JPS6093411A - 互に相補的な若干の顕微鏡的試験を実施するための方法および装置 - Google Patents

互に相補的な若干の顕微鏡的試験を実施するための方法および装置

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JPS6093411A
JPS6093411A JP59194093A JP19409384A JPS6093411A JP S6093411 A JPS6093411 A JP S6093411A JP 59194093 A JP59194093 A JP 59194093A JP 19409384 A JP19409384 A JP 19409384A JP S6093411 A JPS6093411 A JP S6093411A
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sound wave
test
sonic
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JP59194093A
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カール・ハインツ ムート
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Ernst Leitz Wetzlar GmbH
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Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Ernst Leitz GmbH
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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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    • G01N29/04Analysing solids
    • G01N29/06Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
    • G01N29/0654Imaging
    • G01N29/0681Imaging by acoustic microscopy, e.g. scanning acoustic microscopy
    • GPHYSICS
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    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
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    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は一つの対象物に関して互いに相補的な複数の顕
微鏡的試験を実施するための方法並びに該方法を実施す
るための装置に関する。゛米国特許第4011748号
公報によれば音波的(akustische)および光
学的な鏡検を行うための方法および装置が公知になって
いる。この方法は対象物の音波像および光学的像を同時
に図として表わすことができるばかりでなく、さらに、
光学レンズによって結像された対象物の細部を目視観察
することを可能−ならしめている。これに対応している
顕微鏡は光学的および音波レンズ系を有し、これらの系
は光波と音波(akustischen Wellen
)を同一の焦点面内に結像させそして対象物から反射さ
れ又は対象物を透過して来る変調された光波又は音波を
電気信号に変換する。それからこれらの信号は陰極線管
のスクリーン上において対象物の顕微鏡的像として表現
される。対象物は走査されそしてその際網目模様の如く
焦点面を横切って動かされ、この網目模様は陰極線管の
網目模様と同期している。対象物が動かされない様にな
っている場合もある。この場合には顕微鏡全体が陰極線
管の同期的駆動装置により網目状に動かされなければな
らない。光線分割器を用いることによって陰極線管上に
表現された対象物は、従来の光学顕微鏡による如く目視
的に観察可能である。陰極線管のスクリーン上に図が表
現されている時にはこの様に直接目視的な観察は、対象
物が網目状に動かされているか又は全体の系が網目状に
動かされているため、不可能である。
米国特許第3790281号公報によれば、走査するレ
ーザー光線並びに音波を使用して、動かない対象物を同
時に音波的・光学的試験するための組合された系が公知
になっている。焦点を結ばない波動を用いているため、
この装置を用いては、いささかの拡大も不可能でありそ
して更に、特殊な波模様を形成するため、対象物に結合
し、一部分を反射しそして弾性的に変形可能な中i面が
必要である。この波模様を光学的に走査することによっ
て直ちに音波による像が得られ、音波走査運動は実施さ
れない。
実願昭56−22172号には一つの顕微鏡装置が記載
