JPS6063751A - 光磁気ピツクアツプ装置 - Google Patents
光磁気ピツクアツプ装置Info
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- JPS6063751A JPS6063751A JP17263383A JP17263383A JPS6063751A JP S6063751 A JPS6063751 A JP S6063751A JP 17263383 A JP17263383 A JP 17263383A JP 17263383 A JP17263383 A JP 17263383A JP S6063751 A JPS6063751 A JP S6063751A
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- Japan
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- optical
- polarized light
- reflected
- polarization
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10532—Heads
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技 術 分 野
本発明は光８１気ピックアップ装置、特に据置方向の磁
化容易軸を有する磁性媒体に光学的に情報の記録、再生
及び消去を行う光磁気ピンクアンプ従 来 技 術 この種の従来の光磁気ビッタアップは第１図に示すよう
に光源、例えば半導体レーザｌから放射される光束をコ
リメートレンズ２により平行光束とした後偏光子Ｂによ
って直線偏光にし第１光分割器、例えば第１ハーフミラ
ー鳴に入射させる。
化容易軸を有する磁性媒体に光学的に情報の記録、再生
及び消去を行う光磁気ピンクアンプ従 来 技 術 この種の従来の光磁気ビッタアップは第１図に示すよう
に光源、例えば半導体レーザｌから放射される光束をコ
リメートレンズ２により平行光束とした後偏光子Ｂによ
って直線偏光にし第１光分割器、例えば第１ハーフミラ
ー鳴に入射させる。
第１ハーフミラ−４を透過した光束は対物レンズ５によ
ってスポツ、ト状に集束され磁性媒体６に照射される。
ってスポツ、ト状に集束され磁性媒体６に照射される。
磁性媒体６から反射した光は再び対物レンズ５により平
行光束となり第１ハーフミラ−４に入射しその一部が反
射されて第２光分割器、例えば第２ハーフミラ−７に入
射し、ここで情報信号用の光束とサーボ制御信号用の光
束とに分割される。即ち情報信号用の光束は第２ハーフ
ミラ−７で反射されて検光子８に入射する。検光子８は
回転可能に設けられ入射光の偏光方向を検出する。検光
子８で偏光方向が検知された光束は集光レンズ９によっ
てスポット状に集束された後第１光検出器１０、例えば
第１受光素子に入射し、ここで電気信号に変換され、こ
れにより所望のｍ ｓが碍られるようにする。又、サー
ボ制ａｔ １８号用の光束は第２ハーフミラ−７を透過
した後臨界角プリズムｉｔを経て第２光検出器１２、例
えば第２受光素子に入射し、ここでフォーカンシングエ
ラー信号及びトラッキングエラー信号に変換される。
行光束となり第１ハーフミラ−４に入射しその一部が反
射されて第２光分割器、例えば第２ハーフミラ−７に入
射し、ここで情報信号用の光束とサーボ制御信号用の光
束とに分割される。即ち情報信号用の光束は第２ハーフ
ミラ−７で反射されて検光子８に入射する。検光子８は
回転可能に設けられ入射光の偏光方向を検出する。検光
子８で偏光方向が検知された光束は集光レンズ９によっ
てスポット状に集束された後第１光検出器１０、例えば
第１受光素子に入射し、ここで電気信号に変換され、こ
れにより所望のｍ ｓが碍られるようにする。又、サー
ボ制ａｔ １８号用の光束は第２ハーフミラ−７を透過
した後臨界角プリズムｉｔを経て第２光検出器１２、例
えば第２受光素子に入射し、ここでフォーカンシングエ
ラー信号及びトラッキングエラー信号に変換される。
かように構成された光磁気ピンクアンプ装置において所
