JPS6048749B2 - ゼログラフィ複写機テスト方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は静電写真転写型複写機（ゼログラフィー）の
動作テストに関し、詳しくいえばこれら複写機の静電複
サブシステムの診断に関する。

複写機のサブシステム、即ち、光導電体、コロナ、フ
ユーザ、消去ランプ等は過去の使用の経過に伴つてだん
だん能率が悪くなる。その結果、決定的な故障が起るか
、又は使えないコピーが出来るようになるまで、コピー
の質の劣化が進行する。サブシステムの状態を定期的に
チェックして、突発事故による余分なコストや、コピー
質劣化による利用者の評価を下げることなどを防ぐため
の予防的測定を行なえるようにすることが望ま しい。
コスト低減の見地からは、このテストを行うのに要す
る費用と時間は妥当な程度に低いものでなければならな
い。

マイクロプロセッサを用いるコントローラ（制御装置）
は、仮に固定配線で作つたコントローラが複雑で又高価
で経済的に使えな”い時でも、サブシステムの動作手順
に変更や付加が経済的に行えるようにできる。テストさ
れるサブシステムのパラメータを変えつつ、テスト・コ
ピーを作る機能を与えることにより、保守要員はサブシ
ステムの状態を簡単に早く知り、機械動作を高能率に保
つのに必要な調節や部品交換を行える。従来のコピー質
テスト法は、テレビジョンのテスト・パターンに似た特
定のパターンを持つ原稿を用いることが主である。

このパターンがコピーされ、収れんする細かい線パター
ンの解像力と変 』化するグレイ・スケールの複写精度
からシステムのバンド幅が評価される。複写機の自動テ
ストは先行技術に示されている。

例えば、米困特許第４１６２３９６号は保守目的の、複
写機の部品のテストを示しているが、しかし静電複写サ
ブシステムのテストについては示していない。本発明は
、露光ランプから光像を、像形成サイクルに受けとる光
導電体を有する静電複写機をテストする方法を開示する
。

このテスト方法は、複写機を白い原稿のコピーを取るよ
う動かし、像形成サイクルを始めた後露光ランプを消し
、得られたコピー・シートを現像し、若し複写機が正し
く機能していれば、白い所から徐々に均等に黒色に変わ
つて行くコピーを得ることからなる。又、可変端部消去
ランプを交互にオン、オフし、得られるコピーを分析し
て動作の適正さを知るステップも取られる。

実施例の説明に入るが、例えば米国特許第４１６３８９
７号に示されているような型式の複写機を−例にして説
明する。

本発明に関連するサブシステムを第８図に示す。例えば
、転写コロナ６１は負の電荷で光導電体を予備的に条件
付けるために用いられる。コピーされる用紙も荷電され
、トナーを光導電体から紙に引き寄せる。予備清掃コロ
ナ６２も光導電体を予備的に条件付けるか、転写の予備
的条件付けに対してバランスさせるため正の電荷を行な
う。

この電荷は転送されなかつたトナーを正方向に荷電させ
、これによりこのようなトナーを現像クリーナ６５によ
りく除去させる。荷電コロナ６３は、後記するグリッド
を含み、光導電体を均等に荷電し、これは光学系による
放電がなければ、黒いコピーを作る。

光学系は原稿の白い部分に対応する光導電体上の区域を
通常放電する。コロナ６４により与えられる電荷は所望
の黒のレベルよりも強い。逆荷電コロナ６４もグリッド
を含んでいるが、これが光導電体の荷電レベルを所望の
黒色レベルに下げ、残留トナーに正電荷を与え残留トナ
ーが現像器６６により除去されるようにする。