されており、この装置は光学的および音波的顕微鏡を包
含し、そして基板上に固定的に取付けられている。2つ
の顕微鏡の間には切換え装置が設けられ、斯くして相前
後して光学的および音波的顕微鏡観察が実施可能になっ
ている。対象物の同じ側に配置されている光学および音
波対物レンズを用いて同時に試験を行うことは、この装
置では不可能である。何故ならば音波像の形成のために
は走査運動が必要であり、この走査運動では対象物が動
くからである。
最後に、音波走査顕微鏡と落射光線顕微鏡と組合わせる
ことが公知になっている(ライフ・ミトタイルンゲン、
ヴイッセンシャフト ラント テヒニーク バンド■、
阻3/4、頁61−67 、ウニソラー、1982年5
月(Ll!ITZ−Mitt、Wiss 、u、Tec
hn、Bd、■、Nr、3 /4 、 S 6l−67
Jetzlar 、Mai 1982))。この配置は
、載物机と垂直に作動位置に旋回可能な、音波対物レン
ズを備えた旋回系並びに水平に旋回可能な担持体上に取
付けられた落射光線顕微鏡を有する下部構造を包括して
いる。この顕微鏡は、音波対物レンズを有する旋回系の
代りに対象物上方の作動位置に移されることが可能であ
る。音波および光学顕微鏡は相互に調整されており、光
学顕微鏡で選択された対象物の細部が引続いて何等変わ
りなく音波顕微鏡の像の中に再度見出すことが可能にな
っている。超音波の焦点を用いて対象物を網目状に走査
する際、網目の行の方向の速い運動は質量が一定な対物
レンズに付設され、そして行の方向に直交するゆっくり
した一歩宛の運動は、質量が変化する対象物を有する戴
物机に付設されている。従ってこの装置を用いて対象物
を同時に光学的に試験することは不可能である。
本発明の目的は冒頭に述べたN類の方法を提供し、この
方法は特に質量が等しくなく或いは質量が変化する大な
る装置部材の網目運動の正確な同期なしに実施可能であ
りそしてさらに時間を浪費する対象物の準備と位置決め
を全く必要としないことによってそれ自体の多くの変形
を可能ならしめている。本発明の別の目的に対応してこ
の方法を実施する一つの装置が用意されており、この装
置により、重さや大きさが広い範囲に亘って任意な対象
物を収容して、個々の試験が高い精度で実施可能であり
、斯くして同時的な試験が行われる時、対象物の同じ細
部上に焦点を結ばせそして交互に試験が行われる場合で
も正確な焦点合わせが再現可能になっている。
本発明の方法は上記の目的を次の様にして達成する即ち
対応する数の放射線源を用いて、相異なる1mi類又は
振動数の少くとも2つの放射線を発生し、同時又は相前
後して対象物上に焦点を結び、そして自体公知の手段に
より目視可能に表現し、その際動かない対象物は、相互
に直交する2つの方向に網目状に走査されそして走査の
ため1つの種類の放射線の放射線源だけが動がされる。
相異なる種類の放射線として特に光線レーザー光線およ
び超音波(Ultraschallwellen )を
用いることが可能である。例えば光線と音波(akus
tischer 5trahl)が対象物の同じ側面に
当てられ、その際焦点を結ばせられた光線は対象物の細
部を選択しそして落射光線又は透過光線試験のために用
いられ、この細部はさらに焦点を結ばせられた音波によ
り、相互に直交する2つの方向、即ち網目状に走査され
そしてそれから電気信号に変換された後で目視可能に表
現される。またさらに、相異なる振動数の2つの音波が
相前後して対象物の同じ側面に当てられそして対象物の
1つの範囲を走査してからその範囲に焦点を合わすこと
が可能であり、そのことにより相異なる分解力を持った
音波像が得られる。光学顕微鏡による試験と音波顕微鏡
による試験並びに像の形成とを同時に行うため、光線と
音波とを対象物の相互に向き合った側面に当てそして同
時に同じ対象物細部に焦点を合わすことが可能である。
何故ならば対象物は何時も静止しておりそして音波のみ
゛が走査運動を実施しているからである。本発明の方法
の別の態様においでは、レーザー光線と音波とが対象物
の相互に向き合った側面に当てられそしてその対象物の
細部を同時に試験するためにその細部に焦点を合わせら
れる。この際レーザー光線の走査運動のため、レーザー
光線の光源自体は固定配置可能でありそしてレーザー光
線は、音波による走査運動と同期している方向変換−素
上に向けられている。
この様にして対象物の膨張測定および試験が音波顕微鏡
的観察と共に目視可能になる。
本発明はさらに、互に相補的な若干の顕微鏡的試験を実
施するための装置にも関するものでありこの装置は次の
様な特徴i有しているものである。
即ち1つの基板上に1つの柱体が固定されており、この
柱体は高さを調節可能な回転盤を担持し、この回転盤の
平面は基板に平行になっておりそしてこの回転盤は、種
々異なる顕微鏡的試験装置のための収容装置を少くとも
2つ有しこれら試験装置の観察軸は平行で回転盤の回転
軸に対して等しい距離に位置していること、観察軸が旋
回移動する範囲の基板上には、基板から距離を隔てて対
象物収容装置が設けられていること、および回転盤は停
止位置を有しており□、これらの停止位置では旋回して
その位置に置かれた試験装置の観察軸がその都度、□対
象物収容装置に対して同じ位置にあるという特徴を持っ
ている。この装置は機能的に相互に結合される共通部材
