JPS60246624A - 堆積膜の形成方法 - Google Patents
堆積膜の形成方法Info
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- JPS60246624A JPS60246624A JP59103109A JP10310984A JPS60246624A JP S60246624 A JPS60246624 A JP S60246624A JP 59103109 A JP59103109 A JP 59103109A JP 10310984 A JP10310984 A JP 10310984A JP S60246624 A JPS60246624 A JP S60246624A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は シリコンを含イ1する堆積膜、とりわけ光導
電膜、半導体膜あるいは絶縁体膜などとしてイ1用なア
モルファスシリコン(以下a−′−3iという)あるい
は多結晶シリコンの堆積膜を形成するのに好適な方法に
関する。
電膜、半導体膜あるいは絶縁体膜などとしてイ1用なア
モルファスシリコン(以下a−′−3iという)あるい
は多結晶シリコンの堆積膜を形成するのに好適な方法に
関する。
従来、a−3iの堆積膜形成力法としては、SiH4ま
たはSi2H6を原ネ1として用いたグロー族’+14
: IJL積法及U熱エネルギーIIL積υ、が知られ
ている。即ち、これらの堆積法は、原料カスとしてのS
iH4またはS i 2H6を゛上気エネルギーや熱エ
ネルギ−(励起エネルギ〜)により分解して支持体」−
にa−3iの堆積膜を形成させる方法であり、形成され
たJli植膜は1光導電膜、半導体あるいは絶縁性の膜
等として種々の目的に利用されている。
たはSi2H6を原ネ1として用いたグロー族’+14
: IJL積法及U熱エネルギーIIL積υ、が知られ
ている。即ち、これらの堆積法は、原料カスとしてのS
iH4またはS i 2H6を゛上気エネルギーや熱エ
ネルギ−(励起エネルギ〜)により分解して支持体」−
にa−3iの堆積膜を形成させる方法であり、形成され
たJli植膜は1光導電膜、半導体あるいは絶縁性の膜
等として種々の目的に利用されている。
しかしながら、高出力放電ドで堆積膜の形成が行なわれ
るグロー放電堆積法に於いては 均一な放電の分4i状
態が常に得られないなと再現性のある安定した条件の制
御が難しく、更に膜形成中に於ける膜への高出力放電の
影響が大きく、形成された膜の電気的、光学的特性の均
一・性、品質の安定性の確保が鮪しく、14E 11時
の膜表面の乱れ、堆積膜内の欠陥が生しやすい、特に、
N膜のJイ#稙膜を電気的、光学的特に1に於いて均一
にこの力1人により形成することは書常に困難であった
・ ・方、熱エネルギー堆積法においても、通常400℃以
上の高温が必要となることから使用される支持体材料が
限定され、加えて所望のa−3i中の有用な結合水素原
子が離脱してしまう確率が増加するため、所望の特性が
得難い。
るグロー放電堆積法に於いては 均一な放電の分4i状
態が常に得られないなと再現性のある安定した条件の制
御が難しく、更に膜形成中に於ける膜への高出力放電の
影響が大きく、形成された膜の電気的、光学的特性の均
一・性、品質の安定性の確保が鮪しく、14E 11時
の膜表面の乱れ、堆積膜内の欠陥が生しやすい、特に、
N膜のJイ#稙膜を電気的、光学的特に1に於いて均一
にこの力1人により形成することは書常に困難であった
・ ・方、熱エネルギー堆積法においても、通常400℃以
上の高温が必要となることから使用される支持体材料が
限定され、加えて所望のa−3i中の有用な結合水素原
子が離脱してしまう確率が増加するため、所望の特性が
得難い。
そこで、これらの問題点を解決する1つの方法として、
5iHa、5i2Hs以外のシリコン化合物を原料とす
るa−5iの低熱量の熱エネルギー堆積法(熱CVD)
が注目される。
5iHa、5i2Hs以外のシリコン化合物を原料とす
るa−5iの低熱量の熱エネルギー堆積法(熱CVD)
が注目される。
この低熱量の熱エネルギー堆積法は、励起エネルギーと