望の情報信号の再生は、磁性媒体の再生時における心気
カー効果による偏光面の回転を検光子８によって光の強
弱として検出することにより行う。この場合、再生信号
のＳ／Ｎ比は検光子８に入射する光束の光磁に左右され
る。
望の情報信号の再生は、磁性媒体の再生時における心気
カー効果による偏光面の回転を検光子８によって光の強
弱として検出することにより行う。この場合、再生信号
のＳ／Ｎ比は検光子８に入射する光束の光磁に左右され
る。
しかし従来は、磁性媒体６からの反射光は、２制のハー
フミラ−４及びフを反射した後検光千８に入射する為充
分な光量を得ることができなかった。又、フォー力ツシ
ングエラー信号及びトラッキングエラー１８号を得るた
めに第２ハーフミラ−７を透過して光検出器１２へ入射
する光束の光Ａｔも少量であるためサーボ制御が不安定
をなる欠点があった。
フミラ−４及びフを反射した後検光千８に入射する為充
分な光量を得ることができなかった。又、フォー力ツシ
ングエラー信号及びトラッキングエラー１８号を得るた
めに第２ハーフミラ−７を透過して光検出器１２へ入射
する光束の光Ａｔも少量であるためサーボ制御が不安定
をなる欠点があった。
第１図に示すビックアンプ装置の光束の状部を第２図に
示す。第２図（ａ）は第１ハーフミラ−４で反射され第
２ハーフミラ−７に入射する光束を示し、これから明ら
かなように偏光面は±θ変調を受けている。第２ハーフ
ミラ−１によって、これに入射する光束は反射光（第２
図（ｂ））と透過光（第２図（Ｃ））との２つの光束に
分割される。第２図（ｂ）のｍ線Ｅは検光子８の透過軸
で、これによって検光子８を透過した光は強弱の変調を
受けて光検出ｌｔｏへ入射される。第２図Φ）及び（Ｃ
）から明らかなように反射光及び透過光は何れもその光
量が小さくなり、反射光が小さくなることは再生Ｓ／Ｎ
比の劣化を意味し、透過光が小さくなることはサーボ制
御の不安定を意味する。
示す。第２図（ａ）は第１ハーフミラ−４で反射され第
２ハーフミラ−７に入射する光束を示し、これから明ら
かなように偏光面は±θ変調を受けている。第２ハーフ
ミラ−１によって、これに入射する光束は反射光（第２
図（ｂ））と透過光（第２図（Ｃ））との２つの光束に
分割される。第２図（ｂ）のｍ線Ｅは検光子８の透過軸
で、これによって検光子８を透過した光は強弱の変調を
受けて光検出ｌｔｏへ入射される。第２図Φ）及び（Ｃ
）から明らかなように反射光及び透過光は何れもその光
量が小さくなり、反射光が小さくなることは再生Ｓ／Ｎ
比の劣化を意味し、透過光が小さくなることはサーボ制
御の不安定を意味する。
目 的
本発明は、再生信号のφ比を向上させると共に、フォー
力ツシングエラー及びトラッキングエラーを検出するた
めの光量を増大し、安定なサーボ！ｌ；ｌＩ御が行える
ようにした光磁気ピックアップ装置を提供することを目
的とする。
力ツシングエラー及びトラッキングエラーを検出するた
めの光量を増大し、安定なサーボ！ｌ；ｌＩ御が行える
ようにした光磁気ピックアップ装置を提供することを目
的とする。
晩 斐
本発明光ω気ビックアンプは、光源とハーフミラ−との
間の光路上にＶ置された光学素子によって光源から放射
された光を任意の方向の直線偏光に変換し、これを磁性
媒体上に入射した絞、その反射光を、一方向の偏光成分
は全て透過し、この偏光成分と直交する方向の偏光成分
を全反射する検光子としての光分１１１１素子によって
２分割し、これにより反射光で再生信号を得、透過光で
フォー力ツシング及びトラッキングエラーを検出するこ
とを特徴とする。
間の光路上にＶ置された光学素子によって光源から放射
された光を任意の方向の直線偏光に変換し、これを磁性
媒体上に入射した絞、その反射光を、一方向の偏光成分
は全て透過し、この偏光成分と直交する方向の偏光成分
を全反射する検光子としての光分１１１１素子によって
２分割し、これにより反射光で再生信号を得、透過光で
フォー力ツシング及びトラッキングエラーを検出するこ
とを特徴とする。
実 施 例
以下率発明の実施例を図面を参照して説明する。
第８図に示す本発明光磁気ピックアップ装置ｌ″ｉ、コ
リメートレンズ２と偏光子ａとの間にＶｚ波良板１８を
設けると共に、第２ハーフミラ−７の代りに、１＠８光