を有する若干間の基本的構造群を用いることにより、相
異なる一連の顕微鏡的試験過程を、同時にまたは相前後
して実施することを可能ならしめ、その際対象物並びに
対象物収容装置はそれらが固定配置されているため、重
さや大きさが広い範囲に亘って変化可能であり、そして
対象物の一定の細部の探索又は同一であることの確認は
簡単な軸承と停止装置を用いて困難なく大なる精度で実
施可能になっている。
柱体はU字形の2つの要素から成り立つのが合目的であ
り、これらの要素の間には、粗動・微動調節によって垂
直方向に動くことが可能な移動部材が配置され、この移
動部材は、予備緊張されているローラー案内装置により
、U字形要素と結合している。このことにより、す速く
移動する粗動調節のほかに、極端に僅かな調節量を有す
る移動部材の遊隙のない移動が、移動部材の任意の位置
で可能になっている。
本発明の装置の有利な形態によれば回転盤が移動部材に
回転可能に支承されそして固定された作業位置から移動
部材と一緒に、そして移動部材の粗動・微動装置と無関
係に持上げることによって固定が解除される。この様社
して対物レンズ又は対象物の破損が確実に避けられる。
何故ならば回転盤の旋回運動は、回転盤が移動部材と一
緒に、作業位置から上方に動がされた後で始めて可能に
なっているからである。この旋回された位置においては
さらに、音波対物レンズの清掃並びにインメルジョン液
体(1mlIlersionsflussigkeit
 )の付着が行われる。
本発明の別の形成に対応して、基板上に、少なくとも1
つの別の顕微鏡的試験装置を固定するための高さ力を調
節可能な案内装置を有する1つの支柱が取付けられ、ε
の試験装置は対象物収容装置の下側に付設されている。
対応する顕微鏡的試験装置が支柱の案内装置およθ回転
盤の収容装置の中に配置されることによって多くの試験
が実施されそして次の例が示す様な組合わせが実施可能
である。
1)光学顕微鏡による個々の試験 (al 一定の対象物の細部禿探索しそしてそれに焦点
を合わせるため並びに音波像の付加的な解釈のため、回
転盤の収容装置に落射照明顕1*鏡が挿入され、この顕
微鏡は、対応する照明装置によって、 明視野像 暗視野像 偏光による像 螢光による像および 干渉コントラスト像 を従来通りに結像することができる。
(bl 透過光線による試験のため、対象物面の上方の
回転盤の収容装置の中に1つの顕微鏡が挿入されそして
、対象物面の下方の支柱の案内装置には、照明装置と組
合わされた種々異なるコンデンサーが取付けられ、この
ことにより、前同様に、明視野、暗視野、偏光および干
渉顕微鏡の公知の方法が行われる。
(Q) 落射光線による試験にも透過光線による試験に
も使用可能にするため、対象物収容装置の下方の支柱の
案内装置に、この案内装置に付設されている顕微鏡が配
置可能になっている。この顕微鏡は、回転盤に設けられ
た収容装置に挿入された照明装置と組合わされて透過光
線による試験に、又は、オパークイルミネーター(Op
akilluminat。
rs)を使用した時には、落射光線による試験に使用可
能になっている。焦点合わせのための上下方向の調節は
、倒立した顕微鏡全体が、支柱の案内装置の粗動・微動
調節装置によって動かされる。
2)音波顕微鏡による個々の試験 − (al 必要な場合には対象物の細部が前辺て光学的に
探索されそして確認されている対象物を音波によって試
験するため、音波対物レンズを有する音波顕微鏡装置の
頭部□が回転盤に設けられた収容装置の中に挿入される
。音波対物レンズは音波源としても、焦点を合わされた
音波の受信器としても役立ち、像を形成するためには対
象物の細部を計画的に網目状に走査することが必要であ
りそして構造と作動態様は公知のものである。
像を形成している開停止している対象物を走査するのは
、全ての音波による試験において、本発明の重要な特徴
として、専ら音波対物レンズを相互に直交する2つの方
向に、次の記述においてX−y振動子と呼ばれている装
置を用いて運動させることで行われる。この装置は西ド
イツ国特許公開第3135180号公報により公知のも
のであり、従ってここでは音波対物レンズと関連して機
能態様を簡単に述べるだけで十分である。
x−y振動子は本質的に、音波対物レンズのy方向の運
動のための内部振動子系とX方向の運動のための外部振
動子系から成立っている。内部振動子系は対象的な連結
棒伝動装置として形成されており、そのことにより該伝
動装置と固く結合されている音波対物レンズは直線上を
動かされる。
大なる振動数によって発生する振動は動力学的質量の平
衡によって補償され、その際反対方向に動く質量の運動
は振動運動に対して180°だけ位相がずれている。音
波対物レンズのX方向の一歩宛の運動のためには、外部
振動子系としてばね平行四辺形振動子が用いられている
。双方の振動子系を駆動するのはボイスコイル振動子に
よって行われ、その際、内部振動子系の運動が方向変換
する間に正確な量だけ移動させなければならない大なる
質量のため、外部振動子系にはそれに対応する強力な振
動子又は2個の振動子が使用されている。駆動系を操作
するため発光ダイオードおよびフォト差動ダイオードが
用いられる。これら振動子装置を用いて、一方では操作
装置と結合している測定系により、運動の大きさが大な
