JPS607738A - 半導体装置の製造方法及びその製造装置 - Google Patents
半導体装置の製造方法及びその製造装置Info
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- JPS607738A JPS607738A JP11505383A JP11505383A JPS607738A JP S607738 A JPS607738 A JP S607738A JP 11505383 A JP11505383 A JP 11505383A JP 11505383 A JP11505383 A JP 11505383A JP S607738 A JPS607738 A JP S607738A
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- carrier
- positioning
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- welding
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K31/00—Processes relevant to this subclass, specially adapted for particular articles or purposes, but not covered by only one of the preceding main groups
- B23K31/02—Processes relevant to this subclass, specially adapted for particular articles or purposes, but not covered by only one of the preceding main groups relating to soldering or welding
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Die Bonding (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
(イ) 発明の技術分野
本発明は、IC(集積回路゛)パッケージの溶着方法及
びその溶着装置に関し、特にセラミック環の基板と封止
キャップとからなるセラミ・ツクパッケージの溶着方法
及びその溶着装@に関するもの−である。尚、こ\で、
リードベースとけセラミック基板上にリードフレームと
ICチップが固着され、これら両者間がワイヤボンディ
ングされた組立体のことケいう。 (ロ)技術の背景 第1図は、−例として、セラミック環の基板11上に、
リードフレーム(平面状に展開し1ζ状態で示す)12
が低融点ガラス等の溶着剤を介して固着され、中央部に
ICチップ13が搭載固着され、さらにリード12a(
この場合、左右合計14本構成)とICチップ13間に
ボンディングワイヤ14 ゝ −4←−歩が拳弥づ→・
が接続された状態を示す平面図である。尚、第1図の符
号DI−j:リードフレーム12の折9曲げ線を示す。 第2図は第1図のC−σ綜(川面図(但し、リードフレ
ーム12に折り曲げ1c状態)であり、符号15は低融
点ガラスを示す。尚、水門1!ill書においては、第
2図に示すように形成された組立体のことを、前述した
ように、リードベース10と呼ぶことにする。第3図は
、一部を切欠断面で示す封止キャンプ16の斜視図であ
り、符号15u低融点ガラスを示す。第4図は第2図に
示すリードベース10上に、第3図に示す封止キャップ
16を低融点ガラス15fr介して溶着した状態、すな
わち、ICチップ13に気密封止した状態ケ示すICパ
ッケージ9の断面図である。しかしながら、この種のパ
ッケージにおいては、基板11とキャップ16の溶着状
態が、第5図に示すように、横ずれ状態、あるいは、第
6図に示すように、回転ずれ状態で溶着される場合があ
る。この工うな溶着状態は、信頼性の低下、商品価値の
低下等會招くので好ましくない。従って、このような溶
着状態を招くことなく、しかも合理的にキャップ16を
溶着することが可能な溶着方法及び装置が要望されてい
る。 (ハ)、従来技術と問題点 第7図と第8図はそれぞれ従来のキャップ溶着用治具全
示す斜視図(いずれも要部のみ示す)である。尚、これ
ら両図において、前出011図から第6図に示す部分と
同一部分には同一符号が付されている。 第7図において、符号21は位決め治具を示す。 この治具21は、長方形の板部材に長手方向に沿って複
数個のキャップ挿着穴21aが設けられ、さらに、これ
ら挿着穴21aの長手方向端部に隅接して位置法めピン
21b、21cがそれぞれ固設されている。さて、キャ
ップ16とリードベースlOの挿着手順は、先づ、挿着
穴21aに、キャップ16を開口を上向き(逆向き)に
して挿入し、次に、リードベース1(l下向き(逆向き
)にしてキャップ16上VC7ff、ね合せると同時に
リードフレーム12に設けられた位置決め穴12b。 12c’iそれぞれビア 21.1)−、21c lf
c挿着挿着シア終了。従って、基板11u!J−ドフレ
ーム12を介して位置決めされる。このようにして、複
数組のキャップ16とリードベース!0を装填した治具
21を加熱炉(図示なし)内に搬入して所定温度で加熱
し、低融点ガラス(第4図、符号15参照ノヲ溶融して
キャップ16とり−ドベース10に互に溶着することに
J、!l)l[cチ・ツブ13が封止される。リードフ
レーム12は形状寸法がかなり高精度に加工できるので
、基板]、1の位置決めは比較的良好な精度で行うこと
ができる。しかし、キャップ16は、セラミック等の材
料から形成されるため、加工誤差(公差)が必然的に大
きくなる。すなわち、キャップ16は粘土状で所定形状
に成形してから焼き固めて製作するため、加熱時にけす
る収縮が:の誤差が大きく、この結果、加工誤差が大と
なる。’a=て、治具21に設けるキャップ挿着穴21
aは太き目の寸法(大き目のキャップ16も挿着可能に
する7ζめ)に形成されている。このため、小さ目のキ
ー・ツブ16を挿着した場合は、挿着穴21aとキャッ
プ16間に遊びが生じてキャップ16’(r正規位置に
正確に位置決めすることがきわめて困難である。この結
果、この従来例においては、前出の第5図と第6図に示
すような、横ずれ状態、回転ずれ状態で溶着される場合
が多い。また、この従来例は次のような問題点がある。 すなわ゛ち、この種のリードベース10(及びキャップ
1G)kゴ形状寸法が異なる多動類のもの(例えばリー
ド12aか24本構成、40本構成等のもの)がちジ、
がっ大量生産されるため、φ数類の専用治具を製作する
必要があると共VC1同−釉類の治具全多数製作する必
要があり、この製作費が高額である。また、このような
多種類かフ多数の治具を保管するためのストックヤード