分割器、即ち検光子としても作動する偏光ビームスプリ
ンタ１４を用い、更に検光子８を省略するように構成す
る点以外は第１図に示す光磁気ピックアップ装置と全く
同様の構成とする。従って第１図に示す構成素子と同一
の構成素子には同一の符号を付して示し、その詳細な説
明は省略する。
リメートレンズ２と偏光子ａとの間にＶｚ波良板１８を
設けると共に、第２ハーフミラ−７の代りに、１＠８光
分割器、即ち検光子としても作動する偏光ビームスプリ
ンタ１４を用い、更に検光子８を省略するように構成す
る点以外は第１図に示す光磁気ピックアップ装置と全く
同様の構成とする。従って第１図に示す構成素子と同一
の構成素子には同一の符号を付して示し、その詳細な説
明は省略する。
本発明装置では回転可能なＶ２波長板Ｌ８によって光軸
を任意の方向へ回転することができる。
を任意の方向へ回転することができる。
半導体レーザーｌから出る光は、もともと直線偏光であ
り、従って１／２波長板Ｌ８を通過して偏光面を任意の
角度に回転された後、偏光子８を通ることによりさらに
偏光度のよい直線偏光となって第１ハーフミラ−るを透
過後磁性媒体６に入射する。磁性媒体６から反射した光
は磁化方向によって磁気カー効果により±θだけ偏光面
の変調をうけた光となり、第１ハーフミラー４で反射後
検光子である偏光ビームスプリッタＬ４に入射する。
り、従って１／２波長板Ｌ８を通過して偏光面を任意の
角度に回転された後、偏光子８を通ることによりさらに
偏光度のよい直線偏光となって第１ハーフミラ−るを透
過後磁性媒体６に入射する。磁性媒体６から反射した光
は磁化方向によって磁気カー効果により±θだけ偏光面
の変調をうけた光となり、第１ハーフミラー４で反射後
検光子である偏光ビームスプリッタＬ４に入射する。
この偏光ビームスプリッタ１４は、Ｐ＠光は全て透過し
、Ｓ偏光は全反射するよう構成する。本発明装置におけ
る光束の状態を第養図に示す。第４ｆｉｌ（ａ）ＬＬハ
ーフミラ４で反射して偏光ビームスプリンタ１４に入射
する光であり、偏光面はψだけ傾いた点を中心に±θの
変調を受けている。ｙ軸を偏光ビームスプリッタ１４の
透過軸とすると、入射光のＸ成分は反射して光ｉｔの大
小の変調をうけて光検出器１０に入射し、これにより情
報信号を得る。又Ｘ成分の光（第４図（ｂ））は透過し
てフォー力ンシング及びトラッキングエラー検出に用い
る。
、Ｓ偏光は全反射するよう構成する。本発明装置におけ
る光束の状態を第養図に示す。第４ｆｉｌ（ａ）ＬＬハ
ーフミラ４で反射して偏光ビームスプリンタ１４に入射
する光であり、偏光面はψだけ傾いた点を中心に±θの
変調を受けている。ｙ軸を偏光ビームスプリッタ１４の
透過軸とすると、入射光のＸ成分は反射して光ｉｔの大
小の変調をうけて光検出器１０に入射し、これにより情
報信号を得る。又Ｘ成分の光（第４図（ｂ））は透過し
てフォー力ンシング及びトラッキングエラー検出に用い
る。
第２図と第４図とを比較した所がら明らかなように第１
ハーフミラ−４で反射される光束の光」は双方共同じで
あるが、従来の装置ではこの反射光束を第２ハーフミラ
−７によって２分割するため、検光子８に入射する光束
の光量とフォーカツシング及びトラッキングエラー検出
に用いられる光束の光量は双方共少なくなるが、本発明
装置では第１ハーフミラ−舎で反射された光束の光量が
すべて検光子１４に入射し、又エラー検出用の光束の光
量も充分な値とすることができる。これがため再生Ｓ／
′Ｆｔ比を向上させることができると共に安定なサーボ
制御を行なうことができる。又、漏光子８によって、一
旦偏光面を設定するとＶ２波し板１８を回転することに
よって、光学系の効率を変えることもできる。
ハーフミラ−４で反射される光束の光」は双方共同じで
あるが、従来の装置ではこの反射光束を第２ハーフミラ
−７によって２分割するため、検光子８に入射する光束
の光量とフォーカツシング及びトラッキングエラー検出
に用いられる光束の光量は双方共少なくなるが、本発明
装置では第１ハーフミラ−舎で反射された光束の光量が
すべて検光子１４に入射し、又エラー検出用の光束の光
量も充分な値とすることができる。これがため再生Ｓ／
′Ｆｔ比を向上させることができると共に安定なサーボ