る精度で変化させられ、他方では振動運動の運動方向が
変換される間に1歩宛の運動が実施される。
(b) 回転盤の収容装置の中に、相異なる振動数の音
波対物レンズを有する音波顕微鏡装置の2つのヘッドが
挿入されたとすれば、本発明の装置を用いて、大なる解
像力を有するが侵入の深さが少ない音波顕微鏡の像と小
なる解像力を有するが侵入の深さが大なる音波顕微鏡の
像とを速く交換することが可能である。この際この交換
は±5μmの位置決め精度で実施可能であることが示さ
れており、そのことにより試験と評価は事実上正確に同
し対象物細部の所で行われる。製造公差が比較的僅かで
ある場合には、音波対物レンズの交換は、同じx−y振
動子を用いて、直接行われることも可能である。
3)光学顕微鏡による試験と音波顕微鏡による試験を同
時的に行うこと (al この同時試験は、回転盤の収容装置に音波顕微
鏡装置の頭部が挿入されそして倒立構造の光学顕微鏡が
対象物面の下部の支柱に設けられた案内装置に取付けら
れた時に実施可能である。試験されるべき対象物はその
際対象物収容装置に配置されそしてこの収容装置のx−
y変位装置によって位置決めされる。試験が行われてい
る間対象レンズ収容装置と対象物とは共に動かされない
で静止しており、この際対象物は音波対物レンズによっ
てすでに前述した態様で網目状に走査される。
対象物の表面の下方を音波的に試験するため侵入の深さ
を精密に調節するため移動部材の微動装置が用いられる
。その際光学顕微鏡による試験は落射照明によって行わ
れ、そのPi 1 a )項において記載した結像過程
のすべてが可能である。
(bl 必要な場合には光学顕微鏡も回転盤の一つの収
容装置に挿入されそして音波顕微鏡装置の頭部が支柱の
案内装置に配置可能であることは明らかである。
4、その他の変形 (a)2つの音波顕微鏡装置の頭部を同時に使用するこ
とは透過法による試験を可能ならしめる。
対象物の一方の側面に配置された装置の頭部はこの際超
音波用発信器として作用し、そして反対側の側面に配置
された装置の頭部は受信器として使用され、その際双方
のx−y振動子は同期的に動かされる。
Tb13a)項および b)項に記載した光学結像系の
代わりにレーザーパルス装置も使用可能であり、そのこ
とにより光学・音波による試験(photoakust
ische Untersuchung)が実施可能で
ある(欧州特許第0012262号公報)。レーザー装
置は支柱の案内装置に取付けられるか又は、倒立構造の
顕微鏡を使用する場合にはその顕微鏡の鏡筒収容装置に
配置されることが可能である。何れの場合にもレーザー
光線の光源は動かず、そしてレーザー光線による網目状
の走査は、例えば走査ミラーき如き、方向変換要素によ
って行われ、このミラーの運動はx−y振動子の運動と
同期している。
この際、音波の信号が対象物細部から得られた瞬間に、
その都度この細部はレーザーパルスによって照射されて
いる。個々の方法によって得られた顕微鏡による像を表
現し図に示すための公知の手段として、残光スクリーン
を有するオッシログラフ表示系並びにアナログ的又はデ
ジタル的な像記憶装置が結合している通常のテレビモニ
ターが使用される。
本発明のその他の詳細は、添付図に略図によって示され
ている若干の実施例を説明する次の記述によって明らか
にされる。
第1および2図に示した実施例において基板10の上に
、0字系の2個の要素から成立っている柱体11および
対象物収容装置12が取付けられている。柱体11は垂
直に動くことが可能な移動部材13のための案内を形成
し、この移動部材は後で詳細が記述されている構成要素
を用いて回転盤14を担持し、この回転盤の平面は基板
10に対して平行になっている。回転盤14には、それ
ぞれ90°だけずれた停止位置に、種々異なる顕微鏡試
験用装置を取付けるための収容装置15(唯1個のみ図
示)が設けられており、その際これら試験用装置の観察
軸16,16”は平行でありそして回転1)i14の回
転軸17から等距離に位置する。この実施例では収容装
置15に、落射光線顕微鏡による試験のための光学顕微
鏡装置18および使用位置外に旋回させられた音波顕微
鏡装置19が、反射する超音波を用いて、引続いて次に
観察するために取付けられている。光学顕微鏡装置1B
は主として双眼接眼鏡筒20並びに対物レンズレボルバ
−21に取付けられた1つの対物レンズ22を包含しそ
してそれ自体公知のものであり、従って詳細な記述は無
用である。暗示的に示された音波対物レンズ23を有す
る全体が示されている音波顕微鏡装置19についても同
様であり、この際この装置は重要な構成部材として振動
子とそれの駆動装置とを包含しそして対物レンズ23は
同時に超音波送信器および受信器としての役目を果たし
ている。
対象物収容装置12は担持枠24上に配置され、この担
持枠は基板10上に取付けられておりそして対象物25
を収容しそしてx−y座標上で位置決めするのに役立っ
ている。試験問題によっては対象物収容装置12として
種々異なるそれ自体公知の載物机、例えば標準机又は回
転−および心出し可能で座標と角度値記憶装置を備え並
びに加熱戴物机のための収容穿孔を備えた十字動載物机
が用いられることが可能であり、その際載物机6駆動は
モーター又は手動により行われることが可能になってい
