JPS6053066A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPS6053066A
JPS6053066A JP58160334A JP16033483A JPS6053066A JP S6053066 A JPS6053066 A JP S6053066A JP 58160334 A JP58160334 A JP 58160334A JP 16033483 A JP16033483 A JP 16033483A JP S6053066 A JPS6053066 A JP S6053066A
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JP
Japan
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lead
semiconductor device
bent
package
sections
Prior art date
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JP58160334A
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Akio Hanzawa
半澤 昭夫
Hajime Sato
佐藤 始
Yoshimasa Shimizu
清水 善正
Wahei Kitamura
北村 和平
Kenichi Otsuka
大塚 憲一
Keizo Matsukawa
松川 啓三
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [技術分野] 本発明は、半導体装置の信頼性向上、特に樹脂封止型半
導体装置の信頼性向上に適用して有効な技術に関するも
のである。
[背景技術] リードフレームがコバールまたは42−アロイ等の比較
的硬い材質からなる樹脂封止型半導体装置は、樹脂モー
ルド後に折り曲げロール等でリードフレームの折り曲げ
成形をする際にパッケージのリードフレーム接着部にス
トレスが加わるため、該接着部近傍のパンケージ部に亀
裂が生じたり、樹脂とフレームの接着界面に剥がれが生
じたりという現象が生じ易いということが考えられる。
事実、パッケージにこれら亀裂等が生じたために、該亀
裂等から水分その他の腐食原因物質が内部に侵入して、
半導体装置の内部電極等の腐食を起こし、その結果導通
不良等の半導体装置の信頼性を損なうという問題が発生
していることが本発明者等により見い出された。
そこで、パンケージのり−1−フレーム接着部にストレ
スが生じないようにするために、リードフレームの折り
曲げ部の一部を切り欠(等の方法で取り除いて折り曲げ
を容易にするという方法′も考えられるが、この場合は
切除した分だけリード強度が低下するためリード折れ等
の他の問題を招来するということが本発明者等により明
らかにされた。
[発明の目的] 本発明の目的は、樹脂封止型半導体装置において、外部
リードの折り曲げの際に、パッケージに亀裂等が発生す
ることを防止し、半導体装置の信頼性を向上することに
ある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
「発明の概要] 1 本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、次の通りである。
すなわち、樹脂封止型パッケージからなる21′導体装
置において、該パッケージに埋設されたリードフレーム
を、その折り曲げ部の全部または一部を該リード材より
軟らかい塑性材料で形成することにより、所定の強度を
保持しながら折り曲げを容易にし、さらに折り曲げの際
に生じるス[・レスを塑性材料に吸収せしめることによ
り、該パッケージに亀裂等の発生を防止し、半導体装置
の信頼性向上を達成するものである。
[実施例1コ 第1図は本発明の一実施例である半導体装置の概略断面
図である。
本実施例1であるDIL (デュアルインライン)型パ
ッケージの樹脂封止型半導体装置は、コバールまたは4
2−アロイ等の材質からなるリードフレームのタブ1に
取り付げられたペレット2、および該ペレット2の電極
バッド3と外部リード4の電極部とを電気的に接触して
いるワイヤ5を樹脂6でモールドした後、外部リード4
の折り曲げ部7で下方に折り曲げてなるものである・本
実施例1の特徴は、外部リード4の折り曲げ部7にある
。すなわち、折り曲げ部7のリード材の一部である外側
および内側を該リード材より軟らかく、かつ塑性変形し
易い性質の塑性材料8および8aで形成したことにある
。塑性月利8および8aとしては、たとえばアルミニウ
ームがある。
折り曲げ部7をこのような構造にすることによって、外
部リードの折り曲げ工程において、折り曲げ成形を容易
に行うことができ、かつその際に該折り曲げ部に生じる
ストレスが塑性材料によって吸収される9で、パッケー
ジの外部リード接着部6aにストレスが及ぶことを避け
ることができる。