が必要であり、このためストックヤードの場所を確保す
る問題、及びこれらの多種、多fの治具の管理上の問題
がある。さらには、治具21に1個づつキャラ16を4
巾着する必要があるため作業性が良好でない。 次に、a8図に示す従来例について説明する。 第8図において、符号3.1′は治具れ)、32は治具
[F])をそれぞれ示す。治具囚31は、断面が変形コ
字状
びその溶着装置に関し、特にセラミック環の基板と封止
キャップとからなるセラミ・ツクパッケージの溶着方法
及びその溶着装@に関するもの−である。尚、こ\で、
リードベースとけセラミック基板上にリードフレームと
ICチップが固着され、これら両者間がワイヤボンディ
ングされた組立体のことケいう。 (ロ)技術の背景 第1図は、−例として、セラミック環の基板11上に、
リードフレーム(平面状に展開し1ζ状態で示す)12
が低融点ガラス等の溶着剤を介して固着され、中央部に
ICチップ13が搭載固着され、さらにリード12a(
この場合、左右合計14本構成)とICチップ13間に
ボンディングワイヤ14 ゝ −4←−歩が拳弥づ→・
が接続された状態を示す平面図である。尚、第1図の符
号DI−j:リードフレーム12の折9曲げ線を示す。 第2図は第1図のC−σ綜(川面図(但し、リードフレ
ーム12に折り曲げ1c状態)であり、符号15は低融
点ガラスを示す。尚、水門1!ill書においては、第
2図に示すように形成された組立体のことを、前述した
ように、リードベース10と呼ぶことにする。第3図は
、一部を切欠断面で示す封止キャンプ16の斜視図であ
り、符号15u低融点ガラスを示す。第4図は第2図に
示すリードベース10上に、第3図に示す封止キャップ
16を低融点ガラス15fr介して溶着した状態、すな
わち、ICチップ13に気密封止した状態ケ示すICパ
ッケージ9の断面図である。しかしながら、この種のパ
ッケージにおいては、基板11とキャップ16の溶着状
態が、第5図に示すように、横ずれ状態、あるいは、第
6図に示すように、回転ずれ状態で溶着される場合があ
る。この工うな溶着状態は、信頼性の低下、商品価値の
低下等會招くので好ましくない。従って、このような溶
着状態を招くことなく、しかも合理的にキャップ16を
溶着することが可能な溶着方法及び装置が要望されてい
る。 (ハ)、従来技術と問題点 第7図と第8図はそれぞれ従来のキャップ溶着用治具全
示す斜視図(いずれも要部のみ示す)である。尚、これ
ら両図において、前出011図から第6図に示す部分と
同一部分には同一符号が付されている。 第7図において、符号21は位決め治具を示す。 この治具21は、長方形の板部材に長手方向に沿って複
数個のキャップ挿着穴21aが設けられ、さらに、これ
ら挿着穴21aの長手方向端部に隅接して位置法めピン
21b、21cがそれぞれ固設されている。さて、キャ
ップ16とリードベースlOの挿着手順は、先づ、挿着
穴21aに、キャップ16を開口を上向き(逆向き)に
して挿入し、次に、リードベース1(l下向き(逆向き
)にしてキャップ16上VC7ff、ね合せると同時に
リードフレーム12に設けられた位置決め穴12b。 12c’iそれぞれビア 21.1)−、21c lf
c挿着挿着シア終了。従って、基板11u!J−ドフレ
ーム12を介して位置決めされる。このようにして、複
数組のキャップ16とリードベース!0を装填した治具
21を加熱炉(図示なし)内に搬入して所定温度で加熱
し、低融点ガラス(第4図、符号15参照ノヲ溶融して
キャップ16とり−ドベース10に互に溶着することに
J、!l)l[cチ・ツブ13が封止される。リードフ
レーム12は形状寸法がかなり高精度に加工できるので
、基板]、1の位置決めは比較的良好な精度で行うこと
ができる。しかし、キャップ16は、セラミック等の材
料から形成されるため、加工誤差(公差)が必然的に大
きくなる。すなわち、キャップ16は粘土状で所定形状
に成形してから焼き固めて製作するため、加熱時にけす
る収縮が:の誤差が大きく、この結果、加工誤差が大と
なる。’a=て、治具21に設けるキャップ挿着穴21
aは太き目の寸法(大き目のキャップ16も挿着可能に
する7ζめ)に形成されている。このため、小さ目のキ
ー・ツブ16を挿着した場合は、挿着穴21aとキャッ
プ16間に遊びが生じてキャップ16’(r正規位置に
正確に位置決めすることがきわめて困難である。この結
果、この従来例においては、前出の第5図と第6図に示
すような、横ずれ状態、回転ずれ状態で溶着される場合
が多い。また、この従来例は次のような問題点がある。 すなわ゛ち、この種のリードベース10(及びキャップ
1G)kゴ形状寸法が異なる多動類のもの(例えばリー
ド12aか24本構成、40本構成等のもの)がちジ、
がっ大量生産されるため、φ数類の専用治具を製作する
必要があると共VC1同−釉類の治具全多数製作する必
要があり、この製作費が高額である。また、このような
多種類かフ多数の治具を保管するためのストックヤード
が必要であり、このためストックヤードの場所を確保す
る問題、及びこれらの多種、多fの治具の管理上の問題
がある。さらには、治具21に1個づつキャラ16を4
巾着する必要があるため作業性が良好でない。 次に、a8図に示す従来例について説明する。 第8図において、符号3.1′は治具れ)、32は治具
[F])をそれぞれ示す。治具囚31は、断面が変形コ
字状
【二形成され、長手方向に沿って配列する複数個の
リードベース挿着穴3]aが設けらt、各挿着穴31a
の長手方向端部(;隣接して位置決めビン31b、31
cが固設され、さらに両側部(:挿着穴31 a C対
応する位置決め穴31d、31eがそれぞれ貫通穿設さ
れている。治具(B)32は1wJ′r面コ字状に形成
され、長手方向C二つって治具(A131の挿着穴31
a(=対応してキャップ挿着穴32aが貫通穿設され、
かつ0個部に治具(A131の位置決め穴31d、31
eじ対応して位置決めビン32b 、32cがそれぞれ
固設されている。さて。 リードベースlOとキャップ16の挿着手順は、先づ、
治具(2)31の挿着穴31a(=リードベース10Y
挿入して、基板11の長手方向両端部をそれぞれ支持部
31f、31gに支持させ、かつリードフレーム12の
12d、12e、治具31の31h、311によって、
リードベースlOが治具(2)31上に位置決めされて
載置される。次(ミ治具ω)32を治具(A)31上に
載置すると同時に位置決めビン32b 、32c7&−
位置決め穴31d、31eにそれぞれ挿入することにエ
フ治具(B) 32が治具■31上に位置決めされて載
置される。さらに引きつづき、治具の)32のキャップ
挿着穴32aにキャップ16に挿着することにより、キ
ャップ16がリードベース10上に位置決めされて載置
される。このようにして、複数組のリードベース10と
キャップ16を装填し1ζ治具囚31と治具ω)32の
組立体を加熱炉(図示なし)内に搬入し、前出の第7図
