JPS6045062A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPS6045062A JPS6045062A JP58152797A JP15279783A JPS6045062A JP S6045062 A JPS6045062 A JP S6045062A JP 58152797 A JP58152797 A JP 58152797A JP 15279783 A JP15279783 A JP 15279783A JP S6045062 A JPS6045062 A JP S6045062A
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- emitter
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- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 6
- 239000000969 carrier Substances 0.000 abstract description 4
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- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract 3
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D48/00—Individual devices not covered by groups H10D1/00 - H10D44/00
- H10D48/30—Devices controlled by electric currents or voltages
- H10D48/32—Devices controlled by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H10D48/34—Bipolar devices
- H10D48/345—Bipolar transistors having ohmic electrodes on emitter-like, base-like, and collector-like regions
Landscapes
- Bipolar Transistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
この発明は、ヌイノチング動作を行わせる半導体I1・
1置j゛′1″の′市疏イ1′.中緩和を図る技i1l
i7に関するもので・イhる0 1”1′+,!、技術 fIg AGよりバソー1−″7ンシスタを初めスイノ
チング動作を{1わせる゛1′導体装W{は、そのベー
ス領域の形成伏(j!″.により、ギャリア裕債時間T
S や同一下時間Tlが左右されることが知られている
。−tなワチ、パワー1〜ランジスタを1+11に採り
J■, t本的に説明すれば、素イ]イ〜造がブレーナ
フ1リとなることに11.1囚して、ガ“5 1図に示
すように、ベーノ、領域1におけるエミ,タ領域2の的
−ト部3と端部4とで&:1、拡散される不純物の票度
が異るからである,つ寸り、このパワー1・ランシヌタ
では、濃度,゛1;一により、ベース広がり抵抗r,1
, が不均−となるので、71tノZ型であitば、ベ
ーヌ’rty (:示5−\ベース電流を流してO N
状態とする時に、エミノク領域2よりベース領域1へ注
入される少数ヤヤリアである電イは、0 ’F F状D
ヒとするll.′jには、ベース/lI1jj!・yl
内で正札と再結合するか又はIilj方向へ一ズ而〆7
;Gとしてエミノタ領域2へ戻りl,j <泊l1・(
゛4る・区リエ゛があるにもかかわらず、ll’l’.
F”i% 8の大きな広がり41(5]九1′に阻t
l−さノ1,/肖滅し&11f <なるの一Cある。そ
こで、との問題を1(1イ決するために、ヘース領域1
の幅j法を狭くすればよいが、先述したベース広がり+
J(’IJL r + r+ ”””が影響し、O F
F’状態で&:I: . !l1iに直下部3に電流
が集中してし寸い、フ1−ノ1ノ,j−ノ1をJ4 発
して2次II千伏現象を招いて耐圧低下を生じるのであ
る,,そこで、1111圧低ト゜を防ぐ手段として、第
2図に示すように、エミノタ領域2の中央部6をυ1除
して、ii’−+’. ’ F部3への電流集中を緩和
するものが提唱された。しかし、この手段は、依然とし
て−『−ミノタf+f:域2′の中央部寄りの″,し+
.流集中を解消してはいない。しかも、中火部排除に伴
いエミノグ屯{”4i 7の中火部を除去したりすると
、内部配線を施すワイヤボンディングパッド而債が十分
till+保できない欠点も牛しる。
1置j゛′1″の′市疏イ1′.中緩和を図る技i1l
i7に関するもので・イhる0 1”1′+,!、技術 fIg AGよりバソー1−″7ンシスタを初めスイノ
チング動作を{1わせる゛1′導体装W{は、そのベー
ス領域の形成伏(j!″.により、ギャリア裕債時間T
S や同一下時間Tlが左右されることが知られている
。−tなワチ、パワー1〜ランジスタを1+11に採り
J■, t本的に説明すれば、素イ]イ〜造がブレーナ
フ1リとなることに11.1囚して、ガ“5 1図に示
すように、ベーノ、領域1におけるエミ,タ領域2の的
−ト部3と端部4とで&:1、拡散される不純物の票度
が異るからである,つ寸り、このパワー1・ランシヌタ
では、濃度,゛1;一により、ベース広がり抵抗r,1
, が不均−となるので、71tノZ型であitば、ベ
ーヌ’rty (:示5−\ベース電流を流してO N
状態とする時に、エミノク領域2よりベース領域1へ注
入される少数ヤヤリアである電イは、0 ’F F状D
ヒとするll.′jには、ベース/lI1jj!・yl
内で正札と再結合するか又はIilj方向へ一ズ而〆7
;Gとしてエミノタ領域2へ戻りl,j <泊l1・(
゛4る・区リエ゛があるにもかかわらず、ll’l’.