上記のコロナのグリッドは黒色の荷電レベルが所定の値
で且つ均一であるようにする。

消去ランプ６？は光導電体上の像の周辺を放電し、出来
上つたコピーの端部や余白が黒くならないようにする。

側部消去ランプは第？図でランプ・ブロック８３と示さ
れており、ドラム８１の光導電体の表面８２に至る各ラ
ンプからの光が隣のランプ（ダイオード）からの光と重
なるようになつている。各ランプを個々に制御して、側
部消去の幅を制御できる。各ランプは出力レジスタ８６
の対応するビットをコントローラ６０からセットしてオ
ンにできる。ランプは又、対応するビットをリセットす
ることによりオフにできる。ランプはケーブル８７によ
り出力レジスタに接続されている。センサ８４が後に詳
記するＥＣ信号をコントローラ６０に送る。第８図に示
す複写機のサブシステムはコントローラ６０により制御
されているが、このコントローラ６０はドラム位置検出
用のＥＣ（エミッタ制御）信号、フユーザの温度を示す
温度制御信号、その他のセンサからの入力信号を受けと
る。

第８図に示す諸サブシステムの制御は、オン・オフをす
るためにコントローラ６？によリセット・リセットされ
る出力レジスタ６９により行われる。コントローラ６０
と、出力レジスタ６９も、実施例のプログラム可能マイ
クロプロセッサに含まれている。例えば米国特許第４１
７０４１４号に示すマイクロプロセッサで、後記のプロ
グラムを用いるのが適当である。付録Ａはマイクロプロ
セッサの命令セットを示す。フロー図は付録Ｂにて示す
ＴＹＰＩＣＡＬとよばれるフォーマットに示される。プ
ログラムの詳細を以下に示す。コピー質の表がＣＺＣＯ
ＵＮＴサブルーチンにより用いられテスト・コピーを作
るために用いられる。

本発明は、種々のサブシステムをその状態を制御しつつ
動作させ、個々のサブシステムの効力を他サブシステム
の効力から切りはなして測定することを含む。

各サブシステムの効力を個々に調べるこのテストはコン
トローラにより下記の手順で行われる。

．先す白色の原稿が複写される状態て始動し露光ランプ
をオンからオフに切りかえてコピーを作り、露光ランプ
が正しく動作していれば、白い所から徐々に灰色になり
黒色に至るコピーができるようにする。側部消去ランプ
は所定の順序でオン及びオフにされ、ランプが正しく働
いていれば特定の形状の段階形状を発生するようにされ
る。これらランプからの光は、回転ドラムの回転軸と平
行、即ちドラム表面の移動方向と直角な方向の直線状の
端縁を有するように規制されながらドラム表面に入射す
る。従つてドラム表面に当る光の形はドラム表面の移動
方向に対し直角な直線状端部を前後（上下）の端に有す
る。サブシステムが正しく動作していれば、大略第１図
にようなコピーになる。

次のテストは像間消去ランプをオンにしたまま、通常の
コロナ駆動順序に従つて駆動し、全体が白色のコピーを
作る。

残つた黒い点はクリーニングにおける問題の存在を示す
。他のテストは、コピーの先端部に相当する部分のみ消
去して黒色のコピーを作る。

白い点があれば、光導電体の不良（キズ）を示す。以下
にこれら及び他のテストを詳記する。第１図にテスト・
コピーは前記の手順で白から灰色をへて黒色に至るコピ
ーを作る。

端部消去ランプはオン・オフの順序により特定のパター
ンを作らせた後、全部オンにされる。第１図は第１のテ
スト・コピーの大略を示す。これはコピーの上端からの
距離に応じて次のようなテスト結果を示す・ＪＯＯＯか
ら６３７７！７７１・・・・・・オンであつた露光ラン
プのオフに伴い白から黒へ変る。

団から６５７ｍ・・・・・・２ −Ｕｐ（複写形式の１
つ）用の消去（ランプ）のみオン。

Ｂから１０９ｍｍ・・・・・・主消去オン、２−Ｕｐ用
の帯状 フ部が見える。

７３から１００−Ｍｎ・・・・・・端部消去、段階的。

１０９７７Ｚ７７Ｚから終端・・・・・・全消去ランプ
、オン。第２図に第２テスト・コピーはサブシステムの
諸パラメータを変更しつつ作られる。４本の帯部が作ら
れ、第１の帯部は白い。

第２の帯部は暗く、ほぼ中央を軸に対象的な白線を有す
る。第３と第４の帯部は暗く、又均等であるはずである
。第２のテスト・コピーを作る手順は下記の通りである
。０００から３７ＴＷＬ・・・・・・転写及び予備清掃
コロナをオン゜ ３７から６０ｗＬ・・・・・・転写用コロナのみ。

