基部にtJ1の軸受けによ
って任意の向きへの傾斜が可能に取り付けられた保持筒
と、該保持筒内に設けられ該保持筒に沿って移動可能で
且つ該保持筒の軸の回りに回動可能に設けられた棒体と
、前記保持筒と前記基部とを接続して真空封止する第1
のベローズと、前記保持筒の先端に移動及び回動可能に
取り付けられた試料保持体と、前記保持筒に設けられた
第2の軸受けによって支承されて前記棒体の回転により
歳差運動をするように前記棒体に一端が自在に係合され
た連接棒と、該連接棒と前記保持体とを接続して真空を
封止するための第2のベローズとを備え、前記連接棒の
歳差運動によって前記試料保持対が回動するように該連
接棒の他端は前記試料保持体に自在に係合されていると
共に、前記棒体の移動に伴う該連接棒の移動を許容する
ための逃がし機構を備えることを特徴とする。
第2の本発明は、その軸中心が電子線光軸と直交するよ
うに取り付けられ基部と、該基部に第1の軸受けによっ
て任意の向きへの傾斜が可能に取り付けられた第1の保
持筒と、前記第1の保持筒内に嵌合され第1の保持筒の
軸方向に摺動可能に取り付けられた第2の保持筒と、前
記第2の保持筒内に該保持筒の軸の回りに回動可能に取
り付けられた棒体と、前記第2の保持筒と前記基部とを
接続して真空を封止する第1のベローズと、前記第2の
保持筒の先端に回動可能に取り付けられた試料保持体と
、前記第2の保持筒に設けられた第2の軸受けによって
支承されて前記棒体の回転により歳差運動をするように
前記棒体に一端が自在に係合された連接棒と、該連接棒
と前記第2の保持筒とを接続して真空を封止するための
第2のベローズとを備え、前記連接棒の歳差運勤によっ
て前記試料保持体が回動するように該連接棒の他端は前
記試料保持体に自在に係合されていることを特徴とする
[実施例] 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する≦第1
図は第1の本発明による試料移動装置のー実施例を説明
するための装置構成図、第2図は第1図に示す実施例の
要部拡大図、第3図は第2の本発明による試料移動装置
の一実施例を説明するための装置構成図である。
第1図において1は電子顕微鏡鏡筒、2は基部、3は保
持筒、4は第1の軸受、5は棒体、6は回転及び移動用
のベアリング、7は第1のベローズ、8は試料保持体、
9は試料ホルダ、10は連接捧、11は第2の軸受であ
る。第2の軸受11はガイド22に案内されて移動自在
に設けられている。
12は第2のベローズ、13は回転伝達体、14はベア
リング、15.16は押しねじ、17は試料保持体押さ
え、18乃至20はばね、21はメタルOリング、22
はガイドである。
基部2はその軸中心が電子線光軸と直交するように前記
m筒1に取り付けられており、該基部2に保持筒3が第
1の軸受4によって任意の向きへの傾斜が可能に取り付
けられている。そして、該保持筒3内に棒体5が該保持
筒に沿って移動可能で且つ該保持筒の軸の回りに回動可
能にベアリング6a及び6bを介して配置されている。
また、前記第1のベローズ7は鏡筒内の超高真空を封止
しながら前記保持筒3を回動可能にするために前記基部
2と前記保持筒3との間に接続されている。
試料保持体8は前記保持筒3の先端に移動及び回動可能
に取り付けられており、該試料保持体8の先に試料ホル
ダ9が装着されている。
連接棒10は、前記保持筒3に設けられた第2の軸受1
1によって支承されて前記棒体5の回転により歳差運動
をするように、棒体5に一端が自在に係合され、他端は
該連接棒の歳差運動によって試料保持体8を回動するよ
うに試料保持体に自在に係合されている。
第2のベローズ12は鏡筒内の超高真空を封止しながら
前記連接棒10の歳差運動を可能にするため前記連接棒
10と前記保持筒3との間に接続されている。
また、回転伝達体13はベアリング14を介して前記基
部2に回転可能に取り付けられており、該回転伝達体1
3上には前記保持筒3を回動させるための押しねじ15
(及び16)が螺合されいる。ここで、押しねじ15は
保持筒3の軸(X輪)に直交する軸(Z軸)方向に配置
されており、押しねじ16は図示されてはいないが前記
X軸と2軸に直交する軸(Y軸)方向に配置されている
さて、上述のような構成の装置において、試料保持体8
の先に装着された試料ホルダ9をX軸に沿って移動させ
る場合は、第2図に示すように棒体5をX軸に沿って移
動させて該連接棒10の一端に係合された軸受11を保
持筒内でガイド22に沿って摺動させ、該連接棒10の
他端に係合された試料保持体8を保持筒内で摺動させて
試料ホルダ9をX軸方向に移動させる。
また、押しねじ15を回すと保持筒3が球体軸受4を中
心としてX軸及びZ軸を含む平面内で回動ずるため、試
料がZ軸に沿って移動される。さらに、押しねじ16(
図示せず)を回すことにより、保持筒3が球体軸受4を