制御を行なうことができる。又、漏光子８によって、一
旦偏光面を設定するとＶ２波し板１８を回転することに
よって、光学系の効率を変えることもできる。
本発明は上述した実施例に限定されるものではなく、種
々の変更が可能である。例えば、半導体レーザー１から
放射された光の偏光面を回転させる角度が小さくてよく
、効率が多少恐くてもよい場合はｖ２波長板１３を使う
必要はな・い。又、Ｖ２波長板１３を通過した光の偏光
度が充分な値を有する場合には、面光子８を省略するこ
とができる。
々の変更が可能である。例えば、半導体レーザー１から
放射された光の偏光面を回転させる角度が小さくてよく
、効率が多少恐くてもよい場合はｖ２波長板１３を使う
必要はな・い。又、Ｖ２波長板１３を通過した光の偏光
度が充分な値を有する場合には、面光子８を省略するこ
とができる。
又、偏光面を回転させる手段としては、波長板のような
複屈折性結晶の他にファラデー素子、旋光子等を用いる
ことができ、偏光子としては、腹屈折を利用したグラン
トムソンプリズムや、二色性を使った漏光子又は干渉薄
膜による偏光ビームスプリッタ等を使用することができ
る。
複屈折性結晶の他にファラデー素子、旋光子等を用いる
ことができ、偏光子としては、腹屈折を利用したグラン
トムソンプリズムや、二色性を使った漏光子又は干渉薄
膜による偏光ビームスプリッタ等を使用することができ
る。
発明の効果
上述したところから明らかなように、本発明光磁気ピッ
クアップによれば検光子に入射する光ｌｉｔを増大する
ことにより再生信号のＳ／Ｎ比を向上させると共にフォ
ーカツシング及びトラッキングエラー信号を検出するた
めの光度をも増大することができ、従って安定なサーボ
制御を行うことができる。
クアップによれば検光子に入射する光ｌｉｔを増大する
ことにより再生信号のＳ／Ｎ比を向上させると共にフォ
ーカツシング及びトラッキングエラー信号を検出するた
めの光度をも増大することができ、従って安定なサーボ
制御を行うことができる。
第１図は従来の光磁気ピックアップ装置の構成を示す配
置図、 第２図は第１図の光磁気ビックアンプ装置の光束の状態
を示す説明図、 第３図は本発明光ｒｆｉ気ピックアップ装置ｒｔの一例
を示す構成配置図、 第４図は本発明光磁気ピックアンプ装置の光束の状態を
示す説明図である。 ■・・・半導体レーザー ２・・・コリメートレンズ ３・・・偏光子 鳴・・・第１ハーフミラ− ５・・・対物レンズ ６・・・磁性媒体 ７・・・第２ハーフミラ− ８・・・検光子 ９・・・集光レンズ ｌＯ・・・第１光検出器 １１・・・臨界角プリズム １２・・・第２光検出器 １８・・・Ｖ２波長板 １４・・・偏光ビームスプリッタ（検光子）。 特許出願人 オリンパス光学工業株式会社第゛１図 第２図 第３図 手続補正占（自発） 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示 昭和５８年特許願第１７２６３３号 ２、発明の名称 光磁気ピックアップ装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都渋谷区幡ケ谷２丁目４３番２号４、代理
人 ６．７ｆｌＴＰＥの対象 明細書の１特許請求の範囲」及び「発ｎｐｙ４ＴＪ々＼
明、の７、補正の内容 （１） 特許請求の範囲を別紙の通り補正する。 （２）明細書第６頁第１０行目の１反射光で・・曲、透
過光で、との記載を「一方で再生信号をｉ！メ、他方で
ヨと補正する。 （３）明細書第７頁第８行目の「光軸をヨとの記載を「
偏光面を」と補正する。 ８、添付書類の目録 （１）別 紙 １通 別 紙 ２、特許請求の範囲 （１）光源と、該光源から磁性記録媒体に入射する光及
び該磁性記録媒体から反射する先の光路を分割する光分
割器と、該光分割器及び前記光源間の光路に設けられ前
記光源から放射される光を任意角度の偏光面を有する直
＃調光に変換する手段と、前記磁性記録媒体からの反射
光の光路に設けられ一方向の偏光成分を全部透過すると
共にこの偏光成分と直交する方向の偏光成分を全反射す
る光分割手段とを具えたことを特徴とする光磁気ピック
アップ装置。 （２）光分割器をハーフミラ−七したことを特徴とする