に示す従来例と同様にして、リードベース10上にキャ
ップ16を溶着する。尚、この場合の治具(ホ)31f
l、基板11上に、リードフレーム12′ft−固着す
る工程、ICチップ13の搭載工程、ボンディングワイ
ヤのボンディングエ%で使用されるキャリアであ−て、
この従来例におけるキャップ16の溶着工程にも共用さ
れているものである。しかしながら、この第8図に示す
従来例も、前出の第7図に示す従来例と基本的には同様
に専用治具として治具(B132に必要とするので、第
7図に示す前出の従来例と同様な問題点がある。 に) 発明の目的 本発明の目的は、前記従来技術の問題点VcBみ、封止
キャップを外形寸法誤差に関係なぐり一ドベースに対し
て正規位置に正確に位置決めして溶着することができ、
しかも専用治具を不要として自動化及び省力化が可能な
ICパッケージのM着方法及びその浴着装置を提供する
ことにある。 (ホ) 発明の構成 そして、この目的を達成するために、本発明に依れば、
半導体チップ及びリードが取付けられた複数個のリード
ベースを搭載したキャリアを、予備加熱手段が配設され
たキャリア搬送路上に送り出し、該キャリア搬送路上に
おいてリードベース全予備加熱しつつキャリアを間欠搬
送してキャップ仮付部に搬入し、一方においては個々の
キャップ?予備加熱しつつ前記キャリアの間欠搬送動作
と同期的に前記仮付部に対し送り込み、該仮付部に装備
されかつ加熱手段を内蔵し1ζ位置決め反転台上に前記
送り込まれたキャップを正規位置に位置決めして該反転
台上に吸着固定し、次いで該反転台をキャップと共に1
800反転し、前記仮付部に搬入されたり一ドベースを
前記反転されたキャップに当接させガラスにより仮付溶
着して仮付パッケージの溶着工程を終了し、その後、前
記仮付パッケージを本溶着加熱部に移送してキャップと
り一ドベース相互間の本溶着を完了するようにしたこと
を特徴とする半導体装置の製造方法が提供される。 !、た、本発明に依れは、半導体チップ及びIJ +ド
が取付けられた複数個のり一ドベースr搭載したキャリ
ア?間欠搬送すると共にリードペース予備加熱用ヒーモ キャリア搬送路の終端部に配設されπキャップ位置決め
仮付部と、該仮付部出口側に配設された本溶着加熱部と
、前記仮付部に個々のキャップを予備加熱しつつ前記キ
ャリアの間欠搬送動作と同期的に送り込むだめのキャッ
プ搬送路とを有して成り、前記キャップ位置決め仮付部
は、加熱用ヒータを内蔵1反転動作可能なキャップ吸着
固定用の反転台と、該反転台上に搬入されたキャップ會
該反転台上の正規位置に位費決めするための複数個のキ
ャップ位置決めフィンガーと、加熱用ヒータを内蔵し前
記リードペースを吸着して前記反転台上の反転され7こ
キャップに当接させて仮付ノくツケージのガラスによる
溶着工程2行うためのリードペース昇降台とfJ)ら構
成したこと全特徴とする半導体装置の製造装肚が提供さ
れる0 (へ) 発明の実施例 以下、本発明の実施例全図面に基づいて詳細に説明する
。 紀9図から第12図は本発明の詳細な説明する′ための
図である。尚、これらの図において、前出の第1図から
第8図に示す部分と同一部分には同一符号が付されてい
る。 第9図は、−例として示した封止キャップの溶着装置の
概略平面図である。同図において、符号40は装置全体
を示し、41け装置の筐体、42ハ入口マガジンエレベ
ータ、43はキャリア搬送路、44はキャップ位置決め
仮付部、45は本溶着加熱部、46は出口マガジンエレ
ベータ、47はギヤ・ツブトレイ、48はギヤ・ソゲ搬
送路、49t〕キヤツプビツクア・ソゲユニ・ブト、5
0はキャッププッシャーをそれぞ21.示す。入ロマカ
ジンエレベータ42にはマガジン(図示なし)がセット
さ第15、該マガジンには複数個のり一ドベース10(
第2図参照)を搭載したキャーIJア31(この場合、
第8図に示す治具(A) 31 )2共用)?複数個搭
載する。そして2マカジンエレベータ427)’らキャ
リアaiya’i個づつキャリア搬送路43に送り出し
、該搬送路43上においてIJ−ドベース】0を予備加
熱しつつギヤリア31乞間欠搬送して仮付部44(:搬
入する。−万、キャリブトレイ47(二は複数個のキャ
ップ16(第3図参照)?セントし、キャップビックア
・ソンユニ−,) 49でギヤ・ツブi 6Tx 11
1Filづつ間欠的1二キャップトレイ47からキャッ
プ搬送路48に移送する。キャップビ9クア・ツブユニ
ット49は、ユニット本体49aと、該本体49a上に
配置さrt、x−Y軸に運動可能な可j+11部49b
と、該可動部49 b上に配設されたアーム49eと、
該アーム49cの先端に取着され1ζキ一ヤツブ把持部
(吸着把持する場合が多い”+49clとから構成され
、公知の一イ!セのロボットt&構を有するものである
。さて、キャップ搬送路48上に」?いて、キャップ1
6を予備加熱しつつ前記キャリア31の間欠搬送動作と
同期的に搬送し、て仮付部44の降接位置まで順次移送
する。キャップ殻送路48は、公知のベルト状キャップ
フィーダが組込まれて形成される場合がジく、キャップ
予備加熱用ヒータ(図示なし)を配設して構成され1こ
ものである。仮付部44脚接位置寸で移送され7ζキヤ
ツプ16はキャップブツシャ−50に工って間欠的にキ
ャップ搬送路48から仮付部44に移送される。このよ
うにして、仮付部44に搬入された前記リードペースl
Oとキャップ16Hそれぞれ予備加熱用ヒータ(でよっ
て低融点ガラス15(第2図、第3図参照)が溶融寸前
(例えば、融点400℃のガラスの場合は350℃程度
)まで加熱されている。 そして、仮付部44において、前記キャップ16とリー
ドペース10ケさらに加熱しつつ、後述するように、キ
ャップ16奮位置決め固定し、このキャップ16にリー
ドベース10を当接させ両者を仮溶着して仮付パック′
−ジが形成づれる。その後、この仮付パッケージは、キ
ャリア31単位で仮付部・14から本溶着加熱部45に
搬入され、該加熱部45において、キャップ16とリー
ドベース10相互間の本溶着が行われることによりパッ
ケージの本溶着が完了する。その後、このパッケージは
、キャリア単位で順次加熱部45から出口マガジンエレ
ベータにセットされているマガジン(図示なし)に搬入
されて収納される。このような一連の動作により、キャ
ップ16はリードベースlOに自動的にかつ逐次間欠的
に溶着されパッケージの溶着工程が行われる。 さて、第10図と第11図げキャリア搬送路43を示す
図であり、第10図は第9図のE−E’線断面図で主と
してキャリア搬送路43の側面断面を示す図(但し、一
部のみ示す)であり、第11図は第1θ図の矢印G方向
からみたキャリア搬送路43の正面図である。これら両
図において、符号10にリードベース(第2図参照)、
31けキャリア(第8図参照)、43(1キヤリア搬送
路、43a、43bはガイドレール、51は予備加熱用
ヒータブロック、51alCヒータ、52け送りビンr