る。
第3図に示されている実施例は、第1および2図に示さ
れた実施例とは、主として、双眼接眼鏡筒20′を有す
る光学顕微鏡装置の配置によって区別され、この顕Ik
鏡装置は倒立顕微鏡として基板10に取付けられている
支柱26に収容されそして案内27の中で、この図には
示されていない粗動・微動調節装置により、上下に移動
可能になっている。対物レンズ22゛を有する対物レン
ズレボルバ−21゛は、対象物収容装置12の下部の、
担持枠24の内部の自由空間に存在している観察軸16
゛には公知の態様で反射鏡2Bが配置されている。この
場合、回転盤14の1つの収容装置15にはコンデンサ
ー30を有する照明装置29が取付けられ、一方、別の
収容装置15゛ に取付けられている音波顕微鏡装置1
9は使用位置外に旋回させられている。この配置によっ
て光学顕微鏡による試験が落射照明によっても透過照明
によっても可能であり、並びにそれに引続いて音波顕微
鏡による観察が可能になっている。
第4図に示されている実施例では、光学顕微鏡装置18
゛ は前同様に倒立顕微鏡から成立っている。音波顕微
鏡による試験を同時に実施するため、すでに前述した様
に、対象物25をx−y方向に対物レンズ23で走査す
るための、この図には表現されていない駆動装置を備え
た音波顕微鏡装置19が使用位置の所に旋回させられそ
して対象物の反対側の面の上方に配置される。
第5図に示されている配置により光・音波的試験(ph
otoakustische Untersuchun
g)が実施可能になっている。倒立顕微鏡の形の光学顕
微鏡装置18°の代わりに、この実施例では支柱26に
レーザー装置31が上下に調節可能な如く配置され、そ
の際音波顕微鏡装置19がレーザー装置に向き合って同
時に駆動位置に存在しているレーザー装置31から放射
される脈動するレーザー光線は走査鏡32によって対象
物25の下側の面上に向かって反射され、その際走査鏡
32は、音波顕微鏡装置19の中の振動子の運動と同期
させられて動き、斯くしてレーザー装置31が固定され
ている場合でも対象物25はレーザーパルスによって網
目状に走査される。 第6図において断面図で示されて
いる配置では、基板の上面に取付られている柱体11を
有する基板1oが再度示されており、この柱体の中で移
動部材13が垂直に導かれている。案内装置としては遊
隙を避けるため予備緊張させられた球軸承40が用いら
れている。移動部材13の上には、1つのフランジ41
が、軸方向軸承42、円錐ローラー軸承43並びに締め
付はリング44を用いて回転可能に取付けられている。
フランジ41は、この図には示されていない顕微鏡試験
装置を有する回転盤14の収容装置15゜15° と、
例えばねし止めにより固く結合されそして、下方に向か
って延長している円筒形の管部45を有している。此の
管部は1つの連行ピン46および1つの球軸承47を用
いて軸承リング4日と回転不可能に結合されている。球
軸承47は支えリング49によって担持されている。軸
承リング48には支えピン50が挿入されており、これ
らの支えピンによって軸承リング48は皿51上に載せ
られている。皿51には垂直な阻止ピン52が挿入され
ており、これらの阻止ピンの上方部分は軸承リング48
の中に導入されている。別の長いピン53は移動部材1
3と皿51との間に挿入されておりそして皿51の周縁
部分を貫通している。
皿51は下方に向かって延長している円筒状の突出部5
4を有し、この突出部は外側ねじ55並びに上方部分に
内側ねじ57を有する中心部の孔56を有している。孔
56の中には雄ねじ軸58が導入されそして内側ねじの
中で垂直方向に変位可能になっている。雄ねじ軸58の
上端は、皿51の中心のリング状の切欠き部分59から
突出しそして支えリング49の板面に接触している。雄
ねじ軸58の内部には六角形の棒60が同軸的に配置さ
れている。この棒は基板10を貫通して下方に導かれそ
してこの図には詳細に示されていない態様でモーターに
より又は手動によっても駆動雄ねじ棒58の円筒状延長
部分がフランジの中心軸61としてフランジ41を貫通
し、この延長部分の下端は支えリング49に支承されそ
して上端はフランジ41に支承されそし2つのロックナ
ツト62によってフランジに保持されている。
突出部54の外側ねじ55にはウオームホイール63が
嵌り、このウオームホイールはウォ−ムロ4によって球
軸承G5を介して回転可能な如く軸承要素66に取付ら
れていおり、斯くして皿51を担持している。突出部5
4の下端にはねしリング67が取付けられている。
軸承要素66には上部球軸承7oが取付けられており、
これらの球軸承の外側のリングは、僅かに楔状に形成さ
れている移動要素71上に載っており、この移動要素は
他方では下部球軸承72上に支えられておりそしてその
ことにより、この図には示されていない駆動装置を用い
て外部から水平に移動可能になっている。支承要素66
の一端は板ばね平行四辺形73に固定されそして案内さ
れており、この平行四辺形の他端は中間板74を用いて
基板10に取付られた垂寧な担持体75上に保持されて
いる。移動要素71が遊隙なしに運動させられるため、
この移動要素には引張りばね76が取付けられ、ばねの
他端は担持体75にかけられている。移動要素71を直