その結果、上記接着部またはその近傍に亀裂等が発生す
ることを防止でき、またリード月より軟らかい材料では
あるが、リード材の一部を置き換えた構造であるため、
一部を切除したものに比べ一定の強度を保持できること
から、上記半導体装置の信頼性を向上させることが可律
となる。
なお、上記の外部リードは、予めクラッド等の方法で塑
性材料を取り付けた42−アロイ等の板材をプレス成型
等の通常の方法で製造することができる。
第2図は、上記板材に塑性材料を取り伺りる工程の一例
であって、予め凹部を形成した板材に該凹部に噛み合う
形状の塑性材料でクラッドする工程を、該部分の拡大断
面図で示したものである。
なお、クラッドによりA1の塑性材料8.8aを取り付
ける際、第2図(a)に示すように予め四部を設けてお
くことは必ずしも必要ではない。
ここで、第2図(a)は、塑性材料をクラッドする前の
状態で、折り曲げ部7の上部および下部に予め形成した
四部を有する板材と、この四部と完全に噛み合う形状の
塑性材料8および8aを用意した状態を示している。
第2図(blは、塑性材料8および8aを上記凹部にク
ラッドして形成した後の状態を示すもので、プレス等の
方法で完全に、かつ強固に噛み合わせ一体とすることが
できる。
このような形状の板材をプレス成型等の方法で打ち抜き
、完成したリードフレームとすることができる。
この完成したリードフレームについて、通常の方法を適
用することにより、第1図に示す半導体装置を得ること
ができる。
「実施例2] 第3図は、本発明の他の一実施例であるリード付きチッ
プキャリア型の樹脂封止型半導体装置(以下、PLCC
という)の断面図である。
本実施例2であるPLCCの特徴は、ペレット2および
ワイヤ5等を一体として樹脂モールドした後、外部リー
ド4をパッケージ側端部外部の折り曲げ部7で急激に折
り曲げ、その先端部をパンケージ裏面の凹部9内に差し
込んだ形状からなる面付実装に適した樹脂封止型半導体
装置である。
本実施例2の特徴は、第3図に示す外部リード4の折り
曲げ部7の上部および下部を塑性材料8および8aで形
成したことにある。このPLCCは外部リード4をパッ
ケージ側端部外部の折り曲げ部7で急激に折り曲げて形
成されるものであるため、折り曲げ工程ではパッケージ
と外部リード接着部に非當に大きなストレスが生しると
思われる。このPLCCの外部リード4の折り曲げ部に
本発明を適用した場合、折り曲げが容易で、−j)す、
かつ、折り曲げによづて住しるストレスが塑性桐材8お
よび8aに十分に吸収されるため、該ストレスが原因で
パッケージの外部リード接着部6aに亀裂等が発生する
ことを有効に防止することができる。
[実施例3] 第4図は本発明をPLCCに適用した他の実施例をその
部分断面図で示したものである。
本実施例3であるP L CCの特徴は、上記実施例2
に示した折り曲げ部7の外に折り曲げ部1゜および11
においてそのリート材の一部を塑性材料8および8aで
形成したことにある。このように、外部リードの折り曲
げ部を複数の個所にし、それぞれのリード材の一部を塑
性材料で形成することにより、外部リード先端を凹部9
に差し込む工程である該リードを上方に加重する際にお
いてもP L CCの外部リード折り曲げ成形を効果的
に行うことができる。
[実施例4] 第5図は本実施例4である半導体装置を示すIH部分断
面図、本発明をPLCCに適用した他の実施例を示す。
本実施例4の特徴は、外部リード部全部をアルミニウム
等の導電性塑性材料8で形成したことにある。この場合
、外部リードを任意の位置で任意の角度に容易に折り曲
げることができ、かつパッケージのリード接着部におけ
るストレス発生を極めて有効に防止することができる。
なお、本実施例に示す外部リードとすることができるの
は、I)CLLの外部リードはそれ程大きな強度がなく
ともよいことによる。
[効果〕 (1)外部リードをパッケージ外部で折り曲げてなる樹
脂封止型半導体装置において、モールU前の外部リード
の折り曲げ部におけるリード材の一部を該リード材より
軟らかい塑性材料で形成するごとにより、モールド後の
外部リードを折り曲げる工程においても、折り曲げが容
易であり、その際に生しるストレスを上記塑性材料が吸
収するので、パッケージにストレスが加わることによる
亀裂等の発生を防止することができる。
(2)外部リードの一部を塑性材料で置き換えることに
より、リード材の一部を切除した場合に比べ、外部リー
ドの強度を増すことができる。
(3)上記(1)により、パンケージの亀裂等の発生を
防止できるので、水分等の侵入による半導体装置内部の
電極等の腐食を防止することができる。
(4)上記(2)および(3)により、上記パ・7ケー
ジからなる半導体装置の信頼性を向」ニさせることがで
きる。
(5)折り曲げ部の一部を塑性材料で置き換えたリード
フレームを、予め該フレーム材に設けた凹部に塑性材料
をクラッドした後にプレス成型にて製造することにより
、同一工程で製造することができる。
(6)上記半導体装置とすることにより、リード間の寸
法が同一であってもパッケージを大型にすることができ