それぞれ示す0キヤリア31は複数個のり=トペース1
0を搭載してガイドレール43a。 43b上に摺動自在に搬入されている。送りビン52は
公知の駆動機構(図示なし)に取付けられ、初期位置O
,から、矢印J1〜J4の如<t゛v*vされる。すな
わち、送りビン52は矢印J1b作でキャリア31の位
置決め穴31e(第8L4参照)に侵入し、矢印52動
作でキャリア31i矢印に方向(第9図の返付部44に
向けて)に所定距離だけ搬送し、次いで矢印J3′dJ
h作で位置決め穴31eから退行し、さらに矢−印J4
動作で初期位置01 に復帰する。そして、送りビン5
2は所足時間経過後再び上記と同じ動作をくり返す。こ
のような送りビン52の動作によって、キャリア31は
矢印に方向、すなわち、仮付部44(第9図)に向かっ
て逐次間欠搬送される。ヒータブロック51は、ヒータ
51aを内蔵し、リードベース10の搭載間隔(ピッチ
)しζ対応して加熱用凸部51bが設けられ、該凸部5
1bの上面がリードベース10の基板11下面に近接配
置され該基板]、 l k予備加熱すルj二うCτ影形
成れている。そして、ヒータブロック51は、公知の駆
動機構(図示なし)に取付けられ、前記送りビン52の
矢印J1とJ3 動作と連動して上下運動(矢印り方向
)し、送りビン52の矢印J2 動作時のみ下方Gて退
行してリードフレーム12に加熱用凸部51bが接触し
ない工うに作動される。このJ二うにして、リードベー
ス10は、キャリア搬送路4BVCおいて、間欠搬送さ
れなから予備加熱さtする。 次に、ロ:、3.2図を参照して、キャップ16の仮付
耐着方法と仮付部の抱造を説明する。第12図に第9図
の1.’l −F/ 線にaって切断したキャップ位置
決め仮付部44の側面断面図である。尚、同図において
0)図は王としてキャップ16の位置決め部、仲)図に
王としてキャリア搬送路43を示す図である。第12図
において、府号53はキャップ位置決めフィンガー、5
4打「キャップ吸着固定用反転台、55iIリ一ドベー
ヌデ降台、56け加熱用ヒータブロックをそれぞれ示す
。位置決めフィンガー53は、この場合、4本で杓成さ
れ、水平面におけるキャリア31の搬送方向と、これに
直交する方向とに互に対向して配置され、かつ公知の駆
動機構(図示なし)に取付けられ、初期位置02から矢
印M1〜M4の如くにそれぞれ同期的に作動される0尚
、矢印M、及びM3tl]作πおいては、互に対向する
フィンガー53i−1反転台54の中心部に対して対称
的に動作する。従って、フィンガー53は、キャップ搬
送路48(隻!、9図)ηλら反転台54上にキャップ
16−7tri般入されると、先づ初期位@02 から
矢印Ml動咋で下降し、次いで、M22動で反転台54
上の中心部に向か−て8動しキャップ16を反転台54
上の正規位五に位置決めして、その後矢印M、及びM4
砿1作で初期位f&ff1o2に復帰する。このような
位置決めフィンガー53を設は上記のように動作させる
ことに、cり、キャップ16の外形寸法の大小、つすり
寸法誤差に関係なく、常に反転台54上の正規位置の中
心にキャップ16の中心を正確に位置合せすることがで
きる。そして、フィンガー53は所定時間経過後、再び
上記と同じ動作ヲ<り返して次のキャップ16の位置決
めを行う。一方、反転台54は、上・下面が互に平行な
平面に形成され、これらの平面ニ開口する真空吸着口5
4a 、54bとこれらに連通する搬気通路54c 、
54dがそれぞれ設けられ、さらにキャップ加熱用ヒー
タ(図示なし)を内蔵して、反転動作(矢印N)可能に
公知の駆動機構(図示なし)に取付けられている。そし
て、反転台54は、該台上にキャップ16が位置決めフ
ィンガー53によって位置決めされると、キャップ16
’に真女吸着によって固定し、次いでキャップ16と共
に矢印N方向に反転し、キャップ16を下側に反転移送
して保持し、後述するように、上昇されてくるリードベ
ース10を待ち受ける。一方、リードベース昇降台55
は、上下動作可能に公知の駆動機構(′図示なし)に取
付けられ、上面に真空吸着口55a及びこれに連通ずる
排気通路55bが設けられ、かつリードベース加熱用ヒ
ータ(図示なし)が内蔵されて形成されている。 そして、昇降台55は上昇動作して上面がリードベース
lOの基板11下面に接触すると同時にリードベース1
0を上面に吸着固定して加熱しつつ、引きつづき上昇し
てリードベースlOの上面を、前記待機中のキャップ1
6の下面に所定の押圧力(例えば2007程度)で当接
させる。この当接動作によってキャップ16とり一ドベ
ース10が、溶融寸前の温度(例えば、融点400℃の
場合、約350℃程度)まで予備加熱されている低融点
ガラス15(第2.第3図参照)?]l−介して仮付溶
着され、仮付パッケージが形成される。この仮付溶着終
了後、反転台54は真空吸着を消除してキャップ16i
自由状態に解放する。その後、昇降台55は前記仮付パ
ッケージを上面に固定し1こ状態で下降動作に入り、途
中適宜の時期に真空吸着を解除して、キャリア上に仮付
パッケージを再び搭載してからさらに下降して初期位置
に彼帰する。 この間、反転台54の上面には次のキャップ16が搬入
され前述し罠手順と同様にして位置決めされ、次いで同
じ動作が(、v返えされる〇一方昇降台55も前述した
動作と同様な動作tくジ返えして、次の仮付パッケージ
が形成される。尚、仮付部44VCおけるリードベース
lOとキャップ1Gの位置とは予め正規位@に対応する
ように設定されている。このようにして、順次仮付パッ
ケージが形成され、これらの仮付パッケージはキャリア
(31)単位で、水浴着加熱部45(第9図)内に搬入
され、該加熱部45において所定の溶融温度まで加熱さ
れ、キャップ16とリードベース10相互間の本溶着が
行なわれてICパッケージの6着が完了する。尚、加熱
部45は、IJとして、キャリアフィーダ?備え1ζ一
種のコンベア加熱炉とし″〔形成されたものである。さ
て、加熱部45からICパッケージはキャリア31単位
で、出口マガジンエレベータ46(第9図)に配置され
1ζ空マガジン(図示なし)に収納され、ICパッケー
ジの溶着工程が終了する。尚、加熱用ヒータブロック5
6はヒータ(図示なし)を内蔵して形成され、反転台5
4?敗F)囲む状態で配置されている。 このように、本実施例によれば、1cの組立工程におい
て、パッケージの基板l】上にリードフレーム12、I
Cチップ13及びボンディングワイヤ14(いずれも第
1.第2図参照)の取着工程 −で使用されるキャリア
31にリードベース10が搭載されたま\の状態で前述
したようにキャップ16の溶着工程CICl3の封止工
程)を行うととができ、位置決め機構を設けることによ
り、従来の↓うなキャップ位置決め用の専用治具が不要
となり、また、キャップ16の外形寸法誤差に関係なく
、前出の第5図、第6図に示すような横ずれや回転ずれ
状態の溶着を防止することができ、さらには自動化が可
