JPS6093558A - エラー検出用検査装置 - Google Patents
エラー検出用検査装置Info
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- JPS6093558A JPS6093558A JP59195893A JP19589384A JPS6093558A JP S6093558 A JPS6093558 A JP S6093558A JP 59195893 A JP59195893 A JP 59195893A JP 19589384 A JP19589384 A JP 19589384A JP S6093558 A JPS6093558 A JP S6093558A
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- Japan
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- circuit
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- G06F11/16—Error detection or correction of the data by redundancy in hardware
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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- H04Q3/00—Selecting arrangements
- H04Q3/42—Circuit arrangements for indirect selecting controlled by common circuits, e.g. register controller, marker
- H04Q3/54—Circuit arrangements for indirect selecting controlled by common circuits, e.g. register controller, marker in which the logic circuitry controlling the exchange is centralised
- H04Q3/545—Circuit arrangements for indirect selecting controlled by common circuits, e.g. register controller, marker in which the logic circuitry controlling the exchange is centralised using a stored programme
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分責
本発明は、2車に構成され、並列動作しかつ2進信号を
供給する回路、例えば電話交換装置の中央制御装置のマ
ルチプロセッサにおけるエラーを検出するための検査装
置に関する。その場合この装置では、2進信号から検査
ビットを発生する)e リテイ回路網が前記回路ごとに
少くとも1つずつ設けられ、 wiJ記回路の2進信号および検査ビット用の多心出力
線路が設けられ、該出力線路が、2進信号および検査ビ
ットを受信する1つまたは酸敗の受信装置と接続され、 比較装置が設けられ、該比較装置が、両方の前記回路の
互いに相応する出力線路のビットの向−性をビットごと
に検査する。
供給する回路、例えば電話交換装置の中央制御装置のマ
ルチプロセッサにおけるエラーを検出するための検査装
置に関する。その場合この装置では、2進信号から検査
ビットを発生する)e リテイ回路網が前記回路ごとに
少くとも1つずつ設けられ、 wiJ記回路の2進信号および検査ビット用の多心出力
線路が設けられ、該出力線路が、2進信号および検査ビ
ットを受信する1つまたは酸敗の受信装置と接続され、 比較装置が設けられ、該比較装置が、両方の前記回路の
互いに相応する出力線路のビットの向−性をビットごと
に検査する。
さらに本発明は、電話交換装置のマルチプロセッサ中央
制御装置において、障害の起きたプロセッサ対を遮断し
、他のプロセッサ対と置換するために用いられる。
制御装置において、障害の起きたプロセッサ対を遮断し
、他のプロセッサ対と置換するために用いられる。
発明の解決すべき問題点
本発明の課題は、上述の検査装置を次のように改良する
ことである。
ことである。
まず、ハ・−ドウエアに少するコストを剛結すること。
次に、エラー検出時の安全↑11ないし信頼性を高める
こと。この」賜金原理的にはt 11+’+ 1−なエ
ラーを補正でき、また必要に1心にて、袖1Fさiまた
データのエラーについて再検査できることが望ましい。
こと。この」賜金原理的にはt 11+’+ 1−なエ
ラーを補正でき、また必要に1心にて、袖1Fさiまた
データのエラーについて再検査できることが望ましい。
問題点を解決するための平膜
、 本発明によれば、この課題は次のようにして解決さ
れる。すなわち、各回路が、固有の・ソリティ回路網を
備えたIICDC回路を有し、前記回路の2進信号を供
給する線路のそれぞれが、EDO回路と接続さね、 両方のKDC回路が、その・9974回路網によって、
当該回路の2進信号に対する検査ビットとしてEDC符
号を発生し、 2つのKDO回路の検査ビットのための出力線路だけが
、該KD(1g回路のEDC符号をビットごとに検査す