しての前述の方法に於けるグロー放電壱高温加熱の代わ
りに低温加熱を用いるものであり、&−3iの堆積膜の
作製を低エネルギーレベルで実施できるようにするもの
である。また、低温なほど原料カスを均一に加温するこ
とが容易であり、前述の堆積法と比べて低いエネルギー
消費で、均一性を保持した高品質の成膜を行なうことが
でき、また製造条件の制御が容易で安定した再現性が得
られ、更に支持体を高温に加熱する必要がなく、支持体
に対する選択性もν、がる利点もある。
しての前述の方法に於けるグロー放電壱高温加熱の代わ
りに低温加熱を用いるものであり、&−3iの堆積膜の
作製を低エネルギーレベルで実施できるようにするもの
である。また、低温なほど原料カスを均一に加温するこ
とが容易であり、前述の堆積法と比べて低いエネルギー
消費で、均一性を保持した高品質の成膜を行なうことが
でき、また製造条件の制御が容易で安定した再現性が得
られ、更に支持体を高温に加熱する必要がなく、支持体
に対する選択性もν、がる利点もある。
〔発明の1j的〕
未発l#1はL記した点に鑑みなされたものであり 励
起エネルギーとして、低レベルの熱エネルギーを用いて
高品質を維持しつつ高い成R11I速瓜でシリコン原子
を含む111積膜を低エネルギーレベルで形成すること
のできる熱エネルギー堆積法を提供することにある。
起エネルギーとして、低レベルの熱エネルギーを用いて
高品質を維持しつつ高い成R11I速瓜でシリコン原子
を含む111積膜を低エネルギーレベルで形成すること
のできる熱エネルギー堆積法を提供することにある。
本発明の他のIJ的は、大面積、piv!の堆積膜の形
成にあっても、電気的、光゛7的特性の均一性1品質の
安定性を確保した高品質の堆積膜を形成することのでき
る方法を提供することにある。
成にあっても、電気的、光゛7的特性の均一性1品質の
安定性を確保した高品質の堆積膜を形成することのでき
る方法を提供することにある。
上記目的は、基板を収納した室内に、 一般式。
5inX2n(式中、XはハOケン原7−、nは3〜6
の整数を表わす、)で表わされる環状ハロゲン化ケイ素
化合物及び水素の気体状雰囲気を形成し、熱エネルギー
を利用することのよって前記化合物及び水素を励起して
分解し、前記基体1にシリコンを含有する堆積膜を形成
することを特徴とする堆積膜の形成方法によって達成さ
れる。
の整数を表わす、)で表わされる環状ハロゲン化ケイ素
化合物及び水素の気体状雰囲気を形成し、熱エネルギー
を利用することのよって前記化合物及び水素を励起して
分解し、前記基体1にシリコンを含有する堆積膜を形成
することを特徴とする堆積膜の形成方法によって達成さ
れる。
前記=一般式の環状ハロゲン化ケイ素化合物は、1;状
水素化ケイ素化合物(環状シラン化合物)SinH2n
のハロゲン誘導体であって。
水素化ケイ素化合物(環状シラン化合物)SinH2n
のハロゲン誘導体であって。
#JJ造が容易でありかつ安定性の高い化合物である。
一般式中、Xは、フッ素、塩素、臭素及びヨウ素から選
ばれるハロ9ゲン原I−を表わす。
ばれるハロ9ゲン原I−を表わす。
nのイ1を3〜6に限定したのは、nが大きくなる稈分
解が容易となるが気化しにくくなり合成も困難であるF
、分解効率も悪くなるためである。
解が容易となるが気化しにくくなり合成も困難であるF
、分解効率も悪くなるためである。
liq記一般式の環状ハロゲン化ケイ素化合物の好適例
としては、以下の化合物を挙げることができる。
としては、以下の化合物を挙げることができる。
(1)Si3F6.(2)Si4F8.(3)Si5F
io、(4)Si6F12.(5)SI3CQe。
io、(4)Si6F12.(5)SI3CQe。
(G)Si4C428,(7)Si5CJ2fO,(8
)SieCut2.(9)Si3Brs、(!0)Si
4Br9゜ 本発明においては、前記室内に前記室内ぐ前記一般式の
環状ハロゲン化ケイ素化合物及び水素の気体状雰囲気を
形成することにより、励起・分解反応の過程で生成する
水素ラジカルが反応の効率を高める。その七、形成され
る堆積膜中に水素がとり込まれ、Si結合構造の欠陥を
減らす役割を果たす、また、−j記一般式の環状ハロゲ
ン化ケイ素化合物は、分解の過程でSiX、5iX2,
