JPS6045062A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPS6045062A JPS6045062A JP15279783A JP15279783A JPS6045062A JP S6045062 A JPS6045062 A JP S6045062A JP 15279783 A JP15279783 A JP 15279783A JP 15279783 A JP15279783 A JP 15279783A JP S6045062 A JPS6045062 A JP S6045062A
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- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 6
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- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract 3
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/70—Bipolar devices
- H01L29/72—Transistor-type devices, i.e. able to continuously respond to applied control signals
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
この発明は、ヌイノチング動作を行わせる半導体I1・
1置j゛′1″の′市疏イ1′.中緩和を図る技i1l
i7に関するもので・イhる0 1”1′+,!、技術 fIg AGよりバソー1−″7ンシスタを初めスイノ
チング動作を{1わせる゛1′導体装W{は、そのベー
ス領域の形成伏(j!″.により、ギャリア裕債時間T
S や同一下時間Tlが左右されることが知られている
。−tなワチ、パワー1〜ランジスタを1+11に採り
J■, t本的に説明すれば、素イ]イ〜造がブレーナ
フ1リとなることに11.1囚して、ガ“5 1図に示
すように、ベーノ、領域1におけるエミ,タ領域2の的
−ト部3と端部4とで&:1、拡散される不純物の票度
が異るからである,つ寸り、このパワー1・ランシヌタ
では、濃度,゛1;一により、ベース広がり抵抗r,1
, が不均−となるので、71tノZ型であitば、ベ
ーヌ’rty (:示5−\ベース電流を流してO N
状態とする時に、エミノク領域2よりベース領域1へ注
入される少数ヤヤリアである電イは、0 ’F F状D
ヒとするll.′jには、ベース/lI1jj!・yl
内で正札と再結合するか又はIilj方向へ一ズ而〆7
;Gとしてエミノタ領域2へ戻りl,j <泊l1・(
゛4る・区リエ゛があるにもかかわらず、ll’l’.
F”i% 8の大きな広がり41(5]九1′に阻t
l−さノ1,/肖滅し&11f <なるの一Cある。そ
こで、との問題を1(1イ決するために、ヘース領域1
の幅j法を狭くすればよいが、先述したベース広がり+
J(’IJL r + r+ ”””が影響し、O F
F’状態で&:I: . !l1iに直下部3に電流
が集中してし寸い、フ1−ノ1ノ,j−ノ1をJ4 発
して2次II千伏現象を招いて耐圧低下を生じるのであ
る,,そこで、1111圧低ト゜を防ぐ手段として、第
2図に示すように、エミノタ領域2の中央部6をυ1除
して、ii’−+’. ’ F部3への電流集中を緩和
するものが提唱された。しかし、この手段は、依然とし
て−『−ミノタf+f:域2′の中央部寄りの″,し+
.流集中を解消してはいない。しかも、中火部排除に伴
いエミノグ屯{”4i 7の中火部を除去したりすると
、内部配線を施すワイヤボンディングパッド而債が十分
till+保できない欠点も牛しる。
1置j゛′1″の′市疏イ1′.中緩和を図る技i1l
i7に関するもので・イhる0 1”1′+,!、技術 fIg AGよりバソー1−″7ンシスタを初めスイノ
チング動作を{1わせる゛1′導体装W{は、そのベー
ス領域の形成伏(j!″.により、ギャリア裕債時間T
S や同一下時間Tlが左右されることが知られている
。−tなワチ、パワー1〜ランジスタを1+11に採り
J■, t本的に説明すれば、素イ]イ〜造がブレーナ
フ1リとなることに11.1囚して、ガ“5 1図に示
すように、ベーノ、領域1におけるエミ,タ領域2の的
−ト部3と端部4とで&:1、拡散される不純物の票度
が異るからである,つ寸り、このパワー1・ランシヌタ
では、濃度,゛1;一により、ベース広がり抵抗r,1
, が不均−となるので、71tノZ型であitば、ベ
ーヌ’rty (:示5−\ベース電流を流してO N
状態とする時に、エミノク領域2よりベース領域1へ注
入される少数ヤヤリアである電イは、0 ’F F状D
ヒとするll.′jには、ベース/lI1jj!・yl
内で正札と再結合するか又はIilj方向へ一ズ而〆7
;Gとしてエミノタ領域2へ戻りl,j <泊l1・(
゛4る・区リエ゛があるにもかかわらず、ll’l’.