F”i% 8の大きな広がり41(5]九1′に阻t
l−さノ1,/肖滅し&11f <なるの一Cある。そ
こで、との問題を1(1イ決するために、ヘース領域1
の幅j法を狭くすればよいが、先述したベース広がり+
J(’IJL r + r+ ”””が影響し、O F
F’状態で&:I: . !l1iに直下部3に電流
が集中してし寸い、フ1−ノ1ノ,j−ノ1をJ4 発
して2次II千伏現象を招いて耐圧低下を生じるのであ
る,,そこで、1111圧低ト゜を防ぐ手段として、第
2図に示すように、エミノタ領域2の中央部6をυ1除
して、ii’−+’. ’ F部3への電流集中を緩和
するものが提唱された。しかし、この手段は、依然とし
て−『−ミノタf+f:域2′の中央部寄りの″,し+
.流集中を解消してはいない。しかも、中火部排除に伴
いエミノグ屯{”4i 7の中火部を除去したりすると
、内部配線を施すワイヤボンディングパッド而債が十分
till+保できない欠点も牛しる。
発明の開示
この定明は、−1−記技術的背」;(に邦、き検d・1
考賂の74、1111唱されたもので、半導体装置のエ
ミノタ電極It.J’. +11来曲りの而情の1まと
し、エミノタを島状領J・・kに設定する方式を採用し
ている。すなわち、この発明し1,、ベース領城中に多
数の島状エミ,タ領域を形成する崖導体装置に関し7て
、島状エミノタjlrl I或の中央t11(のものは
、絶縁層を介してエミノタ゜l1tl′II+!と非接
触に設定することを特徴としている。
考賂の74、1111唱されたもので、半導体装置のエ
ミノタ電極It.J’. +11来曲りの而情の1まと
し、エミノタを島状領J・・kに設定する方式を採用し
ている。すなわち、この発明し1,、ベース領城中に多
数の島状エミ,タ領域を形成する崖導体装置に関し7て
、島状エミノタjlrl I或の中央t11(のものは
、絶縁層を介してエミノタ゜l1tl′II+!と非接
触に設定することを特徴としている。
したがって、この発明によれば、後述する実JJ(Ii
例から明白となるが、エミノタ6fl I或の中火)X
1{を111除する前出の方法よりも、より一層′,I
L流集中緩和を図れ、しかも、ヌイ,チング特性におい
ーCもより良好な結果が得られ、さらに実現性も高い{
・i冫1]一だ長所を発揮するものである. 発明を実施するだめの最良の形態 この発明を実施するに当っては、次に示す実II111
例があり、これからその最良の形態を容易に想起するこ
とができる。
例から明白となるが、エミノタ6fl I或の中火)X
1{を111除する前出の方法よりも、より一層′,I
L流集中緩和を図れ、しかも、ヌイ,チング特性におい
ーCもより良好な結果が得られ、さらに実現性も高い{
・i冫1]一だ長所を発揮するものである. 発明を実施するだめの最良の形態 この発明を実施するに当っては、次に示す実II111
例があり、これからその最良の形態を容易に想起するこ
とができる。
第3図は、この発明の実施例を示すパワ・−1・ランジ
スタの断面図で、まず、10は、++’型Jjj一板1
1十にエビタキシャル成畏させたn −’− ノplコ
レクタjill Ij・yである。つぎにl2ぱ、コレ
クタ領域10−1−にJ巽択拡散されたP塑ベーヌ’i
ijl域であるっきりに、13,ia, ・・ぱ、ベー
ス1拍域l2上に〈:r?間隔に多数.’::; 状に
選択拡散された,, 4−1型エミノタ141域である
。
スタの断面図で、まず、10は、++’型Jjj一板1
1十にエビタキシャル成畏させたn −’− ノplコ
レクタjill Ij・yである。つぎにl2ぱ、コレ
クタ領域10−1−にJ巽択拡散されたP塑ベーヌ’i
ijl域であるっきりに、13,ia, ・・ぱ、ベー
ス1拍域l2上に〈:r?間隔に多数.’::; 状に
選択拡散された,, 4−1型エミノタ141域である
。
それから、ベーヌ領域12及びエミノク領域+8.18
, ・・・が露出している表面は、コ1/クタ接合l4
及び周辺のエミ,ク領域18,+8, に係る周辺部の
エミノタ接合15,15, の絡端1−にSr(JH膜
16,16,・・・が波着され、また中火玲iのエミノ
ク/l1Jll或1 8’, 1 3’,・ ・並びに