るために、比較装置と接続されこれに対して、出力ビッ
トを供給する、前記回路の2進信号用の出力線路は比較
装置と接続されず、従って2つの回路の2進信号がビッ
トごとに横歪されないようにするのである。
れる。すなわち、各回路が、固有の・ソリティ回路網を
備えたIICDC回路を有し、前記回路の2進信号を供
給する線路のそれぞれが、EDO回路と接続さね、 両方のKDC回路が、その・9974回路網によって、
当該回路の2進信号に対する検査ビットとしてEDC符
号を発生し、 2つのKDO回路の検査ビットのための出力線路だけが
、該KD(1g回路のEDC符号をビットごとに検査す
るために、比較装置と接続されこれに対して、出力ビッ
トを供給する、前記回路の2進信号用の出力線路は比較
装置と接続されず、従って2つの回路の2進信号がビッ
トごとに横歪されないようにするのである。
特許請求の範囲第2項記載の付加的な構成にヨワば、マ
ルチプロセッサコンピュータの中で、障害の起きたプロ
セッサ対を簡単に・9ス系から切離丁ことができ、その
時コストに比べて大きな綴頼性が得られる。
ルチプロセッサコンピュータの中で、障害の起きたプロ
セッサ対を簡単に・9ス系から切離丁ことができ、その
時コストに比べて大きな綴頼性が得られる。
実 )J引り九 的
次に、図面を参照しながら実施例について本発明の詳細
な説明する。
な説明する。
図は本発明による装置の実施例のブロック図である。た
だしここには、マルチプロセッサ中央制御装置の一部し
か示していない。実際の装置では、12のプロセッサC
Pが・薯ス系B:CMYを介して中央メモ!J CMY
と共働する。図から分るようにプロセッサcpは、安全
保持のために、プロセッサじpg 、cplを有する2
1構l戊となっている。同じようにパス糸B:CMYも
B:CMYg/B;CMYlを有する2重構成となって
おり、受信装装置である中央メモリOMYはOM Y
O/ CM Y 1から成っている。’M );、 し
た線路11イ成から分るようイこ、中央メモ!JCMY
の2つの部分は、そノ′1.ぞ71、のプロセッサCP
およびパス糸B:CMYと個別に接続されている。プロ
セッサCPの各々の(1゛す成木j′は、和瓦に同一に
4・14成されているのが好3己しい。
だしここには、マルチプロセッサ中央制御装置の一部し
か示していない。実際の装置では、12のプロセッサC
Pが・薯ス系B:CMYを介して中央メモ!J CMY
と共働する。図から分るようにプロセッサcpは、安全
保持のために、プロセッサじpg 、cplを有する2
1構l戊となっている。同じようにパス糸B:CMYも
B:CMYg/B;CMYlを有する2重構成となって
おり、受信装装置である中央メモリOMYはOM Y
O/ CM Y 1から成っている。’M );、 し
た線路11イ成から分るようイこ、中央メモ!JCMY
の2つの部分は、そノ′1.ぞ71、のプロセッサCP
およびパス糸B:CMYと個別に接続されている。プロ
セッサCPの各々の(1゛す成木j′は、和瓦に同一に
4・14成されているのが好3己しい。
個々のプロセッサは、少くとも十分な接続゛δ°7J〈
があったl+?7に、交換、安全保持ないし動イ′1(
★hcr上の機能を、同時またはほぼ同時に実行する。
があったl+?7に、交換、安全保持ないし動イ′1(
★hcr上の機能を、同時またはほぼ同時に実行する。
各プロセッサは、それらに1有のローカルメモリを1し
、このメモリは中央メモリCMYと時間的に無関係に動
作する。そしてローカルメモリには、例えば処理中のデ
ータ、実行中のプログラム部分、および頻繁に利用され
るプログラム部分が記憶される。
、このメモリは中央メモリCMYと時間的に無関係に動
作する。そしてローカルメモリには、例えば処理中のデ
ータ、実行中のプログラム部分、および頻繁に利用され
るプログラム部分が記憶される。
従って図示の例におけるエラー検出用検査装置は%2M
<m成で並列動作する回路ないしプロセッサCPの検査
装置である。そして、2進信号を供給するこの回路ない
しプロセッサは、電話交換装置の中央制御装置の一部を
構成している。検゛査装置は、2進信号から検査ビット
を発生する多数のパリティ回路網を治している。このノ
ミリフイ回路網は各プロセッサのKDC! (Erro
r Detection and Correctio
n )回路EDCo 、RiDOlの中に設けられる。
<m成で並列動作する回路ないしプロセッサCPの検査
装置である。そして、2進信号を供給するこの回路ない
しプロセッサは、電話交換装置の中央制御装置の一部を
構成している。検゛査装置は、2進信号から検査ビット
を発生する多数のパリティ回路網を治している。このノ
ミリフイ回路網は各プロセッサのKDC! (Erro
r Detection and Correctio
n )回路EDCo 、RiDOlの中に設けられる。
IDC回路は、例えば市販の素子Am 2960であり
、またはドイツ連邦共和国持dト出願公開第33197
10号公報に記載された回路である。仁の場合、2進信
号を供給するプロセッサCPの線路は、それぞれEDc
回路E Do O、KDC10)入力側と接続されてい
る。2つのFiDClJujli(lDcg、 F、
D C’1は、その・ξリティIf−II l/Q網に
よって1cDC符号を発生する。EDC符号はそのプロ
セッサCPの2進信号に対する検査ピッ1−とじて用い
られる。
、またはドイツ連邦共和国持dト出願公開第33197
10号公報に記載された回路である。仁の場合、2進信
号を供給するプロセッサCPの線路は、それぞれEDc