中心としてX軸及びY軸を含む平面内で回動される。こ
こで、前記棒体5による試料ホルダのX軸方向への移動
と押しねじ15及び押しねじ16による保持筒3の回動
を同時に行うことにより、試料の表面は前記保持筒3の
回転軸に一致させることができる。
さらに、前紀棒体5を回転させると軸受11によって支
承されて歳差運動をする連接棒10が前記試料保持体8
を回動するため、試料保持体8の先に装着された該ホル
ダ9を傾斜させることができる。このように、歳差運動
によって試料保持体8の先に装着された該ホルダ9を傾
斜させているため、超高真空を封止するために軸の回り
について回転不可能なメタルベローズが使用されても試
料の傾斜角度に限界は生じない。従って、試料を傾斜し
ても視野がずれず、また試料を移動しても焦点がずれな
い、所謂ユーセントリック機構を有する試料移動装置が
実現される。
次に、第3図に基づいて第2の本発明の実施例を説明す
る。第3図に示す実施例が第1の本発明による実施例と
異なるのは、保持筒3内に嵌合され該保持筒の軸方向に
摺動可能に第2の保持WJ23を設け、該第2の保持筒
23内に該保持筒の軸の回りに回動可能なようにベアリ
ング4a,4bを介して棒体5を設けると共に、前記第
2の保持筒23と前記基部2とをベローズ7によって接
続して鏡筒1内の超高真空を真空封止するようにした点
である。
このような構成の試料移動装置において、第2の保持筒
23は大気圧によって鏡筒内に押し付けられているため
、試料保持体8の先に装着された試料ホルダ9をX軸に
沿って移動させる場合は、前記第2の保持筒23の挿入
方向に抗する方向(X軸方向)に第2の保持筒23を移
動させる機構、例えば保持筒23に設けられた鍔aを該
第2の保持筒23の挿入方向に抗する方向に押すための
機構や試料ホルダ9の先端を該第2の保持筒23の挿入
方向に抗する方向に押すための機構図(図示せず)によ
って移動が行なわれる。
また、試料のX軸及びZ軸を含む平面内で回動及びX軸
及びY軸を含む平面内での試料の回動は、押しねじ15
及び押しねじ16によって行なわれる。さらに、前記棒
体5を回転させることにより、固定された軸受11によ
って支承されて歳差運動をする連接棒10によって前記
試料保持体8が回動されて、該試料保持体8の先に装着
されたが試料ホルダ9が傾斜される。
従って、前記試料の傾斜及び各移動の組合わせにより、
試料を傾斜しても視野がずれず、また試料を移動しても
焦点がずれない、所謂ユーセントリック機構を有する試
料移動装置が実現される。
なお、上述した実施例において棒体,連接棒,試料保持
体及び試料ホルダの夫々を熱伝導体によって形成し、加
熱または冷却源に接続するより試料を加熱または冷却す
ることができる。また、前記棒体,連接棒、試料保持体
及び試料ホルダを通じて電流を導入して試料を加熱する
ようにしても良い。
[発明の効果] 以上の説明から明らかなように、第1の本発明によれば
、その軸中心が電子線光軸と直交するように取り付けら
れ基部と、該基部に第1の軸受けによって任意の向きへ
の傾斜が可能に取り付けられた保持筒と、該保持筒内に
設けられ該保持日に沿って移動可能で且つ該保持筒の軸
の回りに回動可能に設けられた棒体と、前記保持筒と前
記基部とを接続して真空封止する第1のベローズと、前
記保持筒の先端に移動及び回動可能に取り付けられた試
料保持体と、前記保持筒に設けられた第2の軸受けによ
って支承されて前記棒体の回転により歳差運動をするよ
うに前記棒体に一端が自在に係合された連接棒と、該連
接棒と前記保持体とを接続して真空を封止するための第
2のベローズとを備え、前記連接棒の歳差運動によって
前記試料保持対は回動するように該連接棒の他端は前記
試料保持体に自在に係合されていると共に、前紀棒体の
移動に伴う該連接棒の移動を許容するための逃がし機構
を備えたことにより、回転の不可能なメタルベローズを
用いて超高真空を封止した場合でも試料保持体を保持筒
の軸の回りに無制限に回動させることができるため、試
料を傾斜しても視野がずれず、また試料を移動しても焦
点がずれない、所謂ユーセントリック機構を有する電子
顕微鏡等用試料装置が実現される。
また、第2の本発明によれば、その軸中心が電子線光軸
と直交するように取り付けられ基部と、該基部に第1の
軸受けによって任意の向きへの傾斜が可能に取り付けら
れた第1の保持筒と、前記第1の保持筒内に嵌合され第
1の保持筒の軸方向に摺動可能に取り付けられた第2の
保持筒と、前記第2の保持筒内に該保持筒の軸の回りに
回動可能に取り付けられた棒体と、前記第2の保持筒と
前記基部とを接続して真空を封止する第1のべ口−ズと
、前記第2の保持筒の先端に回動可能に取り付けられた
試料保持体と、前記第2の保持簡に設けられた第2の軸
受けによって支承されて前記棒体の回転により歳差運動
をするように前記棒体に一端が自在に係合された連接棒
と、該連接棒と前記第2の保持筒とを接続して真空を封