F”i% 8の大きな広がり41(5]九1′に阻t
l−さノ1,/肖滅し&11f <なるの一Cある。そ
こで、との問題を1(1イ決するために、ヘース領域1
の幅j法を狭くすればよいが、先述したベース広がり+
J(’IJL r + r+ ”””が影響し、O F
F’状態で&:I: . !l1iに直下部3に電流
が集中してし寸い、フ1−ノ1ノ,j−ノ1をJ4 発
して2次II千伏現象を招いて耐圧低下を生じるのであ
る,,そこで、1111圧低ト゜を防ぐ手段として、第
2図に示すように、エミノタ領域2の中央部6をυ1除
して、ii’−+’. ’ F部3への電流集中を緩和
するものが提唱された。しかし、この手段は、依然とし
て−『−ミノタf+f:域2′の中央部寄りの″,し+
.流集中を解消してはいない。しかも、中火部排除に伴
いエミノグ屯{”4i 7の中火部を除去したりすると
、内部配線を施すワイヤボンディングパッド而債が十分
till+保できない欠点も牛しる。
発明の開示
この定明は、−1−記技術的背」;(に邦、き検d・1
考賂の74、1111唱されたもので、半導体装置のエ
ミノタ電極It.J’. +11来曲りの而情の1まと
し、エミノタを島状領J・・kに設定する方式を採用し
ている。すなわち、この発明し1,、ベース領城中に多
数の島状エミ,タ領域を形成する崖導体装置に関し7て
、島状エミノタjlrl I或の中央t11(のものは
、絶縁層を介してエミノタ゜l1tl′II+!と非接
触に設定することを特徴としている。
考賂の74、1111唱されたもので、半導体装置のエ
ミノタ電極It.J’. +11来曲りの而情の1まと
し、エミノタを島状領J・・kに設定する方式を採用し
ている。すなわち、この発明し1,、ベース領城中に多
数の島状エミ,タ領域を形成する崖導体装置に関し7て
、島状エミノタjlrl I或の中央t11(のものは
、絶縁層を介してエミノタ゜l1tl′II+!と非接
触に設定することを特徴としている。
したがって、この発明によれば、後述する実JJ(Ii
例から明白となるが、エミノタ6fl I或の中火)X
1{を111除する前出の方法よりも、より一層′,I
L流集中緩和を図れ、しかも、ヌイ,チング特性におい
ーCもより良好な結果が得られ、さらに実現性も高い{
・i冫1]一だ長所を発揮するものである. 発明を実施するだめの最良の形態 この発明を実施するに当っては、次に示す実II111
例があり、これからその最良の形態を容易に想起するこ
とができる。
例から明白となるが、エミノタ6fl I或の中火)X
1{を111除する前出の方法よりも、より一層′,I
L流集中緩和を図れ、しかも、ヌイ,チング特性におい
ーCもより良好な結果が得られ、さらに実現性も高い{
・i冫1]一だ長所を発揮するものである. 発明を実施するだめの最良の形態 この発明を実施するに当っては、次に示す実II111
例があり、これからその最良の形態を容易に想起するこ
とができる。
第3図は、この発明の実施例を示すパワ・−1・ランジ
スタの断面図で、まず、10は、++’型Jjj一板1
1十にエビタキシャル成畏させたn −’− ノplコ
レクタjill Ij・yである。つぎにl2ぱ、コレ
クタ領域10−1−にJ巽択拡散されたP塑ベーヌ’i
ijl域であるっきりに、13,ia, ・・ぱ、ベー
ス1拍域l2上に〈:r?間隔に多数.’::; 状に
選択拡散された,, 4−1型エミノタ141域である
。
スタの断面図で、まず、10は、++’型Jjj一板1
1十にエビタキシャル成畏させたn −’− ノplコ
レクタjill Ij・yである。つぎにl2ぱ、コレ
クタ領域10−1−にJ巽択拡散されたP塑ベーヌ’i
ijl域であるっきりに、13,ia, ・・ぱ、ベー
ス1拍域l2上に〈:r?間隔に多数.’::; 状に
選択拡散された,, 4−1型エミノタ141域である
。
それから、ベーヌ領域12及びエミノク領域+8.18
, ・・・が露出している表面は、コ1/クタ接合l4
及び周辺のエミ,ク領域18,+8, に係る周辺部の
エミノタ接合15,15, の絡端1−にSr(JH膜
16,16,・・・が波着され、また中火玲iのエミノ
ク/l1Jll或1 8’, 1 3’,・ ・並びに
