JPS60247370A - 画像読み取り装置の走査系精度検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （ａ）　発明の技術分野 本発明はファクシミリ等の画像読み取り装置の走査系精
度検査方法に係り、特に読み取り性能検査に使用するテ
ストチャートの改−良に関する。

ｆｂ）　従来技術と問題点 近年ファクシミリ等の画像読み取り装置は、高解像化、
高速化、高精度化が進んでいる。こうした趨勢下で読み
取り装置の性能を評価する場合、読み取り画像品質のは
かに画像走査系の走査性能即ち読み取りラインの１頃き
誤差、走査原稿の直進性等を評価することが必要である
。

ファクシミリ用テストチャートとしては画像電子学会、
ＩＥＥＥ、ＣＣＩＴＴのものが一般にしられているが、
これらのデストチャートはいずれも読み取り分解能、読
み取り濃度など画像品質を評価するものであり、これら
のテストチャートを用いて読み取りラインの傾き誤差等
を知ることは難しい。そのため走査系の精度を確実且つ
容易に検査し得る検査方法及びテストチャートの出現が
強く要望されている。

（Ｃ１発明の目的 本発明の目的は画像読み取り装置において画像走査系の
性能、つまり読み取り原稿の直進性や傾き、読み取りに
用いるイメージセンサ走査ラインの傾き具合などを適切
且つ容易に評価しうる画、像読み取り装置の走査系精度
検査方法を提供することにある。

（ｄｌ　発明の構成 上記目的は本発明において、画像を読み取る受光素子群
の配設間隔と、読み取り原稿上に書かれたテストチャー
トを構成する同心円パターンの線幅及び線間隔との関係
によって生じるモアレを利用し、モアレの形成状態から
画像走査系の走査性能を知ることができるようにしたこ
とにより達成される。　′ （ｅ）　発明の実施例 以下本発明の一実施例を図面を参照しながら説明する。

第１図（ａｌは本実施例に使用したテストチャートの例
を示す平面図、同図ｆｂ）は同図ｆａｔのＢ部を詳細に
示す拡大図である。

同図において、１は点Ｐを中心として同心状に描かれた
円群であり、容置の線幅Ｗ１は線間隔Ｗ２と略等しく、
主走査の画素間隔の凡そ１．６倍にとっである。

２．３は主走査方向及び副走査方向基準線であり、テス
トチャートを読み込ませたとき、理想的な画像走査系で
はこの各基準線２，３が走査系の主走査方向Ｘ、副走査
方向Ｙとそれぞれ一致するように描かれている。この基
準線２，３は出力画像におけるパターンの回転の検知を
容易にするための指標である。ま、た４、５はそれぞれ
基準線２゜３に対する角度表示線である。

このテストチャートを画像読み取り装置にて読み取らせ
、その読み取り画像を観察すると、主走査方向Ｘ、副走
査方向Ｙの方向に、第２図にａ。

ａ’　、ｂ、ｂ”で示すようなモアレが生じる。今モア
レａ、ａ’　を上下対称に切断する軸を１１゜ｂ、ｂ”
を左右対称に切断する軸を１２２とすれば、１１と主走
査方向基準線１とのなす角θ７、及び１２と副走査方向
基準線２とのなす角θ２とを角度表示線４，５を使って
めることにより、読み取り原稿の傾きやイメージセンサ
の傾き具合等を知ることが出来る。

なお上記モアレを形成させるには、同心円群の線幅と線
間隔を略等しく、且つまた線幅もしくは線間隔を、主走
査方向のイメージ・センサ等の受光素子の画素間隔の１
．５〜２倍程度、若しくは副走査方向の走査間隔の１．
５〜２倍としておりばよい。

以下第３図ｆａｌ〜（ｄｌを参照しながら上記テストチ
ャートを用いて走査系の精度を検査する例を説明する。

同図ｆａｌは、イメージ・センサ１１及び読み取り原稿
１２の両者とも傾いていない場合、即ち読み取り原稿１
２の主走査方向基準線２とイメージ・センサ１１の配設
方向と主走査方向Ｘとが一致し、従って副走査方向基準
線３は副走査方向Ｙに一致している場合である。