線状に導くのは、この移動要素の内部に挿入された案内
ピン77によって行われ、この案内ピンの他端は担持体
75に固定されている。
柱体の配置の機能態様を次に述べるに当たって、回転盤
14が第6図に示されている作動位置にある所から出発
しよう。この位置においては回転盤14の旋回運動は不
可能になっている。何故ならば一方では軸承リング48
は、連行ピン46によりフランジ41と相互、回転不可
能に結合されておりそして他方では軸承リング48は垂
直な阻止ピン52によって回転を阻止されているからで
ある。
この様、にして回転盤14の旋回により対物レンズと対
象物との接触又はこれらの破壊が確実に阻止される。こ
の作動位置においては配置の粗動調節も微動調節も行わ
れるが、このことに関しては後述する。
回転盤14をそれぞれ90”だけずれている停止位置に
旋回させるための垂直方向のす速い変位は、六角形の棒
60を駆動することにより行われ、そのことにより孔5
6の中の雄ねじ軸58は円筒形の突出部54の内側ねじ
57の中で上方に向ってねじ回される。その際球軸承4
7を担持する支えリング49は、連行ピン46を有する
軸承リング48、締め付リング44、軸方向軸承および
円錐ローラー軸承42.43を有するフランジ41およ
びこれらと共に移動部材13および回転Ju14を持ち
上げる。軸承リング48の下の縁が阻止ピン52の上端
を超えた位置にきた時開放位置に到達し、それから雄ね
じ軸58並びに上記した構成部材の上方に向う運動は突
出部54の孔56の内部にある内部衝当て78によって
制限される。
この位置では回転盤14は、移動部材13の内部のフラ
ンジ41の中心軸、軸方向軸承42および円錐ローラー
軸′承43の中心軸61のまわりに、90°宛ずれた停
止位置に旋回可能であり、この際移動部材13と皿51
との間の回転阻止は、双方の間に配置されている長いピ
ン53によって維持されている。
回転盤14の下向きの運、動はこの際停止位置において
のみ可能である。何故ならば、中間位置においては軸承
リング48の下側が阻止ピン52に衝当たりそしてこの
部材の下方に向う運動を阻止しているからである。回転
盤14の新らしい停止位置に到達した後で、六角形の棒
60を反対向きに駆動することによって、回転ff11
4は、構成部材(13および4l−49)と共に下に降
ろされ、その際阻止ピン25は軸承リング4日を再び収
容しそして前述した状態に再び戻る。その際この降下運
動の下方の衝当ては支えピン50によって形成されてお
り、これらの支えピンは皿51に衝当る。
予備的焦点合わせのための粗動調節は停止位置において
ウオーム64を作動させることで行われ、外側に導き出
されている、それ自体公知であり従ってこの図には示さ
れていないウオームの駆動装置は手動又はモーターによ
って駆動可能になっている。ウオーム64を作動させる
こと嵯よって支承要@66の内部に固定されているウオ
ームホイール63は球軸承65を介して回転させられそ
して突出部54の外側ねじ55に嵌合することによって
移動部材13の内部で151を垂直方向に動かす。皿5
1はこの運動を支えピン50を介して軸承リング48、
フランジ41並びに回転盤14に伝え、斯くして84に
鏡試験装置に伝える。図示の実施例では垂直方向の粗動
調節行程は40龍になっている。この行程はねじリング
67とウオームホイール63の衝当て面としての下端の
面で制限される。
微動調節のためには、この図には示されそいない駆動装
置、例えば雄ねじ棒とナツトを用いて、僅かに楔状にな
っている移動゛要素71が、軸承要素66に取付けられ
ている上部球軸承70と板79上に配置されている下部
球軸承72との間を水平方向に移動させられ、この際、
板79は基板10の上に取付られている。移動要素が遊
隙なく運動するため引張ばね79が用いられ、そして移
動要素を直線状に案内するため案内ピン77が用いられ
ている=移動要素71が水平方向に運動することにより
軸承要素66が垂直方向に動き、この軸承要素は板ばね
平行四辺形73に結合している。
軸承要素66の運動は再び皿51および軸承リング48
を介してフランジ41並びに回転1114に、粗動調節
の場合と同様に伝えられる。微動調節は、上方において
は、軸承要素66に取付けられた衝当て細条80.と覆
い板81とにより制限される。
この覆い板は収容板82の上端に固定されており、この
収容板の1つの開口83を通って微動調節のための駆動
装置が外部に導き出されている。この微動調節はこの際
、±0.1論の行程を持ち0゜1μ貫を分解する。
上記した粗動・微動調節装置はまだ対象物収容袋N1′
2の下側に付設され支柱26の案内に取付られた顕微鏡
試験装置の垂直方向の運動にも使用可能である。別々な
軸上に設けられている上記粗動・微動調節装置の代わり
に、特に手動調節の場合に、2つの粗動・微動調節装置
を共通な1つの軸上にそれ自体公知の如き態様で設ける
ことも可能である。さらに進んで自動化の場合そして特
にモーターによる装置の調節が行われる場合には、上記
した様な衝当ての代わりに端末スイッチが使用可能であ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は光学顕微鏡を用いる試験と音波顕微鏡を用いる
試験とを相前後して実施するための本発明による装置の