Ｂから９ｗｒ！ｎ・・・・・・荷電コロナのみ。１０２
から１３１ｗｇｎ・・・・・・荷電コロナ及び逆荷電コ
ロナ。

第３のテスト゜コピー（第３図）第２のテスト・コピー
と似ているが、パラメータを少し変えて作られる。

第１の帯部は灰色で、まつすぐコピー中央を軸に対称的
な線条有する。第２の帯部は灰色で、中央で対称的なま
つすぐな線を有する。第３及び第４の帯部は灰色である
はずである。第３のテスト・コピーは下記のようにして
作られる。０００から３１ｗｕｎ・・・・・・転写コロ
ナは通常に、予備清掃コロナは低く。

３１から５５−・・・・・・転写コロナを低位に。

６２から９ｈ・・・・・・荷電コロナ正規で、グリッド
低位。

９６から１２６ｗＬ・・・・・・荷電及び逆荷電コロナ
正規で、グリッド低位。

第４のテスト・コピー（第４図）及び第５のテスト・コ
ピー（第５図）は共に灰色で、濃度は全Ｊ面が均等であ
るはずで、第４のコピーは露光ランプ・オフ、先端消去
オフで作られ（第４図の如く）、第５のテスト・コピー
は露光ランプ・オフ、先端消去正規で作られる。

第６のテスト・コピーは２つの部分に作られｉる。

その第１は露光ランプと現像器を低電圧て行ない、その
第２は消去ランプと現像器を低電圧にして行なう。その
結果は灰色で、均等な部分が写るはずである。第６図に
第６のテスト・コピーを示す。第４、第５、第６のテス
ト・コピー上同じ′所に現われているキズ２６は光導電
体表面の不良部分を示す。これらのテスト・コピー上で
別々の所に現われるキズ３６は例えば、フユーザ・ロー
ラ上の不良箇所を示す。以下において、テスト・シート
の分析を要約する。

第１のテスト・コピーでは、白から灰色への変化コピー
の全幅に亘つて、上端から同距離にあらねばならない。
この基準からの変動は、例えば鏡が汚れている等の照光
における問題を示す。どの消去ランプも働かないと、黒
い帯部ができる。第２のテスト・コピーでは、帯部が白
、黒、黒、少し薄い黒、とならなければならない。若し
そうでないと、予備清掃、転写、荷電、又は逆荷電コロ
ナ（この順番で）が働いていない。第３のテスト・コピ
ーでは、４つの帯部すべてが灰色で、用紙の幅全体に亘
つて濃さが変らないはずである。

この基準から異なつていれば、第２のコピー結果の判定
と同じ順番で汚れた又は不調のコロナを示す。第４のコ
ピーでは、入口ガイドが正しく調整されていないと、先
端が白くなる。

第４と第５のテスト・コピーで同じ所のキズは、光導電
体のキズを示す。これらテスト・コピーで同じ形状で異
なる場所にあるキズはフユーザ表面のキズを示す。他の
キズはすべて、他のサブシステムにある問題を示し、例
えば空白部は現像材混和における問題と示す。第６のテ
スト・コピーでは、上端の灰白色が露光形態不均等を示
す他の表示である。

上端と下端の間での差が大きすぎるのは、不十分な露光
エネ．ルギを示す。ＣＺＣＯＵＮＴサブルーチンは、ド
ラム角度に応じて適正なテスト・プログラム・モジュー
ルに移るようテーブルＣＱＴＡＢを用いる。

ドラムからのエミッタ信号は各テスト毎に必要とされる
正しい角二度で供給されないので、ＣＺＣＯＵＮＴサブ
ルーチンは、ドラムと同期しているが、少し歩進した角
度情報を与える擬似エミッタ・ルーチンを用いる。この
テーブルは、その始めの２バイトが次のテーブルの始ま
りのアドレスを供給するよう作られて３いる。第３のバ
イトは、テスト・ルーチンが行なわれるべき角度値のル
進法での値で、第４及び第５のバイトはテスト・ルーチ
ンのアドレスを示す。第３、第４、第５のバイトは各エ
ントリーで反覆される。テーブルの終りは全部１のバイ
ト、４ル進法のＦＦ（Ｘは以下の表記が１６進法である
ことを示すとしてＸＦＦともかかれる）によつて示され
る。添付のプログラムの例では、第１のテーブルはメモ
リ・アドレスＦ４Ｅ６から始まる位置にある。