特許請求の範囲第１項記載の光磁気ピックアップ装置。 （３） ｉｉＩ錦偏光変換手段を偏光素子をしたことを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光磁気ピックア
ップ装置。 （４）偏光素子を１／２波長板、ファラデー素子又は旋
光子としたら−とを特徴とする特許請求の範囲第３項記
載め光磁気ピックアップ装置。 （５ン 一方向の偏光成分を全部透過し、これと直交す
る方向の偏光成分を全反射する光分割ギ段を検光子とし
ても作動する偏光ビームスプリッタとしたことを特徴と
する特許請求の範囲第１項記載の光磁気ピックアップ装
置。 （６）偏光ビームスプリッタを、複局、折を利用したグ
ラントムソンプリズム、又は干渉薄膜による幅先ビーム
スプツリタとすることを特徴とする特許請求の範囲第５
項記載の光磁気ピックアップ装置。
置図、 第２図は第１図の光磁気ビックアンプ装置の光束の状態
を示す説明図、 第３図は本発明光ｒｆｉ気ピックアップ装置ｒｔの一例
を示す構成配置図、 第４図は本発明光磁気ピックアンプ装置の光束の状態を
示す説明図である。 ■・・・半導体レーザー ２・・・コリメートレンズ ３・・・偏光子 鳴・・・第１ハーフミラ− ５・・・対物レンズ ６・・・磁性媒体 ７・・・第２ハーフミラ− ８・・・検光子 ９・・・集光レンズ ｌＯ・・・第１光検出器 １１・・・臨界角プリズム １２・・・第２光検出器 １８・・・Ｖ２波長板 １４・・・偏光ビームスプリッタ（検光子）。 特許出願人 オリンパス光学工業株式会社第゛１図 第２図 第３図 手続補正占（自発） 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示 昭和５８年特許願第１７２６３３号 ２、発明の名称 光磁気ピックアップ装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都渋谷区幡ケ谷２丁目４３番２号４、代理
人 ６．７ｆｌＴＰＥの対象 明細書の１特許請求の範囲」及び「発ｎｐｙ４ＴＪ々＼
明、の７、補正の内容 （１） 特許請求の範囲を別紙の通り補正する。 （２）明細書第６頁第１０行目の１反射光で・・曲、透
過光で、との記載を「一方で再生信号をｉ！メ、他方で
ヨと補正する。 （３）明細書第７頁第８行目の「光軸をヨとの記載を「
偏光面を」と補正する。 ８、添付書類の目録 （１）別 紙 １通 別 紙 ２、特許請求の範囲 （１）光源と、該光源から磁性記録媒体に入射する光及
び該磁性記録媒体から反射する先の光路を分割する光分
割器と、該光分割器及び前記光源間の光路に設けられ前
記光源から放射される光を任意角度の偏光面を有する直
＃調光に変換する手段と、前記磁性記録媒体からの反射
光の光路に設けられ一方向の偏光成分を全部透過すると
共にこの偏光成分と直交する方向の偏光成分を全反射す
る光分割手段とを具えたことを特徴とする光磁気ピック
アップ装置。 （２）光分割器をハーフミラ−七したことを特徴とする
特許請求の範囲第１項記載の光磁気ピックアップ装置。 （３） ｉｉＩ錦偏光変換手段を偏光素子をしたことを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光磁気ピックア
ップ装置。 （４）偏光素子を１／２波長板、ファラデー素子又は旋
光子としたら−とを特徴とする特許請求の範囲第３項記
載め光磁気ピックアップ装置。 （５ン 一方向の偏光成分を全部透過し、これと直交す
る方向の偏光成分を全反射する光分割ギ段を検光子とし
ても作動する偏光ビームスプリッタとしたことを特徴と
する特許請求の範囲第１項記載の光磁気ピックアップ装
置。 （６）偏光ビームスプリッタを、複局、折を利用したグ
ラントムソンプリズム、又は干渉薄膜による幅先ビーム
スプツリタとすることを特徴とする特許請求の範囲第５
項記載の光磁気ピックアップ装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 Ｌ 光源と、該光源から磁性記録標体に入射する光及び
該磁性記録媒体から反射する光の光路を分割する光分割
器と、該光分割器及び前記光源間の光路に設けられ前記
光源から放射される光を任意角度の偏光面を有する直線