回路E Do O、KDC10)入力側と接続されてい
る。2つのFiDClJujli(lDcg、 F、
D C’1は、その・ξリティIf−II l/Q網に
よって1cDC符号を発生する。EDC符号はそのプロ
セッサCPの2進信号に対する検査ピッ1−とじて用い
られる。
IDC回路ないしプロセソナには2種・頑の多心出力線
路Li 、 Ledcが設けられている。そのうち出力
線路L1は2 JL(Li号、っまりプロセッサcpの
供給する出力情報および中央メモリcMYのアドレスに
対して用いられる。出力線路Ledcは、EDc回13
E DCo / E D c 1の検叶ビットに対し
て設けら:l’1.ている。中火メモリcMYは、パス
系B : CMYを弁して2進13、シj 、l。
路Li 、 Ledcが設けられている。そのうち出力
線路L1は2 JL(Li号、っまりプロセッサcpの
供給する出力情報および中央メモリcMYのアドレスに
対して用いられる。出力線路Ledcは、EDc回13
E DCo / E D c 1の検叶ビットに対し
て設けら:l’1.ている。中火メモリcMYは、パス
系B : CMYを弁して2進13、シj 、l。
よび検査ビットを党11.する。
さらに検査装置は幾つかの、ここでは5つの比較装置V
Eを自している。比較装置+”(は、2つのプロセッサ
CPの互いに相1心する出力線y;1Ladeの検査ビ
ットが互いに一致するがどうかについて、ピットごとに
検査する。この場合、2つのEDO回路KDOQとKD
C1の検査ビットに対する出力線p ’Ledcだけが
、このIDC回路のF、DC符号をビット毎に検査する
ために、AND素子から成る比較装置mj v mと接
続される。こ力に対して出力ビットを供給する2進信号
用の出力線路Liは比較装置VEと接続されず、従って
2つのプロセッサCPの2進信号も検査されない。
Eを自している。比較装置+”(は、2つのプロセッサ
CPの互いに相1心する出力線y;1Ladeの検査ビ
ットが互いに一致するがどうかについて、ピットごとに
検査する。この場合、2つのEDO回路KDOQとKD
C1の検査ビットに対する出力線p ’Ledcだけが
、このIDC回路のF、DC符号をビット毎に検査する
ために、AND素子から成る比較装置mj v mと接
続される。こ力に対して出力ビットを供給する2進信号
用の出力線路Liは比較装置VEと接続されず、従って
2つのプロセッサCPの2進信号も検査されない。
この構成によって、すべての2進イ8号をピット毎に検
査する場合に比べて、比較装置VEに要するハードウェ
アをかなり削’t16するこ吉ができる。すべての2進
信号および検査ビットをビット毎に検査する場合を考え
れば、このハードウェア1す識の割合は一層大きくなる
。検査ビットは2進信号を確実にシュミレートするもの
なので、つまり検査ビットを検査すわば2進信号の状態
が分る゛ので、簡単なエラーを自動的に補止1゛ること
ができる。従って本発明に従って構成された検査装置は
、ハードウェアを大幅に削 4減していても、多くの分
野(1クリえば′畦話交換シ装置)で確実に使用するこ
とができる。例えばこの検査装置は、両方の回路/ゾロ
セッサCPの2進信号に含まノする1ニラ−を迅速に検
出することができる。つまり、こt’Lらの回1.1i
<Cpに灯する試験プログラムを実施し、あるいはこの
回路cpをパス系B : CMYから完全に切離すこ吉
ができる。また、安全のために比較装置vEを、Fi’
DC!回y3pr、Deo、gDatとノマス系B:C
MYの1&IJで出力線路Ledcと接続する場合は、
特に速くパス系B:C!MYを切離すことができる。原
理的には、2進信号と4:(Q 食ビットの受信に関す
る肯定応答ないし否定1j、谷が開始されルrii1に
:、 ハス系」3: c M yを分離)ろことができ
る。
査する場合に比べて、比較装置VEに要するハードウェ
アをかなり削’t16するこ吉ができる。すべての2進
信号および検査ビットをビット毎に検査する場合を考え
れば、このハードウェア1す識の割合は一層大きくなる
。検査ビットは2進信号を確実にシュミレートするもの
なので、つまり検査ビットを検査すわば2進信号の状態
が分る゛ので、簡単なエラーを自動的に補止1゛ること
ができる。従って本発明に従って構成された検査装置は
、ハードウェアを大幅に削 4減していても、多くの分
野(1クリえば′畦話交換シ装置)で確実に使用するこ
とができる。例えばこの検査装置は、両方の回路/ゾロ
セッサCPの2進信号に含まノする1ニラ−を迅速に検
出することができる。つまり、こt’Lらの回1.1i
<Cpに灯する試験プログラムを実施し、あるいはこの
回路cpをパス系B : CMYから完全に切離すこ吉
ができる。また、安全のために比較装置vEを、Fi’
DC!回y3pr、Deo、gDatとノマス系B:C
MYの1&IJで出力線路Ledcと接続する場合は、
特に速くパス系B:C!MYを切離すことができる。原
理的には、2進信号と4:(Q 食ビットの受信に関す
る肯定応答ないし否定1j、谷が開始されルrii1に
:、 ハス系」3: c M yを分離)ろことができ
る。
発明の効果
本発明の検査装置4によれtit’ 、ハードウェア;
こをするコストを削ah t、 、かつエラー(矢用時
の(i4頼性を晶めるこ吉ができる。
こをするコストを削ah t、 、かつエラー(矢用時
の(i4頼性を晶めるこ吉ができる。
図は本発明による検査装置の実施例のブロック図1であ
る。 CPO,CPI・・プロセッサ、]1CDCiQ、Fi
D Cl ”: I D C回路、Li 、 Ledc