第１のバイトＦ４ＥＦは次のテーブルのアドレスである
。１６進法角度値６０（ル進法９６）は、ＦＯＢ９のル
ーチンで、次のバイトの内容を、ドラムが９６゜の角度
にあるときに実行すべきであることを示す。

これらテーブルへの、及びルーチンへの、制御の転送は
チャートＩ（７）ＣＺＣＯＵＮＴに示されてぃる。チャ
ートＩはＣＺＣＯＵＮＴサブルーチン、ＣＥ）フＺＥＲ
Ｏ−ＣＲＳＳＣＯＩＪＮＴＥＲを示す。

このサブルーチンは計算されたドラム角値を保守及びテ
スト・モードのために保持し、ドラム回転の特定の角度
で、プログラムされるように特定の機能的ルーチンを実
行する。多くのテストで、標準のドラ．ム・エミッタで
は得られない位置で発生する事柄を必要とする。擬似エ
ミッタは各ドラム回転に関する実行テーブルを持ち、必
要とされるこれら事柄の発生を可能にする。ＣＺＣＯＵ
ＮＴサブルーチンの擬似エミッタ・ルーチンは下記のよ
うに動作する。

各ドラム回転毎にパワーライン．ゼロ．クロスオーバー
のカウント値が保持される。ドラム回転開始時点を以下
光学的中央ラインの下８１゜の先端像と定義するが、こ
こで前のカウント値が取り置かれ、新しいカウント値が
開始される。ほぼ各９０゜毎に、エミッタ・ルーチンＣ
ＺＣＯＲＲ（詳細略）により、ドラム角の見積りが訂正
される。実行テーブルは、特定の設計周波数 （ＺＤＥＳＦＲＥＱ）を想定して作られている。

その時のドラム角を見積るために、その時のゼロ・クロ
ス・カウント値に比〔ＺＤＥＳＦＲＥＱ／前の周波数〕
が乗ぜられる。比の乗算は下記のように動作する。

Ｎ＝その時のゼロ・クロス数（現在のサイクルでの実行
の数のカウント値）。

ｐ＝比の分子（２１）ＥＳＦＲＥＱ）プログラム・ルー
チンが設計されたサイクル毎の実行の数）Ｑ＝比の分母
（前の周波数）（前のドラム回転における実行の数Ｋ＝
（ＮＸＰ）／Ｑの商 Ｒ＝（ＮＸＰ）／Ｑの余り とする。

その時のドラム角は ＤＥＧ＝（３６０×Ｎ／Ｑ）度と見積られ、その時の設
計されたカウント値は、ＣＮＴ＝ＤＥＧｘＰ／３６０と
見積られ、これは ：ＣＮＴ＝ＮｘＰ／Ｑと書ける。

ＣＮＴは常に有理数であるので、これを減算の反覆でデ
ィジタル形式にすぐ得られる整数Ｋ（！：．Ｒによつて
表現できる。

ｉ番目のモジュール実行でＫ，とＲ，は判つているとし
て、次の（ｉ＋１）モジュール実行についてＣＮＴ，ｆ
，＝（Ｎ＋１）Ｐ／Ｑとなりこれは、ＣＮＴ，，，，＝
Ｋｉ＋（Ｒｉ＋Ｐ）／Ｑと換算できる。

次にゼロ・クロスＮ＋１において、ＫとＲの逐次値が、
Ｋ，ｌ，＝Ｋ，＋ （Ｒｉ＋Ｐ）／Ｑ及び、Ｒｉｆｌ＝
Ｒｉ＋Ｐ−Ｑときめられる。

新しい余りＲ，ｆ，がＱ／２を超える毎に整数カウント
が１だけ増加され、余りからＱが減算される。

この方法は処理時間がごく少ない利点がある。

（Ｒ，＋Ｐ，）／Ｑを計算するにはループ当り３回をこ
える減算は必要なく、直接的計算のＮ＋Ｐ／Ｑではルー
プ当り平均６０回の減算が必要である。当初、余りが設
計周波数（冗ＥＳＦＲＥＱ）にセットされる。各実行に
当つて、分子が余りから減算される。結果がゼロより小
さい時には常にドラム・カウワト１だけ増加される。テ
ーブルの解読は各見積更新時に行われ、コード・ゼロ・
クロス・ループを通るバス毎に１回、及びその時のドラ
ム角見積がゼロ．クロス・ループと比較される時と、こ
れが現在のテーブル入口と比較される時である。