5iX3,5i2X2゜5i2X3.5i2X4,5i
3X3.5i3X4,5i3X5,5i3X6.5i3
X7などのラジカルを発生する。また水素によって、S
i、X及びHが結合したラジカルが発生するため、これ
らのラジカルを含む反応プロセスを経て、最終的に、S
iのダングリングボンドをH又はXで十分にターミネー
トした局在準位密度の小さい良質の膜が得られる。
)SieCut2.(9)Si3Brs、(!0)Si
4Br9゜ 本発明においては、前記室内に前記室内ぐ前記一般式の
環状ハロゲン化ケイ素化合物及び水素の気体状雰囲気を
形成することにより、励起・分解反応の過程で生成する
水素ラジカルが反応の効率を高める。その七、形成され
る堆積膜中に水素がとり込まれ、Si結合構造の欠陥を
減らす役割を果たす、また、−j記一般式の環状ハロゲ
ン化ケイ素化合物は、分解の過程でSiX、5iX2,
5iX3,5i2X2゜5i2X3.5i2X4,5i
3X3.5i3X4,5i3X5,5i3X6.5i3
X7などのラジカルを発生する。また水素によって、S
i、X及びHが結合したラジカルが発生するため、これ
らのラジカルを含む反応プロセスを経て、最終的に、S
iのダングリングボンドをH又はXで十分にターミネー
トした局在準位密度の小さい良質の膜が得られる。
また、前記一般式の環状l\ロゲン化ケイ素化合物は、
2種以上を併用してもよいが、この場合、各化合物によ
って期待される膜特性を平均化した程度の特性、ないし
は相乗的に改良された特性か得られる。
2種以上を併用してもよいが、この場合、各化合物によ
って期待される膜特性を平均化した程度の特性、ないし
は相乗的に改良された特性か得られる。
次に、 +tij記堆積室内に導入された前記シリコン
化合物カスに対する熱エネルギーの付与はジュール熱発
生要素、高周波加熱手段等を用いて行われる。
化合物カスに対する熱エネルギーの付与はジュール熱発
生要素、高周波加熱手段等を用いて行われる。
ジュール熱発生要素としては電熱線、電熱板等のヒータ
を、また高周波加熱手段としては誘導加熱、4電加熱等
を挙げることができる。
を、また高周波加熱手段としては誘導加熱、4電加熱等
を挙げることができる。
ンユール熱発牛要素による実施態様について説明すれば
ヒータを支持体の裏面に接触ないし近接させて支持体表
面を伝導加熱し、表面近傍の原料ガスを熱励起、熱分解
せしめ、分解生成物を支持体表面に堆積させる。他にヒ
ーターを支持体の表面近傍に置くことも可能である。
ヒータを支持体の裏面に接触ないし近接させて支持体表
面を伝導加熱し、表面近傍の原料ガスを熱励起、熱分解
せしめ、分解生成物を支持体表面に堆積させる。他にヒ
ーターを支持体の表面近傍に置くことも可能である。
以下、第1図を参照しつつ本°発明の方法を詳細に説明
する。
する。
第1図は支持体上に、a−5iからなる光導電膜、半導
体膜、又は絶縁体膜等の機能膜を形成するためのIll
ll植成形成装置略構成図である。
体膜、又は絶縁体膜等の機能膜を形成するためのIll
ll植成形成装置略構成図である。
1イ#積膜の形成は堆積室lの内部で行なわれる。
14F積室lの内部に置かれる3は支持体の配置される
支持台である。
支持台である。
4は支持体加熱用のヒーターであり、J線5によって該
ヒーター4に給電される。堆積室l内にa−5iの原料
ガス、及び必要に応じて使用されるキャリアーガス等の
カスを導入するためのガス導入管内が堆積室1に連結5
れている。
ヒーター4に給電される。堆積室l内にa−5iの原料
ガス、及び必要に応じて使用されるキャリアーガス等の
カスを導入するためのガス導入管内が堆積室1に連結5
れている。
このガス導入管17の他端は」−記原料カス及び必要に
応して使用されるキャリアガス等のカスを供給するため
のガス供給源9,10,1.1゜12に連結されている
。ガス供給源9.10゜11.12から堆積室1に向っ
て流出する各々のガスの流量を計測するため、対応する
フローメータ15−1.15−2.15−3.15−4
か対応する分枝したガス導入管17−1゜17−2.1
7−3.17−4の途中に設けられる。各々のフローメ
ータの前後にはバルブ14−1.14−2.14−3.