・・出力線路、vE・比較装置、B : OMYO、
B ; C!MYI・・パス系、CMM・・中央メモリ 第1頁の続き 0発 明 者 クラウス・シュライア ドイーセ ソ連邦共和国ペンツベルク・ノネンヴアルトシュトラ8
アー
る。 CPO,CPI・・プロセッサ、]1CDCiQ、Fi
D Cl ”: I D C回路、Li 、 Ledc
・・出力線路、vE・比較装置、B : OMYO、
B ; C!MYI・・パス系、CMM・・中央メモリ 第1頁の続き 0発 明 者 クラウス・シュライア ドイーセ ソ連邦共和国ペンツベルク・ノネンヴアルトシュトラ8
アー
Claims (1)
- 1.23(に構成され、並列動作し、かつ2進信号を供
給する回路(ap)におけるエラーを検出するための検
査装置であって、 2進信号から検査ビットを発生する・ξリプ4回路網が
前記回路(cp)ごとに少(とも1つずつ設けられ、 前記回路(cp)の2進信号および検量ビット用の多心
出力線路(Li 、 Ledc )が設けられ、該出力
線路が、2進信号および検量ビットを受信する1つまた
は複数の受信装置(中央メモリCMY)と接続され、 比較装置(vK)が設けられ、該比較装置が、両方の前
記回路(cp)の互いに相応すl力線路(Ledc )
のビットの同一性をビットごとに検査する、 エラー検出用検査装置において。 各回路(cp)が、固有の・ξリプ4回路網を備えたK
DOJ21Q(EDCO、FiDO1)を有し、前記回
路(cp)の2進信号を供給する線路のそわ、ぞれが、
EDC回路(EDCo、l1iDa1)と接続され、 両方0) E D 0回1@(ED CQ 、 ED(
,1)が、その・ξリプ4回路網゛によって、当該回路
(cp)の2進信号に対する検査ビットとしてFiDO
符号を発生し、 2つのFiDO回路(EDCo 、KDC!1 )の検
査ピッi・のための出力線p13 (Ledc )だけ
が、該EDC回路(EDC!0.EDCI)(7JB3
DC符号をピッi−ごとに検査するために、比較装置(
vK)と接続さゎ、これに対して、出力ビットを供給す
る、前記回路(c、p)の2進化号用の出力線路(Ll
)は比較装置(vE)と接続さねてぃないころを特徴と
するエラー検出用の検査装置ζC6 2前記1al路がプロセッサ(cp)であ(ハ出力線路
(Ll、Ledc)(!:受信装置ip (CMY)と
の間に、マルチプロセッサコンピュータの多心・ンス系
(B : OMY )が挿入接続され、 比較装置(vE)がEDC回路(FiDOO、F、DC
!’1)とパス系(B:C!MY)との間で出力線路(
Ledc )と接続されている、特許請求の範囲@1項
記載のエラー検出用検査装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3334765.4 | 1983-09-26 | ||
DE19833334765 DE3334765A1 (de) | 1983-09-26 | 1983-09-26 | Pruefungseinrichtung zur fehlererkennung bei gedoppelten schaltungen, insbesondere prozessoren eines fernsprechvermittlungssystems |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6093558A true JPS6093558A (ja) | 1985-05-25 |
Family
ID=6210074
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59195893A Pending JPS6093558A (ja) | 1983-09-26 | 1984-09-20 | エラー検出用検査装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0140155A3 (ja) |
JP (1) | JPS6093558A (ja) |
DE (1) | DE3334765A1 (ja) |
FI (1) | FI843755L (ja) |
ZA (1) | ZA847564B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09198359A (ja) * | 1986-11-05 | 1997-07-31 | Stratus Computer Inc | 拡張可能なプロセッサ部を有する障害許容コンピュータ用情報処理方法および装置 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3334765A1 (de) * | 1983-09-26 | 1985-04-11 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Pruefungseinrichtung zur fehlererkennung bei gedoppelten schaltungen, insbesondere prozessoren eines fernsprechvermittlungssystems |
DE3629399A1 (de) * | 1986-08-29 | 1988-03-03 | Siemens Ag | Verfahren zum betrieb des zentralen speichers einer multiprozessor-zentralsteuereinheit eines vermittlungssystems |