それに関するコ−ミノク接合1 6’, 1 5’,・
・・ の上はS+02膜及びi号l, DI ( ll
’l ’if lljk層した絶縁層17にて覆わノ1
,でいる。さらに、l8はベーヌ電棒、19はエミノク
市’, Ii′1i、20は躯板11の裏而に形成され
た二』レクク″i[i liiで力)る。ここで、LF
目すべき点は、1記エミノタ電極19は、周辺のエミ
Iク領域l8.13,・・ の露出ifn上は勿論、中
央部の絶縁層l71に寸で被着形成されていることで、
その理由は後述する。さて、上記構成としたパワー1〜
ランジスタは、中火部に右る島伏エミノク領域1 B’
, 18’,−・が、エミ!夕?lYl@ 1 9と絶
縁層l7により絶縁さノして非エミノタとなるにもかか
わらず、ヌイノチング時には、少数キャリアの消滅に貢
献する4−J− fz h チ、このバソー1−ランシ
ヌクは、ヌイノチングrl F F状Iルでは、中央部
の島状エミノタ領域+ 8’, 1 3’, ・・・の
−1:方に集中しようとした少数ギA,リアである41
i: f (d.、周辺部のエミノタ領41s,13,
・ へ1ノこれなくても、島状エミノタ領域13′18
, ・・・の底部間蔀1を経て、分ハ9L,ながらll
lji iB;H21,21, ・・ で示すよりに、
退iH’t’できる。よって、このパワートランシヌク
は、少数キャリアの蓄積防止を図り、ヌイノチO F’
F時間を縮めると同時に、電流集中緩和も図ねるので
ある。さらに、このパワートランシヌタハ、ベーヌ<+
r+ l或] 2の幅寸法Wズ極力薄くしても、少数キ
ャリアの分散は、中央部の島状の非エミノタどなる工ミ
I〃領域1 3’, 1 B’,−ノ配ii’イニ.l
:ri/J!定さノ1,、十分分敗可能な間隙を〈トし
るように狸め込むことにより電流集中による2次降伏を
抑]1−Cき、従来より鴬し〈耐圧向−Lが期iノjで
きろ。
, ・・・が露出している表面は、コ1/クタ接合l4
及び周辺のエミ,ク領域18,+8, に係る周辺部の
エミノタ接合15,15, の絡端1−にSr(JH膜
16,16,・・・が波着され、また中火玲iのエミノ
ク/l1Jll或1 8’, 1 3’,・ ・並びに
それに関するコ−ミノク接合1 6’, 1 5’,・
・・ の上はS+02膜及びi号l, DI ( ll
’l ’if lljk層した絶縁層17にて覆わノ1
,でいる。さらに、l8はベーヌ電棒、19はエミノク
市’, Ii′1i、20は躯板11の裏而に形成され
た二』レクク″i[i liiで力)る。ここで、LF
目すべき点は、1記エミノタ電極19は、周辺のエミ
Iク領域l8.13,・・ の露出ifn上は勿論、中
央部の絶縁層l71に寸で被着形成されていることで、
その理由は後述する。さて、上記構成としたパワー1〜
ランジスタは、中火部に右る島伏エミノク領域1 B’
, 18’,−・が、エミ!夕?lYl@ 1 9と絶
縁層l7により絶縁さノして非エミノタとなるにもかか
わらず、ヌイノチング時には、少数キャリアの消滅に貢
献する4−J− fz h チ、このバソー1−ランシ
ヌクは、ヌイノチングrl F F状Iルでは、中央部
の島状エミノタ領域+ 8’, 1 3’, ・・・の
−1:方に集中しようとした少数ギA,リアである41
i: f (d.、周辺部のエミノタ領41s,13,
・ へ1ノこれなくても、島状エミノタ領域13′18
, ・・・の底部間蔀1を経て、分ハ9L,ながらll
lji iB;H21,21, ・・ で示すよりに、
退iH’t’できる。よって、このパワートランシヌク
は、少数キャリアの蓄積防止を図り、ヌイノチO F’
F時間を縮めると同時に、電流集中緩和も図ねるので
ある。さらに、このパワートランシヌタハ、ベーヌ<+
r+ l或] 2の幅寸法Wズ極力薄くしても、少数キ
ャリアの分散は、中央部の島状の非エミノタどなる工ミ
I〃領域1 3’, 1 B’,−ノ配ii’イニ.l
:ri/J!定さノ1,、十分分敗可能な間隙を〈トし
るように狸め込むことにより電流集中による2次降伏を
抑]1−Cき、従来より鴬し〈耐圧向−Lが期iノjで
きろ。
尚、」二記実施例は、原理的t’l’l 1;″1鞘ボ
L2たが、この発明は峰の他に、エミノク′屯{・′.