能である。 (ト)発明の効果 以上、詳細に説明したように、本発明に依るICパッケ
ージの溶着方法及びその溶着装@は、リードベース組立
用のキャリアを共用し、リードベースとキャップをそれ
ぞれ別個の搬送路によ−て予備加熱しつつ間欠搬送して
仮付部に搬入し、該仮伺部において、キャップ位置決め
手段及び仮付手段ケ設けて、キャップの位置決めと仮付
溶着を行い、その後本溶着を行うことにより、キャップ
位置決め用の専用治具を不要とすることができ、キャッ
プの外形寸法の大小に関係なくキャップとり一ドベース
相互間における横ずれ又は回転ずれ状態の不具合溶着を
防止することができ、ICノζッケージの信頼性の向上
ケもたらすことができ、さらには自動化が可能であると
いった効果大なるものがある。
リードベース挿着穴3]aが設けらt、各挿着穴31a
の長手方向端部(;隣接して位置決めビン31b、31
cが固設され、さらに両側部(:挿着穴31 a C対
応する位置決め穴31d、31eがそれぞれ貫通穿設さ
れている。治具(B)32は1wJ′r面コ字状に形成
され、長手方向C二つって治具(A131の挿着穴31
a(=対応してキャップ挿着穴32aが貫通穿設され、
かつ0個部に治具(A131の位置決め穴31d、31
eじ対応して位置決めビン32b 、32cがそれぞれ
固設されている。さて。 リードベースlOとキャップ16の挿着手順は、先づ、
治具(2)31の挿着穴31a(=リードベース10Y
挿入して、基板11の長手方向両端部をそれぞれ支持部
31f、31gに支持させ、かつリードフレーム12の
12d、12e、治具31の31h、311によって、
リードベースlOが治具(2)31上に位置決めされて
載置される。次(ミ治具ω)32を治具(A)31上に
載置すると同時に位置決めビン32b 、32c7&−
位置決め穴31d、31eにそれぞれ挿入することにエ
フ治具(B) 32が治具■31上に位置決めされて載
置される。さらに引きつづき、治具の)32のキャップ
挿着穴32aにキャップ16に挿着することにより、キ
ャップ16がリードベース10上に位置決めされて載置
される。このようにして、複数組のリードベース10と
キャップ16を装填し1ζ治具囚31と治具ω)32の
組立体を加熱炉(図示なし)内に搬入し、前出の第7図
に示す従来例と同様にして、リードベース10上にキャ
ップ16を溶着する。尚、この場合の治具(ホ)31f
l、基板11上に、リードフレーム12′ft−固着す
る工程、ICチップ13の搭載工程、ボンディングワイ
ヤのボンディングエ%で使用されるキャリアであ−て、
この従来例におけるキャップ16の溶着工程にも共用さ
れているものである。しかしながら、この第8図に示す
従来例も、前出の第7図に示す従来例と基本的には同様
に専用治具として治具(B132に必要とするので、第
7図に示す前出の従来例と同様な問題点がある。 に) 発明の目的 本発明の目的は、前記従来技術の問題点VcBみ、封止
キャップを外形寸法誤差に関係なぐり一ドベースに対し
て正規位置に正確に位置決めして溶着することができ、
しかも専用治具を不要として自動化及び省力化が可能な
ICパッケージのM着方法及びその浴着装置を提供する
ことにある。 (ホ) 発明の構成 そして、この目的を達成するために、本発明に依れば、
半導体チップ及びリードが取付けられた複数個のリード
ベースを搭載したキャリアを、予備加熱手段が配設され
たキャリア搬送路上に送り出し、該キャリア搬送路上に
おいてリードベース全予備加熱しつつキャリアを間欠搬
送してキャップ仮付部に搬入し、一方においては個々の
キャップ?予備加熱しつつ前記キャリアの間欠搬送動作
と同期的に前記仮付部に対し送り込み、該仮付部に装備
されかつ加熱手段を内蔵し1ζ位置決め反転台上に前記
送り込まれたキャップを正規位置に位置決めして該反転
台上に吸着固定し、次いで該反転台をキャップと共に1
800反転し、前記仮付部に搬入されたり一ドベースを
前記反転されたキャップに当接させガラスにより仮付溶
着して仮付パッケージの溶着工程を終了し、その後、前
記仮付パッケージを本溶着加熱部に移送してキャップと
り一ドベース相互間の本溶着を完了するようにしたこと
を特徴とする半導体装置の製造方法が提供される。 !、た、本発明に依れは、半導体チップ及びIJ +ド
が取付けられた複数個のり一ドベースr搭載したキャリ
ア?間欠搬送すると共にリードペース予備加熱用ヒーモ キャリア搬送路の終端部に配設されπキャップ位置決め
仮付部と、該仮付部出口側に配設された本溶着加熱部と
、前記仮付部に個々のキャップを予備加熱しつつ前記キ
ャリアの間欠搬送動作と同期的に送り込むだめのキャッ
プ搬送路とを有して成り、前記キャップ位置決め仮付部
は、加熱用ヒータを内蔵1反転動作可能なキャップ吸着
固定用の反転台と、該反転台上に搬入されたキャップ會
該反転台上の正規位置に位費決めするための複数個のキ
ャップ位置決めフィンガーと、加熱用ヒータを内蔵し前
記リードペースを吸着して前記反転台上の反転され7こ
キャップに当接させて仮付ノくツケージのガラスによる
溶着工程2行うためのリードペース昇降台とfJ)ら構
成したこと全特徴とする半導体装置の製造装肚が提供さ
れる0 (へ) 発明の実施例 以下、本発明の実施例全図面に基づいて詳細に説明する
。 紀9図から第12図は本発明の詳細な説明する′ための
図である。尚、これらの図において、前出の第1図から
第8図に示す部分と同一部分には同一符号が付されてい
る。 第9図は、−例として示した封止キャップの溶着装置の
概略平面図である。同図において、符号40は装置全体
を示し、41け装置の筐体、42ハ入口マガジンエレベ
ータ、43はキャリア搬送路、44はキャップ位置決め
仮付部、45は本溶着加熱部、46は出口マガジンエレ
ベータ、47はギヤ・ツブトレイ、48はギヤ・ソゲ搬
送路、49t〕キヤツプビツクア・ソゲユニ・ブト、5
0はキャッププッシャーをそれぞ21.示す。入ロマカ
ジンエレベータ42にはマガジン(図示なし)がセット
さ第15、該マガジンには複数個のり一ドベース10(
第2図参照)を搭載したキャーIJア31(この場合、
第8図に示す治具(A) 31 )2共用)?複数個搭
載する。そして2マカジンエレベータ427)’らキャ
リアaiya’i個づつキャリア搬送路43に送り出し
、該搬送路43上においてIJ−ドベース】0を予備加
熱しつつギヤリア31乞間欠搬送して仮付部44(:搬
入する。−万、キャリブトレイ47(二は複数個のキャ
ップ16(第3図参照)?セントし、キャップビックア
・ソンユニ−,) 49でギヤ・ツブi 6Tx 11
1Filづつ間欠的1二キャップトレイ47からキャッ
プ搬送路48に移送する。キャップビ9クア・ツブユニ
ット49は、ユニット本体49aと、該本体49a上に
配置さrt、x−Y軸に運動可能な可j+11部49b
と、該可動部49 b上に配設されたアーム49eと、
該アーム49cの先端に取着され1ζキ一ヤツブ把持部