US5280487A (en) * | 1989-06-16 | 1994-01-18 | Telefonaktiebolaget L M Ericsson | Method and arrangement for detecting and localizing errors or faults in a multi-plane unit incorporated in a digital time switch |
SE463900B (sv) * | 1989-06-16 | 1991-02-04 | Ericsson Telefon Ab L M | Foerfarande och anordning vid en flerplansenhet i en digital tidsvaeljare foer att detektera och lokalisera fel |
DE10131920A1 (de) * | 2001-07-02 | 2003-01-23 | Tenovis Gmbh & Co Kg | Kommunikationsanlage mit verteilter Steuerung und Verfahren zum Betrieb einer solchen |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US4020459A (en) * | 1975-10-28 | 1977-04-26 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Parity generation and bus matching arrangement for synchronized duplicated data processing units |
IT1209187B (it) * | 1980-02-11 | 1989-07-16 | Sits Soc It Telecom Siemens | Dispositivo di controllo del corretto funzionamento di una coppia di elaboratori funzionanti uno come riserva calda dell'altro. |
JPS56124956A (en) * | 1980-03-06 | 1981-09-30 | Nec Corp | Double information processing equipment |
IT8024701A0 (it) * | 1980-09-17 | 1980-09-17 | Italtel Spa | Disposizione circuitale atta a rilevare la presenza di malfunzionamenti in un sistema di elaborazione di dati utilizzante un microprocessore di tipo commerciale. |
DE3334765A1 (de) * | 1983-09-26 | 1985-04-11 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Pruefungseinrichtung zur fehlererkennung bei gedoppelten schaltungen, insbesondere prozessoren eines fernsprechvermittlungssystems |
-
1983
- 1983-09-26 DE DE19833334765 patent/DE3334765A1/de not_active Withdrawn
-
1984
- 1984-09-20 JP JP59195893A patent/JPS6093558A/ja active Pending
- 1984-09-25 FI FI843755A patent/FI843755L/fi not_active Application Discontinuation
- 1984-09-25 EP EP84111432A patent/EP0140155A3/de not_active Ceased
- 1984-09-26 ZA ZA847564A patent/ZA847564B/xx unknown
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09198359A (ja) * | 1986-11-05 | 1997-07-31 | Stratus Computer Inc | 拡張可能なプロセッサ部を有する障害許容コンピュータ用情報処理方法および装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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FI843755A0 (fi) | 1984-09-25 |
DE3334765A1 (de) | 1985-04-11 |
FI843755L (fi) | 1985-03-27 |
ZA847564B (en) | 1985-05-29 |
EP0140155A2 (de) | 1985-05-08 |
EP0140155A3 (de) | 1988-02-10 |
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