14−4゜16−1.16−2.16−3.16−4が
設けられ、これらのバルブを調節することにより、所定
の流hiのカスを供給しうる。13−1゜13−2.1
3−3.13−4は圧力メータであり、対応するフロー
メータの高圧側の圧力を計測するためのものである。
応して使用されるキャリアガス等のカスを供給するため
のガス供給源9,10,1.1゜12に連結されている
。ガス供給源9.10゜11.12から堆積室1に向っ
て流出する各々のガスの流量を計測するため、対応する
フローメータ15−1.15−2.15−3.15−4
か対応する分枝したガス導入管17−1゜17−2.1
7−3.17−4の途中に設けられる。各々のフローメ
ータの前後にはバルブ14−1.14−2.14−3.
14−4゜16−1.16−2.16−3.16−4が
設けられ、これらのバルブを調節することにより、所定
の流hiのカスを供給しうる。13−1゜13−2.1
3−3.13−4は圧力メータであり、対応するフロー
メータの高圧側の圧力を計測するためのものである。
フローメータを通過した各々のガスは混合されて、不図
示の排気装置によって減圧下にある堆積室1内へ導入さ
れる。なお、圧力メータ18は混合ガスの場合にはその
総圧か計測される。
示の排気装置によって減圧下にある堆積室1内へ導入さ
れる。なお、圧力メータ18は混合ガスの場合にはその
総圧か計測される。
堆積室l内を減圧にしたり、導入されたガスを排気する
ために、ガス排気管20が堆積室lに連結されている。
ために、ガス排気管20が堆積室lに連結されている。
ガス排気管の他端は不図示の排気装置に連結される。
本発明に於いて、カス供給源9.10,11゜12の個
数は適宜、増減されうるちのである。
数は適宜、増減されうるちのである。
つまり、弔−の原料ガスを使用する場合にはカス供給源
は1つでにりる。しかしながら、2社の原車)カスを混
合して使用する場合、中−の原料ガスに(触媒カスある
いはキャリアーカス等)を混合する場合には2つ以1.
必実である。
は1つでにりる。しかしながら、2社の原車)カスを混
合して使用する場合、中−の原料ガスに(触媒カスある
いはキャリアーカス等)を混合する場合には2つ以1.