それに関するコ−ミノク接合1 6’, 1 5’,・
・・ の上はS+02膜及びi号l, DI ( ll
’l ’if lljk層した絶縁層17にて覆わノ1
,でいる。さらに、l8はベーヌ電棒、19はエミノク
市’, Ii′1i、20は躯板11の裏而に形成され
た二』レクク″i[i liiで力)る。ここで、LF
目すべき点は、1記エミノタ電極19は、周辺のエミ
Iク領域l8.13,・・ の露出ifn上は勿論、中
央部の絶縁層l71に寸で被着形成されていることで、
その理由は後述する。さて、上記構成としたパワー1〜
ランジスタは、中火部に右る島伏エミノク領域1 B’
, 18’,−・が、エミ!夕?lYl@ 1 9と絶
縁層l7により絶縁さノして非エミノタとなるにもかか
わらず、ヌイノチング時には、少数キャリアの消滅に貢
献する4−J− fz h チ、このバソー1−ランシ
ヌクは、ヌイノチングrl F F状Iルでは、中央部
の島状エミノタ領域+ 8’, 1 3’, ・・・の
−1:方に集中しようとした少数ギA,リアである41
i: f (d.、周辺部のエミノタ領41s,13,
・ へ1ノこれなくても、島状エミノタ領域13′18
, ・・・の底部間蔀1を経て、分ハ9L,ながらll
lji iB;H21,21, ・・ で示すよりに、
退iH’t’できる。よって、このパワートランシヌク
は、少数キャリアの蓄積防止を図り、ヌイノチO F’
F時間を縮めると同時に、電流集中緩和も図ねるので
ある。さらに、このパワートランシヌタハ、ベーヌ<+
r+ l或] 2の幅寸法Wズ極力薄くしても、少数キ
ャリアの分散は、中央部の島状の非エミノタどなる工ミ
I〃領域1 3’, 1 B’,−ノ配ii’イニ.l
:ri/J!定さノ1,、十分分敗可能な間隙を〈トし
るように狸め込むことにより電流集中による2次降伏を
抑]1−Cき、従来より鴬し〈耐圧向−Lが期iノjで
きろ。
, ・・・が露出している表面は、コ1/クタ接合l4
及び周辺のエミ,ク領域18,+8, に係る周辺部の
エミノタ接合15,15, の絡端1−にSr(JH膜
16,16,・・・が波着され、また中火玲iのエミノ
ク/l1Jll或1 8’, 1 3’,・ ・並びに
それに関するコ−ミノク接合1 6’, 1 5’,・
・・ の上はS+02膜及びi号l, DI ( ll
’l ’if lljk層した絶縁層17にて覆わノ1
,でいる。さらに、l8はベーヌ電棒、19はエミノク
市’, Ii′1i、20は躯板11の裏而に形成され
た二』レクク″i[i liiで力)る。ここで、LF
目すべき点は、1記エミノタ電極19は、周辺のエミ
Iク領域l8.13,・・ の露出ifn上は勿論、中
央部の絶縁層l71に寸で被着形成されていることで、
その理由は後述する。さて、上記構成としたパワー1〜
ランジスタは、中火部に右る島伏エミノク領域1 B’
, 18’,−・が、エミ!夕?lYl@ 1 9と絶
縁層l7により絶縁さノして非エミノタとなるにもかか
わらず、ヌイノチング時には、少数キャリアの消滅に貢
献する4−J− fz h チ、このバソー1−ランシ
ヌクは、ヌイノチングrl F F状Iルでは、中央部
の島状エミノタ領域+ 8’, 1 3’, ・・・の
−1:方に集中しようとした少数ギA,リアである41
i: f (d.、周辺部のエミノタ領41s,13,
・ へ1ノこれなくても、島状エミノタ領域13′18
, ・・・の底部間蔀1を経て、分ハ9L,ながらll
lji iB;H21,21, ・・ で示すよりに、
退iH’t’できる。よって、このパワートランシヌク
は、少数キャリアの蓄積防止を図り、ヌイノチO F’
F時間を縮めると同時に、電流集中緩和も図ねるので
ある。さらに、このパワートランシヌタハ、ベーヌ<+
r+ l或] 2の幅寸法Wズ極力薄くしても、少数キ
ャリアの分散は、中央部の島状の非エミノタどなる工ミ
I〃領域1 3’, 1 B’,−ノ配ii’イニ.l
:ri/J!定さノ1,、十分分敗可能な間隙を〈トし
るように狸め込むことにより電流集中による2次降伏を
抑]1−Cき、従来より鴬し〈耐圧向−Lが期iノjで
きろ。
尚、」二記実施例は、原理的t’l’l 1;″1鞘ボ
L2たが、この発明は峰の他に、エミノク′屯{・′.