偏光に変換する手段と、前記磁性記０媒体からの反射光
の光路に設けられ一方向の偏光成分を全部透過すると共
にこの偏光成分と直交する方向の偏光成分を全反射する
光分割手段とを具えたことを特徴とする光磁気ピックア
ップ装置。 ２ 光分割器をハーフミラ−としたことを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載の光磁気ピンクアップ装置。 ＆ 直線偏光変換手段を偏光素子としたことを特徴とす
る特許請求の範囲第り項記載の光磁表 偏光素子をｌ／
２波長板、ファラデー素子又は旋光子としたことを特徴
とする特許請求の範ｒＪＭ第ａ項記載の光磁気ピンクア
ップ装置。 ａ 一方向の偏光成分を全部透過し、これと直交する方
向の偏光成分を全反射する光分割手段を検光子としても
作動する偏光ビームスプリッタとしたことを特徴とする
特ｉｔ′ｒ請求の範囲第１項記載の光Ｂｉ気ピックアッ
プ装置。 ＆ 偏光ビームスプリッタを、Ｗ屈折を利用したグラン
トムソンプリズム、二色性を用いる偏光子又は干渉薄膜
による偏光ビームスプリッタとすることを特徴とする特
許請求の範囲第６項記載の光Ｂｉ気ピンクアンプ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17263383A JPS6063751A (ja) | 1983-09-19 | 1983-09-19 | 光磁気ピツクアツプ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17263383A JPS6063751A (ja) | 1983-09-19 | 1983-09-19 | 光磁気ピツクアツプ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6063751A true JPS6063751A (ja) | 1985-04-12 |
Family
ID=15945493
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17263383A Pending JPS6063751A (ja) | 1983-09-19 | 1983-09-19 | 光磁気ピツクアツプ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6063751A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60179959A (ja) * | 1984-02-24 | 1985-09-13 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 光磁気デイスク装置 |
| WO2009048051A1 (ja) * | 2007-10-12 | 2009-04-16 | Nikon Corporation | 照明光学装置、並びに露光方法及び装置 |
-
1983
- 1983-09-19 JP JP17263383A patent/JPS6063751A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60179959A (ja) * | 1984-02-24 | 1985-09-13 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 光磁気デイスク装置 |
| WO2009048051A1 (ja) * | 2007-10-12 | 2009-04-16 | Nikon Corporation | 照明光学装置、並びに露光方法及び装置 |
| US8300213B2 (en) | 2007-10-12 | 2012-10-30 | Nikon Corporation | Illumination optics apparatus, exposure method, exposure apparatus, and method of manufacturing electronic device |
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