必実である。
なお、原料の中には常温で気体にならす、液体のままの
ものもあるので、液体原車1を用いる場合には、不図示
の気化装置が設置される。気化装置には加熱沸騰を利用
するもの、液体原料中にキャリアーカスを通過させるも
の等がある。気化によって得られた原tlガスはフロー
メータを通って堆積室l内に導入される。
ものもあるので、液体原車1を用いる場合には、不図示
の気化装置が設置される。気化装置には加熱沸騰を利用
するもの、液体原料中にキャリアーカスを通過させるも
の等がある。気化によって得られた原tlガスはフロー
メータを通って堆積室l内に導入される。
このような第1図に示した装置を使用して本発明の方跋
により以下のようにしてa−3iからなる堆積膜を形成
することができる。
により以下のようにしてa−3iからなる堆積膜を形成
することができる。
まず、堆積室1内の支持台3上に支持体2をセントする
。
。
支持体2としては、形成された堆積膜の用途等に応じて
種々のものが使用される。該支持体を形成できる材料と
しては、導電性支持体には、例えば、N1CQ、 ステ
ア1/ス、A1.Cr。
種々のものが使用される。該支持体を形成できる材料と
しては、導電性支持体には、例えば、N1CQ、 ステ
ア1/ス、A1.Cr。
Mo 、 Au、Nb、Ta、V、Ti、Pt。
Pd″′f、の金属またはこれらの合金、半導電性支1
5体には、Si、Ge等の゛L導体、また電気絶縁性支
持体には、ポリエステル、ポリエチレン、ポリカーボネ
ート、キルローズアセテート、ポリプロピレン、ポリ塩
化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリア
ミド等の合成樹脂、カラス、セラミ7クス、紙等を挙げ
ることかできる。支持体2の形状及び大きさは、その使
用する用途に応じて、適宜決定される。
5体には、Si、Ge等の゛L導体、また電気絶縁性支
持体には、ポリエステル、ポリエチレン、ポリカーボネ
ート、キルローズアセテート、ポリプロピレン、ポリ塩
化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリア
ミド等の合成樹脂、カラス、セラミ7クス、紙等を挙げ
ることかできる。支持体2の形状及び大きさは、その使
用する用途に応じて、適宜決定される。
特に、本発明の方法に於いては、支持体の温度を150
〜300℃程度と比較的低い温度とすることかできるの
で、1記の支持体を形成する材ネ)の中でも、従来のグ
ロー放電堆積法や熱エネルギー堆積法には適用できなか
った耐熱性の低い材l)からなる支持体をも使用するこ
とが可能となった。
〜300℃程度と比較的低い温度とすることかできるの
で、1記の支持体を形成する材ネ)の中でも、従来のグ
ロー放電堆積法や熱エネルギー堆積法には適用できなか
った耐熱性の低い材l)からなる支持体をも使用するこ
とが可能となった。
このように支持体2を堆積室l内の支持台31に置いた
後に、カス排気管20を通して不図小の排気装置により
堆積室内の空気を排気し、減ハにする。減I(、ドの堆
積室内の気ll。
後に、カス排気管20を通して不図小の排気装置により
堆積室内の空気を排気し、減ハにする。減I(、ドの堆
積室内の気ll。
は5X10−5Torr以ト、tlf適には10−[1
Torr以トか望ましい。
Torr以トか望ましい。
熱エネルギー伺ダ手段として、電熱ヒータ4を用いる場
合には堆積室1内が減圧されたところで、ヒーター4に
通電し、支持体3を所定の温度に加熱する。この時の支
持体の温度は、150〜300’C,好ましくは200
〜250℃とされる。
合には堆積室1内が減圧されたところで、ヒーター4に
通電し、支持体3を所定の温度に加熱する。この時の支
持体の温度は、150〜300’C,好ましくは200
〜250℃とされる。
このように、本発明の方0、に於いては支持体温度が比
較的低温であるので、グロー放電堆積法やSiH4,S
i2H6を原料として用いた熱エネルギー堆積7)、に
於けるような支持体の高温加熱を必要としないために、
このために必要とされるエネルギー消費を節約すること
ができる。
較的低温であるので、グロー放電堆積法やSiH4,S
i2H6を原料として用いた熱エネルギー堆積7)、に
於けるような支持体の高温加熱を必要としないために、