(吸着把持する場合が多い”+49clとから構成され
、公知の一イ!セのロボットt&構を有するものである
。さて、キャップ搬送路48上に」?いて、キャップ1
6を予備加熱しつつ前記キャリア31の間欠搬送動作と
同期的に搬送し、て仮付部44の降接位置まで順次移送
する。キャップ殻送路48は、公知のベルト状キャップ
フィーダが組込まれて形成される場合がジく、キャップ
予備加熱用ヒータ(図示なし)を配設して構成され1こ
ものである。仮付部44脚接位置寸で移送され7ζキヤ
ツプ16はキャップブツシャ−50に工って間欠的にキ
ャップ搬送路48から仮付部44に移送される。このよ
うにして、仮付部44に搬入された前記リードペースl
Oとキャップ16Hそれぞれ予備加熱用ヒータ(でよっ
て低融点ガラス15(第2図、第3図参照)が溶融寸前
(例えば、融点400℃のガラスの場合は350℃程度
)まで加熱されている。 そして、仮付部44において、前記キャップ16とリー
ドペース10ケさらに加熱しつつ、後述するように、キ
ャップ16奮位置決め固定し、このキャップ16にリー
ドベース10を当接させ両者を仮溶着して仮付パック′
−ジが形成づれる。その後、この仮付パッケージは、キ
ャリア31単位で仮付部・14から本溶着加熱部45に
搬入され、該加熱部45において、キャップ16とリー
ドベース10相互間の本溶着が行われることによりパッ
ケージの本溶着が完了する。その後、このパッケージは
、キャリア単位で順次加熱部45から出口マガジンエレ
ベータにセットされているマガジン(図示なし)に搬入
されて収納される。このような一連の動作により、キャ
ップ16はリードベースlOに自動的にかつ逐次間欠的
に溶着されパッケージの溶着工程が行われる。 さて、第10図と第11図げキャリア搬送路43を示す
図であり、第10図は第9図のE−E’線断面図で主と
してキャリア搬送路43の側面断面を示す図(但し、一
部のみ示す)であり、第11図は第1θ図の矢印G方向
からみたキャリア搬送路43の正面図である。これら両
図において、符号10にリードベース(第2図参照)、
31けキャリア(第8図参照)、43(1キヤリア搬送
路、43a、43bはガイドレール、51は予備加熱用
ヒータブロック、51alCヒータ、52け送りビンr
それぞれ示す0キヤリア31は複数個のり=トペース1
0を搭載してガイドレール43a。 43b上に摺動自在に搬入されている。送りビン52は
公知の駆動機構(図示なし)に取付けられ、初期位置O
,から、矢印J1〜J4の如<t゛v*vされる。すな
わち、送りビン52は矢印J1b作でキャリア31の位
置決め穴31e(第8L4参照)に侵入し、矢印52動
作でキャリア31i矢印に方向(第9図の返付部44に
向けて)に所定距離だけ搬送し、次いで矢印J3′dJ
h作で位置決め穴31eから退行し、さらに矢−印J4
動作で初期位置01 に復帰する。そして、送りビン5
2は所足時間経過後再び上記と同じ動作をくり返す。こ
のような送りビン52の動作によって、キャリア31は
矢印に方向、すなわち、仮付部44(第9図)に向かっ
て逐次間欠搬送される。ヒータブロック51は、ヒータ
51aを内蔵し、リードベース10の搭載間隔(ピッチ
)しζ対応して加熱用凸部51bが設けられ、該凸部5
1bの上面がリードベース10の基板11下面に近接配
置され該基板]、 l k予備加熱すルj二うCτ影形
成れている。そして、ヒータブロック51は、公知の駆
動機構(図示なし)に取付けられ、前記送りビン52の
矢印J1とJ3 動作と連動して上下運動(矢印り方向
)し、送りビン52の矢印J2 動作時のみ下方Gて退
行してリードフレーム12に加熱用凸部51bが接触し
ない工うに作動される。このJ二うにして、リードベー
ス10は、キャリア搬送路4BVCおいて、間欠搬送さ
れなから予備加熱さtする。 次に、ロ:、3.2図を参照して、キャップ16の仮付
耐着方法と仮付部の抱造を説明する。第12図に第9図
の1.’l −F/ 線にaって切断したキャップ位置
決め仮付部44の側面断面図である。尚、同図において
0)図は王としてキャップ16の位置決め部、仲)図に
王としてキャリア搬送路43を示す図である。第12図
において、府号53はキャップ位置決めフィンガー、5
4打「キャップ吸着固定用反転台、55iIリ一ドベー
ヌデ降台、56け加熱用ヒータブロックをそれぞれ示す
。位置決めフィンガー53は、この場合、4本で杓成さ
れ、水平面におけるキャリア31の搬送方向と、これに
直交する方向とに互に対向して配置され、かつ公知の駆
動機構(図示なし)に取付けられ、初期位置02から矢
印M1〜M4の如くにそれぞれ同期的に作動される0尚
、矢印M、及びM3tl]作πおいては、互に対向する
フィンガー53i−1反転台54の中心部に対して対称
的に動作する。従って、フィンガー53は、キャップ搬
送路48(隻!、9図)ηλら反転台54上にキャップ
16−7tri般入されると、先づ初期位@02 から
矢印Ml動咋で下降し、次いで、M22動で反転台54
上の中心部に向か−て8動しキャップ16を反転台54
上の正規位五に位置決めして、その後矢印M、及びM4
砿1作で初期位f&ff1o2に復帰する。このような
位置決めフィンガー53を設は上記のように動作させる
ことに、cり、キャップ16の外形寸法の大小、つすり
寸法誤差に関係なく、常に反転台54上の正規位置の中
心にキャップ16の中心を正確に位置合せすることがで
きる。そして、フィンガー53は所定時間経過後、再び
上記と同じ動作ヲ<り返して次のキャップ16の位置決
めを行う。一方、反転台54は、上・下面が互に平行な
平面に形成され、これらの平面ニ開口する真空吸着口5
4a 、54bとこれらに連通する搬気通路54c 、
54dがそれぞれ設けられ、さらにキャップ加熱用ヒー
タ(図示なし)を内蔵して、反転動作(矢印N)可能に
公知の駆動機構(図示なし)に取付けられている。そし
て、反転台54は、該台上にキャップ16が位置決めフ
ィンガー53によって位置決めされると、キャップ16
’に真女吸着によって固定し、次いでキャップ16と共
に矢印N方向に反転し、キャップ16を下側に反転移送
して保持し、後述するように、上昇されてくるリードベ
ース10を待ち受ける。一方、リードベース昇降台55
は、上下動作可能に公知の駆動機構(′図示なし)に取
付けられ、上面に真空吸着口55a及びこれに連通ずる
排気通路55bが設けられ、かつリードベース加熱用ヒ
ータ(図示なし)が内蔵されて形成されている。 そして、昇降台55は上昇動作して上面がリードベース
lOの基板11下面に接触すると同時にリードベース1
0を上面に吸着固定して加熱しつつ、引きつづき上昇し
てリードベースlOの上面を、前記待機中のキャップ1
6の下面に所定の押圧力(例えば2007程度)で当接
させる。この当接動作によってキャップ16とり一ドベ
ース10が、溶融寸前の温度(例えば、融点400℃の
