JPS6093558A - エラー検出用検査装置 - Google Patents

エラー検出用検査装置

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JPS6093558A
JPS6093558A JP59195893A JP19589384A JPS6093558A JP S6093558 A JPS6093558 A JP S6093558A JP 59195893 A JP59195893 A JP 59195893A JP 19589384 A JP19589384 A JP 19589384A JP S6093558 A JPS6093558 A JP S6093558A
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JP
Japan
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circuit
comparator
bit
ledc
edc
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JP59195893A
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ルードルフ・ビツインガー
ヴアルター・エングル
ジークフリート・フムル
クラウス・シユライアー
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Siemens Schuckertwerke AG
Siemens AG
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Siemens Schuckertwerke AG
Siemens AG
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    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
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    • G06F11/16Error detection or correction of the data by redundancy in hardware
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    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分責 本発明は、2車に構成され、並列動作しかつ2進信号を
供給する回路、例えば電話交換装置の中央制御装置のマ
ルチプロセッサにおけるエラーを検出するための検査装
置に関する。その場合この装置では、2進信号から検査
ビットを発生する)e リテイ回路網が前記回路ごとに
少くとも1つずつ設けられ、 wiJ記回路の2進信号および検査ビット用の多心出力
線路が設けられ、該出力線路が、2進信号および検査ビ
ットを受信する1つまたは酸敗の受信装置と接続され、 比較装置が設けられ、該比較装置が、両方の前記回路の
互いに相応する出力線路のビットの向−性をビットごと
に検査する。
さらに本発明は、電話交換装置のマルチプロセッサ中央
制御装置において、障害の起きたプロセッサ対を遮断し
、他のプロセッサ対と置換するために用いられる。
発明の解決すべき問題点 本発明の課題は、上述の検査装置を次のように改良する
ことである。
まず、ハ・−ドウエアに少するコストを剛結すること。
次に、エラー検出時の安全↑11ないし信頼性を高める
こと。この」賜金原理的にはt 11+’+ 1−なエ
ラーを補正でき、また必要に1心にて、袖1Fさiまた
データのエラーについて再検査できることが望ましい。
問題点を解決するための平膜 、 本発明によれば、この課題は次のようにして解決さ
れる。すなわち、各回路が、固有の・ソリティ回路網を
備えたIICDC回路を有し、前記回路の2進信号を供
給する線路のそれぞれが、EDO回路と接続さね、 両方のKDC回路が、その・9974回路網によって、
当該回路の2進信号に対する検査ビットとしてEDC符
号を発生し、 2つのKDO回路の検査ビットのための出力線路だけが
、該KD(1g回路のEDC符号をビットごとに検査す
るために、比較装置と接続されこれに対して、出力ビッ
トを供給する、前記回路の2進信号用の出力線路は比較
装置と接続されず、従って2つの回路の2進信号がビッ
トごとに横歪されないようにするのである。
特許請求の範囲第2項記載の付加的な構成にヨワば、マ
ルチプロセッサコンピュータの中で、障害の起きたプロ
セッサ対を簡単に・9ス系から切離丁ことができ、その
時コストに比べて大きな綴頼性が得られる。
実 )J引り九 的 次に、図面を参照しながら実施例について本発明の詳細
な説明する。
図は本発明による装置の実施例のブロック図である。た
だしここには、マルチプロセッサ中央制御装置の一部し
か示していない。実際の装置では、12のプロセッサC
Pが・薯ス系B:CMYを介して中央メモ!J CMY
と共働する。図から分るようにプロセッサcpは、安全
保持のために、プロセッサじpg 、cplを有する2