このために必要とされるエネルギー消費を節約すること
ができる。
次に、先に挙げたようなa−5i膜形成用の原車4化
いる供給源9のバルブ14−1.16−1を各々開き、
原才)カスを堆積室l内に送りこむ。
原才)カスを堆積室l内に送りこむ。
このとき対応するフローメータ15−1で工l州しなか
ら流値調整を行なう。通常,原才4カスの流+−はI
O−1 0005CCM,好適には20〜5003CC
Mの範囲が望ましい。
ら流値調整を行なう。通常,原才4カスの流+−はI
O−1 0005CCM,好適には20〜5003CC
Mの範囲が望ましい。
ji積室1内の原料カスの圧力は10−2〜1 00T
o r r,好ましくはto−2〜ITorrの範囲に
維持されることが望ましい。
o r r,好ましくはto−2〜ITorrの範囲に
維持されることが望ましい。
このようにして、支持体2の表面近傍を流れる原本1カ
スには熱エネルギーが付与され、熱励起、熱分解が促さ
れ、生成物質であるa−3iか支持体1.に堆積される
。
スには熱エネルギーが付与され、熱励起、熱分解が促さ
れ、生成物質であるa−3iか支持体1.に堆積される
。
本発明の方法に使用される原料カスは、先に述へたよう
に、熱エネルギーによって容易に励起 分解するので、
5〜50人/see程度の高い成Il!,2速度か得ら
れる,a−3i以外の分解生成物及び分解しなかった余
剰の原料ガス等はカス排気管20を通して排出され、一
方、新たな原本′1カスがカス導入管17を通して連続
的に供給される。
に、熱エネルギーによって容易に励起 分解するので、
5〜50人/see程度の高い成Il!,2速度か得ら
れる,a−3i以外の分解生成物及び分解しなかった余
剰の原料ガス等はカス排気管20を通して排出され、一
方、新たな原本′1カスがカス導入管17を通して連続
的に供給される。
本発明の方法に於いては励起エネルギーとして熱エネル
ギーを使用するが、高熱φではなく低熱量の付与である
ので、該エネルギーを付りすべき原料ガスの占める所定
の空間に対して常に均一に付与できる。
ギーを使用するが、高熱φではなく低熱量の付与である
ので、該エネルギーを付りすべき原料ガスの占める所定
の空間に対して常に均一に付与できる。
形成過程にある堆積膜へのグロー放電堆積法に於いて認
められたような高出力放電による影響はなく,堆積時で
膜表面の乱れ、堆積膜内の欠陥を起すことなく、均一性
を保ちつつ堆積膜の形成が継続される。
められたような高出力放電による影響はなく,堆積時で
膜表面の乱れ、堆積膜内の欠陥を起すことなく、均一性
を保ちつつ堆積膜の形成が継続される。
このようにしてa − S i 1I5Iが支持体21
−に形成され、a−Siの所望の膜厚が得られたところ
で、ヒータ4からの熱エネルギーの付りを停止し、更に
バルブ14−1.16−1を閉じ。
−に形成され、a−Siの所望の膜厚が得られたところ
で、ヒータ4からの熱エネルギーの付りを停止し、更に
バルブ14−1.16−1を閉じ。
原車′lガスの供給を停止トする,a−3i膜の膜厚は
、形成されたa−3i膜の用途等に応じて適宜選択され
る。
、形成されたa−3i膜の用途等に応じて適宜選択され
る。
次に、不図示の排気装置の駆動により,堆積室内のガス
を排除した後、支持体及び堆積膜が阜温となったところ
でバルブ21をあけて,堆積室に大気を徐々に導入し、
堆積室内を常圧に71して、a−5il19の形成され
た支持体を取り出す。
を排除した後、支持体及び堆積膜が阜温となったところ
でバルブ21をあけて,堆積室に大気を徐々に導入し、
堆積室内を常圧に71して、a−5il19の形成され
た支持体を取り出す。
このようにして本発明の方法により支持体上に形成され
たa−5i膜は、電気的、光学的特性の均一性、品質の
安定性に優れたa’si膜である。
たa−5i膜は、電気的、光学的特性の均一性、品質の
安定性に優れたa’si膜である。
なお、以上説明した本発明の方法の一例に於いては、減
圧−トに於いて堆積膜が形成されたか、ごれに限定され
ることなく、本発明方法は、所望に応して富圧下、加圧
下に於いて行なうこともできる。
圧−トに於いて堆積膜が形成されたか、ごれに限定され
ることなく、本発明方法は、所望に応して富圧下、加圧
下に於いて行なうこともできる。