見積がテーブル入口より大きいか、これに等しい時には
、対応するルーチンが実行される。ドラム角の見積は、
カウンタの再スタートが要求されるまでは、設計カウン
ト値に達する毎に、固定される。

そしてその時、見積値は設計周波数なす１に増加され、
これにより実行されてなかつたすべてのテーブル入口が
実行され、周波数が貯えられ、カウンタが再スタートさ
れ、新しい実行テーブルか指示される。例えば、他の診
断手順でドラム角見積が用いらＪれている等で、テーブ
ル・ループが用いられている時を除いて、各ドラム回転
毎に別のテーブルが必要とされる。

擬似エミッタのセット．アップ．サブルーチンはＣＥＡ
ＮＧＳＥＴであり、擬似エミッタを用いるＣＥラン．モ
ードをセットするルーチンによりコールされる。

チャート■にＣＥＮＧＳＥＴを示す。若し、設計周波数
が１回転当り１２０ゼロ・クロスに選ばれていれば、最
小のテーブル増加（１見積カウント）が、ドラム回転の
３゜に相当し、テーブル入ロへの式は、（所望のドラム
角−８０゜）である。テストの実行を説明する。

添付のプログラム・コードのアドレスに関連させたプロ
グラム・ステップによりチャートＩに示されているサブ
ルーチンＣＺＣＯＵＮＴは、ステップ（ＳＴＥＰ）２３
において、ドラム回転角に応じて実行されるテスト・モ
ジュールのアドレスを取る。ステップ２６で、プログラ
ムはテスト・モジュールにブランチ（ＢＲΛＮＣＣＨ）
し、テスト完了後ステップ２７に戻る。

この転換を行う詳細は、ル進法で示したアドレスＤ４７
Ｄから始まる添付のプログラム・リストに示されている
。テーブルＩは度数によつてきまる、正しいテストへの
転換に用いられるテスト・テーブルの要約を示す。

テーブル■にテスト・ルーチン・スタート・アドレスが
与えられ、テスト機能が要約されている。これらテスト
は添付のプログラム・リストを参照すれば説明されてい
る。テストの実施を示す２つの例を説明する。

テーブル■の第１のモジュールはＣＥＣＨＧＯＦＦであ
り、これは荷電コロナをオフにする。プログラム．リス
トではＡＣＣＡＲＤ２Ｍで示したバイトの中のＣＨＧＣ
ＯＲと示したビットがＴＲ命令によつてリセットされて
いる（付録Ａをみよ）。このビット出力レジスタにおい
てリセットされた際、第６図に示すように荷電コロナへ
の電力をオフにする。アドレスＥＦＥＦからスタートす
るモジュールＣＥＣＨＧＯＮは同じビットをセットして
荷電コロナをオンにする。第６図の出力レジスタ６９に
おいて、このビットがセットされた際荷電コロナがオン
にされる。ビットを用いて装置の制御をすることは周知
であり、これ以上の説明は不要である。テーブル上を走
り、所定のドラム角に応じて示されたようにモジュール
を遂行することにより上記のテストが実行され、操作具
や保守系に複写機．システムの諸サブシステムを互いに
分離する形でテストすることを可能にさせている。

