JPH03228232A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
- Publication number
- JPH03228232A JPH03228232A JP2022363A JP2236390A JPH03228232A JP H03228232 A JPH03228232 A JP H03228232A JP 2022363 A JP2022363 A JP 2022363A JP 2236390 A JP2236390 A JP 2236390A JP H03228232 A JPH03228232 A JP H03228232A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reflectance
- photodetector
- intensity
- medium
- beam splitter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 19
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 11
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 11
- 206010041662 Splinter Diseases 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 101100309040 Neurospora crassa (strain ATCC 24698 / 74-OR23-1A / CBS 708.71 / DSM 1257 / FGSC 987) lea-1 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
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Landscapes
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は光ピックアップ装置に関する。
(ロ)従来の技術
従来の光ピックアップ装置の光学系の一例を第3図に示
す。図において(1)は半導体レーザ、(2)はコリメ
ートレンズ、(3)はプリズム、(4)は偏光ビームス
プリッタ、(5)は1板、(6)は対物レンズ、(7)
は媒体、(8)はフォーカスエラー及びトラッキングエ
ラー検出用光学系、(9)はフォトディテクタである。
す。図において(1)は半導体レーザ、(2)はコリメ
ートレンズ、(3)はプリズム、(4)は偏光ビームス
プリッタ、(5)は1板、(6)は対物レンズ、(7)
は媒体、(8)はフォーカスエラー及びトラッキングエ
ラー検出用光学系、(9)はフォトディテクタである。
斯かる光ピツクア、ツブ装置に用いられる偏光ビームス
プリッタ(4)は、P波を透過しS波を反射するもので
、半導体レーザ(1)から出射される直線偏光ビームが
偏光ビームスプリッタ(4)に対してP波となる様に光
学系が設定されている。従って、半導体レーザ(1)か
らのビームは、偏光ビームスプリッタ(4)を透過する
。一方、媒体(7)からの反射ビームは、1板(5)の
作用により偏光面が90°だけ回転されるため、ビーム
スプリッタ(4)に対してS波となる。このため、斯か
る反射ビームは、ビームスプリッタ(4)によりフォト
ディテクタ(9)側に反射される。
プリッタ(4)は、P波を透過しS波を反射するもので
、半導体レーザ(1)から出射される直線偏光ビームが
偏光ビームスプリッタ(4)に対してP波となる様に光
学系が設定されている。従って、半導体レーザ(1)か
らのビームは、偏光ビームスプリッタ(4)を透過する
。一方、媒体(7)からの反射ビームは、1板(5)の
作用により偏光面が90°だけ回転されるため、ビーム
スプリッタ(4)に対してS波となる。このため、斯か
る反射ビームは、ビームスプリッタ(4)によりフォト
ディテクタ(9)側に反射される。
斯かる光とツクナツプ装置を、コンパクトディスク等基
板に複屈折を有さない様な媒体の再生用に用いる場合に
は問題はないが、光カード等の様に基板に複屈折が存在
する媒体を再生する場合には問題−が生じる。つまり、
第3図において、基板(7a)に複屈折が存在すると、
ビームが基板(7a)を通る間にビームの偏光状態に乱
れが生じる。基板(7a)に複屈折が存在しない場合、
1板(5)を通った半導体レーザ(1)からのビームは
円偏光に変換されるが、前述の様に基板(7a)に複屈
折が存在すると、媒体(7)からの反射ビームはだ円偏
光となり、このため、このビームは1板(a)を通って
も前記S波の直線偏光とはならない。斯かる場合には、
媒体(7)からの反射ビームは、その一部が偏光ビーム
スブリシタ(4)を透過する様になり、このビームの透