止するための第2のベローズとを備え、前記連接棒の歳
差運動によって前記試料保持体が回動ずるように該連接
棒の他端は前記試料保持体に自在に係合されていること
により、回転の不可能なメタルベローズを用いて超高真
空を封止した場合でも試料保持体を保持筒の軸の回りに
無制限に回動させることができるため、試料を傾斜して
も視野がずれず、また試籾を移動しても焦点がずれない
、所屑ユーセントリック機構を有する電子顕@鏡等用試
料装置が実現される。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明の一実施例による試料移動装置を説明す
るための装置構成図、第2図は第1図に示す実施例の要
部拡大図、第3図は他の実施例を説明するための装置構
成図、第4図乃至第6図は従来例を説明するための図で
ある。 1:電子顕微鏡鏡筒 3:保持筒 5:棒体 7:第1のベローズ 9:試料ホルダ 1l:第2の軸受 13二回転伝達体 15,16:押しねじ 17:試料保持体押さえ 18,19,20:ばね 21:メタルOリング 22:ガイド 23;第2の保持筒 2:基部 4:第1の軸受 6:ベアリング 8:試料保持体 10:連接棒 12:第2のベローズ 14:ベアリング

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)その軸中心が電子線光軸と直交するように取り付
    けられ基部と、該基部に第1の軸受けによって任意の向
    きへの傾斜が可能に取り付けられた保持筒と、該保持筒
    内に設けられ該保持筒に沿って移動可能で且つ該保持筒
    の軸の回りに回動可能に設けられた棒体と、前記保持筒
    と前記基部とを接続して真空封止する第1のベローズと
    、前記保持筒の先端に移動及び回動可能に取り付けられ
    た試料保持体と、前記保持筒に設けられた第2の軸受け
    によって支承されて前記棒体の回転により歳差運動をす
    るように前記棒体に一端が自在に係合された連接棒と、
    該連接棒と前記保持体とを接続して真空を封止するため
    の第2のベローズとを備え、前記連接棒の歳差運動によ
    って前記試料保持体が回動するように該連接棒の他端は
    前記試料保持体に自在に係合されていると共に、前記棒
    体の移動に伴う該連接棒の移動を許容するための逃がし
    機構を備えることを特徴とする電子顕微鏡等用試料装置
  2. (2)その軸中心が電子線光軸と直交するように取り付
    けられ基部と、該基部に第1の軸受けによって任意の向
    きへの傾斜が可能に取り付けられた第1の保持筒と、前
    記第1の保持筒内に嵌合され第1の保持筒の軸方向に摺
    動可能に取り付けられた第2の保持筒と、前記第2の保
    持筒内に該保持筒の軸の回りに回動可能に取り付けられ
    た棒体と、前記第2の保持筒と前記基部とを接続して真
    空を封止する第1のベローズと、前記第2の保持筒の先
    端に回動可能に取り付けられた試料保持体と、前記第2
    の保持筒に設けられた第2の軸受けによって支承されて
    前記棒体の回転により歳差運動をするように前記棒体に
    一端が自在に係合された連接棒と、該連接棒と前記第2
    の保持筒とを接続して真空を封止するための第2のベロ
    ーズとを備え、前記連接棒の歳差運動によって前記試料
    保持体が回動するように該連接棒の他端は前記試料保持
    体に自在に係合されていることを特徴とする電子顕微鏡
    等用試料装置。
JP1058635A 1989-03-10 1989-03-10 電子顕微鏡等用試料装置 Expired - Fee Related JPH0740477B2 (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0584869A1 (en) * 1992-08-27 1994-03-02 Koninklijke Philips Electronics N.V. Specimen holder for a particle-optical apparatus
EP0690474A1 (en) * 1994-06-29 1996-01-03 Hitachi, Ltd. Bi-axial-tilting specimen fine motion device and method of correcting image shifting
JP2005044700A (ja) * 2003-07-24 2005-02-17 Jeol Ltd 試料ホルダ
JP2016170867A (ja) * 2015-03-11 2016-09-23 日新イオン機器株式会社 部材交換器

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