1構l戊となっている。同じようにパス糸B:CMYも
B:CMYg/B;CMYlを有する2重構成となって
おり、受信装装置である中央メモリOMYはOM Y 
O/ CM Y 1から成っている。’M );、 し
た線路11イ成から分るようイこ、中央メモ!JCMY
の2つの部分は、そノ′1.ぞ71、のプロセッサCP
およびパス糸B:CMYと個別に接続されている。プロ
セッサCPの各々の(1゛す成木j′は、和瓦に同一に
4・14成されているのが好3己しい。
個々のプロセッサは、少くとも十分な接続゛δ°7J〈
があったl+?7に、交換、安全保持ないし動イ′1(
★hcr上の機能を、同時またはほぼ同時に実行する。
各プロセッサは、それらに1有のローカルメモリを1し
、このメモリは中央メモリCMYと時間的に無関係に動
作する。そしてローカルメモリには、例えば処理中のデ
ータ、実行中のプログラム部分、および頻繁に利用され
るプログラム部分が記憶される。
従って図示の例におけるエラー検出用検査装置は%2M
<m成で並列動作する回路ないしプロセッサCPの検査
装置である。そして、2進信号を供給するこの回路ない
しプロセッサは、電話交換装置の中央制御装置の一部を
構成している。検゛査装置は、2進信号から検査ビット
を発生する多数のパリティ回路網を治している。このノ
ミリフイ回路網は各プロセッサのKDC! (Erro
r Detection and Correctio
n )回路EDCo 、RiDOlの中に設けられる。
IDC回路は、例えば市販の素子Am 2960であり
、またはドイツ連邦共和国持dト出願公開第33197
10号公報に記載された回路である。仁の場合、2進信
号を供給するプロセッサCPの線路は、それぞれEDc
回路E Do O、KDC10)入力側と接続されてい
る。2つのFiDClJujli(lDcg、 F、 
D C’1は、その・ξリティIf−II l/Q網に
よって1cDC符号を発生する。EDC符号はそのプロ
セッサCPの2進信号に対する検査ピッ1−とじて用い
られる。
IDC回路ないしプロセソナには2種・頑の多心出力線
路Li 、 Ledcが設けられている。そのうち出力
線路L1は2 JL(Li号、っまりプロセッサcpの
供給する出力情報および中央メモリcMYのアドレスに
対して用いられる。出力線路Ledcは、EDc回13
 E DCo / E D c 1の検叶ビットに対し
て設けら:l’1.ている。中火メモリcMYは、パス
系B : CMYを弁して2進13、シj 、l。
よび検査ビットを党11.する。
さらに検査装置は幾つかの、ここでは5つの比較装置V
Eを自している。比較装置+”(は、2つのプロセッサ
CPの互いに相1心する出力線y;1Ladeの検査ビ
ットが互いに一致するがどうかについて、ピットごとに
検査する。この場合、2つのEDO回路KDOQとKD
C1の検査ビットに対する出力線p ’Ledcだけが
、このIDC回路のF、DC符号をビット毎に検査する
ために、AND素子から成る比較装置mj v mと接
続される。こ力に対して出力ビットを供給する2進信号
用の出力線路Liは比較装置VEと接続されず、従って
2つのプロセッサCPの2進信号も検査されない。
この構成によって、すべての2進イ8号をピット毎に検
査する場合に比べて、比較装置VEに要するハードウェ
アをかなり削’t16するこ吉ができる。すべての2進
信号および検査ビットをビット毎に検査する場合を考え
れば、このハードウェア1す識の割合は一層大きくなる
。検査ビットは2進信号を確実にシュミレートするもの
なので、つまり検査ビットを検査すわば2進信号の状態
が分る゛ので、簡単なエラーを自動的に補止1゛ること
ができる。従って本発明に従って構成された検査装置は
、ハードウェアを大幅に削 4減していても、多くの分
野(1クリえば′畦話交換シ装置)で確実に使用するこ
とができる。例えばこの検査装置は、両方の回路/ゾロ
セッサCPの2進信号に含まノする1ニラ−を迅速に検
出することができる。つまり、こt’Lらの回1.1i
<Cpに灯する試験プログラムを実施し、あるいはこの
回路cpをパス系B : CMYから完全に切離すこ吉
ができる。また、安全のために比較装置vEを、Fi’
DC!回y3pr、Deo、gDatとノマス系B:C
MYの1&IJで出力線路Ledcと接続する場合は、
特に速くパス系B:C!MYを切離すことができる。原
理的には、2進信号と4:(Q 食ビットの受信に関す
る肯定応答ないし否定1j、谷が開始されルrii1に
:、 ハス系」3: c M yを分離)ろことができ
る。
発明の効果 本発明の検査装置4によれtit’ 、ハードウェア;
こをするコストを削ah t、 、かつエラー(矢用時
の(i4頼性を晶めるこ吉ができる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明による検査装置の実施例のブロック図1であ
る。 CPO,CPI・・プロセッサ、]1CDCiQ、Fi
D Cl ”: I D C回路、Li 、 Ledc
 ・・出力線路、vE・比較装置、B : OMYO、
B ; C!MYI・・パス系、CMM・・中央メモリ 第1頁の続き 0発 明 者 クラウス・シュライア ドイーセ ソ連邦共和国ペンツベルク・ノネンヴアルトシュトラ8
アー