この方式によつて、サブシステムの動作劣化の始まりが
、コピーの質に明白な劣化や大事故の起る前に検出でき
る。チャート１ １ 入口 ２ 未実行スタート・リクエスト・フラグをリセットＤ
Ｄ４２Ａ ３ＩＦ擬似エミッタ使用中Ｄ４？Ｙ ４ＴＨＥＮ（＋１）周波数カウントＦＲＥＱＲＥＧ５Ｉ
Ｆカウンタ・リセット・フラグがセット有Ｄ４３３ ６ＴＨＥＮドラム角をストアＡＮＧＬＥＣＲ７クリアＦ
ＲＥＱＲＥＧＤ４３９８ドラム角カウンタを設計カウン
ト ］正ＳＦＲＥＱより大にセットＦＩＮ５Ｄ４３Ｅ９ＩＦ
（ＡＮＧＬＥＣＴＲ：≠：ＺＤＥＳＦＲＥＱ）ＴＨＥＮ
Ｄ４４２ｌＯＩＦ（ＡＮＧＬＥＣＴＲ：１ｔ： ＺＤＥＳＦＲＥＱ）及び（カウンタ訂正がセット）Ｄ４
４７ＴＨＥＮ ＩＩＣＡＳＥ（ＡＮＧＬＥＣＴＲ） １２：ニ１ｅ：４５：カウントを２９にセットＤ４４Ｅ
ｌ３：ニＧｔ：４５及び１ｅ：７５：カウントを６１に
セットＤ４５８ｌ４：ニＥＬＳＥ：カウントを９０にセ
ット４５Ｆ１５訂正カウントをＡＮＧＬＥＣＴＲにスト
アＤ４６ｌｌ６ＲＡＴＩＯＣＮＴレシオ・カウンタを機
械周波数にセットＤ４６２ｌ７ＥＬＳＥ（−ＺＤＥＳＦ
ＲＥＱ） ＲＡＴＩＯＣＮＴＤ４６７ｌ ８ＷＨＩＬＥ（ＲＡＴＩＯＮＴ：１ｅ：０）Ｄ４巾．１
９（＋１）ＡＮＧＬＥＣＴＲＤ４６Ｄ２Ｏ（十機械周波
数）ＲＡＴＩＯＣＮＴ Ｄ４６ＦＬＯＯＰｌ８Ｆ ＩＮＩＯ２ ｌＩＦ擬似エミッタ実行テーブル ＣＩＪＲＲＡＤＲにエントリー値が残つているかＤ４７
４ＴＨＥＮ ２２ＷＨＩＬＥ（ＣＵＲＲＡＤＲ：１ｅ：ＡＮＧＬＥＣ
ＴＲ）Ｄ４７９ ２３対応するモジュールのアドレスをフエツチＤ４７Ｄ
２４モジュール・アドレスをストアＤ４８９２５リター
ン・アドレスをストアＤ４８９２６モジュール（及びリ
ターン）にブランチＤ４８Ｆ２７次のテーブル・エント
リーに指示Ｄ４９ＯＬＣ）０Ｐ２２Ｅ■正 ２８ＩＦスキップ・サイクルでないならＤ４９５ＴＨＥ
Ｎ２９ＩＦコピー作製中Ｄ４９６ ＴＨＥＮ ３ＯＩＦ（ＡＮＧＬＣＴＲＬ：Ｇｔ： π疋ＳＦＲＥＱ）Ｄ４Ａ２ ３ｌＴＨＥＮＡＮＧＬＥＣＴＲをリセット４Ａ８３２（
＋１）回転カウンタＤ４ＡＢ３３ＲＡＴＩＯＮＴを機械
周波数にプリセットＤ４ＡＤ３４次のテーブルの第１の
カウントのアドレスと次のテーブルのアドレスを取つ て来てストアするＤ４Ｂｌ ＦＩＮ３Ｏ ３５Ｅ■王ＡＮＧＬＣＴＲＬを■疋ＳＦＤ４ＢＣＲＥＱ
ＦＩＮ２９３ ６ＥＬＳＥｃａｌｌＰＪＡＭ機械停止Ｄ４ＣｌＦＩＮ２
８ＦＩＮ２ｌ ＦＩＮ９Ｆ ＩＮ３３７ リターン チャート ■ サブルーチンニＣＥＡＮＧＳＥＴ ｌ入口 ２ＲＲＵＭＡＮＧビット （フラグ、擬似エミッタ使用
）Ｅ５９５３テーブル・エンド・コート （（Ｘ ゛’ＦＦ’’））のアドレスをロードＥ５９Ｂ４ＡＮＧ
ＬＥＣＴＲをＺＤＥＳＦＲＥＱにして始ＩＥ５Ａｌ５高
位桁コピー選択バイトＣＰＲｌＭＥ２を，．，ァＥ５Ａ
６ 通常の現像電圧を選択Ｅ５Ａ９ ジャム後のランをフラグＥ５Ｂｌ リターンＥ５Ｂ９ 付録Ｂ ＴＹＰＩＣＡｌ．のサマリ 各ステップは、 １１行以上からなり、 ２順番に番号をつけられており、 ３ ；で区切られた１以上のステートメントをみ４ ス
テートメントの左に少なくとも２つのスースを有し；が
後続するラベルでラベル付けれてもよく、５単にブラン
チ（無条件）でもよい。

