JPS6064405A - 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 - Google Patents

厚膜型正特性半導体素子の製造方法

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JPS6064405A
JPS6064405A JP17345083A JP17345083A JPS6064405A JP S6064405 A JPS6064405 A JP S6064405A JP 17345083 A JP17345083 A JP 17345083A JP 17345083 A JP17345083 A JP 17345083A JP S6064405 A JPS6064405 A JP S6064405A
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JP
Japan
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thick film
powder
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positive temperature
glass frit
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野井 慶一
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業」二の利Jl]分野 本発明は機器の保温、加熱などに用いられる面状発熱体
のなかで、ガラスフリットを必要としない厚膜型正特性
半導体素子の製造方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点 BaTi05系半導体からなる素子は所定温度以上で急
激に抵抗値が増大するスイッチング特性及びスイッチン
グ後の自己発熱特性を有し、昇温特性が速く自己温度制
御機能を有し、外部の制御回路を必要としないため広く
利用されている。
従来の正特性サーミスタ発熱体はBaTiO3系十等体
粉末を加圧成形した後、焼成して得ていたが、実用可能
な厚膜状の正特性サーミスタ発熱体を得ることは困難で
あるとされていた。
従来 BaTi05系半導体を膜状に加工する方法とし
ては、次のようなものが知られている。
(1) ディスク形に成形した後、焼成したものを薄片
に研磨する。
(2)真空蒸着法により基板」二に薄膜を形成する。
(3) BaTiO3系半導体粉末に導?1i、 Ij
lの添加剤とガラスフリットを加えてペースト状とし、
基板上にスクリーン印刷した後、焼成する。
しかし、前記(1)の方法ではBaTi05系半導体の
結晶粒子径が大きくもろいため、膜状にまで研磨するこ
とは川だ困難である。寸だ、前記(2)の方法では操作
が面倒であり、発熱体に適した大電力を得ることがむつ
かしい。さらに、前記(3)の方法では面積抵抗が高く
なり易く制御が困■(であり1発熱体には適さず、また
あらかじめガラスフリノトを調合、焼成しておかなけれ
ばならず、面倒であると共にガラスフリットの材質によ
ってはBaTi5系半導体の持つメイソチング特性及び
自己発熱特性を劣化させる。そして、ガラスフリットを
加えることによりBaTi05系半導体とガラスフリッ
トの耐熱性、熱膨張係数の差から熱衝撃に弱く、熱伝導
が妨げられる。さらに、導電性の添加剤とガラスフリッ
トを均一に混合することは困難であり、特性にばらつき
を生じる原因の一つとなっている。
発明の目的 そこで本発明では前記従来技術の欠点であった製造上の
繁雑さを解決し、ガラスフリットを用いずに厚膜状にす
ることにより熱衝撃性、熱伝導性に優れ、均一な特性を
持う厚膜型止!1“ろ性半導体素子を容易に製造できる
方法を提供することを目的としている。
発明の構成 本発明の厚膜型正特性半導体素子の製造方法は、BaT
iO3系半導体粉末にTa5Sis、Ta2Siまたは
TaSi2のうち少なくとも1種類を全軍垣に対して1
〜60重量%加えてペースト状にした混合物を基板上に
塗布して厚膜状とした後焼成することにより厚膜型正特
性半導体素子を得ようとするものである。
従来の導電性添加剤とガラスフリットを用いる方法では
BaTiOs系半導体粉末同志の電気的接続のために導
電性添加剤が必要であり、BaTiOs系粉末同志を物
理的に接続するのにガラスフリットが必要であった。
しかし、本発明によれば導電性添加剤とガラスフリット
の両方の役割をはだすものとしてTa5Sis。
Ta 2si 、 Taxi 2を用いたところに特徴
を有している。このTa5Si5.Ta2Si 、 T
aSi2は常温では導体であり、1000−11 oo
”c以」二ノ温+)>1 vcなると一部分が分解して
粒子表面に5102が析出するが、粒子内部は元のまま
で表面の8102膜により分解が阻止される。従って 
BaTi0 s光半導体粉末とTa5Sis 、 Ta
2SiまたけTaxi 2粉末を混合して焼成すると、
Ta5Sis 、Ta2SiまたはTaSi2の表面に
析出するSiO2がガラスフリットと同じ役割をし5粒
子内部が導電性添加剤の役割をするため、 Ta551
g、Ta2SiまたけTaxi 2を添加するだけでガ
ラスフリットを必要としない厚膜型正特性半導体素子が
得られる。