場合、約350℃程度)まで予備加熱されている低融点
ガラス15(第2.第3図参照)?]l−介して仮付溶
着され、仮付パッケージが形成される。この仮付溶着終
了後、反転台54は真空吸着を消除してキャップ16i
自由状態に解放する。その後、昇降台55は前記仮付パ
ッケージを上面に固定し1こ状態で下降動作に入り、途
中適宜の時期に真空吸着を解除して、キャリア上に仮付
パッケージを再び搭載してからさらに下降して初期位置
に彼帰する。 この間、反転台54の上面には次のキャップ16が搬入
され前述し罠手順と同様にして位置決めされ、次いで同
じ動作が(、v返えされる〇一方昇降台55も前述した
動作と同様な動作tくジ返えして、次の仮付パッケージ
が形成される。尚、仮付部44VCおけるリードベース
lOとキャップ1Gの位置とは予め正規位@に対応する
ように設定されている。このようにして、順次仮付パッ
ケージが形成され、これらの仮付パッケージはキャリア
(31)単位で、水浴着加熱部45(第9図)内に搬入
され、該加熱部45において所定の溶融温度まで加熱さ
れ、キャップ16とリードベース10相互間の本溶着が
行なわれてICパッケージの6着が完了する。尚、加熱
部45は、IJとして、キャリアフィーダ?備え1ζ一
種のコンベア加熱炉とし″〔形成されたものである。さ
て、加熱部45からICパッケージはキャリア31単位
で、出口マガジンエレベータ46(第9図)に配置され
1ζ空マガジン(図示なし)に収納され、ICパッケー
ジの溶着工程が終了する。尚、加熱用ヒータブロック5
6はヒータ(図示なし)を内蔵して形成され、反転台5
4?敗F)囲む状態で配置されている。 このように、本実施例によれば、1cの組立工程におい
て、パッケージの基板l】上にリードフレーム12、I
Cチップ13及びボンディングワイヤ14(いずれも第
1.第2図参照)の取着工程 −で使用されるキャリア
31にリードベース10が搭載されたま\の状態で前述
したようにキャップ16の溶着工程CICl3の封止工
程)を行うととができ、位置決め機構を設けることによ
り、従来の↓うなキャップ位置決め用の専用治具が不要
となり、また、キャップ16の外形寸法誤差に関係なく
、前出の第5図、第6図に示すような横ずれや回転ずれ
状態の溶着を防止することができ、さらには自動化が可
能である。 (ト)発明の効果 以上、詳細に説明したように、本発明に依るICパッケ
ージの溶着方法及びその溶着装@は、リードベース組立
用のキャリアを共用し、リードベースとキャップをそれ
ぞれ別個の搬送路によ−て予備加熱しつつ間欠搬送して
仮付部に搬入し、該仮伺部において、キャップ位置決め
手段及び仮付手段ケ設けて、キャップの位置決めと仮付
溶着を行い、その後本溶着を行うことにより、キャップ
位置決め用の専用治具を不要とすることができ、キャッ
プの外形寸法の大小に関係なくキャップとり一ドベース
相互間における横ずれ又は回転ずれ状態の不具合溶着を
防止することができ、ICノζッケージの信頼性の向上
ケもたらすことができ、さらには自動化が可能であると
いった効果大なるものがある。
第1図は一例としてセラミック製基板上にリードフレー
ム(平面状(C展開状態)、ICチップ、ボンディング
ワイヤが組込まれて成るリードベース10の平面図、第
2図(−r、第1図のc −c’断面図(但し、リード
フレーム12が折曲状態)、第3図は封止キャップの斜
視図(但し、一部切欠き断面にて示す)、第4図は第2
図のリードベース(10)上に第3図のキャップ(16
檜溶着して形成されyt I Cハラケージ(9)の断
面図、第5図はICパッケージ(9)の基板(1])と
キャップ(16)相互が横ずれ状態で溶着さねた状態を
示す断面図、第6図はICパッケージ(9)の基板(l
])とキャップ(16)が回転ずれ状態で溶着された状
態を示す平面図、第7図と第8図はそれぞれ従来のキャ
ップ溶着用治具の斜視図(但し、要部のみ示す)、第9
図から第12図は本発明の実施例を示す図であり、第9
図は一例として示し7′c、I Cパッケージ溶着装置
の概略平面図、第1O図は第9図のE−E’ljl断仙
図、第11図は第1O図の矢印G方向からみlこ正面図
、第12図は第9図のF−1i”線断面図である。 9・・・・・・ICパッケージ、10・・・・・・リー
ドベース、11・・・・・・基板、12・・・・・・リ
ードフレーム、12a・・・・・・リード、12b 、
12c・・・・・・位置決め穴、13・・・・・・IC
チップ、14・・・・・・ボンディングワイヤ、15・
・・・・・低融点ガラス、16・・・・・・封止用キャ
ップ、31・・・・・・キャリア(治具囚)、31a・
・・・・・リードベース挿着穴、31b、31C・・・
・・・位置決めビン、31d、31e・・・・・・位置
決め穴、40・・・・・・旧着装像、41・・・・・・
装置の筐体、42・・・・・・入口マガジンエレベータ
、43・・・・・・キャリア搬送路、43a 、43b
・・!・・・ガイドレール、44・・・・・・キャップ
位置決め仮付部、45・・・・・・本溶着加熱部、46
・・・・・・出口マガジンエレベータ、47・・・・・
・キャップトレイ、48・・・・・・キャップ搬送路、
49・・・・・・キャップビックアップユニット、50
・・・・・・キャップブツシャ−251・・・・・・予
備加熱用ヒータブロック、52・・・・・・送りビン、
53・・・・・・キャップ位置決めフィンガー、54・
・・・・・キャップ吸着用固定用反転台、55・・・・
・・リードベース昇降台、56・・・・・・加熱用ヒー
タブロック。 特許出願人 富士通株式会社 特許出願代理人 弁理士 青 木 朗 弁理士 西 舘 和 之 弁理士 内 1)辛 男 弁理士 山 口 昭 之 箒1図 、、、、: 4 口 第5図 箒6N 箒7図 3 図 2 −) 第10図 第11図 51 ’:1TC1 鵠12図 ○2
ム(平面状(C展開状態)、ICチップ、ボンディング
ワイヤが組込まれて成るリードベース10の平面図、第
2図(−r、第1図のc −c’断面図(但し、リード
フレーム12が折曲状態)、第3図は封止キャップの斜
視図(但し、一部切欠き断面にて示す)、第4図は第2
図のリードベース(10)上に第3図のキャップ(16
檜溶着して形成されyt I Cハラケージ(9)の断
面図、第5図はICパッケージ(9)の基板(1])と
キャップ(16)相互が横ずれ状態で溶着さねた状態を
示す断面図、第6図はICパッケージ(9)の基板(l
])とキャップ(16)が回転ずれ状態で溶着された状
態を示す平面図、第7図と第8図はそれぞれ従来のキャ
ップ溶着用治具の斜視図(但し、要部のみ示す)、第9
図から第12図は本発明の実施例を示す図であり、第9
図は一例として示し7′c、I Cパッケージ溶着装置
の概略平面図、第1O図は第9図のE−E’ljl断仙
図、第11図は第1O図の矢印G方向からみlこ正面図
、第12図は第9図のF−1i”線断面図である。 9・・・・・・ICパッケージ、10・・・・・・リー