i之を:Ij’1山状に設,+1して安全ii#作領域
を太き< L,/r:. :゛+: 4 lン1に゛1
′面図で、第4図のX X liilにて明:析した1
11「面をli’. 5 lンレC小すようなパワー1
・ランシヌク’: 1′と(7てもよく、同様な作用効
果が得られる。
L2たが、この発明は峰の他に、エミノク′屯{・′.
i之を:Ij’1山状に設,+1して安全ii#作領域
を太き< L,/r:. :゛+: 4 lン1に゛1
′面図で、第4図のX X liilにて明:析した1
11「面をli’. 5 lンレC小すようなパワー1
・ランシヌク’: 1′と(7てもよく、同様な作用効
果が得られる。
第1図及び第2図は、従来のパワー1−−7ンシスクを
/J′;す断面図、第3図は、この発明の一実1jηJ
例を小すパソーI″yンンスクの断面図、イ−4図はそ
の他の実施例を示すパワー1−ランシスタの平面図、第
5図はそのX − X線にてりj断した断面図である。 】2・・・・・・ ・ベーヌf+f4 k&、18.1
8, ・ 島状エミ,タ領域(周辺部)、1 B’,
1. 8’,・・・・・中央部の島状エミノタ領域(非
エミノクとして動作)、 l7 ・ ・・・・ ・・ 絶縁層、 19・−−・・・・・・・・・]ユミソク?Elijo
/J′;す断面図、第3図は、この発明の一実1jηJ
例を小すパソーI″yンンスクの断面図、イ−4図はそ
の他の実施例を示すパワー1−ランシスタの平面図、第
5図はそのX − X線にてりj断した断面図である。 】2・・・・・・ ・ベーヌf+f4 k&、18.1
8, ・ 島状エミ,タ領域(周辺部)、1 B’,
1. 8’,・・・・・中央部の島状エミノタ領域(非
エミノクとして動作)、 l7 ・ ・・・・ ・・ 絶縁層、 19・−−・・・・・・・・・]ユミソク?Elijo
Claims (1)
- ヘースlliil域中に多数の島状エミノタ領域を形成
−4″る゛1′・nIA−装11″′1に15’.l
I,て、1)11記島状エミ,タ領域の中央部のものは
、絶縁層を介してエミノタ電極と男和ブ触に設定するこ
とを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58152797A JPS6045062A (ja) | 1983-08-22 | 1983-08-22 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58152797A JPS6045062A (ja) | 1983-08-22 | 1983-08-22 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6045062A true JPS6045062A (ja) | 1985-03-11 |
Family
ID=15548354
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58152797A Pending JPS6045062A (ja) | 1983-08-22 | 1983-08-22 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6045062A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62244172A (ja) * | 1986-04-17 | 1987-10-24 | Sanyo Electric Co Ltd | トランジスタ |
JPS62244171A (ja) * | 1986-04-17 | 1987-10-24 | Sanyo Electric Co Ltd | トランジスタ |
JP2010165911A (ja) * | 2009-01-16 | 2010-07-29 | Rohm Co Ltd | バイポーラ型半導体装置およびその製造方法 |
-
1983
- 1983-08-22 JP JP58152797A patent/JPS6045062A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62244172A (ja) * | 1986-04-17 | 1987-10-24 | Sanyo Electric Co Ltd | トランジスタ |
JPS62244171A (ja) * | 1986-04-17 | 1987-10-24 | Sanyo Electric Co Ltd | トランジスタ |
JP2010165911A (ja) * | 2009-01-16 | 2010-07-29 | Rohm Co Ltd | バイポーラ型半導体装置およびその製造方法 |
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