また、導電性金属を添加することにより熱伝導性が悪い
ガラスフリットに較べ熱伝導性が良くなり、熱衝撃性も
向上する。
実施例の説明 以下に本発明の実施例をあげて第1図と共に具体的に説
明する。
実施例1 BaTiOsに1.0−Eル%のL2L205を加え1
000°Cで焼成した後、粉砕してBaTiOs系半導
体粉宋をイ;Iる。前記BaTi0 s光半導体粉末に
金庫;11に対して4.0重量%のTa2Si粉末を加
え均一に混合し、さらにa−テルピネオールを加えてペ
ースト状混合物1を作る。
一方、Al 205などからなる基板2」二にあらかじ
め一対のAgなどの導電性物質からなる電極3゜4を設
けておき、前記電極3.4上にその電極3゜4の一部が
残るように前記ペースト状混合物1をスクリーン印刷な
どにより塗布し、室温から10’C/ minの昇温速
度で1350″Cまで昇温し、1時間保持した後、炉内
放冷する。このようにして厚膜型正特性半導体素子を得
た。
実施例2 実施例1と同様にしてBaTiC)5に3.0モル%の
La2O5を加え1250°Cで焼成した後、粉砕して
BaTi05系半導体粉末を得る。前記BaTi05系
半導体粉末に全@:、1.に対して50.0重111%
のTaSi2粉末を加え均一に混合し、さらにα−テル
ピネオールを加えてペースト状混合物1にする。ついで
、実施例1と同様に前記基板21−にあらかじめ前1t
l−:電極3.4を設けておき、前記電極3.4の一部
が残るように前記ペースト状混合物1をスクリーン印刷
などにより塗布し、室温から10″C/minの昇温速
度で1300″Cまで昇温し、30分間保持した後、炉
内放冷する。このようにして厚膜型半導体素子を得た。
こうしてイ!Iた厚膜型半導体素子の室温での而1.l
t抵抗は実施例1の場合5.8にΩ/dであり、実施例
2の場合0.3にΩ/cdであり、各々の温度と抵抗値
の関係は第2図に示した通りであった。第2図で人は実
施例1により得られた素子の特性、Bは実施例2の場合
の特性である。
発明の効果 以上のように本発明の製造方法によれば、Ta5Sis
Ta2SiまたはTaSi 2粉末が従来の導電性添加
剤とガラスフリットの両方の役割をはだし、電気的接続
、物理的接続に十分な効果があり、ガラスフリットなし
で厚膜状正特性半導体素子が得られることとなる。
また、ガラスフリットという熱伝導の悪いものにかわっ
て熱伝導のよい導電性金属のTa5Sis 。
Ta2Si、Ta5Si5を用いることにより、熱伝導
が良くなり熱衝撃性も向上する。さらに、スクリーン印
刷などにより製造できることから作業が容易で量産が可
能である。
なお1本発明においてBaTiO3系半導体粉末として
けBaTiOsに各種の添加剤を加えて半導体化したも
のであればなんでもよい。また、TIL5Sl 5 。
Ta 2si 、 Taxi 2粉末9添加−J、:、
°を全車111.に対して1〜60重量%と規定したの
は、1市川%未満では面積抵抗が大きくなりすぎ発熱体
に不適当であり、BaTi05粉末同志の物理的固定も
できなく、一方60重量%を越えると面積抵抗が小さく
なりすぎ、自己制御特性(PTC特性)゛が小さくなり
発熱体に不適当になるためである。
また、実施例では導電性金属を1種類添加した場合のみ
示したが、複数種類をその全添加量が規定量内で添加す
れば同様の効果があることを確認した。さらに、BaT
i05系半導体粉末とTa5Si5゜Ta 2si 、
TaSi 2粉末をベースト状にするのに有機溶剤(実
施例ではα−テルピネオール)を用いだが、ペースト状
にできるものであればなんでもよい。
以上述べたように本発明によれば、ガラスフリットを必
要としない厚膜型正特性半導体素子が容易に製造でき、
その実用上の効果は犬きりものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法により得られる厚膜型正特性半導体
素子を示す一部切欠斜視図、第2図は本発明の実施例に
よる素子の温度と抵抗値の関係を示す図である。 1・・・・・・ペースト状混合物、2・・・・・基板、
3,4・・・・・・電極。 代胛人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
1 第2図 5o too tso 2θ02ff →温4席 じ0)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. BaTi05系半導体粉末にTa5Sis、 Ta2S
    i、TaSi2のうち少なくとも1種類を全軍■、に対
    して1〜60重量1%加え、ペースト状にした混合物を
    基板上に塗布して厚膜状とした後、焼成してなることを
    特徴とする厚膜型正特性半導体素子の製造方法。
JP17345083A 1983-09-19 1983-09-19 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 Granted JPS6064405A (ja)

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JPS6064405A true JPS6064405A (ja) 1985-04-13
JPH04564B2 JPH04564B2 (ja) 1992-01-08

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