この場合には、出力画像１３におりるモアレａ。

ａ”及びす、ｂ’　を対称に切断する軸Ｎ、、７！２と
、主走査方向Ｘ及び副走査方向Ｙと、基準線２及び３と
は、それぞれ総て一致する。

従ってこれらのなす角を、 軸１１と基準線２とのなす角　＝φ 軸ｐ２と基準線３とのなす角　：φ“ 軸β１と主走査方向Ｘとのなす角　；ψ軸１２と主走査
方向Ｙとのなす角　：ψ′基準線２と主走査方向Ｘとの
なす角：ω基準線３と主走査方向Ｙとのなす角：ω′と
すると、これら総てが０となる。

同図（ｂｌは、イメージ・センサ１１は傾いていないが
、読み取り原稿１２が傾いている場合である。即ち、イ
メージ・センサ１１は主走査方向Ｘと一致しているが、
原稿１２の副走査基準線３が副走査方向Ｔと角度θ２だ
け傾いている場合である。

この場合には軸１１．β２は主走査基準線２゜副走査基
準線３とは一致しないが、主走査方向Ｘ。

副走査方向Ｙとはそれぞれ一致する。従ってψ、ψ゛−
０ φ＝０）＝θ２ φ゛　＝ω゛　−θ２ となる。

同図（Ｃ１は、イメージ・センサ１１のみが傾いている
場合である。即ち、主走査方向×（副走査線Ｙに直角の
方向）に対してイメージ・セン＋１１が角度θ１だけ傾
いて配設された場合である。

この場合には、軸ｐ１は主走査方向基準線２と一致する
が、主走査方向Ｘとは一致せず、また軸１２は副走査方
向基準線３とφ゛だり伸き、且つ副走査方向基準線３は
副走査方向Ｙと一致する。

従って上記各角度は φ　−〇、ω゛−〇 φ゛　−ψ′　−０１ ψ　−ω　−θ１ となる。

同図（ｄｌは、イメージ・センサ１１及び原稿１２とも
に主走査方向Ｘ及び副走査方向Ｙとθ７．θ２だけ傾い
ている場合である。

この場合には、軸と基準線と主走査方向の総てが一致せ
ず、上記各角度は φ　；ω′　＃θ２ ψ　−ψ゛　−θ１ φｌ　；ω　ζθ１　＋θ２ となる。

第１表にこれらの関係をまとめて示す。

第１表 以上の説明から明らかな如く、第１図に示すテストチャ
ートを用いて走査系の検査を行い、その結果を上記第１
表と照合することにより、イメージ・センサや原稿の傾
きを直ちに検出出来る。

本発明は前記第１の実施例に限定されるものではなく、
種々変形して実施し得る。

例えばテストチャートとして、前記第１図のパターンを
副走査方向に複数個配設したもの〔第４図参照〕や、ま
た主走査方向及び副走査方向にマトリックス状に配設し
たもの〔第５図参照〕を用いることも出来る。

第４図に示す副走査方向に複数個のチェックパターンを
配設したテストチャートを用いると、原稿の蛇行を検出
することが出来る。

また第５図の７トリックス状に複数個のチェックパター
ンを配設したテストチャートを用いると、複数個のイメ
ージ・センサが主走査方向に配列されている場合に、イ
メージ・センサ毎の１頃きを検出出来る。

（ｆ）　発明の詳細 な説明した如く本発明によれば、画像読み取り装置にお
ける画像走査系の性能評価を確実且つ容易に行うことが
出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図〜第３図は本発明の一実施例を示す図で、第１図
は上記一実施例に使用したテストチャートを示す平面図
、第２図は上記テストチャートの読み取り画像を示す平
面図、第３図は上記一実施例において読み取り画像から
画像走査系の性能を評価する方法を′説明するための平
面図、第４図及び第５図は本発明に係るテストチャート
の変形例を示す平面図である。 図において、１はテストチャートのチェックパターンを
構成する同心円群、２及び３はそれぞれ主走査方向及び
副走査方向基準線、ａ、ａ’　、ｂ。 ｂｏはモアレ、Ａ、、’４２はモアレａ、ａ’及びモア
レｂ、ｂ’　をそれぞれ上下及び左右に対称に切断する
軸、θ、φ、ψ、ωは各部における角度を示す。 第１図 （ｂ） 第２図゛ Ｅ　″ Ｃ） 第４Ｆ！ｉＪ 第５図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 線幅と略等しい間隔で同心状に描かれた複数個の同心円
   と、該同心円の共通の中心点において直交する２本の中
   心線上に描かれた指標とが配設されたテストチャートを
   、画像読み取り装置の走査系により主走査方向及び副走
   査方向に走査して得られたモアレの発生状態から、前記
   走査系の走査性能を検出することを特徴とする画像読み
   取り装置の走査系精度検査方法。