第一の実施例の側面略図、第2図は第1図の装置の平面
図、第3図は倒立顕微鏡を使用した本発明の第1図に示
した装置の別の実施例、第4図は光学顕wI鏡を用いる
試験と音波顕微鏡とを用いる試験とを同時に実施する本
発明の装置の第三の実施例の側面略図、第5図はレーザ
ー装置を用いた第四の実施例、第6図は本発明による装
置の焦点調節装置の機械的構造の原理を示す断面図であ
る。 10・・・基板 11・・・柱体 12・・・対象物収容装置 13・・・移動部材14・
・・回転i 15,15’ ・・・収容装置16.16
”・・・観察軸 17・・・回転軸18.18’ ・・
・光学顕微鏡装置 19・・・音波顕微鏡装置 25・・・対象物26・・
・支柱 27・・・案内 29・・・照明装置 31・・・レーザー装置41・・
・フランジ 48・・・軸承リング49・・・支えリン
グ 51・・・血 54・・・突出部 55・・・外側ねし58・・・雄ね
じ軸 61・・・中心軸63・・・ウオームホイール 64・・・ウオーム 66・・・軸承要素70・・・球
軸承 71・・・移動要素72・・・球軸承 73・・
・坂ばね平行四辺形75・・・担持体 79・・・板

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)1つの対象物に関して互に相補的な若干の顕微鏡
    的試験を実施するための方法において、対応する数の放
    射線源を用いて、相異なる種類又は相異なる振動数の少
    くとも2つの放射線が発生させ、同時に又は相前後して
    対象物上に焦点を結ばせそして確立された手段によって
    目視可能に表現し、その際動かない対象物は、相互に直
    交する2つの方向に網目状に走査されそして走査のため
    1つの種類の放射線の放射線源だけが動かされることを
    特徴とする方法。 (2)同じ対象物細部を相前後して試験するため、対象
    物の同一側で焦点調整をしそして引続いて落射照明試験
    を行うため光線投射し、並びに音波を投射し、その際音
    波は対象物細部を相互に直交する2つの方向に走専する
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の方法。 (3) 同一の対象物細部を相前後して試験するため、
    対象物の反対側の側面で焦点調整をするためそして引続
    いて透過照明試験のために光線を投射し並びに音波を投
    射り、+の際音波は対象物細部を相互に直交する2つの
    方向に走査することを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の方法。 (4)相異存る振動数の2つの音波を対象物の同じ側に
    投射し、これらの音波により対象物が走査されることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の方法。 (5) 同一の対象物細部を同時に試験するため、1つ
    の光線と1つの音波とを、対、象物の互に反対側の側面
    に投射し、その際音波は対象物細部を相互に直交する2
    つの方向に走査することを特徴とする特許請求の範囲第
    1項記載の方法。 (6) 同一の対象物細部を同時に試験するため、1つ
    のレーザー光線と1つの音波とを、対象物の互に反対側
    の側面に投射し、その際音波は直接に対象物細部を、そ
    してレーザー光線は反射した後に音波と同期的に対象物
    細部を、相互に直交する2つの方向に走査することを特
    徴とする特許請求の範囲第1項記載の方法。 (7)1つの基板(10)上に垂直に1つの柱体(11
    )が固定されており、該柱体は高さを調節可能な回転盤
    (14)を担持し、この回転盤の平面は基板(10)に
    平行になっており、そしてこの回転盤は、複数の異なる
    顕微鏡的試験装置のための収容装置(15,15″)を
    少くとも2つをし、前記試験装置の観察軸(16,16
    ’ )は平行で回転盤(14)の回転軸(17)に対し
    て等しい距離に位置していることと、基板(10)上の
    観察軸(16,16’)が旋回移動する範囲に基板から
    距離を隔てて対象物収容装置(12)が設けられている
    ことと、および回転盤(14)は停止位置を有しており
    、これらの停止位置では旋回してその位置に置かれた試
    験装置の観察軸(16,16’)がその都度、対象物収
    容装置(12)に対して同じ位置にあることを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項乃至第6項に記載の方法を実施
    するための装置。 (8) 柱体(11)は2つのU字形の要素から成り、
    これらの要素の間には、粗動・微動調節によって垂直方
    向に動くことが可能な、回転盤(14)を担持している
    摺動部材(13)が配置され、この摺動部材は、予備緊
    張されている球軸承(40)により、U字形要素と連結
    していることを特徴とする特許請求の範囲第7項記載の
    装置。 (9) 回転盤(14)は摺動部材(13)に回転可能
    に支承されそしてロックされた作業位置から摺動部材(