以りのような本発明の方法によれば、励起工ネルキーと
して、低熱量の熱エネルギーを使用し、かつ該熱エネル
ギーによって容易に励起、分解する原料カスを用いたこ
とにより、高い成膜速度による低エネルギーレベルでの
a−3i堆積膜の形成が可能となり、電気的、光学的特
性の均一性、品質の安定性に優れたa−3i堆積膜を形
成することができるようになった。
して、低熱量の熱エネルギーを使用し、かつ該熱エネル
ギーによって容易に励起、分解する原料カスを用いたこ
とにより、高い成膜速度による低エネルギーレベルでの
a−3i堆積膜の形成が可能となり、電気的、光学的特
性の均一性、品質の安定性に優れたa−3i堆積膜を形
成することができるようになった。
従って、本発明の方法に於いては、従来のグロー放電堆
M1が、や従来の熱エネルギー堆積〃、には適用できな
かった耐熱性の低い材料からなる支持体をも使用するこ
とができ、また支持体の高温加熱に必要とされるエネル
ギー消費を節約することが可能となった。
M1が、や従来の熱エネルギー堆積〃、には適用できな
かった耐熱性の低い材料からなる支持体をも使用するこ
とができ、また支持体の高温加熱に必要とされるエネル
ギー消費を節約することが可能となった。
以下に、本発明の具体的実施例を小す。
実施例1
前記−1式の環状ハロゲン化ケイ素化合物として、前記
例示化合物(1) 、 (2)又は(3)を用い、図面
の装置によりa−3i堆積膜を形成した。
例示化合物(1) 、 (2)又は(3)を用い、図面
の装置によりa−3i堆積膜を形成した。
先ず、導電性フィルム基板(コーニング社製、#705
9)を支持台21−にt置し、排気装置を用いて堆積室
l内を排気し、1O−6Torrに減圧した。支持体温
度を220℃に設定し。
9)を支持台21−にt置し、排気装置を用いて堆積室
l内を排気し、1O−6Torrに減圧した。支持体温
度を220℃に設定し。
気体状態とされている前記ハロゲン化ケイ素化合物を1
105CCM、水素ガスを405CCMの流量で堆積室
内に導入し、室内の気圧を0、 I T o r rに
保ち、膜厚4000人のa−5i膜を形成した。成膜速
度は、30人/secであった。
105CCM、水素ガスを405CCMの流量で堆積室
内に導入し、室内の気圧を0、 I T o r rに
保ち、膜厚4000人のa−5i膜を形成した。成膜速
度は、30人/secであった。
比較のため、S i 2H6を用いて同様にしてa−3
i tll!を形成した。成膜速度は12人/secで
あった。
i tll!を形成した。成膜速度は12人/secで
あった。
次いで、得られた各a−3i膜試料を蒸着槽に入れ、1
O−6Torrまで引し)た後真空度1O−5Torr
、成膜速度20人でAMを1500人蒸着1、クシ型の
A文キャンプ電極(長さ250μ、Ill 5 mm)
を形成した後、印加電圧10Vで光電流(AMl、10
0mW/c m2)と暗電流を測定し、光導電率σP、
σdと暗導−Ilt率σdとの比σP/σdをめて、a
−3i膜を評価した。結果を第1表に示した。
O−6Torrまで引し)た後真空度1O−5Torr
、成膜速度20人でAMを1500人蒸着1、クシ型の
A文キャンプ電極(長さ250μ、Ill 5 mm)
を形成した後、印加電圧10Vで光電流(AMl、10
0mW/c m2)と暗電流を測定し、光導電率σP、
σdと暗導−Ilt率σdとの比σP/σdをめて、a
−3i膜を評価した。結果を第1表に示した。
第 1 表
第1表から、本発明によるa−3i膜は従来品に比へ、
低い温度でもσP及びσP/σdが向りしている。
低い温度でもσP及びσP/σdが向りしている。
実施例2
基板をポリイミド基板、支持体1&l Iffを250
°Cとし、前記一般式の環状/\ロゲノ化ケイ素化合物
として、前記例示化合物(5)、 (B)、 (9)を
用いた以外は、実施例1と同様にa−3iNを形成し、
σP及びσP/σdをめた。&1.果を第2表に小した
。
°Cとし、前記一般式の環状/\ロゲノ化ケイ素化合物
として、前記例示化合物(5)、 (B)、 (9)を
用いた以外は、実施例1と同様にa−3iNを形成し、
σP及びσP/σdをめた。&1.果を第2表に小した
。
+52表
〔発明の効果〕
本発明によれば、低い基板温度でしかも高い成膜速廣に