過によって、フォトディテクタ(9)に向かうビームに
ノイズが重畳されてしまう。このため、フォトディテク
タ(9)から出力される電気信号にもノイズが重畳され
てしまう。
板に複屈折を有さない様な媒体の再生用に用いる場合に
は問題はないが、光カード等の様に基板に複屈折が存在
する媒体を再生する場合には問題−が生じる。つまり、
第3図において、基板(7a)に複屈折が存在すると、
ビームが基板(7a)を通る間にビームの偏光状態に乱
れが生じる。基板(7a)に複屈折が存在しない場合、
1板(5)を通った半導体レーザ(1)からのビームは
円偏光に変換されるが、前述の様に基板(7a)に複屈
折が存在すると、媒体(7)からの反射ビームはだ円偏
光となり、このため、このビームは1板(a)を通って
も前記S波の直線偏光とはならない。斯かる場合には、
媒体(7)からの反射ビームは、その一部が偏光ビーム
スブリシタ(4)を透過する様になり、このビームの透
過によって、フォトディテクタ(9)に向かうビームに
ノイズが重畳されてしまう。このため、フォトディテク
タ(9)から出力される電気信号にもノイズが重畳され
てしまう。
(ハ)発明が解決しようとする課題
本発明は、基板に複屈折が存在してもフォトディテクタ
ーからの信号にノイズが重畳されない様な光ピックアッ
プ装置を提供せんとするしのである。
ーからの信号にノイズが重畳されない様な光ピックアッ
プ装置を提供せんとするしのである。
(ニ)課題を解決するための手段
ビームスプリンタとして、S波及びP波に対する反射率
が等しいビームスプリンタを用いる。
が等しいビームスプリンタを用いる。
(ホ)作 用
図1で示される光学系においてフォトディテクター側へ
ビームスプリンターによって反射されるレーザパワーの
ジョーンズベクトル解析を行う。
ビームスプリンターによって反射されるレーザパワーの
ジョーンズベクトル解析を行う。
半導体レーザからの放射光はP波であるとし、ビームス
プリッタ−のP波、S波に対する振幅反射率をそれぞれ
R7、R5、振幅透過率T1、T5、光デイスク基板等
の複屈折による位相差を2乙複屈折方位をαとするとジ
ョーンズベクトル表示は以下の様になる。
プリッタ−のP波、S波に対する振幅反射率をそれぞれ
R7、R5、振幅透過率T1、T5、光デイスク基板等
の複屈折による位相差を2乙複屈折方位をαとするとジ
ョーンズベクトル表示は以下の様になる。
、lEl’=lExl”lEア1!=lTpl″IR,
I’−ITPI’(IR。
I’−ITPI’(IR。
Rsl”)Sin’2a’(1−Cos2y)よって1
RPl=lR8lならば上式右辺第2項は0となり El”’1Tpl! 1Rpl ・ ・ (1)
となって複屈折α、γの影響を補正できるピックアップ
が得られる。尚、ジョーンズベクトル解析については、
森北出版発行の「結晶光学JP128に説明されており
、ここではその説明を省略する。
RPl=lR8lならば上式右辺第2項は0となり El”’1Tpl! 1Rpl ・ ・ (1)
となって複屈折α、γの影響を補正できるピックアップ
が得られる。尚、ジョーンズベクトル解析については、
森北出版発行の「結晶光学JP128に説明されており
、ここではその説明を省略する。
(へ)実施例
以下、本発明の実施例につき図面を用いて説明する。尚
、従来例で用いた第3図と同一部分には同一符号を付し
、説明を省略する。
、従来例で用いた第3図と同一部分には同一符号を付し
、説明を省略する。
第1図は第1の実施例の光学系を示す図である。図にお
いて、 (10)がビームスプリフタで、P波及びS波
に対する反射率が夫々50%に設定されている。ビーム
スプリッタ(10)の反射率をこの様に設定することに
より、7オトデノテクター(9)によって受光されるビ
ームの強度を最大にする二とができる。つまり、前記第
1式において、TPl=1−IRPIであるから、ビー
ムスプリンタ(10)によってフォトディテクタ(7)
側に反射されるビームの強度lEiは El=(1−lRpl)lRp:”=−(lRpニー0
.5)”(1,25・・(2)となり、P波に対する反
射率(=S波に対する反射率)が50%のとき1E]が
最大となり、このときのビーム強度IEIは、半導体レ
ーザ(1)から出射されるビーム強度の25%となる。
いて、 (10)がビームスプリフタで、P波及びS波
に対する反射率が夫々50%に設定されている。ビーム
スプリッタ(10)の反射率をこの様に設定することに
より、7オトデノテクター(9)によって受光されるビ
ームの強度を最大にする二とができる。つまり、前記第
1式において、TPl=1−IRPIであるから、ビー
ムスプリンタ(10)によってフォトディテクタ(7)
側に反射されるビームの強度lEiは El=(1−lRpl)lRp:”=−(lRpニー0
.5)”(1,25・・(2)となり、P波に対する反
射率(=S波に対する反射率)が50%のとき1E]が