i之を:Ij’1山状に設,+1して安全ii#作領域
を太き< L,/r:. :゛+: 4 lン1に゛1
′面図で、第4図のX X liilにて明:析した1
11「面をli’. 5 lンレC小すようなパワー1
・ランシヌク’: 1′と(7てもよく、同様な作用効
果が得られる。
L2たが、この発明は峰の他に、エミノク′屯{・′.
i之を:Ij’1山状に設,+1して安全ii#作領域
を太き< L,/r:. :゛+: 4 lン1に゛1
′面図で、第4図のX X liilにて明:析した1
11「面をli’. 5 lンレC小すようなパワー1
・ランシヌク’: 1′と(7てもよく、同様な作用効
果が得られる。
第1図及び第2図は、従来のパワー1−−7ンシスクを
/J′;す断面図、第3図は、この発明の一実1jηJ
例を小すパソーI″yンンスクの断面図、イ−4図はそ
の他の実施例を示すパワー1−ランシスタの平面図、第
5図はそのX − X線にてりj断した断面図である。 】2・・・・・・ ・ベーヌf+f4 k&、18.1
8, ・ 島状エミ,タ領域(周辺部)、1 B’,
1. 8’,・・・・・中央部の島状エミノタ領域(非
エミノクとして動作)、 l7 ・ ・・・・ ・・ 絶縁層、 19・−−・・・・・・・・・]ユミソク?Elijo
/J′;す断面図、第3図は、この発明の一実1jηJ
例を小すパソーI″yンンスクの断面図、イ−4図はそ
の他の実施例を示すパワー1−ランシスタの平面図、第
5図はそのX − X線にてりj断した断面図である。 】2・・・・・・ ・ベーヌf+f4 k&、18.1
8, ・ 島状エミ,タ領域(周辺部)、1 B’,
1. 8’,・・・・・中央部の島状エミノタ領域(非
エミノクとして動作)、 l7 ・ ・・・・ ・・ 絶縁層、 19・−−・・・・・・・・・]ユミソク?Elijo
Claims (1)
- ヘースlliil域中に多数の島状エミノタ領域を形成
−4″る゛1′・nIA−装11″′1に15’.l
I,て、1)11記島状エミ,タ領域の中央部のものは
、絶縁層を介してエミノタ電極と男和ブ触に設定するこ
とを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15279783A JPS6045062A (ja) | 1983-08-22 | 1983-08-22 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15279783A JPS6045062A (ja) | 1983-08-22 | 1983-08-22 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6045062A true JPS6045062A (ja) | 1985-03-11 |
Family
ID=15548354
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15279783A Pending JPS6045062A (ja) | 1983-08-22 | 1983-08-22 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6045062A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62244172A (ja) * | 1986-04-17 | 1987-10-24 | Sanyo Electric Co Ltd | トランジスタ |
JPS62244171A (ja) * | 1986-04-17 | 1987-10-24 | Sanyo Electric Co Ltd | トランジスタ |
JP2010165911A (ja) * | 2009-01-16 | 2010-07-29 | Rohm Co Ltd | バイポーラ型半導体装置およびその製造方法 |
-
1983
- 1983-08-22 JP JP15279783A patent/JPS6045062A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62244172A (ja) * | 1986-04-17 | 1987-10-24 | Sanyo Electric Co Ltd | トランジスタ |
JPS62244171A (ja) * | 1986-04-17 | 1987-10-24 | Sanyo Electric Co Ltd | トランジスタ |
JP2010165911A (ja) * | 2009-01-16 | 2010-07-29 | Rohm Co Ltd | バイポーラ型半導体装置およびその製造方法 |
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