よって高品質のシリコン堆積膜を形成することができる
。その上 形成する膜が広面積、厚膜の場合においても
、均一な電気的・光学的特性が得られ1品質の安定性も
確保できるという従来にない格別の効果が奏される。ま
た、ほかにも、基体の高温加熱が不要であるためエネル
ギーの節約になる、耐熱性の乏しい気体上にも成膜でき
る、低温処理によって工程の短縮化を図れる、原料化合
物が容易に合成でき、安価でしかも安定性に優れ増扱上
の危険も少ない、といった効果が発揮される。
よって高品質のシリコン堆積膜を形成することができる
。その上 形成する膜が広面積、厚膜の場合においても
、均一な電気的・光学的特性が得られ1品質の安定性も
確保できるという従来にない格別の効果が奏される。ま
た、ほかにも、基体の高温加熱が不要であるためエネル
ギーの節約になる、耐熱性の乏しい気体上にも成膜でき
る、低温処理によって工程の短縮化を図れる、原料化合
物が容易に合成でき、安価でしかも安定性に優れ増扱上
の危険も少ない、といった効果が発揮される。
第1図は、本発明の方法に用いられる堆積膜形成装置の
−・例の概略構成図である。 1:堆積室 2:支持体 3:支持台 4・ヒーター 5・導線 6−1.6−2゜6−3・ガ
スの流れ 9,10.II。 12・カス供給源 13−1.、+3−2゜13−3.
13−4.18:圧力メーター14−1.14−2.1
4−3.14−4゜1s−x、16−2.16−3.1
6−4゜21・バルブ 15−1.15−2.15−3
.15−4.:フローメーター 17゜17−1.17
−2.17−3.17−4:ガス導入管 上紐モ迅尭
20 カス排気 管
−・例の概略構成図である。 1:堆積室 2:支持体 3:支持台 4・ヒーター 5・導線 6−1.6−2゜6−3・ガ
スの流れ 9,10.II。 12・カス供給源 13−1.、+3−2゜13−3.
13−4.18:圧力メーター14−1.14−2.1
4−3.14−4゜1s−x、16−2.16−3.1
6−4゜21・バルブ 15−1.15−2.15−3
.15−4.:フローメーター 17゜17−1.17
−2.17−3.17−4:ガス導入管 上紐モ迅尭
20 カス排気 管
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 基体を収容した室内に、一般式; 5inX2n(式中、Xはハロゲン原子、nはてパ 3〜6のg数を表わす。洩表わされる環状ハロゲン化ケ
イ素化合物及び水素の気体状雰囲気を形成し、これら化
合物に熱エネルギーをtえ、前記基体1−にシリコンを
含有する堆積膜を形成することを特徴とする堆積膜の形
成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59103109A JPS60246624A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 堆積膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59103109A JPS60246624A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 堆積膜の形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60246624A true JPS60246624A (ja) | 1985-12-06 |
Family
ID=14345442
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59103109A Pending JPS60246624A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 堆積膜の形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60246624A (ja) |
-
1984
- 1984-05-22 JP JP59103109A patent/JPS60246624A/ja active Pending
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