最大となり、このときのビーム強度IEIは、半導体レ
ーザ(1)から出射されるビーム強度の25%となる。
斯かるビームスプリッタ(10)の反射率は、必要に応
じて種々変更すれば良い。上記の如く、フォトディテク
ター(9)上におけるビーム強度の点からすると、ビー
ムスプリンタ(10)のP波、S波に対する反射率を5
0%にすると良いが、記録用ビームの強度を考えて媒体
上のビーム強度を大きくしようとすると、斯かる反射率
は小さい方が良い。ビームスプリッタの反射率は、これ
らを考慮して決定すれば良い。
じて種々変更すれば良い。上記の如く、フォトディテク
ター(9)上におけるビーム強度の点からすると、ビー
ムスプリンタ(10)のP波、S波に対する反射率を5
0%にすると良いが、記録用ビームの強度を考えて媒体
上のビーム強度を大きくしようとすると、斯かる反射率
は小さい方が良い。ビームスプリッタの反射率は、これ
らを考慮して決定すれば良い。
ところで、上記実施例では、媒体からの反射ビームの一
部がビームスプリッタ(]0)を通って半導体レーザ(
1)に戻ってしまう。斯かる戻り光は、半導体レーザ(
1)からの出射ビームと干渉し、この出射ビームを不安
定にならしめる。第2図は斯かる不都合を解消する第2
の実施例を示すものである。本実施例は先の実施例に比
べて、ファラデー回転素子(11)及び偏光子(12)
を配した点において相違している。ここで、偏光子(1
2)はビームスアリツタ(10)のP波相当の線温光ビ
ームを透過する様に設定されている。又、ファラデー回
転素子(11)は、ビーム偏光面を半導体レーザ(1)
側から見て時計方向に45°だけ回転させる。半導体レ
ーザ(1)から出射される直線偏光ビームの偏光面は、
ビームスプリッタ(10)のP波に対して反時計方向に
45°回転している。
部がビームスプリッタ(]0)を通って半導体レーザ(
1)に戻ってしまう。斯かる戻り光は、半導体レーザ(
1)からの出射ビームと干渉し、この出射ビームを不安
定にならしめる。第2図は斯かる不都合を解消する第2
の実施例を示すものである。本実施例は先の実施例に比
べて、ファラデー回転素子(11)及び偏光子(12)
を配した点において相違している。ここで、偏光子(1
2)はビームスアリツタ(10)のP波相当の線温光ビ
ームを透過する様に設定されている。又、ファラデー回
転素子(11)は、ビーム偏光面を半導体レーザ(1)
側から見て時計方向に45°だけ回転させる。半導体レ
ーザ(1)から出射される直線偏光ビームの偏光面は、
ビームスプリッタ(10)のP波に対して反時計方向に
45°回転している。
半導体レーザ(1)からのビームは、ファラデー回転素
子によって時計方向に45°回転され、ビームスプリッ
タ(川)のP波相当の偏光面に一致せしめられる。斯か
るビームは偏光子(]2)を透過した後、ビームスプリ
ッタ(10)に入射される。該ビームの内、その一部は
ビームスプリ・l夕(10)を透過し、然る後対物レン
ズ(6)によって媒体上に収束される。媒体(7)から
の反射ビームは、入射時と同様の光路を逆行してビーム
スプリシタ(10)に入射され、その一部がフォトディ
テクター(9)側に反射される。前記媒体(7)からの
反射ビームの内、ビームスプリッタ(10)を透過した
ビームは、偏光子(12)を通ることによってノイズ成
分がカットされる。然る後このビームは、ファラデー回
転素子(11)によって、半導体レーザ(1)から見て
時計方向に45°だけ偏光面が回転された後、半導体レ
ーザ(1)に戻る。
子によって時計方向に45°回転され、ビームスプリッ
タ(川)のP波相当の偏光面に一致せしめられる。斯か
るビームは偏光子(]2)を透過した後、ビームスプリ
ッタ(10)に入射される。該ビームの内、その一部は
ビームスプリ・l夕(10)を透過し、然る後対物レン
ズ(6)によって媒体上に収束される。媒体(7)から
の反射ビームは、入射時と同様の光路を逆行してビーム
スプリシタ(10)に入射され、その一部がフォトディ
テクター(9)側に反射される。前記媒体(7)からの
反射ビームの内、ビームスプリッタ(10)を透過した
ビームは、偏光子(12)を通ることによってノイズ成
分がカットされる。然る後このビームは、ファラデー回
転素子(11)によって、半導体レーザ(1)から見て
時計方向に45°だけ偏光面が回転された後、半導体レ
ーザ(1)に戻る。
斯かる戻り光と、半導体レーザ(1)からの出射ビーム
とを比較すると、両ビームの偏光面は互いに直交してい
る。つまり、半導体レーザ(1)からの出射ビームが媒
体に反射された後半導体レーザ(1)に戻るまでにファ
ラデー回転素子(11)を2回通り、この際ビームの偏
光面が45°ずつ同一方向に回転されるため、半導体レ
ーザ(1ビ\の戻り光の偏光面は出射ビームの偏光面に
対して90゜だけ回転される。この様に、出射ビームと
戻り光の偏光面が直交している場合には両ビーム間に干
渉は生じない。従って、本実施例では、戻り光による出