ドベース、11・・・・・・基板、12・・・・・・リ
ードフレーム、12a・・・・・・リード、12b 、
12c・・・・・・位置決め穴、13・・・・・・IC
チップ、14・・・・・・ボンディングワイヤ、15・
・・・・・低融点ガラス、16・・・・・・封止用キャ
ップ、31・・・・・・キャリア(治具囚)、31a・
・・・・・リードベース挿着穴、31b、31C・・・
・・・位置決めビン、31d、31e・・・・・・位置
決め穴、40・・・・・・旧着装像、41・・・・・・
装置の筐体、42・・・・・・入口マガジンエレベータ
、43・・・・・・キャリア搬送路、43a 、43b
・・!・・・ガイドレール、44・・・・・・キャップ
位置決め仮付部、45・・・・・・本溶着加熱部、46
・・・・・・出口マガジンエレベータ、47・・・・・
・キャップトレイ、48・・・・・・キャップ搬送路、
49・・・・・・キャップビックアップユニット、50
・・・・・・キャップブツシャ−251・・・・・・予
備加熱用ヒータブロック、52・・・・・・送りビン、
53・・・・・・キャップ位置決めフィンガー、54・
・・・・・キャップ吸着用固定用反転台、55・・・・
・・リードベース昇降台、56・・・・・・加熱用ヒー
タブロック。 特許出願人 富士通株式会社 特許出願代理人 弁理士 青 木 朗 弁理士 西 舘 和 之 弁理士 内 1)辛 男 弁理士 山 口 昭 之 箒1図 、、、、: 4 口 第5図 箒6N 箒7図 3 図 2 −) 第10図 第11図 51 ’:1TC1 鵠12図 ○2
Claims (1)
- 1、半導体チップ及びリードが取付けられ’am数個の
り一ドベース全搭載したキャリアを、予備加熱手段が配
設されたキャリア搬送路上に送り出し、該キャリア搬送
路上においてリードベースを予備加熱しつつキャリアを
間欠搬送してキャップ仮付部に搬入し、一方においては
個々のキャップを予備加熱しつつ前記キャリアの間欠搬
送’=b作と同期的に前記仮付部に対し送り込み、該仮
イ」部に装備されかつ加熱手段全内蔵した位置決め反転
台上に前記送り込まれ1こキャップを正規位置に位置決
めして該反転台上に吸着固定し、次いで該反転台をキャ
ップと共に180°反転し、前記仮付部に搬入されたり
一ドベースを前記反転されたキャブに当接させガラスに
工V仮付溶着して仮付パッケージの溶着工程全終了し、
その後、前記仮付パッケージを本溶着加熱部に移送して
キャップとリードベース相互間の水溶Hk完了するよう
にしたことtl−特徴とする半導体装置の製造方法っ2
、半導体チップ及びリードが取付けられた複数個のり一
ドベースを搭載し1ζキヤリアを間欠搬送すると共にリ
ードベース予備加熱用ヒータを装備したキャリア搬送路
と、該キャリア搬送路の終端部に配設されたキャップ位
置決め仮付部と、該仮付部出口側に配設された本溶着加
熱部と、前記仮付部に個々のキャップを予備加熱しつつ
前記キャリアの間欠搬送動作と同期的に送り込む1ζめ
のキャップ搬送路とを有して成り、前記キャップ位置決
め仮付部は加熱用ヒータを内蔵し反転動作可能なキャッ
プ吸着固定用の反転台と、該反転台上に搬入されたキャ
ップを該反転台上の正規位置に位置決めするための複数
個のキャップ位置決めフィンガーと、加熱用ヒータを内
蔵し前記リードベース全吸着して前記反転台上の反転さ
れたキャップに当接させて仮付パッケージのガラスVc
J、る溶着工程を行うためのリードベース昇降台とから
第14成したことを特徴とする半導体装置の製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11505383A JPS607738A (ja) | 1983-06-28 | 1983-06-28 | 半導体装置の製造方法及びその製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11505383A JPS607738A (ja) | 1983-06-28 | 1983-06-28 | 半導体装置の製造方法及びその製造装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS607738A true JPS607738A (ja) | 1985-01-16 |
JPH0125226B2 JPH0125226B2 (ja) | 1989-05-16 |
Family
ID=14653008
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11505383A Granted JPS607738A (ja) | 1983-06-28 | 1983-06-28 | 半導体装置の製造方法及びその製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS607738A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62100686U (ja) * | 1985-08-27 | 1987-06-26 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5216168A (en) * | 1975-07-30 | 1977-02-07 | Hitachi Ltd | Sealing method of semiconductor device |
JPS53124073A (en) * | 1977-04-06 | 1978-10-30 | Hitachi Ltd | Sealing unit for glass sealing type semiconductor device |
-
1983
- 1983-06-28 JP JP11505383A patent/JPS607738A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5216168A (en) * | 1975-07-30 | 1977-02-07 | Hitachi Ltd | Sealing method of semiconductor device |
JPS53124073A (en) * | 1977-04-06 | 1978-10-30 | Hitachi Ltd | Sealing unit for glass sealing type semiconductor device |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62100686U (ja) * | 1985-08-27 | 1987-06-26 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0125226B2 (ja) | 1989-05-16 |
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