JPS6058000A - 外観検査装置 - Google Patents
外観検査装置Info
- Publication number
- JPS6058000A JPS6058000A JP58165001A JP16500183A JPS6058000A JP S6058000 A JPS6058000 A JP S6058000A JP 58165001 A JP58165001 A JP 58165001A JP 16500183 A JP16500183 A JP 16500183A JP S6058000 A JPS6058000 A JP S6058000A
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- Japan
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- external appearance
- board
- imaging device
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は外観検査装置、特に電子回路基板υ）部品取付
状態やはんだ例状態の認識を目的と１．た外観検査装置
の機構構成に関するものである。
状態やはんだ例状態の認識を目的と１．た外観検査装置
の機構構成に関するものである。
（従来技術とその問題点）
第１図に従来の電子回路基板検査装置の構成例を示す。
図において、１０は基板搬送コンベーノ′ジイン、２０
は外観７検査装置の機セＩ）部、；３０は〃１観ｌ６＝
ｌｌｒｉ、５置の認識処理部、４０はたとえば＋’１＋
ｌｉｌ＋ばんだ付（）７．１１“／Ｉ“を示す。このう
ち、コンベアライン田はＪ、１（１ｙ Ｉ＊ 転機１１
．送り込みベルトコンベア１２．基板固定機構１３、送
り出しベルトコンベア１４．架台１５等から構成され、
また機構部２０ばＸＹブ７向位置決め１幾＋１１７２１
と、これに搭載された撮像装置２２．照明器２；３．及
び架台２４等から構成され、さらに認識ｆｌｉｌｌ １
１１部：ｔｏ ＆；ｒ。
は外観７検査装置の機セＩ）部、；３０は〃１観ｌ６＝
ｌｌｒｉ、５置の認識処理部、４０はたとえば＋’１＋
ｌｉｌ＋ばんだ付（）７．１１“／Ｉ“を示す。このう
ち、コンベアライン田はＪ、１（１ｙ Ｉ＊ 転機１１
．送り込みベルトコンベア１２．基板固定機構１３、送
り出しベルトコンベア１４．架台１５等から構成され、
また機構部２０ばＸＹブ７向位置決め１幾＋１１７２１
と、これに搭載された撮像装置２２．照明器２；３．及
び架台２４等から構成され、さらに認識ｆｌｉｌｌ １
１１部：ｔｏ ＆；ｒ。
モニタ３１．認識処理回路３２．制御回路３：つ、プリ
ンタ３４等から構成されている。この基板検−「装置１
／１の動作は次のとおりである。はんだ伺装置１１０か
も送出された電子回路基板１は、はんだ何面が下側にな
っているため反転機１１によって反転され、はんだ何面
が上側にされた状態でベルトコンベア１２の上に置かれ
、さらに基板固定機構１３に送り込まれる。基板固定機
構１３は基板１の外１杉または基板内に加工されている
位置決め穴を利Ｊｉｌ ｌ〜て、基板１を所定の場所に
位置決めして固定する。Ｊｉｌｔ（ｌ＜１が固定された
事が検出されると、制御回路３３カー１１１作Ｌ、、、
Ｘｙ位置決め機構２１を基板の大きさに従って１０，
１：）かしめ分割されたメツシー状の位置に沿って移動
させる。これにより撮像装置２２は基板１の映像を前記
のメツシュｆｒＴＫ撮像し、映像信号を認識回路３２に
順次；Ｘりこむ。認識回路３２は映像信号を処理し、は
んだ伺状態の不良を発見した場合は。
ンタ３４等から構成されている。この基板検−「装置１
／１の動作は次のとおりである。はんだ伺装置１１０か
も送出された電子回路基板１は、はんだ何面が下側にな
っているため反転機１１によって反転され、はんだ何面
が上側にされた状態でベルトコンベア１２の上に置かれ
、さらに基板固定機構１３に送り込まれる。基板固定機
構１３は基板１の外１杉または基板内に加工されている
位置決め穴を利Ｊｉｌ ｌ〜て、基板１を所定の場所に
位置決めして固定する。Ｊｉｌｔ（ｌ＜１が固定された
事が検出されると、制御回路３３カー１１１作Ｌ、、、
Ｘｙ位置決め機構２１を基板の大きさに従って１０，
１：）かしめ分割されたメツシー状の位置に沿って移動
させる。これにより撮像装置２２は基板１の映像を前記