射ビームの乱れは生じない。
とを比較すると、両ビームの偏光面は互いに直交してい
る。つまり、半導体レーザ(1)からの出射ビームが媒
体に反射された後半導体レーザ(1)に戻るまでにファ
ラデー回転素子(11)を2回通り、この際ビームの偏
光面が45°ずつ同一方向に回転されるため、半導体レ
ーザ(1ビ\の戻り光の偏光面は出射ビームの偏光面に
対して90゜だけ回転される。この様に、出射ビームと
戻り光の偏光面が直交している場合には両ビーム間に干
渉は生じない。従って、本実施例では、戻り光による出
射ビームの乱れは生じない。
以上、本発明の2つの実施例について説明したが、本発
明はこれら実施例に限定されず、必要に応じて構成を変
更できることは言うまでもない。
明はこれら実施例に限定されず、必要に応じて構成を変
更できることは言うまでもない。
(ト)発明の効果
以上、本発明に依れば、媒体の基板等に複屈折が存在し
ていても、全く支障なく媒体のデータ再生を行うことが
できる光ピツクアンプ装置を提供できる。
ていても、全く支障なく媒体のデータ再生を行うことが
できる光ピツクアンプ装置を提供できる。
第1図は本発明の第1の実施例を示す図、第2図は第2
の実施例を示す図、第3図は従来例を示す図である。 (1)・・・半導体レーザ、(9)・・・フォトディテ
クタ、(] I) )・・・ビームスプリンタ。
の実施例を示す図、第3図は従来例を示す図である。 (1)・・・半導体レーザ、(9)・・・フォトディテ
クタ、(] I) )・・・ビームスプリンタ。
Claims (1)
- (1)レーザ光源から媒体への光路中に配され、且つ媒
体から同一光路を通って入射される反射ビームをフォト
ディテクタへと導くビームスプリッタを有する光ピック
アップ装置において、前記ビームスプリッタを、P偏光
及びS偏光に対する反射率が略等しいものとしたことを
特徴とする光ピックアップ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022363A JPH03228232A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 光ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022363A JPH03228232A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 光ピックアップ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03228232A true JPH03228232A (ja) | 1991-10-09 |
Family
ID=12080546
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022363A Pending JPH03228232A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03228232A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012056827A1 (ja) * | 2010-10-27 | 2012-05-03 | コニカミノルタオプト株式会社 | 光ピックアップ装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62169103A (ja) * | 1986-01-22 | 1987-07-25 | Toshiba Corp | ビ−ムスプリツタ |
JPS6353731A (ja) * | 1986-08-14 | 1988-03-08 | オプチカル コ−テイング ラボラトリ− インコ−ポレ−テツド | 光学ディスク読取装置用光学系及び部品 |
-
1990
- 1990-01-31 JP JP2022363A patent/JPH03228232A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62169103A (ja) * | 1986-01-22 | 1987-07-25 | Toshiba Corp | ビ−ムスプリツタ |
JPS6353731A (ja) * | 1986-08-14 | 1988-03-08 | オプチカル コ−テイング ラボラトリ− インコ−ポレ−テツド | 光学ディスク読取装置用光学系及び部品 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012056827A1 (ja) * | 2010-10-27 | 2012-05-03 | コニカミノルタオプト株式会社 | 光ピックアップ装置 |
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