JPS6084717A - 液晶用透明電極形成方法 - Google Patents

液晶用透明電極形成方法

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Publication number
JPS6084717A
JPS6084717A JP15772683A JP15772683A JPS6084717A JP S6084717 A JPS6084717 A JP S6084717A JP 15772683 A JP15772683 A JP 15772683A JP 15772683 A JP15772683 A JP 15772683A JP S6084717 A JPS6084717 A JP S6084717A
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JP
Japan
Prior art keywords
electrode
liquid crystal
conductive film
transparent
transparent electrode
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Pending
Application number
JP15772683A
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English (en)
Inventor
山田 明孝
憲 石川
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は透明電極の形成方法に関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
最近、液晶を利用した表示装置(以下LCD )が広く
用いられている。聞知のごと(、LCDは2板の透明電
極の間に液晶材を入れ、この電極間に電圧を印加し液晶
の光学的特性をかえることにより。
表示を行うものである。電極のバタンとしては。
コンピュータやTV表示用のドツトマトリックス方式(
ドツト表示のもの)や、ある特定の図柄を表示するもの
などがある。これらのLCD用電極は、ガジスなどの透
明絶縁物基板上に、透明SW、体であるインジウムやチ
タンの酸化物を厚さ1000〜5000Aで全面に薄膜
状に形成した後、ホトレジスト剤をその上に全面塗布し
、別に用意した、電、極パタンを有するマスクを通して
露光し、化学コッテングにより所定の電極パタンを得て
いた。
このようなホトエツチング法では工程数が多いうえ、L
CDが大形化するにつれ、露光やエツチング液の温度、
濃度均一性などが困噺(になっている。
このような方法で例えば全長300順にわたり、数十μ
m幅の透明電極除去ラインを1順当数ライン得ようとす
ると、その歩留りは非常に低くなっているのが現状であ
る。また、細い電極除去ラインを長い距離にわたって形
成する場合は細いラインTに極のみ残して、他の残余の
部分はエツチング液+Iで全面積にわたって除去してい
た。
このような方法においてはエツチングする部分の幅を広
くすることでエツチング工程におけるエツチング残しに
よる不良品の発生をおさえることをしていた。しかし微
細幅のノくターン部分においてエツチング残しの部分が
生じ易く歩留り向上が困難であった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は多数−の工程を必要することかく電極を
形成し、電極形成の生産性9歩留り向上させる方法を提
供するにある。
〔発明の概要〕
透明絶縁基板上に形成した透明導電膜に対し絶縁に必要
な部分をレーザ光で蒸発させ、液晶電極表示用の電極を
形成するようにしたものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明を第1図〜第3図に基づき説明する。
第1図は本発明を実施するための装置を示す。
(1)は連続励起QスイッチYAGレーザ装置(以下Q
スイッチレーザとする)で、そのQスイッチ発振は制御
部(2)でコントロールされている。連続励起Qスイッ
チYAGレーザ(1)から出射されたレーザ光(L)は
反射鏡(3)を介し集光レンズ(4)によって、X−Y
テーブル(5)上に置かれた全面透明導電薄膜(6)付
のガラス基板(7)(以下基板とする)上の所定部分に
集光照射され、透明導電薄膜(6)の一部を除去する。
X−Yテーブル(3)は制御部(2)によってコントロ
ールされ、所定のプログラムによって、Qスイッチレー
ザ(1)と同期して、基板(5)上の任意の位置に集光
照射できるようになっている。基板(4)は、 YAG
レーザ光(波長1.06μm)に対し、吸収は数%のみ
でほとんど透過するが、集光レンズ(4)を用い、レー
ザ照射密度をあげることにより、透明導電膜(6)のみ
蒸発除去することができる。焦点距離t o o mm
のレンズで焦点はずし距離+0.1間に設定した時、幅
20μm、走査スピード〜300”/sでエツジ部の盛
りあがりやスプラッシュの全くないt[f、極形成がで
きた。レーザ照射によって除去されブこ場所を、X線マ
イクロアナライザで調べると、透明導電膜(6)成分の
残留は全くなく、ガラス基板にもクラック等の損傷は見
られなかった。20μmの除去幅をはさんだ導電膜の電
極間の電極抵抗も10MΩ以上の値が得られた。
電極パタンの一例としてあげた第2図に示す形状のもの
では(8)は、電極として残すところであり、他は除去
すべきところである。従来方法では透明導電膜(6)の
(9)、(lυで示すとζろまで除去していたが、レー
ザ照射による電極形成方法では(1Gで示される幅20
μm程度の電極形状にそったライン除去をレーザ照射に
より行うだけでよい。このようKすることにより、周辺
部の透明導電薄膜があっても電圧が印加されないため1
表示には影響を与えない。上記の従来除去していた部分
の周辺部に沿ってレーザ照射し、絶縁ラインをもうけ、
周辺部全体を除去しない方法は第3図に示すような表示
パネルのサイズに比較し、電極として残す表示部分が小
さい図柄圓表示の場合さらに有効である。
上述の方法はX−Yテーブルを使用し、ワーク移動によ
り電極形成したものであるが、ガルバ一式ビーム走査方
式を用いても同じような効果が得られる。また、レーザ
光を集光、照射する方法では、ガラス基板側から照射し
ても透明電極の加工ができるため、電極ガラス基板をは
りあわせた後の追加加工にも利用でべろ。
〔発明の効果〕
以上、詳述したように本発明によれば、透明電極の形成
を最少限の加工で行え、従来のようなホトエツチング法
に比べ、工程の簡略化が達成でき、生産性1歩留りが大
巾に改善できた。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を実施するだめの装置の一例を示す模式
図、第2図は本発明の実施で得られた表示装置の一例を
示す斜視図、第3図は他の表示装置の例を示す斜視図で
ある。 (1)・・・QスイッチYAGレーザ装置(2)・・・
制御部 (6)・・・透明導電薄膜 (7)・・・ガラス基板

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 透明絶縁物基板上に薄膜の透明導電膜を形成する工程と
    、上記透明絶縁物基板の表・連間のいずれか一方からレ
    ーザ光を集光照射し電極間導電膜の絶縁に必要な部分の
    透明導電膜を蒸発し残余の透明導電膜を除去せずに広い
    導電膜の一部に局部法。
JP15772683A 1983-08-31 1983-08-31 液晶用透明電極形成方法 Pending JPS6084717A (ja)

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