るので、大型ペレットを搭載することができる。
(7)本発明をDIL型半導体装置に適用することによ
り、外部リードの強度を確保した上で信頼性向上をも達
成できる。
(8)本発明をリード付きチンプキャリア型半導体装置
に適用することにより、外部リードの急激な折り曲げに
よるストレスの発生を防止できるので、信頼性向上に特
に有効である。
(9)上記(8)において、外部リードの複数の位置に
本発明を適用することにより、半導体装置の信頼性の向
上をさらに有効に達成することができる。
(10)上記(8)において、外部リーFを導電(II
塑竹材料で形成することGこより、該外部リードを任意
の位置で自由に折り曲げることができる。
(11)上記(101により、外部リードを非富に容易
に折り曲げることができるので、極めて有効に半導体装
置の信頼性を向上させることができる。
以上本発明者”によってなされた発明を実施例に基づき
具体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。
たとえば、実施例では、折り曲げ部におけるリード材の
内側および外側を塑性材料で形成した構造の外部リード
を備えた半導体装置について説明したが、これに限るも
のでなく、その一方のみ、または所定の厚さでリード材
の全周囲を塑性材料で形成することもできる。この場合
、塑性材料としてアルミニウムに限らず、他の金属であ
ってもよいことは言うまでもなく、金属以外、たとえば
熱処理前は可塑性を有する熱硬化性樹脂等の絶縁材料を
使うこともできる。
さらに、折り曲げ部におけるリート材の全てを金属等の
導電性塑性材料で置き換えることも可能である。
なお、実施例ではリードフレームのプレス成型前に塑性
材料をクラッドする方法を示したが、成型後に行うこと
もできる。また、リードの製造方法はクラッドに限るも
のでなく、他の如何なる製法によってもよい。
[利用分野] 以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるDIL型およびリー
ド付きチンプキャリア型の樹脂封止型パッケージからな
る半導体装置に適用した場合について説明したが、それ
に限定されるものではなく、たとえば、外部リードをパ
ッケージ外部で折り曲げた形状を有する半導体装置であ
れば、如何なるものにも有効に適用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の実施例1である半導体装置法の一例
を示す拡大部分断面図、 第3図は、本発明の実施例2である半導体装置の断面図
、 第4図は、本発明の実施例3である半導体装’a’t。 を示ず部分断面図、 第5図は、本発明の実施例4である半導体装置を示す部
分断面図である。 1・・・タブ、2・・・ペレット、3・・・電極バッド
、4・・・外部リード、5・・・ソイ−1−16・・・
樹脂、7・・・折り曲げ部、8,8a・・・塑性材料、
9・・・四部、10.11・・・−折り曲げ部。 第 1 図 (o−> (b)グ 第 3 図 第 4 図 第 5 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、樹脂封止型パッケージからなる半導体装置において
    、外部リードの折り曲げ部におLJるリード材の全部ま
    たは一部が、該リード材より軟らかい塑性材料で形成さ
    れてなることを特徴とする半導体装置。 2、折り曲げ部におけるリード材の外側または内側の少
    なくとも一方を塑性材料で形成したことを特徴とする特
    許請求の範囲第1項記載の半導体装置。 3、塑性旧材が導電性材料であることを特徴とする特許
    請求の範囲第1項または第2項記載の半導体装置。 4、導電性材料がアルミニウムであることを特徴とする
    特許請求の範囲第3項記載の半導体装置。
JP58160334A 1983-09-02 1983-09-02 半導体装置 Pending JPS6053066A (ja)

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JP58160334A JPS6053066A (ja) 1983-09-02 1983-09-02 半導体装置

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61112651U (ja) * 1984-12-27 1986-07-16
JPS625642U (ja) * 1985-06-27 1987-01-14
JPH0316249A (ja) * 1989-06-14 1991-01-24 Matsushita Electron Corp Jリードパッケージ型半導体装置
JP2010027902A (ja) * 2008-07-22 2010-02-04 Sharp Corp 表面実装型赤外線受光ユニット、表面実装型赤外線受光ユニット製造方法、および電子機器

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