のメツシュｆｒＴＫ撮像し、映像信号を認識回路３２に
順次；Ｘりこむ。認識回路３２は映像信号を処理し、は
んだ伺状態の不良を発見した場合は。
その位置をｆｌｉ制御回路３３を介してプリンタ３４に
プリントアウト ト−７ンベー／’＋４により次工程へ送り出される。
プリントアウト ト−７ンベー／’＋４により次工程へ送り出される。
この１１：つな？ＩＹ−東装置釦装置る問題点は下記の
通りである。
通りである。
（１）検査のために基板を上下反転する機構を必要）−
シ＋ 基４に搬送のコンベアラインが複雑大形化−・ｉ
′／）。１１．！ｌに電イ部品が高密度に実装された基
板の反転やｆ’（開法めは一般的に容易ではない。
シ＋ 基４に搬送のコンベアラインが複雑大形化−・ｉ
′／）。１１．！ｌに電イ部品が高密度に実装された基
板の反転やｆ’（開法めは一般的に容易ではない。
（２）ｊ１１日象４−、 ｌｉ／，ｌ−や照明器が移動
機構にオーバ・・ング１、た状態で取り付げられており
，これ等が振動しな見・ようにずイ）ために剛性度の高
い結合機構な要り，大形となり重置も増加する。
機構にオーバ・・ング１、た状態で取り付げられており
，これ等が振動しな見・ようにずイ）ために剛性度の高
い結合機構な要り，大形となり重置も増加する。
（、″（１ 基板の移Ｉ［１１機構部が外部に露出して
いるため。
いるため。
照明器１２）外の背景光の防電，あるいし」′安全１の
対策を必要とする。
対策を必要とする。
（目ｒ白）
本発明は以」二に１７１（べた欠点を除去ｊ７，比Φ※
的小形化が可能であり，かつ安全性，信頼１／１の高い
々１観検査装置の実現を目的とする。 ・ （実施例） 第２図に本発明の実施例を示す。図によ・りいて。
的小形化が可能であり，かつ安全性，信頼１／１の高い
々１観検査装置の実現を目的とする。 ・ （実施例） 第２図に本発明の実施例を示す。図によ・りいて。
第１図と相当部分には同一番号をイ１１−てＡ）１ ＋
ζ）、、本実施例の基本的な特徴は，撮像装置２２，照
明器２；；。
ζ）、、本実施例の基本的な特徴は，撮像装置２２，照
明器２；；。
及び移動するＸＹ方向位置決め機構２１が一Ｉンーγラ
イン１０の内部，す′ｆ．【わち検査対失ど／幻：＜、
Ｉ，Ｉ； １ノ１の下側に設置されていることである
。、Ｚ ：、ｌ’１． Ｉｌｆ”、 ｊ： ”＋て検査
のために基板を反転させる必要がソＣ （ ／．（、
ｌ’） 。
イン１０の内部，す′ｆ．【わち検査対失ど／幻：＜、
Ｉ，Ｉ； １ノ１の下側に設置されていることである
。、Ｚ ：、ｌ’１． Ｉｌｆ”、 ｊ： ”＋て検査
のために基板を反転させる必要がソＣ （ ／．（、
ｌ’） 。
コンベアライン１０を簡略化できる。また、ＸＹ機構２
１が架台１５に内蔵される結果，安全性の十て山くめて
有利となる。さらに、面像ヤ、置とＩｃＩ １！ＩＩ
８：；も同時に内蔵された状態になるため，周囲光の影
響を受けることなく，安定な映像取込みがｕｌ能である
，。
１が架台１５に内蔵される結果，安全性の十て山くめて
有利となる。さらに、面像ヤ、置とＩｃＩ １！ＩＩ
８：；も同時に内蔵された状態になるため，周囲光の影
響を受けることなく，安定な映像取込みがｕｌ能である
，。
なお、検査装置機構部２０の調整を容易にするためにｉ
：Ｉ， メツ１に示Ｌ７たように要所毎に扉１６をもう
け。
：Ｉ， メツ１に示Ｌ７たように要所毎に扉１６をもう
け。
心安に応じて開閉できるようにすれば良い。
第；目ヅ１（、を本発明σ月）１４像装置周辺の実施例
を示し／、−ものである。４１ｉ像装置２２が上向きの
状態となる／、−め、１“部か１′）σ月１）Ｃ ｔ’
：））い等の落下により，撮像用八ツ・丸面や照明８：
÷２；３か汚１１１する点が問題となる。そこで図に示
すように空気供給ノズル別を慢像部付Ｊ（［に１・１１
−・１ない１一枚数個設置し，これより空気流をイ孔ｌ
ＩせしめてＩｌｐ， ＄＞いの落下を防１１−すると共
に，この空ＩＡ流をさらに照明器の冷却に用いている。
を示し／、−ものである。４１ｉ像装置２２が上向きの
状態となる／、−め、１“部か１′）σ月１）Ｃ ｔ’
：））い等の落下により，撮像用八ツ・丸面や照明８：
÷２；３か汚１１１する点が問題となる。そこで図に示
すように空気供給ノズル別を慢像部付Ｊ（［に１・１１
−・１ない１一枚数個設置し，これより空気流をイ孔ｌ
ＩせしめてＩｌｐ， ＄＞いの落下を防１１−すると共
に，この空ＩＡ流をさらに照明器の冷却に用いている。