関係を示すオペレータは、 より小さい ：１ｔ： より少さい
か等しい ：１ｅ： より大きい
：Ｇｔ： より大きいか等しい ：Ｇｅ： 等しい
：ニニ 等しくない ：≠： 等価 ：Ｅｑｖ： インプリケ
ーシヨン ：Ｉｍｐ：特殊記号： （ ） ステップ番号又はラベルをかこんで（゛時は、
ブランチを示す。

後続する変数やレジタの位置をかなえないでこれらの表
記を変史る。レジスタ又はニモニツクをかこみ、混因起
りそうな時に、その内容を示す。（（）） かこんだ変
数のアドレスを示す。

ｘ後続するリテアルのストリングが托進法でる。 ステ
ートメントを分ける。

別のデイメンシヨンのインデクスを分ける。？θ 比
較テストの表示。

ラベルをそれにつづくステートメントから分ける。関係
オペレータを仕切る。？ テスト●ステートメントにつ
づ゛き、これを明示する。

５２リテラルのストリングをかこむ。

大文字は特別のステートメントの変数ニモニツクとキー
・ワードを示す。

アンダライン付の小文字は予定のファンクションを有す
るレサーブされたワードを示す。

３θテスト・ステートメント テスト●ステートメント（判定ブロック）は論理（ロジ
カル）か比較の二形式のどちらかである。

テスト・ステートメントは後続する？印とテスト結果に
よりブランチする先のステップをかこ７５む（ ）印で
識別される。論理テストは論理表現と論理及び関係オペ
レータを用いて示される。論理表現はすべての形式のオ
ペレータと変数を含みうる。？の後にはテストが真であ
つた時にブランチする先が（ ）内にス４０テツプ又は
ラベルで示される。（ ）の後に否定（ＮＯＴ）オペレ
ータ（″）″があれば、テスト結果が否である時のブラ
ンチ先を示す。比較テストは左及び右の表現を区切る：
印で示される。

テストの後の？印の後には、ガンマで区切られ（ ）に
かこまれた３つのステップ又はラベルがつづく。表現が
計算され、値が比較される。第１のステップへは左側〉
右側の時、第２のステップへは左＝右の時、第３のステ
ップへは左く右の時にブランチする。ステップ又はラベ
ルの場所に一の印があるのは後続するステップを示す。
特別ステートメント３つの特別ステートメントが、条件
判定、及び或る条件での、ステートメントの中でのルー
プのために用意されている。

これらは、多くのプログラムでよく使われるステートメ
ントの順序を書く手順である。特別ステートメントのキ
ー・ワードは大文字て書かれる。下記の説明で、Ｓｌ，
ｓ２，・・，Ｓｎ，ｓｍはステートメント又はそその列
を示す。