    13)と−緒に、そして摺動部材の粗動・微動関節とは
    無関係に急速位置調節することによってロックが解除さ
    れることを特徴とする特許請求の範囲第8項記載の装置
    。 a(Il 基板(10)上に、少なくとも1つの別の顕
    微鏡的試験装置を固定するための高さが調節可能な案内
    装置(27)を有する1つの支柱(26)が取付けられ
    、この装置は対象物収容装置(12)の下側に付設され
    ていることを特徴とする特許請求の範囲第7項記載の装
    置。 (11)高さが調節可能な案内装置(27)には照明装
    置(29)と、レーザー装置(31)と、音−波R微鏡
    装置(19)又は光学顕微鏡装置(18′)とが倒立光
    学顕Ik鏡を形成し才取付は可能になっていることを特
    徴とする特許請求の範囲第10項記載の装置。 (12)回転盤(14)の収容装置(15,15’)に
    光学顕微鏡装置(18)と、照明装置(29)と、レー
    ザー装置(31)又は音波顕微鏡装置(19)とが挿入
    可能であり、その際音波顕微鏡装置には対象物(25)
    を直線状に走査するための駆動装置が連結していること
    を特徴とする特許請求の範囲第7項から第11項までの
    うちのいずれか一つに記載の装置。 (13)摺動部材(13)上では回転ff1(14)と
    固く結合したフランジ(41)が、支えリング(49)
    の上の前記フランジと相互回転不可能に結合されている
    軸承リング(48)と−緒に、停止位置から持上げられ
    た後で中心軸(61)のまわりに回転可能になっている
    ことと、軸承リング(48)は停止位置において皿(5
    1)上に相互回転不可能に載っており、この皿は、中心
    軸(61)に対して同心的に延在するスピンドル(58
    )の高さ調節のための垂直突出部(54)を有し、前記
    スピンドルの上端は支えリング(49)を支えているこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第8項から第12項まで
    のうちのいずれか一つに記載の装置。 (14)皿(51)の突出部(54)は雄ねじ(55)
    を備えており、該雄ねしには、ウオーム(64)により
    回転可能な如く軸承要素(66)に固定されているウオ
    ームホイール(63)が嵌っていることを特徴とする特
    許請求の範囲第13項記載の装置。 (15)微動調節のため、(さび状に形成された摺動要
    素(71)が、軸承要素(66)に取付けられた上部球
    軸承(70)と下部球軸承(72)の間で水平に移動可
    能な如く案内されており、その際下部球軸承は基板(1
    0)に固定されている板(79)に配置されておりそし
    て軸承要素(6G)は扱ばね平行四辺形(73)の一端
    に保持されており、板ばね平行四辺形の別の端は基板(
    10)に取付けられた担持体(75)に結合されている
    ことを特徴とする特許請求の範囲第7項から第14項ま
    でのうちのいずれか一つに記載の装置。
JP59194093A 1983-09-30 1984-09-18 互に相補的な若干の顕微鏡的試験を実施するための方法および装置 Pending JPS6093411A (ja)

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DE3335480.4 1983-09-30
DE19833335480 DE3335480A1 (de) 1983-09-30 1983-09-30 Verfahren und vorrichtung zur durchfuehrung mehrerer einander ergaenzender mikroskopischer untersuchungen

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ID=6210544

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JP59194093A Pending JPS6093411A (ja) 1983-09-30 1984-09-18 互に相補的な若干の顕微鏡的試験を実施するための方法および装置

Country Status (4)

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US (1) US4611493A (ja)
EP (1) EP0139967B1 (ja)
JP (1) JPS6093411A (ja)
DE (2) DE3335480A1 (ja)

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DE3335480A1 (de) 1985-04-18
EP0139967A3 (en) 1985-06-12
EP0139967A2 (de) 1985-05-08
EP0139967B1 (de) 1987-11-11
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