なり、丁，対へ！となる基板が薄く，これを通して周囲
光が，ｆｆ ｉｌＡｉする恐れのある場合は図のように
基板上部ろ・カバー１６でＩ’ａえばよく，このカバー
は必要に応１〕て除去できるようにしておけばメンテナ
ンスその他に都合がよい。
光が，ｆｆ ｉｌＡｉする恐れのある場合は図のように
基板上部ろ・カバー１６でＩ’ａえばよく，このカバー
は必要に応１〕て除去できるようにしておけばメンテナ
ンスその他に都合がよい。
以」−の実施例は電子回路基板の外観検査を例と（７て
説明１，だが、基板検査以外の対象物に対してイ、本発
明の１，（本１１λ理を筒用でき，また、撮像装置どし
一Ｃば，テ１ノビノノメラ以外にラインセンサ等光学１
４１ −（− 、さらに静電変換素子など光学素子以外
のものも利用で゛きる。
説明１，だが、基板検査以外の対象物に対してイ、本発
明の１，（本１１λ理を筒用でき，また、撮像装置どし
一Ｃば，テ１ノビノノメラ以外にラインセンサ等光学１
４１ −（− 、さらに静電変換素子など光学素子以外
のものも利用で゛きる。
（効果）
以−にに述べたように本発明に．１れば，叱１１仝的小
形で簡略化され，かつ安全性，信頼性の１・ψわた夕）
観検査装置の実現が可能であり，工業的１．ｒ効１１１
が太きい。
形で簡略化され，かつ安全性，信頼性の１・ψわた夕）
観検査装置の実現が可能であり，工業的１．ｒ効１１１
が太きい。
第１図は従来の外観検査装置の構成図，第２図は本発明
の実施例による外観検査装（δの構成図。 第３図は第２図の１最像部付近の構成図である。 １：検査対象基板，１０：基板搬送コンベアライン、２
０：機構部，２２：撮像装置，２３：照明器，Ｉ（１：
認識処理部。 ６−− 第２図 一−ロクち− 第３図 ６
の実施例による外観検査装（δの構成図。 第３図は第２図の１最像部付近の構成図である。 １：検査対象基板，１０：基板搬送コンベアライン、２
０：機構部，２２：撮像装置，２３：照明器，Ｉ（１：
認識処理部。 ６−− 第２図 一−ロクち− 第３図 ６
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 検査対称物を搬送する搬送コンベアラインと。 前記対称物を撮像装置によって検査する１浅溝部ど。 前記撮像装置の映像信号を処理する認識処理部とで構成
した外観検査装置において、前記搬送コンベアラインの
内部に前記機構部を設置し、この機構部に設けた撮像装
置によって前記対称物の夕１観を下方向から撮像するよ
うに！、て構成１〜たことを特徴とする外観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58165001A JPS6058000A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58165001A JPS6058000A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 外観検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6058000A true JPS6058000A (ja) | 1985-04-03 |
Family
ID=15803957
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58165001A Pending JPS6058000A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6058000A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62291199A (ja) * | 1986-06-11 | 1987-12-17 | 松下電器産業株式会社 | チツプ部品の整列外観検査方法 |
-
1983
- 1983-09-09 JP JP58165001A patent/JPS6058000A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62291199A (ja) * | 1986-06-11 | 1987-12-17 | 松下電器産業株式会社 | チツプ部品の整列外観検査方法 |
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