条件付ステートメントは、ＩＦ−ＴＨＥＮステートメン
トとＣＡＳＥステートメントである。

下−ＴＨＥＮステートメントこれの形式は、ＩＦ（条件
ステートメント）ＴＨＮＥｓｌＥＬＳＥｓ２ＦＩＮであ
る。

真ならｓ１が、否ならＳ２が実行される。ＥＬＳＥｓ２
はなくてもよく、ない時は、否の条件ステートメントの
際はｓ１がスキップされ、ＦＩＮのあとのステップに続
く。

ｓ１又はＳ２はステートメントの任意の数を持ち得るの
でＩＦ−ＴＩ（Ｎステートメントの終止のためＦＩＮが
用いられる。

ＣＡＳＥステートメント これの形は、ＣＡＳＥ（表現） （値１）ｓ１、 （値２）Ｓ２、 （値ｎ）：Ｓｎｌ ：ＥＳＬＥ：Ｓｍ．である。

表現が算出され、その値に関連するステートメントが実
行される。

他のステートメントはスキップされる。ＥＬＳＥはなく
てもよい。

表現の値がＣＡＳＥステートメント内になくＥＬＳＥも
なければ、ペリオド（．）で終つたＣＡＳＥステートメ
ントのあとのステートメントから実行が継続される。ガ
ンマは所与のステートメントの終りを示す。ＣＡＳＥス
テートメントは、表現の特定値毎に正−ＴＨＥＮを沢山
書くことを救済する。

条件ステートメントでのループはＷＨＩＬＥ上００Ｐス
テートメントである。

ＷＨＩＬＥ上００Ｐステートメント この形は、ＷＨＩＬＥ（条件ステートメント）ＳｌｌＯ
ＯＰである。

条件ステートメントがテストされ、真ならキー・ワード
ＬＯＯＰで終るｓ１ステートメントが実行され、この処
理が反覆される。若し否なら、ｓ１はスキップされ、プ
ログラムは１００Ｐの次のステップにつづく。特別ステ
ートメントのキ●ワードは、全体のステートメントが１
行にかききれない時には、別の行に書かねばならない。

２つのキー・ワードを１行にかいてはいけない。

キー◆ワードに実行可能のステートメントが続かないな
ら、行に番号は付けない。インデント付けはプログラム
のよみ易さを向上するため用いられて良いが、これが多
いと問題になり、特にラベルを用いた時はそうなる。

終止キー・ワードＦＩＮ又はＬＯＯＰの後に、関係する
キー・ワードのステップ数を書くとプログラムのよみと
リへの助けになる。定義及びレザーブされたワードニ 入口（Ｅｎｔｅｒ）及びリターン（Ｒｅｔｕｒｎ）のワ
ードはコル（Ｃａｌｌ）で始まるサブルーチンの範囲を
きめるものである。

リターンはコールするルーチンに対してコールをはじめ
た所のあとのステップへのブランチを起させる。あるサ
ブルーチンに１ノつをこえるリクーン・ステートメント
があることもある。コール（Ｃａｌｌ）は、示されたサ
ブルーチンへの、パラメータのリンクを伴う、ブランチ
を示す。

明示するため必要なら、サブルーチン入カパ５ラメータ
を、サブルーチンの名前のあとに、ガンマで分け、セミ
コロンに）で終止してリストする。コールするプログラ
ムに戻される出力パラメータが、セミコロンにつづき、
若し１つより多くあるならガンマで区切られる。パラメ
ータはつ（ ）でかこむ。

【図面の簡単な説明】

第１図から第６図は本発明の実施例におけるテスト結果
を示す写真であり、第７図及び第８図は実施例の計画図
を示す。 ２６， ３６・・・・・・きず、 ６０・・・・・・コントローラ、 ６９・・・・・・出力レジスタ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 帯電させた光導電体を移動させながら、露光装置に
   よつて複写元稿の光像を与え、上記光像に応じて放電さ
   せた後に得られる静電像を用いて、上記光像を転写する
   ゼログラフィ方式の複写機の光導電体の帯電及び放電機
   能をテストする方法において、上記光導電体を帯電させ
   、白色の原稿を複写する状態で得られる光像を、上記光
   導電体の移動方向に直角な方向に直線状の端部を持つ形
   で上記光導電体に与え、複写作業中に上記光像の供与を
   中断し、以後通常の手段で現像した結果得られる、白色
   原稿複写中に光像に応じた放電が中断された複写物（コ
   ピー）上において、複写像が白色から徐々に黒色へ、上
   記光導電体の移動方向に直角な方向に対応する方向にお
   いて均等性を保ちつつ変化しているか否かを検査するこ
   とにより、上記光導電体の帯電及び放電が全体に亘つて
   均等であるか否かを判定するゼログラフィ複写機テスト
   方法。