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.23(に構成され、並列動作し、かつ2進信号を供
    給する回路(ap)におけるエラーを検出するための検
    査装置であって、 2進信号から検査ビットを発生する・ξリプ4回路網が
    前記回路(cp)ごとに少(とも1つずつ設けられ、 前記回路(cp)の2進信号および検量ビット用の多心
    出力線路(Li 、 Ledc )が設けられ、該出力
    線路が、2進信号および検量ビットを受信する1つまた
    は複数の受信装置(中央メモリCMY)と接続され、 比較装置(vK)が設けられ、該比較装置が、両方の前
    記回路(cp)の互いに相応すl力線路(Ledc )
    のビットの同一性をビットごとに検査する、 エラー検出用検査装置において。 各回路(cp)が、固有の・ξリプ4回路網を備えたK
    DOJ21Q(EDCO、FiDO1)を有し、前記回
    路(cp)の2進信号を供給する線路のそわ、ぞれが、
    EDC回路(EDCo、l1iDa1)と接続され、 両方0) E D 0回1@(ED CQ 、 ED(
    ,1)が、その・ξリプ4回路網゛によって、当該回路
    (cp)の2進信号に対する検査ビットとしてFiDO
    符号を発生し、 2つのFiDO回路(EDCo 、KDC!1 )の検
    査ピッi・のための出力線p13 (Ledc )だけ
    が、該EDC回路(EDC!0.EDCI)(7JB3
    DC符号をピッi−ごとに検査するために、比較装置(
    vK)と接続さゎ、これに対して、出力ビットを供給す
    る、前記回路(c、p)の2進化号用の出力線路(Ll
    )は比較装置(vE)と接続さねてぃないころを特徴と
    するエラー検出用の検査装置ζC6 2前記1al路がプロセッサ(cp)であ(ハ出力線路
    (Ll、Ledc)(!:受信装置ip (CMY)と
    の間に、マルチプロセッサコンピュータの多心・ンス系
    (B : OMY )が挿入接続され、 比較装置(vE)がEDC回路(FiDOO、F、DC
    !’1)とパス系(B:C!MY)との間で出力線路(
    Ledc )と接続されている、特許請求の範囲@1項
    記載のエラー検出用検査装置。
JP59195893A 1983-09-26 1984-09-20 エラー検出用検査装置 Pending JPS6093558A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

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DE3334765.4 1983-09-26
DE19833334765 DE3334765A1 (de) 1983-09-26 1983-09-26 Pruefungseinrichtung zur fehlererkennung bei gedoppelten schaltungen, insbesondere prozessoren eines fernsprechvermittlungssystems

Publications (1)

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JPS6093558A true JPS6093558A (ja) 1985-05-25

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ID=6210074

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JP59195893A Pending JPS6093558A (ja) 1983-09-26 1984-09-20 エラー検出用検査装置

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EP (1) EP0140155A3 (ja)
JP (1) JPS6093558A (ja)
DE (1) DE3334765A1 (ja)
FI (1) FI843755L (ja)
ZA (1) ZA847564B (ja)

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DE3334765A1 (de) 1985-04-11
FI843755L (fi) 1985-03-27
ZA847564B (en) 1985-05-29
EP0140155A2 (de) 1985-05-08
EP0140155A3 (de) 1988-02-10

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